技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種考慮版圖環(huán)境的電阻模型提取方法及系統(tǒng)，該方法包括如下步驟：設(shè)計(jì)不同周圍環(huán)境下的電阻器件結(jié)構(gòu)；測量電阻器件的在不同的電壓時(shí)的電流數(shù)據(jù)；建立基本電阻模型，獲取電阻模型參數(shù)；調(diào)整基本電阻模型中的參數(shù)，進(jìn)行曲線擬合；于擬合結(jié)果滿足要求時(shí)，建立及修改與周圍環(huán)境相關(guān)的電阻模型；調(diào)整與周圍環(huán)境相關(guān)的電阻模型中與周圍環(huán)境相關(guān)的參數(shù)，進(jìn)行曲線擬合，通過本發(fā)明，可以更加準(zhǔn)確表征電阻在不同周圍環(huán)境下的特性，建立更為精準(zhǔn)且實(shí)用性更廣的電阻模型。

技術(shù)研發(fā)人員：張瑜;商干兵;俞柳江
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海華力微電子有限公司
文檔號(hào)碼：201611061474
技術(shù)研發(fā)日：2016.11.25
技術(shù)公布日：2017.05.31