技術總結
本發(fā)明公開了一種用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，基于用戶層、裝置層、測試用例層、測試對象層的分布式架構，用戶層包括測試工具和輸出測試報告，裝置層包括待測裝置、配置工具、管理插件和待測插件，測試用例層包括測試元件庫、測試腳本庫，測試對象層包括各種待測插件庫。本發(fā)明的用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，只需對測試模板進行簡單修改就能夠實現不同種類插件微處理器進行自動測試，提高了測試用例的復用、靈活和可擴展性，減少測試人員的工作量，大大減少維護系統(tǒng)的成本和時間，從而提高了開發(fā)效率，縮短產品開發(fā)周期，保證產品可靠性，具有良好的應用前景。

技術研發(fā)人員：龔行梁;周強;趙天恩;文繼鋒;孫浩;江長青;王長清
受保護的技術使用者：南京南瑞繼保電氣有限公司;南京南瑞繼保工程技術有限公司
文檔號碼：201611019390
技術研發(fā)日：2016.11.18
技術公布日：2017.03.22