本發(fā)明涉及嵌入式系統(tǒng)軟件測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于微處理器的平臺化插件自動測試方法。

背景技術(shù)：

隨著微處理器技術(shù)的高速發(fā)展，微處理器已越來越多地應用于航空航天、工業(yè)控制、家用電器等各個領(lǐng)域。由于用戶需求的多樣化，電子產(chǎn)品功能的復雜化，推動所采用的微處理器種類、性能不斷豐富，導致嵌入式底層軟件開發(fā)維護、測試工作需要耗費大量時間，特別在電子產(chǎn)品開發(fā)周期短的情況下，保證電子產(chǎn)品質(zhì)量變得尤為困難，是當前急需解決的問題。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有的在電子產(chǎn)品開發(fā)周期短的情況下，微處理器的嵌入式底層軟件開發(fā)維護、測試工作需要耗費大量時間，難以保證電子產(chǎn)品質(zhì)量的問題。本發(fā)明的用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，只需對測試模板進行簡單修改就能夠?qū)崿F(xiàn)不同種類插件微處理器進行自動測試，提高了測試用例的復用、靈活和可擴展性，減少測試人員的工作量，大大減少維護系統(tǒng)的成本和時間，從而提高了開發(fā)效率，縮短產(chǎn)品開發(fā)周期，保證產(chǎn)品可靠性，具有良好的應用前景。

為了達到上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：

一種用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，其特征在于：包括以下步驟，

步驟（A），用戶層調(diào)用測試工具構(gòu)建測試對象層的多個待測插件庫；

步驟（B），用戶層根據(jù)待測插件庫的功能，模塊化選擇測試元件，構(gòu)建多個測試元件庫，構(gòu)建多個測試元件庫位于測試用例層；

步驟（C），用戶層根據(jù)不同種類的微處理器插件類型，配置模塊化的測試模板；

步驟（D），用戶層調(diào)用測試工具識別測試模板、待測插件庫、測試元件庫，自動構(gòu)建待測插件測試程序；

步驟（E），裝置層內(nèi)的配置工具，根據(jù)實際待測插件進行配置，構(gòu)建待測裝置的配置信息；

步驟（F），用戶層調(diào)用測試工具將待測裝置的配置信息、待測插件程序合并，自動在線更新至裝置層的管理插件和待測插件中；

步驟（G），用戶層內(nèi)的測試工具自動執(zhí)行測試用例層的測試腳本，與裝置層內(nèi)的待測裝置進行交互，完成自動測試，輸出測試報告。

前述的一種用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，其特征在于：步驟（D），用戶層調(diào)用測試工具識別測試模板、待測插件庫、測試元件庫，調(diào)用測試用例層內(nèi)對應的測試腳本，自動構(gòu)建待測插件測試程序。

前述的一種用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，其特征在于：步驟（E），裝置層內(nèi)的配置工具，根據(jù)實際待測插件進行配置，構(gòu)建待測裝置的配置信息，所述待測裝置的配置信息可根據(jù)需求投入或退出。

前述的一種用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，其特征在于：步驟（E），裝置層內(nèi)還設置有管理插件及多個待測插件，所述管理插件用于與用戶層內(nèi)的測試工具進行交互，以及與多個待測插件進交互，所述管理插件與測試工具之間采用Ethernet方式交互，所述管理插件與多個待測插件之間采用CAN方式交互。

前述的一種用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，其特征在于：步驟（F），用戶層調(diào)用測試工具將待測裝置的配置信息、待測插件程序合并，自動在線更新至裝置層的管理插件和待測插件中，過程如下：

（F1）測試工具根據(jù)待測裝置的配置信息的解析，將待測插件程序的插件槽號信息合并后，形成配置文件，將配置文件在線更新至管理插件存儲中；

（F2）將待測插件程序在線更新至待測插件的存儲器中。

前述的一種用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，其特征在于：步驟（G），用戶層內(nèi)的測試工具自動執(zhí)行測試用例層的測試腳本，與裝置層內(nèi)的待測裝置進行交互，完成自動測試，輸出測試報告，過程如下：

（G1）施加輸入數(shù)據(jù)至裝置層內(nèi)的管理插件；

（G2）管理插件將輸入數(shù)據(jù)下發(fā)給裝置層內(nèi)對應的待測插件，待測插件返回輸出結(jié)果給管理插件；

（G3）管理插件將輸出結(jié)果上傳給裝置層內(nèi)的測試工具，測試工具將接收輸出結(jié)果與測試用例層的測試腳本預期結(jié)果進行比較，完成自動測試，保存為測試報告，并輸出測試報告。

前述的一種用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，其特征在于：所述輸入數(shù)據(jù)為待測插件庫、測試元件庫中定義的可供調(diào)試的變量；施加輸入數(shù)據(jù)至裝置層內(nèi)的管理插件過程是指通過用戶層的測試工具通過管理插件調(diào)用測試用例層去修改對應的待測插件庫、測試元件庫中的調(diào)試變量。

本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明的用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，只需對測試模板進行簡單修改就能夠?qū)崿F(xiàn)不同種類插件微處理器進行自動測試，提高了測試用例的復用、靈活和可擴展性，減少測試人員的工作量，大大減少維護系統(tǒng)的成本和時間，從而提高了開發(fā)效率，縮短產(chǎn)品開發(fā)周期，保證產(chǎn)品可靠性，具有良好的應用前景。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的用于微處理器的平臺化插件自動測試系統(tǒng)的系統(tǒng)框圖。

圖2是本發(fā)明的用于微處理器的平臺化插件自動測試方法所需文件的格式圖。

圖3是本發(fā)明的管理插件、待測插件之間的關(guān)系圖。

圖4是本發(fā)明的測試用例層的用例示意圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合說明書附圖，對本發(fā)明作進一步的說明。

本發(fā)明的用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，只需對測試模板進行簡單修改就能夠?qū)崿F(xiàn)不同種類插件微處理器進行自動測試，提高了測試用例的復用、靈活和可擴展性，減少測試人員的工作量，大大減少維護系統(tǒng)的成本和時間，從而提高了開發(fā)效率，縮短產(chǎn)品開發(fā)周期，保證產(chǎn)品可靠性，基于如圖1及圖2所示的用于微處理器的平臺化插件自動測試系統(tǒng)實現(xiàn)，該系統(tǒng)基于用戶層、裝置層、測試用例層、測試對象層的分布式架構(gòu)，用戶層包括測試工具和輸出測試報告，裝置層包括待測裝置、配置工具、管理插件和待測插件，測試用例層包括測試元件庫、測試腳本庫，測試對象層包括各種待測插件庫，本發(fā)明的用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，包括以下步驟，

步驟（A），用戶層調(diào)用測試工具構(gòu)建測試對象層的多個待測插件庫；

步驟（B），用戶層根據(jù)待測插件庫的功能，模塊化選擇測試元件，構(gòu)建多個測試元件庫，構(gòu)建多個測試元件庫位于測試用例層，

支持多種不同種類的微處理器的待測插件庫，每種待測插件庫功能有差異；支持模塊化選擇測試元件形成測試元件庫，所述待測插件庫為.syslib文件，所述測試元件庫為.testlib文件；

步驟（C），用戶層根據(jù)不同種類的微處理器插件類型，配置模塊化的測試模板，不同種類微處理器的芯片架構(gòu)、編譯環(huán)境有差異，需要根據(jù)微處理器類型配置測試模板，所述測試模板包括編譯模板、鏈接模板，編譯模板用于編譯工具識別；鏈接模板用于連接工具生成可執(zhí)行程序，所述編譯模板為.mk文件，所述鏈接模板為.link文件；

步驟（D），用戶層調(diào)用測試工具識別測試模板、待測插件庫、測試元件庫，調(diào)用測試用例層內(nèi)對應的測試腳本，自動構(gòu)建待測插件測試程序，所述測試工具為testtool，所述測試腳本為.sh文件，所述待測插件測試程序為.hex文件；

步驟（E），裝置層內(nèi)的配置工具，根據(jù)實際待測插件進行配置，構(gòu)建待測裝置的配置信息，所述待測裝置的配置信息可根據(jù)需求投入或退出，裝置層內(nèi)還設置有管理插件及多個待測插件，所述管理插件用于與用戶層內(nèi)的測試工具進行交互，以及與多個待測插件進交互，所述管理插件與測試工具之間采用Ethernet方式交互，所述管理插件與多個待測插件之間采用CAN方式交互；

步驟（F），用戶層調(diào)用測試工具將待測裝置的配置信息、待測插件程序合并，自動在線更新至裝置層的管理插件和待測插件中，過程如下：

（F1）測試工具根據(jù)待測裝置的配置信息的解析，將待測插件程序的插件槽號信息合并后，形成配置文件，將配置文件在線更新至管理插件存儲中；

（F2）將待測插件程序在線更新至待測插件的存儲器中；

裝置層內(nèi)的配置工具為configtool，所述配置信息為.config文件，設置在配置工具內(nèi)；所述配置文件為.bin文件；

步驟（G），用戶層內(nèi)的測試工具自動執(zhí)行測試用例層的測試腳本，與裝置層內(nèi)的待測裝置進行交互，完成自動測試，輸出測試報告，過程如下：

（G1）施加輸入數(shù)據(jù)至裝置層內(nèi)的管理插件；所述輸入數(shù)據(jù)指在待測插件庫、測試元件庫中定義的可供調(diào)試的變量；施加輸入數(shù)據(jù)至裝置層內(nèi)的管理插件是指通過用戶層的測試工具控制管理插件調(diào)用測試用例層去修改對應的待測插件庫、測試元件庫中的調(diào)試變量，待測插件會根據(jù)調(diào)試變量的值執(zhí)行不同的邏輯分支，產(chǎn)生不同的輸出結(jié)果；

（G2）管理插件將輸入數(shù)據(jù)下發(fā)給裝置層內(nèi)對應的待測插件，待測插件返回輸出結(jié)果給管理插件；

（G3）管理插件將輸出結(jié)果上傳給裝置層內(nèi)的測試工具，測試工具將接收輸出結(jié)果與測試用例層的測試腳本預期結(jié)果進行比較，完成自動測試，保存為測試報告，并輸出測試報告，所述測試腳本為.py文件，所述測試報告為.report文件。

如圖3所示，裝置層包括管理插件和若干個待測插件構(gòu)成，管理插件用于對上層用戶層內(nèi)的測試工具進行交互，以及負責與多個待測插件進交互，待測插件的數(shù)量可擴展。

采用本發(fā)明的用于微處理器的平臺化插件自動測試方法，根據(jù)插件（微處理器）的功能，選擇不同的測試用例，完成平臺化測試，新開發(fā)插件或者升級插件，可以通過平臺化自動測試方快速進行功能測試，提高產(chǎn)品發(fā)布可靠性。

如圖4所示，本發(fā)明的的測試用例層，包括下載(TestCase_Download)、動態(tài)元件(TestCase_Dynamic)、數(shù)據(jù)交換(TestCase_Exchange)、參數(shù)管理(TestCase_Para)、調(diào)試查詢(TestCase_Query)、任務調(diào)度(TestCase_Schedule)、系統(tǒng)接口(TestCase_SysAPI)、異常記錄(TestCase_Exception)用例構(gòu)成。

以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理、主要特征及優(yōu)點。本行業(yè)的技術(shù)人員應該了解，本發(fā)明不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本發(fā)明的原理，在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下，本發(fā)明還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的本發(fā)明范圍內(nèi)。本發(fā)明要求保護范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。