技術(shù)編號(hào)：12120633
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及嵌入式系統(tǒng)軟件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于微處理器的平臺(tái)化插件自動(dòng)測(cè)試方法。背景技術(shù)隨著微處理器技術(shù)的高速發(fā)展，微處理器已越來(lái)越多地應(yīng)用于航空航天、工業(yè)控制、家用電器等各個(gè)領(lǐng)域。由于用戶需求的多樣化，電子產(chǎn)品功能的復(fù)雜化，推動(dòng)所采用的微處理器種類、性能不斷豐富，導(dǎo)致嵌入式底層軟件開發(fā)維護(hù)、測(cè)試工作需要耗費(fèi)大量時(shí)間，特別在電子產(chǎn)品開發(fā)周期短的情況下，保證電子產(chǎn)品質(zhì)量變得尤為困難，是當(dāng)前急需解決的問題。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有的在電子產(chǎn)品開發(fā)周期短的情況下，微處理器的嵌入式底層軟件...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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