技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種元件錯(cuò)件檢測(cè)方法，包括：輸入待檢測(cè)元件圖像，其中，所述待檢測(cè)元件圖像包括所述待檢測(cè)元件的印刷文字；獲取所述待檢測(cè)元件圖像上每一像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的筆畫(huà)寬度值；根據(jù)所述每一像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的筆畫(huà)寬度值，獲取所述待檢測(cè)元件圖像上的印刷文字圖像；將所述印刷文字圖像與預(yù)設(shè)的文字模板圖像進(jìn)行對(duì)比，并計(jì)算所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的相似度；當(dāng)所述相似度小于預(yù)設(shè)閾值時(shí)，判斷所述待檢測(cè)元件為錯(cuò)件。相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種元件錯(cuò)件檢測(cè)裝置。本發(fā)明所提供的元件錯(cuò)件檢測(cè)方法和裝置，能有效避免光照對(duì)檢測(cè)元件文字時(shí)的干擾，提高元件錯(cuò)件檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確率。

技術(shù)研發(fā)人員：李紅匣
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣州視源電子科技股份有限公司
文檔號(hào)碼：201610906871
技術(shù)研發(fā)日：2016.10.18
技術(shù)公布日：2017.03.08