技術特征：

1.一種元件錯件檢測方法，其特征在于，包括：

輸入待檢測元件圖像，其中，所述待檢測元件圖像包括所述待檢測元件的印刷文字；

獲取所述待檢測元件圖像上每一像素點對應的筆畫寬度值；

根據所述每一像素點對應的筆畫寬度值，獲取所述待檢測元件圖像上的印刷文字圖像；

將所述印刷文字圖像與預設的文字模板圖像進行對比，并計算所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的相似度；

當所述相似度小于預設閾值時，判斷所述待檢測元件為錯件。

2.如權利要求1所述的一種元件錯件檢測方法，其特征在于，所述獲取所述待檢測元件的圖像上每一像素點對應的筆畫寬度值包括：

對所述輸入待檢測元件圖像進行邊緣的檢測，從而獲取若干邊緣像素點；

基于所述若干邊緣像素點確定所述邊緣圖像上的若干筆畫點對；其中，所述筆畫點對包括兩邊緣像素點，以所述每一筆畫點對為端點的線段確定每一筆畫；

計算每一所述筆畫點對的距離值；

將每一所述筆畫點對的距離值標注為對應所述筆畫所經過的像素點的筆畫寬度值。

3.如權利要求2所述的一種元件錯件檢測方法，其特征在于，所述基于所述若干邊緣像素點確定所述邊緣圖像上的若干筆畫點對包括：

計算每一所述邊緣像素點的梯度方向，沿著每一所述邊緣像素點的梯度方向尋找另一所述邊緣像素點；

判斷所述邊緣像素點的梯度方向與所述尋找到的另一所述邊緣像素點的梯度方向的和是否小于預設角度閾值，若是，則確定所述邊緣像素點與另一所述邊緣像素點為所述筆畫點對。

4.如權利要求2所述的一種元件錯件檢測方法，其特征在于，所述獲取所述待檢測元件的圖像上每一像素點對應的筆畫寬度值還包括：

獲取每一所述筆畫上的像素點的筆畫寬度值集合，計算所述筆畫寬度值集合中的中值，將所述中值標注為對應的所述筆畫所經過的所有所述像素點的筆畫寬度值。

5.如權利要求1所述的一種元件錯件檢測方法，其特征在于，所述根據所述每一像素點對應的筆畫寬度值，獲取所述待檢測元件圖像上的印刷文字圖像；包括：檢測相鄰的所述像素點之間的所述筆畫寬度值的差值是否在預設閾值范圍內，若是，則將所述相鄰的像素點聚為同一連通區(qū)域，從而獲取若干所述連通區(qū)域；

對若干獲取的所述連通區(qū)域進行濾波處理；

根據若干濾波處理的所述連通區(qū)域，獲取所述待檢測元件圖像上的所述印刷文字圖像。

6.如權利要求5所述的一種元件錯件檢測方法，其特征在于，所述對若干所述連通區(qū)域進行濾波處理包括：

計算每一所述連通區(qū)域的筆畫寬度值的方差，若所述連通區(qū)域的筆畫寬度的方差大于預設方差判斷閾值的，則拋棄所述連通區(qū)域。

7.如權利要求5所述的一種元件錯件檢測方法，其特征在于，所述對若干獲取的所述連通區(qū)域進行濾波處理包括：

計算每一所述連通區(qū)域的寬度和高度，若所述連通區(qū)域的寬度超出連通區(qū)域的預設寬度范圍，和/或所述連通區(qū)域的高度超出連通區(qū)域的預設高度范圍，則拋棄所述連通區(qū)域。

8.如權利要求1所述的一種元件錯件檢測方法，其特征在于，所述將所述印刷文字圖像與預設的文字模板圖像進行對比包括：

將所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像進行圖像亮度的對比、圖像對比度的對比和圖像結構的對比，并分別獲取所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的亮度對比值、對比度對比值和結構對比值。

9.如權利要求8所述的一種元件錯件檢測方法，其特征在于，所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的相似度為所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的結構相似性，所述結構相似性通過下述公式計算：

SSIM(X,Y)＝[l(X,Y)]^α·[c(X,Y)]^β·[s(X,Y)]^γ

其中，SSIM(X,Y)表示所述結構相似性；l(X,Y)表示所述亮度對比值，c(X,Y)表示所述對比度對比值；s(X,Y)表示所述結構對比值；α、β和γ分別為調整所述亮度對比值、所述對比度對比值和所述結構對比值的相對重要性的參數，且，α＞0，β＞0，γ＞0。

10.如權利要求9所述的一種元件錯件檢測方法，其特征在于，所述獲取所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的亮度對比值包括：

通過計算下述公式獲取所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的亮度對比值l(X,Y)：

$l(X,Y)=\frac{2{\mathrm{\μ}}_X{\mathrm{\μ}}_Y+C_1}{{\mathrm{\μ}}_X^2+{\mathrm{\μ}}_Y^2+C_1}$

其中，μ_X表示所述印刷文字圖像的均值；μ_Y表示所述文字模板圖像的均值；C₁為常數，C₁≠0；

所述獲取所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的對比度對比值包括：

通過計算下述公式獲取所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的對比度對比值c(X,Y)：

$c(X,Y)=\frac{2{\mathrm{\σ}}_X{\mathrm{\σ}}_Y+C_2}{{\mathrm{\σ}}_X^2+{\mathrm{\σ}}_Y^2+C_2}$

其中，σ_X表示所述印刷文字圖像的標準差；σ_Y表示所述文字模板圖像的標準差；C₂為常數，C₂≠0；

所述獲取所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的結構對比值包括：

通過計算下述公式獲取所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的結構對比值s(X,Y)：

$s(X,Y)=\frac{{\mathrm{\σ}}_{XY}+C_3}{{\mathrm{\σ}}_X{\mathrm{\σ}}_Y+C_3}$

其中，σ_XY表示所述印刷文字圖像的標準差與所述文字模板圖像的協方差；C₃為常數，C₃≠0。

11.一種元件錯件檢測裝置，其特征在于，包括

輸入待檢測元件圖像單元，用于輸入待檢測元件圖像，其中，所述待檢測元件圖像包括所述待檢測元件的印刷文字；

筆畫寬度值獲取單元，用于獲取所述待檢測元件圖像上每一像素點對應的筆畫寬度值；

印刷文字圖像獲取單元，用于根據所述每一像素點對應的筆畫寬度值，獲取所述待檢測元件圖像上的印刷文字圖像；

相似度獲取單元，用于將所述印刷文字圖像與預設的文字模板圖像進行對比，并計算所述印刷文字圖像與所述文字模板圖像的相似度；

錯件判斷單元，用于當所述相似度小于預設閾值時，判斷所述待檢測元件為錯件。