1.一種系統(tǒng)層級(jí)參數(shù)估測(cè)方法，其特征在于，包含：
提供一硅智財(cái)數(shù)據(jù)庫(kù)、一硬件應(yīng)用數(shù)據(jù)庫(kù)以及一制程技術(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)；
根據(jù)該硅智財(cái)數(shù)據(jù)庫(kù)以及該硬件應(yīng)用數(shù)據(jù)庫(kù)產(chǎn)生一層級(jí)表；以及
利用該制程技術(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，對(duì)于對(duì)應(yīng)該層級(jí)表的一效能值、一功率值、一面積值以及一成本值至少其中之一進(jìn)行一估測(cè)，以輸出一結(jié)果數(shù)據(jù)，作為制造一電子系統(tǒng)的依據(jù)。