技術(shù)總結(jié)
利用映射到結(jié)構(gòu)上的不一致而建模的結(jié)構(gòu)的分析。一種分析結(jié)構(gòu)的方法(500)包括：處理針對(duì)多層結(jié)構(gòu)的非破壞性檢查(NDI)數(shù)據(jù)(112)，以限定內(nèi)部層或相鄰層之間的界面處的不一致區(qū)域(402)。該方法包括將不一致區(qū)域映射到結(jié)構(gòu)的標(biāo)稱的有限元模型(114)的有限元(404)。這些有限元由此被識(shí)別為受影響有限元并且包括針對(duì)受影響內(nèi)部層或界面的有限元。該方法包括根據(jù)標(biāo)稱有限元模型和分派給受影響有限元的各個(gè)元數(shù)據(jù)集的修改的屬性或狀態(tài)值產(chǎn)生受影響結(jié)構(gòu)(200)的重構(gòu)的有限元模型(116)。該方法包括在負(fù)載下執(zhí)行重構(gòu)的有限元模型的有限元方法(FEM)故障分析(110)，這指示受影響結(jié)構(gòu)的殘余完整性的程度。

技術(shù)研發(fā)人員：H·H·塔特;K·M·格林;J·Z·林;C·R·布魯爾;R·L·凱勒
受保護(hù)的技術(shù)使用者：波音公司
文檔號(hào)碼：201610560036
技術(shù)研發(fā)日：2016.07.15
技術(shù)公布日：2017.03.01