技術總結
一次性可編程存儲裝置包括存儲陣列。存儲陣列包括：數(shù)據(jù)存儲區(qū)，用于存儲應用數(shù)據(jù)；校驗信息區(qū)，包括校驗信息單元，每個校驗信息單元包括：校驗地址區(qū)域，用于存儲校驗地址信息，校驗地址信息關聯(lián)于數(shù)據(jù)存儲區(qū)中待校驗區(qū)域的地址；以及參考校驗數(shù)據(jù)區(qū)域，用于存儲參考校驗數(shù)據(jù)，每個參考校驗數(shù)據(jù)是基于一校驗算法對待校驗區(qū)域中存儲的應用數(shù)據(jù)進行參考校驗計算所得到的；校驗處理器，用于根據(jù)校驗地址信息從待校驗區(qū)域讀取應用數(shù)據(jù)，并且根據(jù)一選定的校驗算法對應用數(shù)據(jù)進行自校驗計算，以得到自校驗結果；以及控制器，耦接到存儲陣列和校驗處理器，用于從校驗處理器接收自校驗結果，選擇參考校驗數(shù)據(jù)與自校驗結果進行比較，并輸出比較結果。

技術研發(fā)人員：莫國兵;許樹娜;陳正泰
受保護的技術使用者：瀾起科技（上海）有限公司
文檔號碼：201510759862
技術研發(fā)日：2015.11.10
技術公布日：2017.05.17