1.一種一次性可編程存儲裝置，其特征在于，包括：
存儲陣列，所述存儲陣列包括：
數(shù)據(jù)存儲區(qū)，用于存儲應用數(shù)據(jù)；
校驗信息區(qū)，其包括至少一個校驗信息單元，其中每個校驗信息單元包括：校驗地址區(qū)域，其用于存儲校驗地址信息，所述校驗地址信息關(guān)聯(lián)于所述數(shù)據(jù)存儲區(qū)中待校驗區(qū)域的地址；以及參考校驗數(shù)據(jù)區(qū)域，其用于存儲一個或多個參考校驗數(shù)據(jù)，其中每個參考校驗數(shù)據(jù)是基于一校驗算法對所述待校驗區(qū)域中存儲的應用數(shù)據(jù)進行參考校驗計算所得到的；
校驗處理器，用于根據(jù)所述校驗地址信息從所述待校驗區(qū)域讀取應用數(shù)據(jù)，并且根據(jù)一選定的校驗算法對所述應用數(shù)據(jù)進行自校驗計算，以得到自校驗結(jié)果；以及
控制器，其耦接到所述存儲陣列和所述校驗處理器，用于從所述校驗處理器接收所述自校驗結(jié)果，選擇參考校驗數(shù)據(jù)來與所述自校驗結(jié)果進行比較，并且輸出所述比較結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一次性可編程存儲裝置，其特征在于，每個校驗信息單元還包括算法選擇區(qū)域，其用于存儲校驗算法標識，所述校驗算法標識指示被選定的校驗算法；
所述控制器進一步用于根據(jù)所述校驗算法標識來選擇對所述應用數(shù)據(jù)進行校驗計算的校驗算法。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一次性可編程存儲裝置，其特征在于，每個校驗信息單元還包括數(shù)據(jù)選擇區(qū)域，其用于存儲參考校驗數(shù)據(jù)選擇標識，所述參考校驗數(shù)據(jù)選擇標識指示從所述一個或多個參考校驗數(shù)據(jù)中選擇的參考校驗數(shù)據(jù)；
所述控制器進一步用于根據(jù)所述參考校驗數(shù)據(jù)標識來選擇參考校驗數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一次性可編程存儲裝置，其特征在于，每個校驗信息單元還包括單元控制區(qū)域，其用于存儲單元控制標識，所述單元控制標識指示所述校驗信息單元是否有效；
所述控制器進一步用于根據(jù)每個校驗信息單元中存儲的單元控制標識來確定是否基于所述校驗信息單元進行自校驗。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一次性可編程存儲裝置，其特征在于，所述校驗信息區(qū)的至少一個校驗信息單元是連續(xù)的，并且其中每個校驗信息單元還包括校驗控制區(qū)域，其用于存儲校驗控制標識，所述校驗控制標識指示存儲區(qū)域是否為校驗信息單元；
所述控制器進一步用于根據(jù)所述至少一個校驗信息單元中存儲的校驗控制標識來確定是否進行自校驗。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一次性可編程存儲裝置，其特征在于，所述校驗地址信息包括校驗起始地址信息和校驗長度信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一次性可編程存儲裝置，其特征在于，所述校驗信息區(qū)還包括全局信息單元，其用于存儲起始地址單位和長度單位，
所述控制器進一步根據(jù)所述校驗起始地址信息和所述起始地址單位確定校驗起始地址，以及根據(jù)所述校驗長度信息和所述長度單位確定校驗長度，從而根據(jù)所述校驗起始地址和所述校驗長度從所述待校驗區(qū)域讀取應用數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一次性可編程存儲裝置，其特征在于，所述校驗信息區(qū)被設(shè)置于所述存儲陣列的起始位置或結(jié)束位置。
9.一種對一次性可編程存儲裝置進行數(shù)據(jù)校驗的方法，其特征在于，所述一次性可編程存儲裝置包括存儲陣列，所述存儲陣列包括：
數(shù)據(jù)存儲區(qū)，用于存儲應用數(shù)據(jù)；
校驗信息區(qū)，其包括至少一個校驗信息單元，其中每個校驗信息單元包括：校驗地址區(qū)域，其用于存儲校驗地址信息，所述校驗地址信息關(guān)聯(lián)于所述數(shù)據(jù)存儲區(qū)中待校驗區(qū)域的地址；以及參考校驗數(shù)據(jù)區(qū)域，其用于存儲一個或多個參考校驗數(shù)據(jù)，其中每個參考校驗數(shù)據(jù)是基于一校驗算法對所述待校驗區(qū)域中存儲的應用數(shù)據(jù)進行參考校驗計算所得到的；
所述方法包括：
根據(jù)所述校驗地址信息從所述待校驗區(qū)域讀取應用數(shù)據(jù)；
根據(jù)一選定的校驗算法對所述應用數(shù)據(jù)進行自校驗計算，以得到自校驗結(jié)果；以及
選擇參考校驗數(shù)據(jù)來與所述自校驗結(jié)果進行比較，以確定所存儲的應用數(shù)據(jù)是否正確。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，每個校驗信息單元還包括算法選擇區(qū)域，其用于存儲校驗算法標識，所述校驗算法標識指示被選定的校驗算法；所述方法進一步包括：
根據(jù)所述校驗算法標識來選擇對所述應用數(shù)據(jù)進行校驗計算的校驗算法。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，每個校驗信息單元還包括數(shù)據(jù)選擇區(qū)域，其用于存儲參考校驗數(shù)據(jù)選擇標識，所述參考校驗數(shù)據(jù)選擇標識指示從所述一個或多個參考校驗數(shù)據(jù)中選擇的參考校驗數(shù)據(jù)；所述方法進一步包括根據(jù)所述參考校驗 數(shù)據(jù)標識來選擇參考校驗數(shù)據(jù)。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，每個校驗信息單元還包括單元控制區(qū)域，其用于存儲單元控制標識，所述單元控制標識指示所述校驗信息單元是否有效；所述方法進一步包括：
根據(jù)每個校驗信息單元中存儲的單元控制標識來確定是否基于所述校驗信息單元進行自校驗。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述校驗信息區(qū)的至少一個校驗信息單元是連續(xù)的，并且其中每個校驗信息單元還包括校驗控制區(qū)域，其用于存儲校驗控制標識，所述校驗控制標識指示存儲區(qū)域是否為校驗信息單元；所述方法進一步包括：
根據(jù)所述至少一個校驗信息單元中存儲的校驗控制標識來確定是否進行自校驗。
14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述校驗地址信息包括校驗起始地址信息和校驗長度信息。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其特征在于，所述校驗信息區(qū)還包括全局信息單元，其用于存儲起始地址單位和長度單位；所述方法進一步包括：
根據(jù)所述校驗起始地址信息和所述起始地址單位確定校驗起始地址，以及根據(jù)所述校驗長度信息和所述長度單位確定校驗長度，從而根據(jù)所述校驗起始地址和所述校驗長度從所述待校驗區(qū)域讀取應用數(shù)據(jù)。