一種dmi總線信號完整性測試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種DMI總線信號完整性測試方法，在設(shè)計的板卡上增加一個CPUXDP接口，通過該接口形成一個完整的DMI數(shù)據(jù)采集回路；測試軟件使用IntelEVTS，通過USB-XDP3實現(xiàn)測試軟件和被測平臺的連接；通過測試軟件不斷調(diào)整電壓及時序，找出電壓的余量和時序的余量，再根據(jù)Intel規(guī)范中，對電壓及時序余量值的要求，來確認實際DMI信號是否符合設(shè)計要求。該測試方法不像傳統(tǒng)的測試方法依賴示波器，僅用一個XDP治具和測試軟件便能完成測試，相對于用示波器進行測試，這種方法大大減小了人為操作帶來的誤差，提升了測試的準確度；且一次就可以把4條數(shù)據(jù)線測試完成，避免了重復(fù)操作，提高了測試效率。
【專利說明】一種DMI總線信號完整性測試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計算機【技術(shù)領(lǐng)域】，具體涉及一種DMI總線信號完整性測試方法。

【背景技術(shù)】
[0002]DMI全稱為Direct Media Interface,即直接媒體接口，是英特爾(Intel)用來連接南橋和北橋的總線。DMI采用點對點的連接方式，采用差分信號與專門的時鐘進行傳輸。每組DMI由4對TX (發(fā)送)線及4對RX (接收)線組成。
[0003]DMI2.0速率已經(jīng)達到5GT/s，DMI3.0的速率將達到8GT/s，隨著速率的不斷提高，出現(xiàn)信號完整性問題的風險也隨之增大。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:為精確量測這些高速信號，本申請?zhí)岢鲆环N簡便有效的DMI總線信號完整性測試方法。該測試方法不像傳統(tǒng)的測試方法依賴示波器，僅用一個XDP治具和測試軟件便能完成測試，相對于用示波器進行測試，這種方法大大減小了人為操作帶來的誤差，提升了測試的準確度；且一次就可以把4條數(shù)據(jù)線測試完成，避免了重復(fù)操作，提高了測試效率。
[0005]注:從Intel Core CPU開始，隨著調(diào)試復(fù)雜度的增強，在ITP的基礎(chǔ)上，Intel定義了一個新的調(diào)試接口叫XDP, (eXtend Debug Port),標準封裝模式為60Pin。
[0006]本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為:
一種DMI總線信號完整性測試方法，在設(shè)計的板卡上增加一個CPU XDP接口，通過該接口形成一個完整的DMI數(shù)據(jù)采集回路；測試軟件使用Intel EVTS，通過USB-XDP3實現(xiàn)測試軟件和被測平臺的連接；
通過測試軟件不斷調(diào)整Voltage (電壓)及Timing (時序)，如果電壓調(diào)整到某一個值后接收到的數(shù)據(jù)和發(fā)送的數(shù)據(jù)不一致，那就表明在這個電壓下DMI工作出現(xiàn)異常；第一個出現(xiàn)的不能正常工作的電壓即為電壓的Margin (余量)；
如果時序調(diào)整到某一個值后接收到的數(shù)據(jù)和發(fā)送的數(shù)據(jù)不一致，那就表明在這個時序下DMI工作出現(xiàn)異常；第一個出現(xiàn)的不能正常工作的時序即為時序的Margin (余量)；
然后再根據(jù)Intel規(guī)范中，對電壓及時序Margin值的要求，來確認實際DMI信號是否符合設(shè)計要求。
[0007]所述測試方法具體實施過程如下:
1)搭建測試平臺，建立DMI測試的腳本，該腳本的作用是不斷調(diào)整Voltage(電壓)及Timing (時序)，并檢測調(diào)整后DMI還能否正常工作；建立腳本時要注意選擇正確的被測數(shù)據(jù)線及端口等信息，腳本建立完成后保存；
2)運行步驟I)中建立的腳本，腳本自動進行Voltage及Timing的Margin采集,采集完成后顯不Complete (完成)；
3)測試完畢后導出測試結(jié)果，導出的測試結(jié)果； 4)結(jié)果分析，根據(jù)Intel規(guī)范的要求分析測試結(jié)果，判斷是否滿足測試需求。
[0008]一種DMI總線信號完整性測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括Intel EVTS、USB_XDP3和XDP，其中Intel EVTS為測試的控制臺；USB_XDP3為連接控制臺和被測設(shè)備的媒介；XDP為被測設(shè)備上設(shè)計的XDP接口，用于與USB-XDP3的連接。
[0009]本發(fā)明的有益效果為:本發(fā)明的測試方法不像傳統(tǒng)的測試方法依賴示波器，僅用一個XDP治具和測試軟件便能完成測試，相對于用示波器進行測試，這種方法大大減小了人為操作帶來的誤差，提升了測試的準確度；且一次就可以把4條數(shù)據(jù)線測試完成，避免了重復(fù)操作，提高了測試效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本發(fā)明測試系統(tǒng)示意圖；
圖2為本發(fā)明測試原理示意圖；
圖3為本發(fā)明DMI margin測試結(jié)果。

【具體實施方式】
[0011]下面參照附圖，通過【具體實施方式】對本發(fā)明進一步說明:
一種DMI總線信號完整性測試方法，在設(shè)計的板卡上增加一個CPU XDP接口，通過該接口形成一個完整的DMI數(shù)據(jù)采集回路；測試軟件使用Intel EVTS，通過USB-XDP3實現(xiàn)測試軟件和被測平臺的連接；
通過測試軟件不斷調(diào)整Voltage (電壓)及Timing (時序)，如果電壓調(diào)整到某一個值后接收到的數(shù)據(jù)和發(fā)送的數(shù)據(jù)不一致，那就表明在這個電壓下DMI工作出現(xiàn)異常；第一個出現(xiàn)的不能正常工作的電壓即為電壓的Margin (余量)；
如果時序調(diào)整到某一個值后接收到的數(shù)據(jù)和發(fā)送的數(shù)據(jù)不一致，那就表明在這個時序下DMI工作出現(xiàn)異常；第一個出現(xiàn)的不能正常工作的時序即為時序的Margin (余量)；
然后再根據(jù)Intel規(guī)范中，對電壓及時序Margin值的要求，來確認實際DMI信號是否符合設(shè)計要求。
[0012]所述測試方法具體實施過程如下:
1)搭建測試平臺，建立DMI測試的腳本，該腳本的作用是不斷調(diào)整Voltage(電壓)及Timing (時序)，并檢測調(diào)整后DMI還能否正常工作；建立腳本時要注意選擇正確的被測數(shù)據(jù)線及端口等信息，腳本建立完成后保存；
2)運行步驟I)中建立的腳本，如圖2所示,腳本自動進行Voltage及Timing的Margin米集，米集完成后顯不Complete ；
3)測試完畢后導出測試結(jié)果，導出的測試結(jié)果，如圖3所示；
4)結(jié)果分析，根據(jù)Intel規(guī)范的要求分析測試結(jié)果，判斷是否滿足測試需求。如=Intel要求Voltage的margin要大于等于15.7, Timing的margin要大于等于10.7,滿足這個要求的測試結(jié)果即可判斷為測試通過。
[0013]如圖1所示，一種DMI總線信號完整性測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括Intel EVTS、USB-XDP3和XDP，其中Intel EVTS為測試的控制臺；USB_XDP3為連接控制臺和被測設(shè)備的媒介；XDP為被測設(shè)備上設(shè)計的XDP接口，用于與USB-XDP3的連接。
【權(quán)利要求】
1.一種DMI總線信號完整性測試方法，其特征在于:在設(shè)計的板卡上增加一個CPUXDP接口，通過該接口形成一個完整的DMI數(shù)據(jù)采集回路；測試軟件使用Intel EVTS，通過USB-XDP3實現(xiàn)測試軟件和被測平臺的連接； 通過測試軟件不斷調(diào)整電壓及時序，如果電壓調(diào)整到某一個值后接收到的數(shù)據(jù)和發(fā)送的數(shù)據(jù)不一致，那就表明在這個電壓下DMI工作出現(xiàn)異常；第一個出現(xiàn)的不能正常工作的電壓即為電壓的余量； 如果時序調(diào)整到某一個值后接收到的數(shù)據(jù)和發(fā)送的數(shù)據(jù)不一致，那就表明在這個時序下DMI工作出現(xiàn)異常；第一個出現(xiàn)的不能正常工作的時序即為時序的余量； 然后再根據(jù)Intel規(guī)范中，對電壓及時序余量值的要求，來確認實際DMI信號是否符合設(shè)計要求。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種DMI總線信號完整性測試方法，其特征在于，所述測試方法具體實施過程如下: 1)搭建測試平臺，建立DMI測試的腳本，該腳本的作用是不斷調(diào)整電壓及時序，并檢測調(diào)整后DMI還能否正常工作； 2)運行步驟I)中建立的腳本，腳本自動進行電壓及時序的余量采集，采集完成后顯示完成； 3)測試完畢后導出測試結(jié)果，導出的測試結(jié)果； 4)結(jié)果分析，根據(jù)Intel規(guī)范的要求分析測試結(jié)果，判斷是否滿足測試需求。
3.一種DMI總線信號完整性測試系統(tǒng)，其特征在于:所述系統(tǒng)包括Intel EVTS、USB-XDP3和XDP，其中Intel EVTS為測試的控制臺；USB_XDP3為連接控制臺和被測設(shè)備的媒介；XDP為被測設(shè)備上設(shè)計的XDP接口，用于與USB-XDP3的連接。
【文檔編號】G06F11/26GK104182317SQ201410411548
【公開日】2014年12月3日 申請日期:2014年8月20日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月20日
【發(fā)明者】賈永濤 申請人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司