一種三維定位裝置及其定位方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種三維定位裝置及其定位方法，克服利用4邊框設計的電容檢測技術在垂直方向的測距精度較低的不足，該裝置中，至少一個第一電容以及成對設置在第一電容周邊的至少一對第二電容，第一電容與第二電容設置在一個平面內；所有第一電容各自面積之和與所有第二電容各自面積之和不相等；所有第一電容與所有第二電容，其中之一設置為檢測操控體到平面的距離，另一設置為檢測操控體在平面上的坐標或者操控體在平面上的正投影在平面上的坐標；處理器，設置為根據(jù)操控體到平面的距離以及操控體或者操控體在平面上的正投影在平面上的坐標，獲得操控體在操控區(qū)域的三維坐標。本申請的實施例提高了垂直方向上的測距精度。
【專利說明】一種三維定位裝置及其定位方法

【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種定位裝置，尤其涉及一種三維定位裝置及其定位方法。

【背景技術】
[0002]目前電子設備上的觸摸屏，常見的有采用4邊框設計的電容檢測，來獲取手指或者手寫筆等操控體的平面(2D)位置。
[0003]4邊框設計的電容檢測技術中，電容檢測區(qū)是有一上一下兩塊電容基板以及一左一右兩塊電容基板所形成。根據(jù)上下電容基板的信號強度比，和左右電容基板的信號強度t匕，可以計算出操控體比如手指在該電容檢測區(qū)的2D坐標。
[0004]本發(fā)明的發(fā)明人在實現(xiàn)本發(fā)明的過程中，發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術至少還存在著一些技術缺陷。操控體距離上述的電容檢測區(qū)的高度，也即Z軸方向的檢測，無法準確通過單獨某個檢測極的強度來較高準確度地確定。
[0005]目前主要是通過一個非常大的能檢測很遠距離但不受操控體在不同平面位置處對其產(chǎn)生信號影響很小的基板來實現(xiàn)。這種垂直方向上的定位技術，精度較低。


【發(fā)明內容】

[0006]本發(fā)明所要解決的技術問題是克服利用4邊框設計的電容檢測技術在垂直方向的測距精度較低的不足。
[0007]為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種三維定位裝置，用于獲得一操控體在一操控區(qū)域內的三維坐標，該裝置包括:
[0008]至少一個第一電容以及成對設置在所述第一電容周邊的至少一對第二電容，所述第一電容與所述第二電容設置在一個平面內；所有所述第一電容各自面積之和為第一面積，所有所述第二電容各自面積之和為第二面積，所述第一面積與所述第二面積不相等；
[0009]所有所述第一電容與所有所述第二電容，其中之一設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，另一設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標；
[0010]處理器，設置為根據(jù)所述操控體到所述平面的距離以及所述操控體或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標，獲得所述操控體在所述操控區(qū)域的所述三維坐標。
[0011]優(yōu)選地，所有所述第一電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第二電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第一電容的面積之和大于所有所述第二電容的面積之和；所有所述第二電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第一電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第二電容的面積之和大于所有所述第一電容的面積之和。
[0012]優(yōu)選地，所述平面內的第一方向上對稱設置有多對所述第二電容，檢測所述操控體在所述第一方向上的坐標，所述平面內與所述第一方向垂直的第二方向上對稱設置有多對所述第二電容，檢測所述操控體在所述第二方向上的坐標。
[0013]優(yōu)選地，該裝置包括:所述處理器設置為根據(jù)各對所述第二電容的信號強度比獲得所述操控體在所述第一方向上的多個坐標及在所述第二方向上的多個坐標，并根據(jù)所述操控體在所述第一方向上的多個坐標獲得所述操控體在所述第一方向上的坐標值，根據(jù)所述操控體在所述第二方向上的多個坐標獲得所述操控體在所述第二方向上的坐標值。
[0014]優(yōu)選地，所有所述第一電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第二電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第一電容設置為檢測到所述操控體處在所述操控區(qū)域之內時，產(chǎn)生開啟通知信號發(fā)送給所有所述第二電容；所有所述第二電容設置為根據(jù)所述開啟通知信號檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標。
[0015]本申請還提供了一種三維定位裝置的定位方法，用于獲得一操控體在一操控區(qū)域內的三維坐標，所述三維定位裝置包括至少一個第一電容以及成對設置在所述第一電容周邊的至少一對第二電容，所述第一電容與所述第二電容設置在一個平面內；所有所述第一電容各自面積之和為第一面積，所有所述第二電容各自面積之和為第二面積，所述第一面積與所述第二面積不相等；其中所述定位方法包括:
[0016]所有所述第一電容與所有所述第二電容，其中之一檢測所述操控體到所述平面的距離，另一檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標；
[0017]根據(jù)所述操控體到所述平面的距離以及所述操控體或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標，獲得所述操控體在所述操控區(qū)域的所述三維坐標。
[0018]優(yōu)選地，所有所述第一電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第二電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第一電容的面積之和大于所有所述第二電容的面積之和；所有所述第二電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第一電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第二電容的面積之和大于所有所述第一電容的面積之和。
[0019]優(yōu)選地，所述平面內的第一方向上對稱設置有多對所述第二電容，檢測所述操控體在所述第一方向上的坐標，所述平面內與所述第一方向垂直的第二方向上對稱設置有多對所述第二電容，檢測所述操控體在所述第二方向上的坐標。
[0020]優(yōu)選地，該方法包括:根據(jù)各對所述第二電容的信號強度比獲得所述操控體在所述第一方向上的多個坐標及在所述第二方向上的多個坐標，并根據(jù)所述操控體在所述第一方向上的多個坐標獲得所述操控體在所述第一方向上的坐標值，根據(jù)所述操控體在所述第二方向上的多個坐標獲得所述操控體在所述第二方向上的坐標值。
[0021]優(yōu)選地，所有所述第一電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第二電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時:所有所述第一電容檢測到所述操控體處在所述操控區(qū)域之內時，產(chǎn)生開啟通知信號發(fā)送給所有所述第二電容；所有所述第二電容根據(jù)所述開啟通知信號檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標。
[0022]與現(xiàn)有技術相比，本申請的實施例通過縮短操控體與檢測垂直方向上電容之間的距離，提高了垂直方向上的測距精度。本申請的實施例可應用于電容觸摸設備。本申請的實施例，可以集成到筆記本電腦的鍵盤中，方便用戶通過3D手勢操控筆記本電腦。
[0023]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點可通過在說明書、權利要求書以及附圖中所特別指出的結構來實現(xiàn)和獲得。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0024]附圖用來提供對本發(fā)明技術方案的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本申請的實施例一起用于解釋本發(fā)明的技術方案，并不構成對本發(fā)明技術方案的限制。
[0025]圖1為本申請實施例的三維定位裝置的第一種構造示意圖。
[0026]圖2為本申請實施例的三維定位裝置的第二種構造示意圖。
[0027]圖3為本申請實施例的三維定位裝置的第三種構造示意圖。
[0028]圖4為本申請實施例的三維定位裝置的第四種構造示意圖。
[0029]圖5為本申請實施例的三維定位裝置的第五種構造示意圖。
[0030]圖6為本申請實施例的三維定位裝置的定位方法。

【具體實施方式】
[0031]為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白，下文中將結合附圖對本發(fā)明的實施例進行詳細說明。需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互任意組合。
[0032]如圖1所示，本申請實施例的三維定位裝置主要包括處理器(圖中未示出)，至少一個第一電容110以及成對設置在第一電容110周邊的至少一對第二電容120，第一電容110與第二電容120設置在一個平面內。所有第一電容110各自面積之和為第一面積,所有第二電容120各自面積之和為第二面積，第一面積與第二面積不相等。
[0033]本申請的一些實施例中，所有的第一電容設置為檢測操控體距離該平面的距離。當操控體落在該平面上時，操控體距離該平面的距離為零。當操控體位于該平面上方而與平面不接觸時，操控體距離該平面的距離為一大于零的數(shù)值。所有的第二電容設置為操控體落在該平面上時，檢測操控體在該平面上的坐標。設置為操控體位于該平面上方而與平面不接觸時，檢測操控體在該平面上的正投影的坐標。
[0034]本申請的實施例中，第一電容110為正方形,第二電容120為長方形。該第一電容110的四周，對稱設置有兩對第二電容120。其中，至少一對第二電容120的長邊的長度，可以大于等于第一電容110的邊長。
[0035]如圖2所示，本申請實施例的三維定位裝置中，第一電容210為正方形，第二電容220為長方形。且第二電容220長邊的長度,大于等于第一電容210的邊長與第二電容220短邊的長度之和。
[0036]如圖3所示，本申請實施例的三維定位裝置中，第一電容為多個以陣列方式排列在該些第二電容320中間且尺寸比第二電容320小的小尺寸電容310。
[0037]本申請的實施例中，第一電容也可以是長方形的。每個第二電容的邊長，可以等于其所鄰近的第一電容的邊的長度，也可以大于其所鄰近的第一電容的邊的長度。
[0038]本申請的實施例中，多個第一電容可以以陣列的方式排布。
[0039]本申請的實施例中，多對第二電容可以以陣列的方式排布。
[0040]本申請的實施例中，在該平面內的第一方向上也可以有多對第二電容對稱設置在第一電容的兩側，每一對第二電容均可以檢測操控體在該第一方向上的坐標。根據(jù)每一對第二電容在該第一方向上所檢測到的坐標值，可以獲得操控體在第一方向上更加準確和穩(wěn)定的坐標值。
[0041]同理，在該平面內的第二方向上也可以有多對第二電容對稱設置在第一電容的兩偵牝每一對第二電容均可以檢測操控體在該第二方向上的坐標。根據(jù)每一對第二電容在該第二方向上所檢測到的坐標值，可以獲得操控體在第二方向上更加準確和穩(wěn)定的坐標值。
[0042]圖4所示的本申請實施例的三維定位裝置中，第一電容410為正方形，兩對第二電容420沿著第一電容410的左右方向對稱分布在第一電容410的左右兩側。第二電容420在上下方向上的長度，可以大于等于第一電容410在上下方向上的長度。圖4中，第一電容410左右兩側表示X軸方向。本申請實施例的三維定位裝置中的處理器，其根據(jù)靠近第一電容410的一對第二電容420的信號強度比計算獲得出操控體在X軸方向上的第一坐標值，根據(jù)遠離第一電容410的一對第二電容420的信號強度比計算獲得出操控體在X軸方向上的第二坐標值。該處理其根據(jù)該第一坐標值和第二坐標值，可以獲得操控體在X軸方向上更加準確和穩(wěn)定的坐標值，比如對第一坐標值和第二坐標值計算平均值，將該平均值作為操控體在三維定位裝置X軸方向上最終的坐標值。另外，該處理器也可以對第一坐標值和第二坐標值進行加權平均，將加權平均值作為操控體在三維定位裝置X軸方向上最終的坐標值。其中，該加權平均，可以為該第一坐標值設置第一加權值，為該第二坐標值設置第二加權值，其中第一加權值可以大于等于第二加權值。
[0043]圖5所示的本申請實施例的三維定位裝置中，第一電容510為正方形，兩對第二電容520沿著第一電容510的上下方向對稱分布在第一電容510的左右兩側。在第一電容510的左側或者右側，兩個第二電容420在上下方向上的長度之和，可以大于等于第一電容410在上下方向上的長度。圖5中，第一電容510左右兩側表不X軸方向，上下兩側表不Y軸方向。處理器根據(jù)兩對第二電容520中上方的一對第二電容520的信號強度比計算獲得出操控體在X軸方向上的第一坐標值，根據(jù)兩對第二電容520中下方的一對第二電容520的信號強度比計算獲得出操控體在X軸方向上的第二坐標值。處理器根據(jù)該第一坐標值和第二坐標值，可以獲得操控體在X軸方向上更加準確和穩(wěn)定的坐標值，比如對第一坐標值和第二坐標值計算平均值，將該平均值作為操控體在三維定位裝置X軸方向上最終的坐標值。另外，處理器也可以對第一坐標值和第二坐標值進行加權平均，將加權平均值作為操控體在三維定位裝置X軸方向上最終的坐標值。
[0044]以上是在第一電容第一方向上對稱設置兩對第二電容來獲取操控體在該第一方向上的坐標值為例來說明的，本領域的普通技術人員不難理解在第一電容第一方向上沿第一方向或第二方向對稱設置更多對(三對或三對以上)的第二電容，來獲取操控體在該第一方向上更加準確和穩(wěn)定的坐標值的技術方案。
[0045]而且，本領域的普通技術人員也不難理解第一電容與第一方向垂直的第二方向上沿第一方向或第二方向對稱設置多對第二電容來獲取操控體在該第二方向上更加準確和穩(wěn)定的坐標值的技術方案。
[0046]因為中間的第一電容的面積之和比周邊第二電容的面積之和大，根據(jù)電容原理可知，中間的第一電容檢測信號的能力，與周邊第二電容檢測信號的能力相比，第一電容檢測信號的能力會比第二電容檢測信號的能力強出很多。在第一電容檢測到操控體處在操控區(qū)域時，產(chǎn)生開啟通知信號發(fā)送給周邊的第二電容，此時周邊第二電容根據(jù)該開啟通知信號啟動檢測，獲得操控體在該操控區(qū)域中的坐標。避免操控體位于操控區(qū)域靠近邊緣或者角落的位置時，距離操控體較近的電容能較準確地檢測到操控體，而距離操控體較遠的電容無法準確檢測到操控體，從而獲得準確度較低的坐標信息。在第一電容檢測到操控體處于操控區(qū)域之外時，第一電容還可以向第二電容發(fā)送關閉通知信號，第二電容根據(jù)該關閉通知信號，停止檢測操控體的位置。
[0047]以上是以所有的第一電容設置為檢測操控體距離該平面的距離，所有的第二電容設置為操控體落在該平面上時檢測操控體在該平面上的坐標為例，來說明本申請的技術方案。在這種情形下，位于中心的所有第一電容的面積之和，大于位于周邊的所有第二電容的面積之和。
[0048]本申請的實施例中，第一電容與第二電容的檢測所獲得的信息，也可以互換。也即所有的第一電容設置為檢測操控體或者其正投影在該平面上的坐標，所有的第二電容設置為檢測操控體距離該平面的距離。
[0049]具體地，所有的第二電容設置為檢測操控體距離該平面的距離。當操控體落在該平面上時，操控體距離該平面的距離為零。當操控體位于該平面上方而與平面不接觸時，操控體距離該平面的距離為一大于零的數(shù)值。所有的第一電容設置為操控體落在該平面上時，檢測操控體在該平面上的坐標。設置為操控體位于該平面上方而與平面不接觸時，檢測操控體在該平面上的正投影的坐標。在這種情形下，位于中心的所有第一電容的面積之和，小于位于周邊的所有第二電容的面積之和。
[0050]本申請實施例的三維定位裝置的定位方法，其用于獲得一操控體在一操控區(qū)域內的三維坐標，所述三維定位裝置包括至少一個第一電容以及成對設置在所述第一電容周邊的至少一對第二電容，所述第一電容與所述第二電容設置在一個平面內；所有所述第一電容各自面積之和為第一面積，所有所述第二電容各自面積之和為第二面積，所述第一面積與所述第二面積不相等。
[0051]如圖6所示，上述的定位方法主要包括如下內容。
[0052]步驟S610，所有第一電容檢測操控體到該平面的距離，所有第二電容檢測操控體在平面上的坐標或者操控體在平面上的正投影在平面上的坐標。
[0053]本申請的實施例中，第一電容與第二電容的檢測所獲得的信息，也可以互換。也即所有第二電容檢測操控體到平面的距離，所有第一電容檢測操控體在平面上的坐標或者操控體在平面上的正投影在平面上的坐標。
[0054]步驟S620，根據(jù)操控體到平面的距離以及操控體或者操控體在平面上的正投影在平面上的坐標，獲得操控體在操控區(qū)域的三維坐標。
[0055]本申請的實施例中，所有第一電容設置為檢測操控體到平面的距離，以及所有第二電容設置為檢測操控體在平面上的坐標或者操控體在平面上的正投影在平面上的坐標時，所有第一電容的面積之和大于所有第二電容的面積之和。
[0056]本申請的實施例中，所有第二電容設置為檢測操控體到平面的距離，以及所有第一電容設置為檢測操控體在平面上的坐標或者操控體在平面上的正投影在平面上的坐標時，所有第二電容的面積之和大于所有第一電容的面積之和。
[0057]本申請的實施例中，平面內的第一方向上對稱設置有多對第二電容，檢測操控體在第一方向上的坐標，平面內與第一方向垂直的第二方向上對稱設置有多對第二電容，檢測操控體在第二方向上的坐標。
[0058]本申請的實施例中，根據(jù)各對第二電容的信號強度比獲得操控體在第一方向上的多個坐標及在第二方向上的多個坐標，并根據(jù)操控體在第一方向上的多個坐標獲得操控體在第一方向上的坐標值，根據(jù)操控體在第二方向上的多個坐標獲得操控體在第二方向上的坐標值。
[0059]本申請的實施例中，所有第一電容設置為檢測操控體到平面的距離，以及所有第二電容設置為檢測操控體在平面上的坐標或者操控體在平面上的正投影在平面上的坐標時，所有第一電容檢測到操控體處在操控區(qū)域之內時，產(chǎn)生開啟通知信號發(fā)送給所有第二電容；所有第二電容根據(jù)開啟通知信號檢測操控體在平面上的坐標或者操控體在平面上的正投影在平面上的坐標。
[0060]雖然本發(fā)明所揭露的實施方式如上，但所述的內容僅為便于理解本發(fā)明而采用的實施方式，并非用以限定本發(fā)明。任何本發(fā)明所屬領域內的技術人員，在不脫離本發(fā)明所揭露的精神和范圍的前提下，可以在實施的形式及細節(jié)上進行任何的修改與變化，但本發(fā)明的專利保護范圍，仍須以所附的權利要求書所界定的范圍為準。
【權利要求】
1.一種三維定位裝置，用于獲得一操控體在一操控區(qū)域內的三維坐標，該裝置包括: 至少一個第一電容以及成對設置在所述第一電容周邊的至少一對第二電容，所述第一電容與所述第二電容設置在一個平面內；所有所述第一電容各自面積之和為第一面積，所有所述第二電容各自面積之和為第二面積，所述第一面積與所述第二面積不相等； 所有所述第一電容與所有所述第二電容，其中之一設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，另一設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標； 處理器，設置為根據(jù)所述操控體到所述平面的距離以及所述操控體或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標，獲得所述操控體在所述操控區(qū)域的所述三維坐標。
2.根據(jù)權利要求1所述的三維定位裝置，其中: 所有所述第一電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第二電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第一電容的面積之和大于所有所述第二電容的面積之和； 所有所述第二電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第一電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第二電容的面積之和大于所有所述第一電容的面積之和。
3.根據(jù)權利要求1所述的三維定位裝置，其中: 所述平面內的第一方向上對稱設置有多對所述第二電容，檢測所述操控體在所述第一方向上的坐標，所述平面內與所述第一方向垂直的第二方向上對稱設置有多對所述第二電容，檢測所述操控體在所述第二方向上的坐標。
4.根據(jù)權利要求3所述的三維定位裝置，其中，該裝置包括: 所述處理器設置為根據(jù)各對所述第二電容的信號強度比獲得所述操控體在所述第一方向上的多個坐標及在所述第二方向上的多個坐標，并根據(jù)所述操控體在所述第一方向上的多個坐標獲得所述操控體在所述第一方向上的坐標值，根據(jù)所述操控體在所述第二方向上的多個坐標獲得所述操控體在所述第二方向上的坐標值。
5.根據(jù)權利要求1所述的三維定位裝置，其中: 所有所述第一電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第二電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第一電容設置為檢測到所述操控體處在所述操控區(qū)域之內時，產(chǎn)生開啟通知信號發(fā)送給所有所述第二電容；所有所述第二電容設置為根據(jù)所述開啟通知信號檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標。
6.一種三維定位裝置的定位方法，用于獲得一操控體在一操控區(qū)域內的三維坐標，所述三維定位裝置包括至少一個第一電容以及成對設置在所述第一電容周邊的至少一對第二電容，所述第一電容與所述第二電容設置在一個平面內；所有所述第一電容各自面積之和為第一面積，所有所述第二電容各自面積之和為第二面積，所述第一面積與所述第二面積不相等；其中所述定位方法包括: 所有所述第一電容與所有所述第二電容，其中之一檢測所述操控體到所述平面的距離，另一檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標； 根據(jù)所述操控體到所述平面的距離以及所述操控體或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標，獲得所述操控體在所述操控區(qū)域的所述三維坐標。
7.根據(jù)權利要求6所述的方法，其中: 所有所述第一電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第二電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第一電容的面積之和大于所有所述第二電容的面積之和； 所有所述第二電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第一電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時，所有所述第二電容的面積之和大于所有所述第一電容的面積之和。
8.根據(jù)權利要求6所述的方法，其中: 所述平面內的第一方向上對稱設置有多對所述第二電容，檢測所述操控體在所述第一方向上的坐標，所述平面內與所述第一方向垂直的第二方向上對稱設置有多對所述第二電容，檢測所述操控體在所述第二方向上的坐標。
9.根據(jù)權利要求8所述的方法，其中，該方法包括: 根據(jù)各對所述第二電容的信號強度比獲得所述操控體在所述第一方向上的多個坐標及在所述第二方向上的多個坐標，并根據(jù)所述操控體在所述第一方向上的多個坐標獲得所述操控體在所述第一方向上的坐標值，根據(jù)所述操控體在所述第二方向上的多個坐標獲得所述操控體在所述第二方向上的坐標值。
10.根據(jù)權利要求6所述的方法，其中: 所有所述第一電容設置為檢測所述操控體到所述平面的距離，以及所有所述第二電容設置為檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標時: 所有所述第一電容檢測到所述操控體處在所述操控區(qū)域之內時，產(chǎn)生開啟通知信號發(fā)送給所有所述第二電容； 所有所述第二電容根據(jù)所述開啟通知信號檢測所述操控體在所述平面上的坐標或者所述操控體在所述平面上的正投影在所述平面上的坐標。
【文檔編號】G06F3/0346GK104345906SQ201310339693
【公開日】2015年2月11日 申請日期:2013年8月6日 優(yōu)先權日:2013年8月6日
【發(fā)明者】陽光 申請人:聯(lián)想(北京)有限公司