專利名稱：一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法，屬于集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，適用于集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)記錄生產(chǎn)方式。
背景技術(shù)：
高等級(jí)集成電路生產(chǎn)過(guò)程中，集成電路在封裝完畢后獲得唯一的序列號(hào)，在各種可靠性試驗(yàn)后的測(cè)試環(huán)節(jié)或其他所需進(jìn)行的測(cè)試環(huán)節(jié)測(cè)試時(shí)，均按照初始獲得的唯一序列號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄。集成電路的性能不僅通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行性能的判別，同時(shí)，數(shù)據(jù)變化量對(duì)于器件性能的判別也起著重要的作用。解決任意兩批次測(cè)試數(shù)據(jù)相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試數(shù)值變化量的計(jì)算問題，可以對(duì)集成電路性能的判別起著進(jìn)一步的確認(rèn)作用。早期集成電路設(shè)計(jì)規(guī)模小，測(cè)試項(xiàng)目少，每批次器件數(shù)量不多，需要對(duì)比的測(cè)試項(xiàng)目也僅有一項(xiàng)，這種條件下，通常人工進(jìn)行數(shù)據(jù)對(duì)比:按照器件序列號(hào)在實(shí)驗(yàn)前后的兩份收據(jù)中尋找相同的測(cè)試項(xiàng)目，提取出兩項(xiàng)數(shù)值，人工計(jì)算出變化量，再根據(jù)產(chǎn)品手冊(cè)的變化量極限，判斷變化量是否在范圍內(nèi)。隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展，集成電路規(guī)模越來(lái)越大，管腳越來(lái)越多，測(cè)試項(xiàng)目也逐漸豐富，批次器件數(shù)量也成幾何方式增加，這種情況下，再使用人工數(shù)據(jù)提取、計(jì)算、判別工作量大的同時(shí)也易出現(xiàn)人為錯(cuò)誤。目前國(guó)內(nèi)在集成電路測(cè)試領(lǐng)域使用較多的集成電路測(cè)試儀主要是ADVANTEST公司、Teradyne等公司的設(shè)備。Teradyne公司的J750超大規(guī)模數(shù)?；旌蠝y(cè)試儀由于其資源配置豐富，可實(shí)現(xiàn)“零占地”的要求，在集成電路設(shè)計(jì)、研發(fā)、測(cè)試企業(yè)廣泛使用。J750可生成便于批次數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)的格式文件，具有進(jìn)行批次數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)的功能，但對(duì)于兩份數(shù)據(jù)文件相同測(cè)試項(xiàng)目數(shù)據(jù)的提取、比對(duì)、變化量計(jì)算則沒有相應(yīng)的解決工具。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的技術(shù)解決問題是:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法，解決集成電路生產(chǎn)過(guò)程中，需要進(jìn)行測(cè)試項(xiàng)目變化量計(jì)算時(shí)，人工提取數(shù)據(jù)并計(jì)算變化量效率低、易出錯(cuò)，同時(shí)集成電路測(cè)試設(shè)備不具備進(jìn)行此類數(shù)據(jù)處理的問題。本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法，包括以下步驟:( I)對(duì)待測(cè)批次的集成電路芯片按照各集成電路芯片的器件號(hào)進(jìn)行N次測(cè)試，生成N個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件，N為正整數(shù)且N大于等于2 ；(2)將需要進(jìn)行數(shù)據(jù)提取的測(cè)試數(shù)據(jù)文件的文件名、進(jìn)行變化量計(jì)算的測(cè)試項(xiàng)目、變化量極限值和極限單位一次性記錄在第一臨時(shí)文件中；(3)根據(jù)所述第一臨時(shí)文件中的需要進(jìn)行數(shù)據(jù)提取的測(cè)試數(shù)據(jù)文件在步驟(I)中生成的多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件找到對(duì)應(yīng)的兩個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件，在該兩個(gè)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)文件中，根據(jù)第一臨時(shí)文件中的需要進(jìn)行變化量計(jì)算的測(cè)試項(xiàng)目分別進(jìn)行數(shù)據(jù)搜索，將目標(biāo)數(shù)據(jù)提取出來(lái)；(4)將步驟(3)中提取出來(lái)的兩個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件中的目標(biāo)數(shù)據(jù)按照所述第一臨時(shí)文件中的極限單位進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)單位的變換，生成統(tǒng)一單位的測(cè)試數(shù)據(jù)并分別保存在第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中；(5)將所述第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中相同器件號(hào)下的相同測(cè)試項(xiàng)目下的數(shù)據(jù)進(jìn)行變化量計(jì)算，將變化量計(jì)算結(jié)果寫入第四臨時(shí)文件；(6)將所述第一臨時(shí)文件中的變化量極限值與第四臨時(shí)文件中的變化量計(jì)算結(jié)果進(jìn)行比較，若第四臨時(shí)文件中的變化量計(jì)算結(jié)果小于等于所述第一臨時(shí)文件中的變化量極限值，則將該變化量計(jì)算結(jié)果所對(duì)應(yīng)的器件號(hào)、測(cè)試數(shù)據(jù)和變化量計(jì)算結(jié)果本身存儲(chǔ)到總匯報(bào)表中；若第四臨時(shí)文件的變化量計(jì)算結(jié)果大于所述第一臨時(shí)文件中的變化量極限值，則將該變化量計(jì)算結(jié)果所對(duì)應(yīng)的器件號(hào)、測(cè)試數(shù)據(jù)和變化量計(jì)算結(jié)果本身同時(shí)存儲(chǔ)到總匯報(bào)表和未通過(guò)項(xiàng)目匯報(bào)表，且在總匯報(bào)表中相應(yīng)的變化量計(jì)算結(jié)果后寫入標(biāo)志F。所述需要進(jìn)行數(shù)據(jù)提取的測(cè)試數(shù)據(jù)文件的文件名為2個(gè)。所述步驟(I)中每個(gè)集成電路芯片在同一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件中最多包含一次測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果。所述步驟(5)將所述第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中相同器件號(hào)下的相同測(cè)試項(xiàng)目下的數(shù)據(jù)進(jìn)行變化量計(jì)算，具體為:先將所述第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中相同器件號(hào)下的相同測(cè)試項(xiàng)目下的數(shù)據(jù)進(jìn)行求差計(jì)算，再取絕對(duì)值。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是:(I)本發(fā)明數(shù)據(jù)處理過(guò)程中所需的所有參數(shù)，包括測(cè)試數(shù)據(jù)文件名、進(jìn)行變化量計(jì)算的測(cè)試項(xiàng)目、變化量極限值、變化量極限單位，在初始時(shí)進(jìn)行一次性記錄，在轉(zhuǎn)換過(guò)程中自動(dòng)進(jìn)行各類測(cè)試數(shù)據(jù)的提取、計(jì)算、判別，不需再次進(jìn)行人工干預(yù)，一次性完成變化量計(jì)算及判別的全部任務(wù)，具有良好的可操作性。(2)本發(fā)明對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)值提取、變化量計(jì)算、極限值判斷完全采用自動(dòng)進(jìn)行的方式，避免了人工操作時(shí)容易產(chǎn)生人為錯(cuò)誤，減輕了人工工作量，縮短了工作時(shí)間，同時(shí)提高了變化量計(jì)算的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性；(3)本發(fā)明所進(jìn)行的變化量計(jì)算方式，不僅針對(duì)某一試驗(yàn)前后的兩次測(cè)試數(shù)據(jù)，同時(shí)可以使用多次測(cè)試中的任意兩份測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，只要是同一器件同一測(cè)試項(xiàng)目，就可進(jìn)行數(shù)據(jù)提取、變化量計(jì)算，具有通用性。(4)本發(fā)明對(duì)于最終結(jié)果自動(dòng)生成匯報(bào)報(bào)表，對(duì)于每器件的所指定測(cè)試項(xiàng)均有準(zhǔn)確的變化量，同時(shí)若有超過(guò)變化量極限值的測(cè)試項(xiàng)目，另外還會(huì)單獨(dú)生成一份未通過(guò)項(xiàng)目匯報(bào)表，便于數(shù)據(jù)的后期分析，提高工作效率。(5)本發(fā)明解決了集成電路測(cè)試領(lǐng)域沒有數(shù)據(jù)變化量計(jì)算工具的問題，可以快速、準(zhǔn)確地計(jì)算數(shù)據(jù)變化量。


圖1是本方法生成第一臨時(shí)文件的過(guò)程示意圖。圖2是本方法在兩份數(shù)據(jù)文件中尋找相應(yīng)器件號(hào)的過(guò)程示意圖。
圖3是本方法提取各器件測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試數(shù)值的過(guò)程示意圖。圖4是本方法進(jìn)行變化量計(jì)算、判別及生成匯總報(bào)表及未通過(guò)項(xiàng)目匯報(bào)表的過(guò)程示意圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明提供了一種能夠?qū)崿F(xiàn)提取不同測(cè)試數(shù)據(jù)文件中相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目數(shù)據(jù)并計(jì)算變化量的方法，特別是針對(duì)同一器件不同測(cè)試環(huán)節(jié)下的實(shí)際需求，能夠進(jìn)行多種類測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)提取及變化量計(jì)算，并根據(jù)設(shè)置的極限值進(jìn)行通過(guò)與否的判斷，屬于集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，適用于集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)記錄生產(chǎn)方式。該方法按照集成電路器件號(hào)提取指定的數(shù)據(jù)文件中要求的測(cè)試項(xiàng)數(shù)據(jù)，計(jì)算變化量、判別極限。本發(fā)明方法的步驟如下:一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于包括以下步驟:( I)對(duì)待測(cè)批次的集成電路芯片按照各集成電路芯片的器件號(hào)進(jìn)行N次測(cè)試，生成N個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件，N為正整數(shù)且N大于等于2 ;每個(gè)集成電路芯片在同一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件中最多包含一次測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果。(2)按照?qǐng)D1所示，根據(jù)本方法實(shí)施在計(jì)算機(jī)內(nèi)的存儲(chǔ)位置，獲取當(dāng)前的計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)路徑。所有臨時(shí)文件及最終結(jié)果文件將在此目錄下產(chǎn)生。第一臨時(shí)文件中所有變量賦初始值NULL。將需要進(jìn)行數(shù)據(jù)提取的測(cè)試數(shù)據(jù)文件的文件名、進(jìn)行變化量計(jì)算的測(cè)試項(xiàng)目、變化量極限值和極限單位一次性記錄在第一臨時(shí)文件中；所述需要進(jìn)行數(shù)據(jù)提取的測(cè)試數(shù)據(jù)文件的文件名為2個(gè)。如果退出本方法，則刪除第一臨時(shí)文件。(3)按照?qǐng)D2，根據(jù)所述第一臨時(shí)文件中的需要進(jìn)行數(shù)據(jù)提取的測(cè)試數(shù)據(jù)文件名在步驟(I)中生成的多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件找到對(duì)應(yīng)的兩個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件，在該兩個(gè)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)文件中，根據(jù)第一臨時(shí)文件中的需要進(jìn)行變化量計(jì)算的測(cè)試項(xiàng)目分別進(jìn)行數(shù)據(jù)搜索，將目標(biāo)數(shù)據(jù)提取出來(lái)。具體為首先對(duì)文件2按行搜索器件號(hào)關(guān)鍵字“Device”。找到文件2中第一個(gè)器件號(hào)后，在文件I中進(jìn)行相同器件號(hào)的搜索。因?yàn)樵囼?yàn)后的文件2中器件數(shù)量通常會(huì)少于文件I中的器件數(shù)量，所以從文件2開始搜索。按照器件號(hào)，分別從文件1、2中提取步驟(I)中指定的測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)值。(4)按照?qǐng)D3，將步驟(3)中提取出來(lái)的兩個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件中的目標(biāo)數(shù)據(jù)按照所述第一臨時(shí)文件中的極限單位進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)單位的變換，生成統(tǒng)一單位的測(cè)試數(shù)據(jù)并分別保存在第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中；(5)按照?qǐng)D4，將所述第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中相同器件號(hào)下的相同測(cè)試項(xiàng)目下的數(shù)據(jù)進(jìn)行變化量計(jì)算，將變化量計(jì)算結(jié)果寫入第四臨時(shí)文件；具體為:先將所述第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中相同器件號(hào)下的相同測(cè)試項(xiàng)目下的數(shù)據(jù)進(jìn)行求差計(jì)算，再取絕對(duì)值，之后存入第四臨時(shí)文件。(6)將所述第一臨時(shí)文件中的變化量極限值與步驟(5)中第四臨時(shí)文件的變化量計(jì)算結(jié)果進(jìn)行比較，若第四臨時(shí)文件的變化量計(jì)算結(jié)果小于等于所述第一臨時(shí)文件中的變化量極限值，則將該變化量計(jì)算結(jié)果所對(duì)應(yīng)的器件號(hào)、測(cè)試數(shù)據(jù)和變化量計(jì)算結(jié)果本身存儲(chǔ)到總匯報(bào)表中；若第四臨時(shí)文件的變化量計(jì)算結(jié)果大于所述第一臨時(shí)文件中的變化量極限值，則將該變化量計(jì)算結(jié)果所對(duì)應(yīng)的器件號(hào)、測(cè)試數(shù)據(jù)和變化量計(jì)算結(jié)果本身同時(shí)存儲(chǔ)到總匯報(bào)表和未通過(guò)項(xiàng)目匯報(bào)表，且在總匯報(bào)表中相應(yīng)的變化量計(jì)算結(jié)果后寫入標(biāo)志F。完成所有器件的數(shù)據(jù)處理后，刪除所有臨時(shí)文件。以下舉例說(shuō)明。器件在某試驗(yàn)環(huán)節(jié)前后的變化量要求:
參數(shù)I符號(hào)I變化量極限
靜態(tài)電源電流Ilmi |±150nA步驟1:生成兩份測(cè)試數(shù)據(jù)文件LQl.dat和LH2.dat。試驗(yàn)前測(cè)試數(shù)據(jù)LQl.dat:
權(quán)利要求
1.一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于包括以下步驟: (1)對(duì)待測(cè)批次的集成電路芯片按照各集成電路芯片的器件號(hào)進(jìn)行N次測(cè)試，生成N個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件，N為正整數(shù)且N大于等于2 ； (2)將需要進(jìn)行數(shù)據(jù)提取的測(cè)試數(shù)據(jù)文件的文件名、進(jìn)行變化量計(jì)算的測(cè)試項(xiàng)目、變化量極限值和極限單位一次性記錄在第一臨時(shí)文件中； (3)根據(jù)所述第一臨時(shí)文件中的需要進(jìn)行數(shù)據(jù)提取的測(cè)試數(shù)據(jù)文件在步驟(I)中生成的多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件找到對(duì)應(yīng)的兩個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件，在該兩個(gè)對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)文件中，根據(jù)第一臨時(shí)文件中的需要進(jìn)行變化量計(jì)算的測(cè)試項(xiàng)目分別進(jìn)行數(shù)據(jù)搜索，將目標(biāo)數(shù)據(jù)提取出來(lái)； (4)將步驟(3)中提取出來(lái)的兩個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件中的目標(biāo)數(shù)據(jù)按照所述第一臨時(shí)文件中的極限單位進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)單位的變換，生成統(tǒng)一單位的測(cè)試數(shù)據(jù)并分別保存在第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中； (5)將所述第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中相同器件號(hào)下的相同測(cè)試項(xiàng)目下的數(shù)據(jù)進(jìn)行變化量計(jì)算，將變化量計(jì)算結(jié)果寫入第四臨時(shí)文件； (6)將所述第一臨時(shí)文件中的變化量極限值與第四臨時(shí)文件中的變化量計(jì)算結(jié)果進(jìn)行比較，若第四臨時(shí)文件中的變化量計(jì)算結(jié)果小于等于所述第一臨時(shí)文件中的變化量極限值，則將該變化量計(jì)算結(jié)果所對(duì)應(yīng)的器件號(hào)、測(cè)試數(shù)據(jù)和變化量計(jì)算結(jié)果本身存儲(chǔ)到總匯報(bào)表中； 若第四臨時(shí)文件的變化量計(jì)算結(jié)果大于所述第一臨時(shí)文件中的變化量極限值，則將該變化量計(jì)算結(jié)果所對(duì)應(yīng)的器件號(hào)、測(cè)試數(shù)據(jù)和變化量計(jì)算結(jié)果本身同時(shí)存儲(chǔ)到總匯報(bào)表和未通過(guò)項(xiàng)目匯報(bào)表，且在總匯報(bào)表中相應(yīng)的變化量計(jì)算結(jié)果后寫入標(biāo)志F。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于:所述需要進(jìn)行數(shù)據(jù)提取的測(cè)試數(shù)據(jù)文件的文件名為2個(gè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于:所述步驟(I)中每個(gè)集成電路芯片在同一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)文件中最多包含一次測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于:所述步驟(5)將所述第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中相同器件號(hào)下的相同測(cè)試項(xiàng)目下的數(shù)據(jù)進(jìn)行變化量計(jì)算，具體為:先將所述第二臨時(shí)文件和第三臨時(shí)文件中相同器件號(hào)下的相同測(cè)試項(xiàng)目下的數(shù)據(jù)進(jìn)行求差計(jì)算，再取絕對(duì)值。
全文摘要
一種集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法，根據(jù)指定的測(cè)試項(xiàng)目、變化量極限及極限單位對(duì)任意兩份文件進(jìn)行相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目變化量計(jì)算、判別。根據(jù)記錄的各項(xiàng)參數(shù)值，在指定的兩份文件里自動(dòng)進(jìn)行搜索，生成所有器件相應(yīng)測(cè)試項(xiàng)目變化量總匯報(bào)表，并根據(jù)極限值進(jìn)行判斷；若有未通過(guò)項(xiàng)目，自動(dòng)生成未通過(guò)項(xiàng)目匯報(bào)表。本發(fā)明極大地縮短了工作時(shí)間，提高了變化量計(jì)算的準(zhǔn)確性，提升了工作效率，并解決了本領(lǐng)域沒有相應(yīng)數(shù)據(jù)分析工具的問題。
文檔編號(hào)G06F17/30GK103116617SQ20131003244
公開日2013年5月22日 申請(qǐng)日期2013年1月29日 優(yōu)先權(quán)日2013年1月29日
發(fā)明者張小孟, 李鑫, 劉利新, 練濱浩, 姚全斌 申請(qǐng)人:北京時(shí)代民芯科技有限公司, 北京微電子技術(shù)研究所