技術編號：6398725
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及，屬于集成電路測試，適用于集成電路測試數(shù)據(jù)記錄生產(chǎn)方式。背景技術高等級集成電路生產(chǎn)過程中，集成電路在封裝完畢后獲得唯一的序列號，在各種可靠性試驗后的測試環(huán)節(jié)或其他所需進行的測試環(huán)節(jié)測試時，均按照初始獲得的唯一序列號進行數(shù)據(jù)記錄。集成電路的性能不僅通過測試數(shù)據(jù)來進行性能的判別，同時，數(shù)據(jù)變化量對于器件性能的判別也起著重要的作用。解決任意兩批次測試數(shù)據(jù)相應測試項目測試數(shù)值變化量的計算問題，可以對集成電路性能的判別起著進一步的確認作用。早期集成電路設計...
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請注意，此類技術沒有源代碼，用于學習研究技術思路。