專利名稱：用于測試安裝在控制裝置中的至少一個計算單元的方法
用于測試安裝在控制裝置中的至少 一個計算單元的方法
背景技術(shù)：
本發(fā)明涉及到用于測試至少一個安裝在控制裝置中的計算單元 的方法，其中尤其是安裝在汽車上的控制裝置。
本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域涉及到集成電路的測試，尤其是其中的計算單 元。以下計算單元、計算器件、計算裝置和數(shù)字核心是同義詞而表示 同樣的意思。
集成電路或者計算單元或者運算單元在非封裝狀態(tài)下測試是熟 知的。其中非封裝狀態(tài)的意思就是集成電路或者計算單元或者運算單 元尚未安裝到轉(zhuǎn)向裝置或類似裝置上，尤其是控制裝置。尤其是集成
電路的半導(dǎo)體生產(chǎn)工廠要進行這種測試。例如，所謂的Stuck-At測試 和Path-Delay測試就是為了該類測試。借助于Stuck-At測試例如可以 測試到相應(yīng)計算單元的掃描鏈或者掃描路徑上的接通電源電壓或者 接地后信號的潛在短路。借助于Path-Delay測試例如可以測試到信號 通過掃描鏈或者掃描路徑時的時間延遲。關(guān)于Stuck-At測試和 Path-Delay測試的詳細說明見于EP 05488585 A2。
發(fā)明優(yōu)點
具有權(quán)利說明書1中所述特征的本發(fā)明中的用于測試至少一個安 裝在控制裝置中的計算單元的方法與當前解決方案相比具有下列優(yōu) 點，計算單元在封裝或者安裝后的狀態(tài)下尤其是在閉合的控制裝置里 也可以進行測試。由此根據(jù)本發(fā)明，控制裝置的一個或者多個計算單 元(該控制裝置例如封裝在汽車的任意位置上)都是可以進行測試的。 根據(jù)本發(fā)明，尤其是可以在封裝了的控制裝置中進行Stuck-At測試和 Path-Delay測試。通過根據(jù)本發(fā)明的方法，可以確?？刂蒲b置及其計算單元在如同 在相應(yīng)的半導(dǎo)體工廠以同樣的方式和方法(由此具有相同類似的好的 測試覆蓋層)壓制和使用后仍然可以進行測試。尤其是由此產(chǎn)生了更好 在磁場回程狀態(tài)下的分析能力。尤其是大大提高由半導(dǎo)體工廠在非封 裝狀況下發(fā)現(xiàn)的確定的缺陷在封裝狀態(tài)下不^^現(xiàn)的概率。
基于本發(fā)明的思想主要包括提供具有下述步驟的用于測試至少 一個安裝在控制裝置上的計算單元的方法，其中該控制裝置包含控制 裝置接口，至少兩個計算單元，每個計算單元各自具有一個掃描奮連(或 者與內(nèi)部掃描鏈連接在一起的電路起始端)，而且還至少包含一個存儲 單元。步驟包括
-借助于控制裝置接口載入第一測試數(shù)據(jù)用于第一計算單元的測
試；
-把載入的第 一測試數(shù)據(jù)儲存到第二計算單元的第二存儲單元；
-將第一計算單元切換到測試模式，在該模式下借助于第二計算
單元可以訪問第 一計算單元的掃描鏈；
-借助于第二計算單元把第一測試數(shù)據(jù)從第二存儲單元中讀出；
-為了給第一計算單元提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)，借助于第二計算單元，
通過切換為測試模式的第一計算單元中的第一掃描鏈，轉(zhuǎn)移已讀
出的第一測試數(shù)據(jù)；
-借助于第二計算單元對所提供的測試結(jié)果數(shù)據(jù)進行可靠校驗， 以為第 一計算單元提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)。
從屬權(quán)利要求中給出了根據(jù)權(quán)利要求1的用于測試至少一個安裝 在控制裝置中的計算單元的方法的有利的優(yōu)化和改型。
根據(jù)本發(fā)明的有利的優(yōu)化，從第二存儲單元中讀出的測試數(shù)據(jù)借 助于第二計算單元，通過第一專用接口，并通過第一掃描鏈進行轉(zhuǎn)移， 其中，第二計算單元借助于該接口與第一掃描鏈聯(lián)接在一起。
才艮據(jù)本發(fā)明的有利的優(yōu)化，基于本發(fā)明的方法還包括以下步驟
-載入第二測試數(shù)據(jù)用于第二計算單元的測試，其中，第二測試數(shù)據(jù)借助于控制裝置接口栽入，或者存儲于第二存儲單元中第一
測試數(shù)據(jù)作為第二測試數(shù)據(jù)通過控制裝置的內(nèi)部接口載入； -把載入的第二測試數(shù)據(jù)儲存到第 一計算單元的第 一存儲單元； -將第二計算單元切換到測試模式，在該模式下借助于第一計算 單元可以訪問第二計算單元的掃描鏈； -借助于第一計算單元把第二測試數(shù)據(jù)從第一存儲單元中讀出； -為了給第二計算單元提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)，借助于第一計算單元， 通過切換為測試模式的第二計算單元中的第二掃描鏈，轉(zhuǎn)移已讀 出的第二測試數(shù)據(jù)；且
-借助于第 一計算單元對已提供的測試結(jié)果數(shù)據(jù)進行可靠校驗，
由此為第二計算單元提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)。
根據(jù)進一步的有利的優(yōu)化，從第一存儲單元中讀出的第二測試數(shù) 據(jù)借助于第一計算單元，通過第二專用接口，并通過第二掃描鏈進行 轉(zhuǎn)移，其中借助于該接口第一計算單元與第二掃描鏈連接在一起。
根據(jù)進一步的有利的優(yōu)化，該控制裝置具有時鐘用于提供預(yù)設(shè)時 鐘脈沖而通過各自的掃描鏈進行的分別讀出的測試數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)移用于 在提供的時鐘脈沖下進行Path-Delay測試。
才艮據(jù)本發(fā)明的有利的改型，第一專用接口和/或第二專用接口分別 設(shè)計為移位寄存器或者ASC接口或者SPI接口 。
根據(jù)進一步的有利的改型，控制裝置接口設(shè)計為CAN總線或者 Flex Ray總線或者K-Line總線。
根據(jù)進一步的有利的改型，各自提供的測試結(jié)果數(shù)據(jù)和/或測試結(jié) 果存儲在第一計算單元或者第二計算單元中的至少一個存儲單元中， 和/或通過控制裝置接口用于數(shù)據(jù)輸出。
根據(jù)進一步的有利的改型，時鐘的時鐘脈沖通過控制裝置接口進 行設(shè)置。
根據(jù)進一步的有利的優(yōu)化，第一計算單元和第二計算單元集成于 單個集成電路中，其中，該集成電路的每一個Stuck-At路徑都可以通過第一計算單元或者第二計算單元測試，該集成電路不屬于第一計算 單元或者第二計算單元。


本發(fā)明的實施實例見于附圖中且在下述說明中進一 步闡明。
其中
圖l顯示了基于該發(fā)明的方法的第一的示意性流程圖2顯示了基于該發(fā)明的方法的第二實施實例的示意性流程且
圖3顯示了控制裝置的實施實例的示意圖，該控制裝置借助于基 于本發(fā)明的方法進行測試。
具體實施例方式
在附圖中，同樣的參考符號表示同樣的功能或組成部分。 在圖1中顯示了基于本發(fā)明的第一實施實例的示意性流程圖?；?于本發(fā)明的用于測試至少 一個安裝在控制裝置中的微控制器的方法 含有下列方法步驟a)到f),其中該微控制器包含兩個計算單元2,3。其 中該控制裝置包括控制裝置接口、至少一個計算單元2，3、至少一個 存儲單元6,7,兩個計算單元2,3各自都包括掃描鏈4,5及掃描鏈4，5 的區(qū)域。
方法步驟a:
借助于控制裝置接口 ，載入第一測試數(shù)據(jù)用于第一計算單元2的 測試。控制裝置接口優(yōu)選地設(shè)計成CAN總線或者Flex Ray總線或者 K-Line總線。測試數(shù)據(jù)是特定建模的測試矢量，該矢量在半導(dǎo)體工廠 相應(yīng)的計算單元的電路綜合中產(chǎn)生或者形成。測試數(shù)據(jù)優(yōu)選地用于半 導(dǎo)體工廠的掃描模式。
方法步驟b:
第一測試數(shù)據(jù)儲存或者載入到第二計算單元3的第二存儲單元7中。
方法步驟c:
借助于第二計算單元3把第一計算單元2切換到測試模式。在該 模式下可以訪問第一計算單元2中的第一掃描鏈4或者第一掃描鏈4 的區(qū)域，也就是說，例如借助于第二計算單元3可以訪問第一掃描鏈 4。
方法步驟d:
借助于第二計算單元3把第一測試數(shù)據(jù)從第二存儲單元7中讀出。
方法步驟e:
為了給第 一計算單元2提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)，借助于第二計算單元 3，通過切換為測試模式的第一計算單元2中的第一掃描鏈4，轉(zhuǎn)移已 讀出的第一測試數(shù)據(jù)。優(yōu)選地把從第二存儲單元7中讀出的第一測試 數(shù)據(jù)借助于第二計算單元3,通過第一專用接口 8,并通過第一掃描 鏈4進行轉(zhuǎn)移，其中第二計算單元3借助于該第一專用接口 8與第一 掃描鏈4連接在一起。特別地，第一專用接口 8設(shè)計為移位寄存器或 者ASC接口或者SPI接口。
方法步驟f:
借助于第二計算單元3對已提供的測試結(jié)果數(shù)據(jù)進行可靠校驗， 由此為第一計算單元2提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)。特別地，把已提供的測試 結(jié)果與所期望的測試結(jié)果進行比較。測試結(jié)果可以特別表明對于第一
掃描鏈4是否有錯誤而特別是是否存在Stuck-At-錯誤。優(yōu)選地把用于 第一計算單元2的所給測試結(jié)果數(shù)據(jù)和/或所給測試結(jié)果存儲在存儲 單元、尤其是第二存儲單元7中?？蛇x地，用于第一計算單元2的所 給測試結(jié)果數(shù)據(jù)和/或所給測試結(jié)果也可以借助于任意的分析裝置通 過控制裝置接口用來輸出。
在圖2中顯示了基于本發(fā)明的第二實施實例的示意性流程圖。根 據(jù)圖2第二實施實例包括圖1所示的第一實施實例中的方法步驟a)到f)以及下列方法步驟g)到1)。圖2所示的第二實施實例提供了一種測 試方法，在該測試方法中第一計算單元2借助于第二計算單元3進行 測試而第二計算單元3借助于第一計算單元2進行測試。
圖2所示的方法步驟a)到f)相當于圖1所示的方法步驟a)到f)。 圖2所示的第二實施實例以方法步驟g)連接在圖1所示的第一實施實 例中方法步驟f)之后。
方法步驟g):
載入第二測試數(shù)據(jù)用于第二計算單元3的測試，其中，第二測試 數(shù)據(jù)借助于控制裝置接口載入，或者存儲于第二存儲單元7中第一測 試數(shù)據(jù)作為第二測試數(shù)據(jù)通過控制裝置1的內(nèi)部接口載入。例如，該 內(nèi)部接口可以設(shè)計為控制裝置的總線系統(tǒng)。
方法步驟h):
把載入的第二測試數(shù)據(jù)儲存或者寫入到第一計算單元2的第一存 儲單元6中。
方法步驟i):第二計算單元3借助于第一計算單元2切換到測試模式，在該模 式下可以訪問第二計算單元3中的第二掃描鏈5。尤其是在該模式下 第一計算單元2可以訪問第二計算單元3中的第二掃描鏈5。
方法步驟j):
借助于第一計算單元2把第二測試數(shù)據(jù)從第一存儲單元6中讀出。
方法步驟k):
為了給第二計算單元3提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)，借助于第一計算單元 2，通過切換為測試模式的第二計算單元3中的第二掃描鏈5，轉(zhuǎn)移已 讀出的第二測試數(shù)據(jù)。優(yōu)選地把從第 一存儲單元6中讀出的第二測試 數(shù)據(jù)借助于第一計算單元2,通過第二專用接口 9，并通過第二掃描 鏈5進行轉(zhuǎn)移。第二專用接口 9把第一計算單元2與第二掃描鏈5聯(lián) 接在一起。特別地，該接口設(shè)計為移位寄存器或者ASC接口或者SPI接口。
方法步驟l):
借助于第一計算單元2對已提供的測試結(jié)果數(shù)據(jù)進行可靠校驗， 以為第二計算單元3提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)。在可靠校驗過程中已提供的 測試結(jié)果數(shù)據(jù)與期望測試結(jié)果數(shù)據(jù)相比較，其中期望測試結(jié)果數(shù)據(jù)依 賴于第二測試數(shù)據(jù)。優(yōu)選地，用于第二計算單元3的所給測試結(jié)果數(shù) 據(jù)和/或所給測試結(jié)果存儲在控制裝置1的存儲單元6,7中的至少一個 中，尤其是儲存在第一存儲單元6中。可選地，用于第二計算單元3 的所給測試結(jié)果數(shù)據(jù)和/或所給測試結(jié)果也可以借助于任意的分析裝 置通過控制裝置接口用來輸出。
優(yōu)選地，不但在圖1所示的第一實施實例中而且在圖2所示的第 二實施實例中，控制裝置1設(shè)有時鐘10用于提供預(yù)設(shè)時鐘脈沖。因 此，分別讀出的測試數(shù)據(jù)通過各自的掃描鏈4,5按時鐘脈沖轉(zhuǎn)移。由 此，在所提供的時鐘脈沖下進行Path-Delay測試是可能的。在 Path-Delay測試中，特別是在直通(Durchschieben)中的延遲時間通過相 應(yīng)掃描鏈或者相應(yīng)掃描路徑的單獨單元進行測試。優(yōu)選地，時鐘10 的時鐘脈沖通過控制裝置接口進行調(diào)節(jié)。除此之外，可例如把分析裝 置連接在控制裝置接口上，由此可以對時鐘10的時鐘脈沖進行設(shè)置。 特別是按照圖1和圖2所示的兩個實施實例，第一計算單元2和第二 計算單元3可以連接在單個集成電路中，其中，該集成電路的每一個 Stuck-At路徑或者Stuck-At鏈都可以通過第一計算單元2或者第二計 算單元3進行測試，該集成電路不屬于第一計算單元或者第二計算單 元。
圖3顯示了微控制器1的實施實例的示意圖，該微控制器借助于 基于該發(fā)明的方法進行測試，如上所述。參考符號l特別表示微控制 器的硅晶面。微控制器l包括具有第一存儲單元6的第一計算單元2 和具有第二存儲單元7的第二計算單元3。此外，該控制裝置1還包 括控制裝置接口(未標示)，第一時鐘10和第二時鐘11。第一時鐘10專門為Path-Delay測試提供時鐘脈沖。第二時鐘11例如用于為第一 計算單元2和/或第二計算單元3提供時鐘脈沖。參考符號4和5表示 硅晶面上第一掃描鏈4的區(qū)域和第二掃描鏈5的區(qū)域。第二計算單元 3借助于第一專用接口 8可以訪問第一掃描鏈4的區(qū)域。第一計算單 元2借助于第二專用接口 9可以訪問第二掃描鏈5的區(qū)域。專用接口 8, 9專門分別設(shè)計成移位寄存器。
雖然上面所述發(fā)明是根據(jù)有利實施實例描述的，但是該發(fā)明并不 局限于此，而是可以以多種方式進行修改。例如借助于基于本發(fā)明的 方法進行測試的控制裝置中的待測計算單元的數(shù)目就是如此，該數(shù)目 就不會局限于2。借助于基于本發(fā)明的方法，可以測試具有任意數(shù)目 的計算單元的控制裝置。其它的設(shè)計模式是把測試矢量分配在共同的
存儲器中。此外，測試數(shù)據(jù)不存儲在硅片里面，而是說輸入數(shù)據(jù)和輸 出數(shù)據(jù)可以通過用于每個計算單元的分開的控制裝置接口載入而且 向外發(fā)送一 一這種做法也是可能的。
權(quán)利要求
1.一種方法，其用于測試安裝在控制裝置中的帶計算單元(2，3)的至少一個微控制器，其中該控制裝置具有裝置接口、至少兩個具有掃描鏈(4，5)的計算單元(2，3)(或者能夠以和計算單元相似的方式和方法進行接口操作的等效電路)和至少一個存儲單元(6，7)，所述方法包括下列步驟a)借助于該控制裝置接口載入第一測試數(shù)據(jù)用于第一計算單元(2)的測試；b)把載入的第一測試數(shù)據(jù)儲存到第二計算單元(3)的第二存儲單元(7)中；c)將該第一計算單元(2)切換到測試模式，在該模式下借助于第二計算單元(3)可以訪問第一計算單元(2)的第一掃描鏈(4)；d)借助于該第二計算單元(3)把第一測試數(shù)據(jù)從第二存儲單元(7)中讀出；e)借助于該第二計算單元(3)，通過切換為測試模式的第一計算單元(2)中的第一掃描鏈(4)，轉(zhuǎn)移已讀出的第一測試數(shù)據(jù)，以為該第一計算單元(2)提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)；f)借助于該第二計算單元(3)對已提供的測試結(jié)果數(shù)據(jù)進行可靠性校驗，以為該第一計算單元(2)提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，從所述第二存儲 單元(7)中讀出的第一測試數(shù)據(jù)借助于所述第二計算單元(3)，通過第一 專用接口(8),并通過所述第一掃描鏈(4)進行轉(zhuǎn)移，其中所述第二計算 單元(3)中借助于該第一專用接口(8)與所述第一掃描鏈(4)連接在一 起。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，該方法還包 括以下步驟g) 載入第二測試數(shù)據(jù)用于所述第二計算單元(3)的測試，其中，第二測試數(shù)據(jù)借助于所述控制裝置接口載入，或者，存儲于所述第二存 儲單元(7)中第一測試數(shù)據(jù)作為第二測試數(shù)據(jù)通過所述控制裝置(1)的內(nèi)部接口載入；h) 把載入的第二測試數(shù)據(jù)儲存或者寫入到所述第一計算單元(2) 的第一存儲單元(6)中；i) 借助于所述第一計算單元(2)把所述第二計算單元(3)切換到測試 模式，在該模式下可以訪問所述第二計算單元(3)中的第二掃描鏈(5);j)借助于所述第 一計算單元(2)把第二測試數(shù)據(jù)從所述第 一存儲單 元(6)中讀出；k)借助于所述第一計算單元(2),通過切換為測試模式的所述第二 計算單元(3)中的第二掃描鏈(5)，轉(zhuǎn)移已讀出的第二測試數(shù)據(jù)，以給所 述第二計算單元(3)提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)；且l)借助于第 一計算單元(2)對已提供的測試結(jié)果數(shù)據(jù)進行可靠校 驗，由此為第二計算單元(3)提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，從第一存儲單元(6) 中讀出的第 一測試數(shù)據(jù)借助于第 一計算單元(2)，通過第二專用接口 (9)，并通過第二掃描鏈(5)進行轉(zhuǎn)移，其中第一計算單元(2)借助于第 二專用接口 (9)與第二掃描鏈(5)聯(lián)接在一起。
5. 根據(jù)上面一項或多項權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，所 述控制裝置(1)設(shè)有時鐘(10)用于提供預(yù)設(shè)時鐘脈沖，而在應(yīng)用所提供 的時鐘脈沖的情況下，為進行Path-Delay測試而使相應(yīng)所讀的測試數(shù) 據(jù)通過各自的掃描鏈(4，5)進行轉(zhuǎn)移。
6. 根據(jù)權(quán)利要求2到5中一項或者多項所述的方法，其特征在 于，所述第 一 專用接口 (8)和/或所述第二專用接口 (9)分別設(shè)計為移位 寄存器或者ASC接口或者SPI接口。
7. 根據(jù)上面一項或多項權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，所 述控制裝置接口設(shè)計為CAN總線或者Flex Ray總線或者K-Line總線 或者LIN總線。
8. 根據(jù)上面一項或多項權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，相 應(yīng)的所給測試結(jié)果數(shù)據(jù)和/或相應(yīng)的所給測試結(jié)果存儲在所述第一計 算單元(2)或者所述第二計算單元(3)的存儲單元(6,7)的至少一個中，并 /或借助控制裝置接口用于輸出。
9. 根據(jù)權(quán)利要求5到8中一項或多項所述的方法，其特征在于， 所述時鐘(10)的時鐘脈沖通過控制裝置接口進行設(shè)置。
10. 根據(jù)上面一項或多項權(quán)利要求所述的方法，其特征在于，所 述第一計算單元(2)和所述第二計算單元(3)集成于單個集成電路中，其 中，該集成電路的每一個Stuck-At路徑都可以通過所述第一計算單元 (2)或者所述第二計算單元(3)進行測試，而該集成電路不屬于所述第一 計算單元(2)或者所述第二計算單元(3)。
全文摘要
本發(fā)明涉及到一種用于測試至少一個安裝在控制裝置上的計算單元(2，3)的方法，其中該控制裝置具有裝置接口，至少兩個具有掃描鏈(4，5)的計算單元(2，3)。而且至少具有一個存儲單元(6，7)，所述方法包括下列步驟該控制裝置接口用于載入用于測試第一計算單元(2)的第一測試數(shù)據(jù)，已經(jīng)載入的第一測試數(shù)據(jù)存儲在位于第二個計算單元(3)中的，第二計算單元(3)用于把第一計算單元(2)切換到測試模式，在測試模式中可以訪問第一計算單元(2)中的第一掃描鏈(4)，第二計算單元(3)用于從第二存儲單元(7)中讀取第一測試數(shù)據(jù)，第二計算單元(3)用于通過第一計算單元(2)中的第一掃描鏈(4)轉(zhuǎn)移已讀出的第一測試數(shù)據(jù)，其中第一掃描鏈(4)切換為測試模式，由此給第一計算單元(2)提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)，已提供的測試結(jié)果數(shù)據(jù)采用第二計算單元(3)進行可靠校驗，為了給第一計算單元(2)提供測試結(jié)果數(shù)據(jù)。
文檔編號G06F11/267GK101410809SQ200780010771
公開日2009年4月15日 申請日期2007年2月26日 優(yōu)先權(quán)日2006年3月28日
發(fā)明者A·奧 申請人:羅伯特.博世有限公司