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模塊、電子設備和評估工具的制作方法

文檔序號:6414564閱讀:222來源:國知局
專利名稱:模塊、電子設備和評估工具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種模塊它包括功能塊和用于在模塊的評估方式下控制功能塊的測試控制器,該測試控制器包括包含輸入引腳和輸出引腳的多個引腳;耦合在輸入引腳和輸出引腳之間的第一寄存器,用于通過輸入引腳接收位模式,并通過輸出引腳輸出位模式;耦合到第一寄存器的第二寄存器,用于響應更新信號而捕獲另外的位模式。本發(fā)明也涉及一種包括多個模塊的電子設備,并涉及評估這種電子設備的評估工具。
隨著電子設備復雜性的不斷提高,例如,像芯片上系統(tǒng)(SoC)那樣的超大規(guī)模集成電路(VLSI),或像多芯片模塊(MCM)那樣的多芯片裝置,或印制電路板(PCB),越來越導致這樣的設備使用模塊設計方法。集成在這種設備中的模塊可從外部用戶得到,例如硬件或軟件核供應商,他們專門從事設計具有特殊功能性(例如數(shù)字信號或算術(shù)處理)的模塊。電子設備中的各種模塊可能來自不同供應商的事實,是調(diào)試電子設備變得更加重要的一個原因。在調(diào)試過程中,評估電子設備模塊的功能行為,以確定各種模塊是否正確操作和配合。
為了啟動模塊的評估方式(例如測試或調(diào)試方式),這樣的模塊將配備有測試控制器,該測試控制器可以是IEEE1149.1順應測試控制器,例如JTAG測試接入端口(TAP)控制器。通常,模塊的測試控制器以菊花鏈狀配置連接在一起,以能通過模塊鏈串行移動位模式,例如控制器指令和測試數(shù)據(jù)。測試控制器的互連是首選的,因為雖然單個模塊的分開存取不是不可能的,但卻很困難。測試控制器的適當?shù)囊莆患拇嫫魈钣兴鼈兊母髯缘奈荒J?,這些位模式通常在評估方式的更新周期內(nèi)復制到更新或陰影寄存器(shadow register)中。這樣,新的數(shù)據(jù)可在評估方式的在下一個移位周期內(nèi)移到移位寄存器中,在更新寄存器中的數(shù)據(jù)不會受影響。
在論文“在芯片上系統(tǒng)集成電路上實現(xiàn)IEEE1149.1的考慮事項”(conference journal‘Proceedings of the international test conference(ITC)’2000,p.628-637,by Steven F.Oakland)中,特別是在該論文的圖7公開了這樣配置的示例。該圖示出了具有多個并行的具有一個主TAP的嵌入式核的菊花鏈串行連接的IEEE1149.1順應TAP的電子設備。
具有這樣配置的一個問題是,通常同時只能調(diào)試一個模塊,以保持軟件任務的可行。這通常通過專用調(diào)試軟件來實現(xiàn)。然而,為了能將所需的控制和數(shù)據(jù)位模式饋送到目標模塊,也就是調(diào)試中的模塊,必須更新整個鏈接的掃描鏈寄存器。這可能也會影響非目標模塊的狀態(tài),因為專用調(diào)試軟件只有存取路徑的知識(即鏈接的掃描寄存器鏈),可是缺乏關(guān)于其它模塊當前狀態(tài)的知識。因此,其它模塊的狀態(tài)會由于調(diào)試中模塊的更新動作而改變,因為未定義的位模式可載入更新寄存器中。改變周圍模塊的狀態(tài)可能會改變來自這樣模塊的信號。這可能對調(diào)試結(jié)果的可靠性具有不利的影響,因為這些結(jié)果可能依賴于外部信號,例如來自周圍模塊的通信。
本發(fā)明的一個目的就是,提供一種具有在更新動作期間能保持模塊當前狀態(tài)的測試控制器的模塊。
本發(fā)明由獨立權(quán)利要求定義。從屬權(quán)利要求定義有利的實施例。
本發(fā)明基于這樣的實現(xiàn)特別在調(diào)試方式期間,也可能在測試方式期間,希望凍結(jié)寄存器的內(nèi)容以保持相聯(lián)系模塊的狀態(tài)。根據(jù)本發(fā)明,這通過包括用于響應位模式(例如數(shù)據(jù)模式或指令)阻止更新信號的專用控制電路來實現(xiàn)的。阻止這個方式的第二寄存器可以是配置成捕獲第一寄存器的位模式的寄存器,或可以是配置或捕獲來自另一個移位寄存器的位模式的寄存器。
在本發(fā)明的一個實施例中,專用控制電路包括第一邏輯門,該第一邏輯門具有第一輸入,用于接收更新信號;耦合到第一寄存器的第二輸入,用于接收位模式;以及耦合到第二寄存器的輸出。在這個實施例中,位模式(可能是一位)被直接饋送到第一邏輯門,例如“與”、“與非”或“或非”門或像晶體管那樣的開關(guān),其根據(jù)位模式值阻止更新信號到第二寄存器的傳輸。這具有這樣的優(yōu)點通過附加的專用控制電路引入可忽略不計的面積開銷,并且可使用非常小的位模式阻止更新信號,在所需的數(shù)據(jù)通信方面這是很有利的。
在本發(fā)明的另一個實施例中,專用控制電路還包括耦合在第一寄存器和第二輸入之間的多個邏輯門,用于給第二輸入提供在修改形式下的位模式。這具有這樣的優(yōu)點可將專用位模式以指令形式提供給模塊,其中上述多個邏輯門用作指令的硬件解碼器??蓪⑦@樣的指令加到現(xiàn)有的測試或調(diào)試指令集中,例如IEEE1149.1順應指令集,這意味著使用這樣指令集的所需的專用調(diào)試軟件包可將指令應用于沒被調(diào)試的模塊,由此增加各種模塊的穩(wěn)定性并提高調(diào)試可靠性。
如果測試控制器還包括多路復用器,該多路復用器具有控制終端、第一輸入、第二輸入和耦合到輸出引腳的輸出;第三寄存器,耦合在多路復用器的第一輸入和輸入引腳之間;以及無更新旁路寄存器,耦合在多路復用器的第二輸入和輸入引腳之間;多路復用器的控制終端至少響應部分位模式,則是另一個優(yōu)點。
在某些情況下,凍結(jié)第二寄存器(例如指令更新寄存器)必須結(jié)合通過評估方式下的模塊的明確定義的數(shù)據(jù)路徑,以能加載一連串的評估掃描方式下的模塊。附加固定長度旁路寄存器保證了這樣數(shù)據(jù)路徑的存在。
如果專用控制電路包括第二邏輯門,該第二邏輯門具有耦合到多個邏輯門的第一輸入,用于接收在修改形式下的位模式;第二輸入,用于接收另外的更新信號;以及耦合到第三寄存器的輸出,該第三寄存器響應另外的更新信號,則又是一個優(yōu)點。
這個配置保證當防止第二寄存器的更新時也凍結(jié)第三寄存器的內(nèi)容。當?shù)诙拇嫫鲾y帶指令并且第三寄存器攜帶與那個指令相關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù),而且該指令和數(shù)據(jù)都被要求保持模塊在穩(wěn)定狀態(tài)或掩蓋任何來自非活動測試控制器的動作時,這是特別有用的。
如果輸出路徑包括響應更新信號的數(shù)據(jù)存儲單元,用于存儲在修改形式下的位模式,則是另一個優(yōu)點。數(shù)據(jù)存儲單元(例如專用寄存器或至少一個觸發(fā)器)的使用,保證了位模式遍布兩個連續(xù)更新信號之間的整個時間段都以穩(wěn)定形式出現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例,測試控制器還包括另外的多路復用器,該另外的多路復用器具有第一輸入、第二輸入、輸出和耦合到第二寄存器的輸出的控制終端;第一另外的寄存器,耦合在另外的多路復用器的第一輸入和輸入引腳之間;第二另外的寄存器響應更新信號,第二另外的寄存器具有至少一個耦合到第一寄存器的輸入;以及耦合在輸入引腳和第二輸入之間的導體;第一寄存器耦合在多路復用器的輸出和輸出引腳之間;以及第一邏輯門的第二輸入通過第二寄存器耦合到第一寄存器。
這個配置也特別適用于解決與現(xiàn)有技術(shù)配置(像由Steven F.Oakland公開的那樣)相關(guān)的另一個問題。評估(例如調(diào)試)通常包括在評估設備和評估中的模塊之間的高密度數(shù)據(jù)通信量。如果總的移位寄存器的串聯(lián)非常長,那么在所需的總評估時間方面這可能成為一個嚴重的瓶頸,因為將新的位模式插入評估中的模塊所需的時間是由串聯(lián)的長度控制的。本發(fā)明的實施例通過在第一另外的寄存器(即串聯(lián)中的移位寄存器)周圍提供旁路來解決這個問題,一旦已經(jīng)將第二另外的寄存器帶進了預期狀態(tài),并防止了第二另外的寄存器的更新。這樣,就能極大地減少移位寄存器串聯(lián)的長度,其啟動每個時間單位執(zhí)行較高數(shù)量的評估動作,例如與現(xiàn)有技術(shù)配置相比更加廣泛的測試或調(diào)試,與現(xiàn)有技術(shù)配置相比,其可用于降低總的評估時間也或者在使用的總時間量相同時,可提高評估質(zhì)量。
有利的是,第二另外的寄存器響應復位信號。這樣,該寄存器就能容易地返回到初始狀態(tài)。任選地,第二寄存器也響應這個復位信號,其能用于將第一另外的寄存器返回到移位寄存器的串聯(lián)。
如果第一邏輯門的第二輸入通過另外的邏輯門耦合到第二寄存器,另外的邏輯門還耦合到第一寄存器,則又是一個優(yōu)點。
這個配置保證當進入測試控制器的旁路方式時已凍結(jié)第二另外的寄存器的內(nèi)容,以保證在將旁路方式載入第一寄存器之前加載的方式。
如果專用控制電流還包括響應第二寄存器的多個邏輯門,所述多個邏輯門具有它們的耦合到第二另外的寄存器的輸入,并具有至少一個耦合到另外的多路復用器的控制終端的輸出,則是另一個優(yōu)點。
多個邏輯門配置為對第二另外的寄存器的內(nèi)容進行解碼,并產(chǎn)生多個評估控制信號,包括第二多路復用器的控制終端的控制信號。這提高了評估方式下的靈活性,因為從幾個專用位模式可產(chǎn)生寬范圍的控制信號。
現(xiàn)在,通過權(quán)利要求11所述的電子設備實現(xiàn)本發(fā)明的另一方面。
這樣的電子設備將會改進評估性能,因為在模塊的評估期間各種周圍的模塊都可保持在穩(wěn)定狀態(tài),其提供了所涉及的模塊之間的更加可靠的相互作用。這提供了更加好的電子設備的評估質(zhì)量,其使得銷售的電子設備更加可靠。此外,根據(jù)本發(fā)明的旁路設備的使用將降低評估的持續(xù)時間,其可用于降低評估時間和成本,以使電子設備更加便宜,或者可用于擴展指定時間跨度內(nèi)的評估,以產(chǎn)生更好的評估以及由此更可靠的電子設備。
通過權(quán)利要求12所述的評估工具實現(xiàn)了本發(fā)明的又一方面。
這樣評估工具(例如,調(diào)試或測試軟件,或具有內(nèi)部存儲的這樣位模式集合的調(diào)試或測試硬件)的位模式集合的擴展,通過在工具中包括本發(fā)明的位模式,提高了評估工具的質(zhì)量。因為評估中電子設備的增加的穩(wěn)定性,工具的評估結(jié)果變得更加可靠,并且當通過使用位模式可以減小移位寄存器串聯(lián)的長度時,電子設備的總評估時間會減少。這些優(yōu)點提高了評估工具的可銷售性。
參考附圖,通過非限制性示例更加詳細地描述本發(fā)明,附圖中

圖1描述了根據(jù)本發(fā)明的模塊的實施例;圖2描述了根據(jù)本發(fā)明的模塊的另一個實施例;圖3描述了根據(jù)本發(fā)明的模塊的又一個實施例;圖4描述了根據(jù)本發(fā)明的模塊的又一個實施例;圖5描述了根據(jù)本發(fā)明的模塊的另一個的實施例;圖6描述了根據(jù)本發(fā)明的模塊的再一個另外的實施例;圖7描述了根據(jù)本發(fā)明的模塊的再一個另外的實施例;以及圖8描述了根據(jù)本發(fā)明的電子設備。
除了特別說明外,相應的標號具有同樣的意義。
在圖1中,模塊100具有功能塊120,其耦合到測試控制器140。測試控制器140接收來自多個引腳160(例如測試接入端口(TAP))的測試信號。多個引腳160包含輸入引腳162和輸出引腳164,用于從和向外部單元(例如其它模塊或測試器)接收和發(fā)送數(shù)據(jù)(例如位模式)。測試模塊140包括耦合在輸入引腳162和輸出引腳164之間的第一寄存器142。第一寄存器142可以是指令移位寄存器或數(shù)據(jù)移位寄存器。測試模塊140還具有第二寄存器144,用于響應更新信號捕獲第一寄存器142的內(nèi)容??芍苯訌膩碜远鄠€引腳160的另外的引腳(未示出)或從解碼器170接收更新信號,該解碼器170耦合到來自多個引腳160的測試方式選擇引腳166。解碼器170可以是IEEE1149.1(即邊界掃描測試(BST))順應TAP控制器。第二寄存器144配置為產(chǎn)生測試控制信號145,用于控制模塊100的另外的測試裝置(未示出)。
第一寄存器142具有連接到第二寄存器144的輸入的輸出。此外,該輸出也饋送到多個邏輯門180,該多個邏輯門180用作解碼電路以對第一寄存器142的內(nèi)容進行解碼。多個邏輯門180是專用控制電路的一部分,它產(chǎn)生選通信號,也就是將來自第一寄存器142的位模式改變?yōu)樵谛薷男问较碌奈荒J?,在第一寄存器的預定義內(nèi)容,例如,當遇到專用無更新指令時。更新第二寄存器144的更新信號的選通是通過邏輯門182實現(xiàn)的,其是專用控制電路的另一部分,并具有耦合到解碼器170用于接收更新信號的第一輸入,以及用于接收來自多個邏輯門180的選通信號的第二輸入。邏輯門182描述為“與”門,但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員將很清楚,也可使用包括開關(guān)(例如晶體管)的其它邏輯門以得到類似的功能行為。這個配置能凍結(jié)第二寄存器144的內(nèi)容和相關(guān)聯(lián)的控制信號。因此,只要在解碼器170產(chǎn)生的更新信號出現(xiàn)之前將專用指令載入第一寄存器142中,模塊100的評估方式就能保持在穩(wěn)定狀態(tài)。
現(xiàn)在,將回過頭參考圖1及其詳細描述來描述后面的附圖。在圖2中,用多個另外的寄存器150擴展了模塊100的測試控制器140,這里包括第三寄存器152、第四寄存器154和第五寄存器156(只作為非限制性示例),每個寄存器的輸入都耦合到輸入引腳162,它們的輸出通過在第二寄存器144控制下的第一多路復用器146耦合到輸出引腳164。需要強調(diào)的是,多個寄存器150是作為示例使用的,事實上多個寄存器150可包括單個的寄存器,也就是第三寄存器152。
此外,測試控制器140包括無更新旁路寄存器158,它耦合在輸入引腳162和多路復用器186之間。多路復用器186的另一個輸入連接到多路復用器146的輸出,并且它的輸出連接到輸出引腳164。需要強調(diào)的是,盡管圖2中未示出,但是多路復用器186的輸出和第一寄存器142的輸出也可通過多路復用器耦合到輸出164。多路復用器186由選通信號控制,該選通信號由專用控制電路的多個邏輯門180產(chǎn)生。當多個邏輯門180對第一寄存器142中的無更新指令進行解碼時,選通信號將切換通過多路復用器186到無更新旁路寄存器158的路徑。
這樣,當模塊100的評估狀態(tài)保持恒定時,存在一個通過模塊100經(jīng)由無更新旁路寄存器158的明確定義的數(shù)據(jù)路徑。如果特定模塊的評估軟件需要包括通過模塊鏈中的其它模塊的掃描鏈的長度信息,那么這樣的明確定義的數(shù)據(jù)路徑可能是必要的。無更新旁路寄存器的大小最好是一位。此外,數(shù)據(jù)存儲單元184最好包含在從多個邏輯門180到多路復用器186的控制終端的輸出路徑中。這個數(shù)據(jù)存儲單元184響應來自解碼器170或來自多個引腳160的另外的引腳(未示出)的更新信號,存儲兩個連續(xù)更新信號之間的選通信號。因此,通過多路復用器186的適當路徑在連續(xù)更新信號之間保持穩(wěn)定。
或者,當來自多個旁路寄存器150的寄存器是旁路寄存器時,可以省略多路復用器186、無更新旁路寄存器158和數(shù)據(jù)存儲單元184。在這個備選實施例中,存儲在第二寄存器144中的無更新指令或數(shù)據(jù)模式必須包括適當?shù)奈?,用于選擇通過多路復用器146的正確路徑,例如選擇來自多個寄存器150的旁路寄存器的路徑。多路復用器146的輸出可直接耦合到輸出引腳164。在來自解碼器170或來自多個引腳160的另外的引腳(未示出)的連續(xù)更新信號之間,存儲在第二寄存器144的數(shù)據(jù)是穩(wěn)定的,這保證了在連續(xù)更新信號之間通過多路復用器146的數(shù)據(jù)路徑的穩(wěn)定性。
現(xiàn)在,回過頭參考圖2及其詳細描述來描述圖3。在圖3中,用第二邏輯門188擴展了測試控制器140,用于凍結(jié)第三寄存器152的內(nèi)容。第二邏輯門188的第一輸出耦合到解碼器170或來自多個引腳160的第二另外的引腳(未示出),用于接收另外的更新信號,例如數(shù)據(jù)寄存器更新信號。第二邏輯門188的第二輸入耦合到多個邏輯門180的輸出,用于提供選通信號。第二邏輯門188的輸出耦合到第三寄存器152。這樣,在連續(xù)的另外更新信號之間,不僅凍結(jié)第二寄存器144的內(nèi)容而且凍結(jié)第三寄存器152的內(nèi)容,如果模塊100的狀態(tài)首先由第二寄存器144和第三寄存器152的內(nèi)容定義,那么這可能是重要的。需要強調(diào)的是,上述另外更新信號可以與上述更新信號相同。測試控制器的這個特定實施例能夠掩蓋在由測試控制器140控制的數(shù)據(jù)寄存器(更具體地說就是解碼器170)上的動作。在具有非活動或非定址的解碼器170(例如TAP控制器)模塊100中的動作(例如狀態(tài)改變)不合乎要求的情況下,這是一個重要的優(yōu)點,因為它們對其它模塊的評估具有干擾的影響。
回過頭參考圖3及其詳細描述來描述圖4。在圖4所示的實施例中,多個邏輯門180的輸入耦合到第二寄存器144的輸出。在這個配置中,在遇到指示第三寄存器152的無更新動作的第二寄存器144中的位模式的期間,只凍結(jié)第三寄存器152的內(nèi)容。當?shù)诙拇嫫?44沒有用于直接控制模塊100的調(diào)試時,這樣的配置是有用的,用于掩蓋任何來自模塊100由第三寄存器152的內(nèi)容中的改變所觸發(fā)的動作。
回過頭參考前面的附圖及它們的詳細描述來描述圖5。圖5中示出了本發(fā)明的另一個實施例。這里,第一寄存器142用作第一另外的寄存器242的旁路寄存器。第一寄存器142的輸入通過另外的多路復用器250的第一輸入耦合到第一另外的寄存器242的輸出。多路復用器250的第二輸入直接耦合到數(shù)據(jù)輸入162,從而通過旁路線路252有效地繞過第一另外的寄存器242。第二寄存器144用作這個第一寄存器142的更新寄存器。第一另外的寄存器242可以是數(shù)據(jù)移位寄存器或指令移位寄存器,耦合到第二另外的寄存器244,第二另外的寄存器244可用作第一另外的寄存器242的更新寄存器。第二另外的寄存器244通常產(chǎn)生圖1所描述的評估控制信號145。第二另外的寄存器244響應由解碼器170產(chǎn)生或通過來自多個引腳160的另外的引腳(未示出)接收的更新信號??蛇x地,第二寄存器144也響應這個復位信號,如圖5所示。第二寄存器144的輸出耦合到另外的多路復用器250的控制終端和第一邏輯門182的第二輸入,第一邏輯門182的第一輸入配置為接收更新信號,并且第一邏輯門182的輸出耦合到第二另外的寄存器244。
起初,移入測試控制器140(例如移入與第一寄存器142串聯(lián)的第一另外的寄存器242)的位模式將包括在從第一寄存器142到第二寄存器144的位模式更新之前駐留在第一寄存器142中的位模式。最好,這個位模式由一位組成,并且第一寄存器142和第二寄存器144都是一位寄存器。同時,該位模式包括另外的位模式,該另外的位模式在其到第二另外的寄存器244的更新之前駐留在第一另外的寄存器242中。在更新到第二寄存器144中的位模式控制第二另外的寄存器244的選通和通過另外的多路復用器250的路徑。用適當?shù)奈荒J?,例如邏輯?’,選擇旁路線路252,并在下一個更新周期阻止第二另外的寄存器244的更新。只要第一寄存器142在每下一更新周期之前包含適當?shù)奈荒J?,那么這個行為將繼續(xù)。復位位模式(例如邏輯‘1’)一從第一寄存器142更新到第二寄存器144,第一另外的寄存器242就將再一次包含在輸入引腳162和輸出引腳164之間的路徑中,并且第二另外的寄存器244將在下一個更新周期再一次更新。
任選地,第二寄存器144和第二另外的寄存器244響應通過來自多個引腳160的另外的引腳168的復位信號,用于將它們帶到初始狀態(tài)。這在評估方式初始化期間可以防止不需要的模塊100的行為。圖5中所示實施例的主要優(yōu)點是,在另外的模塊的評估期間,操作為移位寄存器的第一另外的寄存器242,可由固定大小(例如一位)的第一寄存器142代替,該第一寄存器142充當旁路寄存器,不需要用于接收旁路控制信號的附加引腳或附加旁路控制器。這有效地減少了通過電子設備的模塊的總掃描鏈的長度,其能夠在給定時間段期間提高饋送到評估中的模塊的位模式的數(shù)量。也因為第一寄存器142具有固定大小,所以其它模塊的評估工具的開發(fā)變得更加容易了,因為在其它模塊評估期間,評估工具只能將標準旁路指令載入模塊100的第一寄存器142中,由此通過選通第二另外的寄存器244的更新而凍結(jié)它的狀態(tài)。這提高了評估中模塊的評估可靠性。需要強調(diào)的是,第二寄存器144的內(nèi)容又可用作測試控制信號145。在那種情況下,第二寄存器144可被看作為到第二另外的寄存器244的不可選通的擴展。這具有這樣的優(yōu)點提高了測試控制器140的測試地址空間,當?shù)诙硗獾募拇嫫?44的內(nèi)容保持穩(wěn)定時,其增加了可選的測試方式的數(shù)量。
回過頭參考圖5及其詳細描述來描述圖6。在圖6中,用另外的邏輯門282擴展了圖5中的實施例。另外的邏輯門282配置為給第一邏輯門182提供修改的選通信號,用于保持第二另外的寄存器244的內(nèi)容。為此,另外的邏輯門282具有耦合到第一寄存器142的輸出的第一輸入,和耦合到第二寄存器144的輸出的第二輸入。另外的邏輯門282的輸出耦合到第一邏輯門182的第二輸入。這個配置允許第二另外的寄存器244的內(nèi)容的保持,其在包括旁路操作碼的位模式的加載之前被加載,這允許在第二另外的寄存器244中的位模式的保持中的更大靈活性。
回過頭參考圖6及其詳細描述來描述圖7。在圖7給出的實施例中,第二另外的寄存器244的輸出耦合到響應第二寄存器144的內(nèi)容的多個邏輯門280。多個邏輯門280用作存儲在第二寄存器144中的位模式的解碼器,以便產(chǎn)生解碼的位模式(即在修改形式下的位模式),其用于控制多路復用器250,并且作為選擇,產(chǎn)生第一邏輯門182的選通信號。存在專用解碼邏輯響應位模式,這具有可以覆蓋大量測試方式的優(yōu)點,因為擴大了測試定址空間。
需要指出的是,圖5-7中所示的示范性實施例,至少可用第二另外的寄存器244的控制中的附加寄存器來擴展,用于以類似于圖2-4及其詳細描述所教導的來定義通過測試控制器140的固定路徑。需要強調(diào)的是,這樣的配置,即通過用至少第二另外的寄存器244的部分內(nèi)容控制多路復用器來選擇通過測試控制器140的寄存器,從邊界掃描測試控制器來說本質(zhì)上是已知的。
圖8示出了帶有4個模塊100的電子設備300,該模塊100具有根據(jù)本發(fā)明的測試控制器140。在評估方式下,模塊100通過電子設備的輸入連接362和輸出連接364以及模塊100的各自輸入引腳162和輸出引腳164而互連。在正常方式下,模塊100的各自功能塊120,可以是4個不同的功能塊120,通過數(shù)據(jù)通信網(wǎng)絡320(例如點對點硬布線互連、數(shù)據(jù)通信總線、兩者的結(jié)合或其它眾所周知的數(shù)據(jù)通信結(jié)構(gòu))彼此耦合。
本領(lǐng)域的技術(shù)人員將清楚,盡管這最好應該是本發(fā)明的優(yōu)點最大化的情況,但并不是電子設備300的所有模塊100都必須是根據(jù)本發(fā)明的模塊。
使用電子設備300的模塊100中的、根據(jù)本發(fā)明的測試控制器140具有這樣的優(yōu)點每個模塊100都能在其它模塊100之一的評估(例如測試或調(diào)試)期間保持在穩(wěn)定狀態(tài),例如功能狀態(tài)或?qū)S脺y試或調(diào)試狀態(tài)。此外,當保持模塊100是穩(wěn)定狀態(tài)時,可以選擇通過每個模塊100的旁路線路。這具有這樣的優(yōu)點電子設備300的評估結(jié)果可變得更加可靠,并且評估變得更加廣泛,這使得板上具有未發(fā)現(xiàn)的錯誤的電子設備在市場上銷售的機會很小。此外,本發(fā)明的模塊可使評估時間更短,其降低了電子設備300的成本。
應當注意,上述實施例是說明而非限制了本發(fā)明,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可在不脫離所附權(quán)利要求書的范圍的前提下設計出許多備選實施例。在權(quán)利要求書中,置于括號內(nèi)的任何標號均不應解釋為限制了權(quán)利要求?!鞍ā币辉~不應排除在權(quán)利要求中提到的以外的元件或步驟的存在。元件之前的詞“一個”并不排除多個這種元件的存在。本發(fā)明可通過包括若干不同元件的硬件來實現(xiàn)。在列舉了若干裝置的設備權(quán)利要求中,若干這些裝置可由同一個硬件項來實現(xiàn)。在相互不同的從屬權(quán)利要求中引用的一些措施并不表示這些措施不能結(jié)合起來使用而具有優(yōu)點。
權(quán)利要求
1.一種模塊,包括功能塊和用于在所述模塊的評估方式下控制所述功能塊的測試控制器,所述測試控制器包括多個引腳,包含輸入引腳和輸出引腳;第一寄存器,耦合在所述輸入引腳和所述輸出引腳之間,用于通過所述輸入引腳接收位模式,并通過所述輸出引腳輸出所述位模式;以及第二寄存器,耦合到第一寄存器,用于響應更新信號而捕獲所述位模式;其特征在于,所述測試控制器還包括專用控制電路,用于響應所述位模式而阻止所述更新信號。
2.如權(quán)利要求1所述的模塊,其特征在于,所述專用控制電路包括第一邏輯門,該第一邏輯門具有第一輸入,用于接收所述更新信號;第二輸入,耦合到第一寄存器,用于接收所述位模式;以及輸出,耦合到第二寄存器。
3.如權(quán)利要求2所述的模塊,其特征在于,所述專用控制電路還包括多個邏輯門,該多個邏輯門耦合在第一寄存器和第一邏輯門的第二輸入之間,用于給第二輸入提供在修改形式下的位模式。
4.如權(quán)利要求3所述的模塊,其特征在于,所述測試控制器還包括多路復用器,具有控制終端、第一輸入、第二輸入和耦合到所述輸出引腳的輸出;第三寄存器,耦合在所述多路復用器的第一輸入和所述輸入引腳之間;以及無更新旁路寄存器,耦合在所述多路復用器的第二輸入和所述輸入引腳之間;所述多路復用器的控制終端響應所述位模式的至少一部分。
5.如權(quán)利要求4所述的模塊,其特征在于,所述專用控制電路包括第二邏輯門,該第二邏輯門具有第一輸入,耦合到所述多個邏輯門,用于接收所述修改形式下的位模式;第二輸入,用于接收另外的更新信號;以及輸出,耦合到第三寄存器,第三寄存器響應所述另外的更新信號。
6.如權(quán)利要求4或5所述的模塊,其特征在于,所述多個邏輯門的輸出路徑包括響應所述更新信號的數(shù)據(jù)存儲單元,用于存儲所述修改形式下的位模式。
7.如權(quán)利要求2所述的模塊,其特征在于,所述測試控制器還包括另外的多路復用器,具有第一輸入、第二輸入、輸出和耦合到第二寄存器的輸出的控制終端;第一另外的寄存器,耦合在所述另外的多路復用器的第一輸入和所述輸入引腳之間;第二另外的寄存器,響應所述更新信號,第二另外的寄存器至少具有耦合到第一另外的寄存器的輸入;以及導體,耦合在所述另外的多路復用器的第二輸入和所述輸入引腳之間;第一寄存器,耦合在所述多路復用器的輸出和所述輸出引腳之間;第一邏輯門的第二輸入,通過第二寄存器耦合到第一寄存器。
8.如權(quán)利要求7所述的模塊,其特征在于,第二另外的寄存器響應復位信號。
9.如權(quán)利要求7或8所述的模塊,其特征在于,第一邏輯門的第二輸入通過另外的邏輯門耦合到第二寄存器,所述另外的邏輯門還耦合到第一寄存器。
10.如權(quán)利要求7或8所述的模塊,其特征在于,所述專用控制電路還包括多個邏輯門,該多個邏輯門響應第二寄存器中的位模式,所述多個邏輯門具有它們的耦合到第二另外的寄存器的輸入,并具有至少一個耦合到所述另外的多路復用器的控制終端的輸出。
11.一種包括多個模塊的電子設備,在評估方式下該多個模塊通過相應的輸入引腳和輸出引腳基本串行互連,來自所述多個互連模塊的一個模塊包括功能塊和用于在所述模塊的評估方式下控制所述功能塊的測試控制器,所述測試控制器包括多個引腳,包括來自所述相應的輸入引腳的輸入引腳和來自所述相應的輸出引腳的輸出引腳;第一寄存器,耦合在所述輸入引腳和所述輸出引腳之間,用于通過所述輸入引腳接收位模式,并通過所述輸出引腳輸出所述位模式;以及第二寄存器,耦合到第一寄存器,用于響應更新信號而捕獲所述位模式;其特征在于,所述測試控制器還包括專用控制電路,用于響應所述位模式而阻止所述更新信號。
12.一種評估工具,包括一組位模式,用于通過給如權(quán)利要求11所述的電子設備提供所述一組位模式來評估所述電子設備,其特征在于,所述一組位模式包括用于觸發(fā)所述控制電路以響應所述位模式而阻止所述更新信號的位模式。
全文摘要
模塊(100)具有測試控制器(140),用于評估功能塊(120)。測試控制器(140)包括第一寄存器(142),耦合在來自多個引腳(160)的輸入引腳(162)和輸出引腳(164)之間;并包括耦合到第一寄存器(142)的第二寄存器(144),用于響應來自解碼器(170)的更新信號捕獲第一寄存器(142)的內(nèi)容的更新。第二寄存器(144)還配置用于產(chǎn)生評估控制信號(145)。測試控制器還包括包含多個邏輯門(180)和第一邏輯門(182)的專用控制電路。多個邏輯門配置用于對第一寄存器(142)的內(nèi)容進行解碼,并給第一邏輯門(182)提供結(jié)果選通信號用于阻止第二寄存器(144)的更新。因此,專用控制電路能在例如另一模塊的評估方式期間防止在模塊(100)中不希望有的改變。
文檔編號G06F11/22GK1675560SQ03819492
公開日2005年9月28日 申請日期2003年7月17日 優(yōu)先權(quán)日2002年8月14日
發(fā)明者T·F·瓦耶斯 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司
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