專利名稱：電路板測試線的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)一種電路板測試線。
電腦及電子產(chǎn)業(yè)已成為我國的主力產(chǎn)業(yè)，就現(xiàn)況而言，我國的電子產(chǎn)業(yè)的制造技術(shù)已達(dá)到世界級的水準(zhǔn)，而使我國成為最大的電腦及電子產(chǎn)品的輸出國，也奠定我國電腦及電子產(chǎn)業(yè)的技術(shù)基礎(chǔ)，在技術(shù)基礎(chǔ)落實後，品質(zhì)管制成為極為重要的一環(huán)，而於電子產(chǎn)品的主機(jī)板領(lǐng)域中，測試工作的精確與否是與所述電子產(chǎn)品的品質(zhì)有著息息相關(guān)的關(guān)系。
煩請參閱

圖1所示，在一般測試主機(jī)板1的方法中，主機(jī)板1的多馀板邊2上纏繞特定長度的測試線(coupon)3，測試線3的測試端35可供一時域分析儀4通過一測試棒45連接來測試所述主機(jī)板1的特性阻抗，但若主機(jī)板1的面積太小而導(dǎo)致測試線3的繞線長度不足，則無法實施所述方法，一般主機(jī)板制造廠商於是利用另一種加大多馀板邊2的方法來實施，該方法是於主機(jī)板1的剩馀不用的多馀板邊2以單面來纏繞數(shù)圈的測試線3，借以加長測試線3的長度以達(dá)到可測試的標(biāo)準(zhǔn)，以此種方式旋繞的測試線存在極大的缺點(diǎn)，一為浪費(fèi)主機(jī)板1的板材，而使生產(chǎn)的成本增加；另一為測試線3纏繞軌跡的空間不足，有可能於測量的過程中影響測試的結(jié)果，因此，急待從事行業(yè)者克服將此種測試線的缺點(diǎn)。
基於解決以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的主要目的在於提供一種電路板測試線，它可減少必須的電路板板材的面積而可節(jié)約生產(chǎn)的成本，但能滿足測試儀器所需要的測試長度，而使所述電路板的阻抗特性可得到精確的測量。
為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的電路板測試線，它纏繞數(shù)圈於電路板周圍的多馀板邊上，其特點(diǎn)是所述多馀邊板上穿鑿至少一個的透孔，所述測試線纏繞於所述多馀邊板的正、反二面，以達(dá)到一測試儀器所需要的測試長度。
借助上述的結(jié)構(gòu)，由于測試?yán)p繞多馀板邊的正、反二面只利用到一測試線直徑寬度來纏繞多馀板邊即可達(dá)到可作精確測試阻抗的長度，而比較起傳統(tǒng)的以多馀板邊單面纏繞測試線而言，可節(jié)省二至三倍的多馀板邊的面積，因此同時也節(jié)省了不少的電路板的多馀板邊的板材，從而達(dá)到節(jié)省生產(chǎn)成本的目的，另一方面可有效克服現(xiàn)有技術(shù)的測試線并列纏繞所造成軌跡空間不足而有可能於測量的過程中影響測試結(jié)果的缺點(diǎn)，而本發(fā)明可獲得良好的測試阻抗特性的效果。
為更清楚理解本發(fā)明的目的、特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)，下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明的較佳實施例進(jìn)行詳細(xì)說明。
圖1是具有現(xiàn)有技術(shù)繞線方式的電路板測試線的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是具有本發(fā)明繞線方式的電路板測試線的較佳實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
本發(fā)明是提出一種電路板測試線，它纏繞於所述電路板的正、反二面以達(dá)到配合測試儀器所需要的測試線的測試長度。
請參閱圖2所示為本發(fā)明的電路板測試線繞線結(jié)構(gòu)的較佳實施例示意圖。它是於一個人數(shù)字助理(PDA)電路板5的周圍設(shè)置有多馀板邊6，於多馀板邊6的適當(dāng)處穿鑿有一透孔61，所述透孔61可使一測試線(coupon)7由多馀板邊6的前方穿置於其中，并繞線至多馀板邊6的後方，而測試線7的另一端的測試端75可供一測試儀器8通過一測試棒85進(jìn)行一連接測試，所述測試儀器可為一時域反射分析儀(Tlme Domaln Reflector)或者是一網(wǎng)絡(luò)分析器(Network Analysis)，皆可將電路板5的阻抗特性通過測試求出。
借助上述的結(jié)構(gòu)，測試線7於纏繞多馀板邊6的正、反二面時，只利用到一測試線直徑寬度來纏繞多馀板邊6，(多馀板邊6的單面長度大於十公分，以測試線7纏繞多馀板邊6的正、反二面時，約可使測試線7的測試長度達(dá)到十六公分以上)，即可達(dá)到可作精確測試阻抗的長度(一般測試線的長度需在十五公分以上)，而比較起傳統(tǒng)的以多馀板邊單面纏繞測試線而言，可節(jié)省二至三倍的多馀板邊的面積，因此同時也節(jié)省了不少的電路板5的多馀板邊6的板材，而達(dá)到節(jié)省生產(chǎn)成本的目的，另一方面來說可有效克服現(xiàn)有技術(shù)的測試線并列纏繞所造成軌跡空間不足而有可能於測量的過程中影響測試結(jié)果的缺點(diǎn)，而本發(fā)明可獲得良好的測試阻抗特性的效果。
本發(fā)明已通過較佳實施例進(jìn)行了詳細(xì)說明以清楚揭示本發(fā)明的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，顯然本發(fā)明的應(yīng)用范圍不僅限於個人數(shù)位助理(PDA)的電路板測量，其更可擴(kuò)大應(yīng)用於一般電腦、筆記本電腦以及其他電子產(chǎn)品的電路板，可達(dá)到同等的功效。
上述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并非用于限定本發(fā)明的范圍，凡是熟悉本技術(shù)的人員在不違背本發(fā)明的精神的前提下還可作出種種的等效變化和等效替換，這些等效變化和等效替換皆應(yīng)包括在本發(fā)明申請的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種電路板測試線，它纏繞數(shù)圈於電路板周圍的多馀板邊上，其特征在于所述多馀邊板上穿鑿至少一個的透孔，所述測試線纏繞於所述多馀邊板的正、反二面，以達(dá)到一測試儀器所需要的測試長度。
2.如權(quán)利要求1所述的電路板測試線，其特征在于，所述測試儀器為一時域反射分析儀。
3.如權(quán)利要求1所述的電路板測試線，其特征在于，所述測試儀器為一網(wǎng)絡(luò)分析器。
全文摘要
一種電路板測試線，它纏繞數(shù)圈於電路板周圍的多馀板邊上，其特點(diǎn)是多馀邊板上穿鑿至少一個的透孔，測試線纏繞於多馀邊板的正、反二面，以達(dá)到一測試儀器所需要的測試長度。借助上述的結(jié)構(gòu)，可大大節(jié)省多馀板邊的面積而節(jié)省了不少的電路板的多馀板邊的板材，從而大大節(jié)省生產(chǎn)成本，并可有效克服現(xiàn)有技術(shù)的測試線并列纏繞所造成軌跡空間不足而有可能於測量的過程中影響測試結(jié)果的缺點(diǎn)，因此本發(fā)明可獲得良好的測試阻抗特性的效果。
文檔編號G06F11/00GK1393697SQ0112265
公開日2003年1月29日 申請日期2001年6月27日 優(yōu)先權(quán)日2001年6月27日
發(fā)明者楊志祥 申請人:神達(dá)電腦股份有限公司