鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)及其使用方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)及其使用方法，包括第一LED光源，第二LED光源，第三LED光源與第四LED光源；光源均以設(shè)定角度照射極片同一片區(qū)域；第一LED光源和第三LED光源產(chǎn)生的反射光進(jìn)入線陣相機(jī)鏡頭的主光軸以形成明場(chǎng)環(huán)境，余下光源照明形成暗場(chǎng)環(huán)境；預(yù)設(shè)切換明場(chǎng)、暗場(chǎng)兩種照明環(huán)境的組合模式；在預(yù)設(shè)組合模式被完整執(zhí)行一次的時(shí)間內(nèi)，線陣相機(jī)采集極片表面的圖像。本發(fā)明充分利用兩種照明環(huán)境來(lái)識(shí)別不同的缺陷，全面且準(zhǔn)確的完成極片表面的缺陷檢測(cè)。
【專利說(shuō)明】
鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)及其使用方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明公開涉及鋰電池極片的缺陷檢測(cè)，尤其涉及鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)。
技術(shù)背景
[0002]電極極片是鋰電池中重要部件。在極片涂布工藝中，任何一個(gè)環(huán)節(jié)都有可能導(dǎo)致極片表面出現(xiàn)漏箔、氣泡等缺陷，這會(huì)產(chǎn)生自放電高、容量衰減、存儲(chǔ)時(shí)間短等質(zhì)量問(wèn)題。
[0003]目前，生產(chǎn)廠家大部分采用人工檢測(cè)，這種檢測(cè)方法由于依靠肉眼識(shí)別，檢測(cè)人員易受到視覺疲勞等主觀因素影響，會(huì)出現(xiàn)漏檢和誤檢的失誤，因此檢測(cè)精度粗略，效率低。此外，一些基于機(jī)器視覺的鋰電池極片檢測(cè)技術(shù)，用于檢測(cè)分切后的極片，并將檢測(cè)完的極片進(jìn)行合格與不合格的分揀處理。但此類檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜，檢測(cè)過(guò)程繁瑣，工作量大，并且在上料，下料過(guò)程中容易對(duì)極片造成二次損傷。因此，如何全面且準(zhǔn)確的采集極片表面圖像，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)，以提高鋰電池質(zhì)量，是值得關(guān)注的課題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明旨在克服現(xiàn)有缺陷，目的是提供鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:上采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片上表面上方，包括第一 LED光源、第二 LED光源和第一線陣相機(jī);所述第一 LED光源，相對(duì)于被測(cè)極片上平面的法線傾斜角度為20°?40°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片上表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第一線陣相機(jī)鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第一線陣相機(jī)，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第一 LED光源的反射光;所述第二 LED光源，與第一線陣相機(jī)均處于所述被測(cè)極片上方;為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第二LED光源相對(duì)于極片上平面的法線傾斜角度為50°?70° ;
[0006]下采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片下表面下方，包括第三LED光源、第四LED光源和第二線陣相機(jī)，所述第三LED光源，相對(duì)于被測(cè)極片下平面的法線傾斜角度為20°?40°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片下表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第二線陣相機(jī)鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第二線陣相機(jī)，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第三LED光源的反射光;所述第四LED光源，與第二線陣相機(jī)均處于所述被測(cè)極片下方;為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第四LED光源相對(duì)于極片下平面的法線傾斜角度為50°?70°。
[0007]進(jìn)一步的，所述上采集檢測(cè)裝置和所述下采集檢測(cè)裝置的光源在所述被測(cè)極片表面打光的區(qū)域重合，用于對(duì)極片上、下表面同一區(qū)域，同一時(shí)間進(jìn)行實(shí)時(shí)同步識(shí)別與采集，利于檢測(cè)孔洞。
[0008]進(jìn)一步的，所述成像系統(tǒng)包括第一模式和第二模式;其中，
[0009]所述第一模式包括:第一 LED光源和第三LED光源同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片上、下表面均處于明場(chǎng)，用于檢測(cè)氣泡，顆粒，翹邊等缺陷；
[0010]所述第二模式包括:第二 LED光源和第四LED光源同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片上、下表面均處于暗場(chǎng)，用于檢測(cè)裂紋，砂眼，劃痕等缺陷。
[0011 ]進(jìn)一步的，所述第一線陣相機(jī)和所述第二線陣相機(jī)，用于在任一所述模式下，對(duì)被測(cè)極片進(jìn)行固定視場(chǎng)成像采集，隨著被測(cè)極片前進(jìn)，所述第一線陣相機(jī)和所述第二線陣相機(jī)的固定視場(chǎng)與所述被測(cè)極片發(fā)生相對(duì)移動(dòng)，以此進(jìn)行固定視場(chǎng)的成像掃描。
[0012]進(jìn)一步的，所述成像系統(tǒng)包括適應(yīng)極片在生產(chǎn)線上的傳輸速度的角位移傳感裝置，所述角位移傳感裝置用于感應(yīng)極片前進(jìn)速度。
[0013]進(jìn)一步的，所述第一LED光源，相對(duì)于被測(cè)極片上平面的法線傾斜角度為30°;所述第二LED光源相對(duì)于極片上平面的法線傾斜角度為60° ;所述第三LED光源，相對(duì)于被測(cè)極片下平面的法線傾斜角度為30° ;所述第四LED光源相對(duì)于極片下平面的法線傾斜角度為60°。
[0014]鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)的成像系統(tǒng)的使用方法，是根據(jù)缺陷的成像特點(diǎn)，采用明場(chǎng)拍照和暗場(chǎng)拍照交替檢測(cè)極片，所述第一模式和所述第二模式組合為預(yù)設(shè)組合模式，所述被測(cè)極片在預(yù)設(shè)的位置每前進(jìn)一個(gè)視場(chǎng)寬度便觸發(fā)一次所述預(yù)設(shè)組合模式，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第一模式發(fā)生后進(jìn)行拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第二模式發(fā)生后再進(jìn)行相同方式的拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照;所述預(yù)設(shè)組合模式不斷執(zhí)行直至所述被測(cè)極片檢測(cè)完。
[0015]進(jìn)一步的，完成一次所述預(yù)設(shè)組合模式的時(shí)間小于所述被測(cè)極片在成像中移動(dòng)一行像素的時(shí)間。
[0016]本公開的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果:
[0017]—是檢測(cè)精度提高，預(yù)設(shè)切換明場(chǎng)、暗場(chǎng)兩種照明環(huán)境，并與線陣相機(jī)配合，獲得兩種照明環(huán)境下的極片全表面成像，能全面且準(zhǔn)確的判斷極片表面的缺陷；
[0018]二是數(shù)據(jù)采集效率高，把傳統(tǒng)的目測(cè)改為自動(dòng)采集，節(jié)約了檢測(cè)時(shí)間，提高了檢測(cè)效率；
[0019]三是操作簡(jiǎn)單，只需接通電源，便能自行檢測(cè)，無(wú)需人工參與，自動(dòng)化程度高。
【附圖說(shuō)明】
[0020]圖1是根據(jù)示例性實(shí)施例示出的鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)。
[0021 ] 圖中:1、第一LED光源，2、第一線陣相機(jī)，3、第二LED光源，4、極片，5、第三LED光源，
6、第二線陣相機(jī)，7、第四LED光源。
【具體實(shí)施方式】
[0022]下面結(jié)合具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)做進(jìn)一步介紹。
[0023]實(shí)施例1:如圖1所示為鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)，由圖可知，該成像系統(tǒng)包括上采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片上表面上方，包括第一 LED光源1、第二 LED光源3和第一線陣相機(jī)2;所述第一LED光源I，相對(duì)于被測(cè)極片上平面的法線傾斜角度為20°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片4上表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第一線陣相機(jī)鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第一線陣相機(jī)2，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第一 LED光源的反射光;所述第二LED光源3與第一線陣相機(jī)2均處于所述被測(cè)極片上方;為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第二 LED光源3相對(duì)于極片上平面的法線傾斜角度為70° ;
[0024]下采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片下表面下方，包括第三LED光源5、第四LED光源7和第二線陣相機(jī)6，所述第三LED光源5，相對(duì)于被測(cè)極片下平面的法線傾斜角度為20°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片4下表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第二線陣相機(jī)6鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第二線陣相機(jī)6，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第三LED光源5的反射光;所述第四LED光源7，與第二線陣相機(jī)6均處于所述被測(cè)極片下方;為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第四LED光源7相對(duì)于極片下平面的法線傾斜角度為70°。
[0025]所述上采集檢測(cè)裝置和所述下采集檢測(cè)裝置的光源在所述被測(cè)極片4表面打光的區(qū)域重合，用于對(duì)極片4上、下表面同一區(qū)域，同一時(shí)間進(jìn)行實(shí)時(shí)同步識(shí)別與采集，利于檢測(cè)孔洞。
[0026]所述第一LED光源I，第二LED光源3，第三LED光源5及第四LED光源7，均是由若干LED單元構(gòu)成，由于打光區(qū)域相同，故其LED單元的排列順序相同，打光的區(qū)域也相同。每個(gè)LED單元由一個(gè)高速開關(guān)與LED燈泡組串聯(lián)，通過(guò)高速開關(guān)完成對(duì)LED燈泡組高速的通斷電，以此獲得LED燈的高速閃爍。
[0027]不同模式下的明暗場(chǎng)長(zhǎng)度，與LED燈珠的發(fā)散角以及檢查所需的極片寬度有緊密關(guān)系。實(shí)際應(yīng)用中須根據(jù)極片所需要檢測(cè)的缺陷大小選擇適合的LED燈珠和光學(xué)配件。
[0028]通過(guò)上述設(shè)置可以實(shí)現(xiàn)所述第一模式和第二模式;其中，
[0029]所述第一模式包括:第一 LED光源I和第三LED光源5同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片4上、下表面均處于明場(chǎng)，用于檢測(cè)氣泡，顆粒，翹邊等缺陷；
[0030]所述第二模式包括:第二 LED光源3和第四LED光源7同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片4上、下表面均處于暗場(chǎng)，用于檢測(cè)裂紋，砂眼，劃痕等缺陷。
[0031 ]所述第一線陣相機(jī)2和所述第二線陣相機(jī)6，用于在任一所述模式下，對(duì)被測(cè)極片4進(jìn)行固定視場(chǎng)成像采集，隨著被測(cè)極片4前進(jìn)，所述第一線陣相機(jī)2和所述第二線陣相機(jī)6的固定視場(chǎng)與所述被測(cè)極片4發(fā)生相對(duì)移動(dòng)，以此進(jìn)行固定視場(chǎng)的成像掃描。
[0032]所述成像系統(tǒng)包括適應(yīng)極片在生產(chǎn)線上的傳輸速度的角位移傳感裝置，所述角位移傳感裝置用于感應(yīng)極片前進(jìn)速度。
[0033]根據(jù)缺陷的成像特點(diǎn)，采用明場(chǎng)拍照和暗場(chǎng)拍照交替檢測(cè)極片，所述第一模式和所述第二模式組合為預(yù)設(shè)組合模式，所述被測(cè)極片在預(yù)設(shè)的位置每前進(jìn)一個(gè)視場(chǎng)寬度便觸發(fā)一次所述預(yù)設(shè)組合模式，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第一模式發(fā)生后進(jìn)行拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第二模式發(fā)生后再進(jìn)行相同方式的拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照;所述預(yù)設(shè)組合模式不斷執(zhí)行直至所述被測(cè)極片4檢測(cè)完;并且完成一次所述預(yù)設(shè)組合模式的時(shí)間小于所述被測(cè)極片4在成像中移動(dòng)一行像素的時(shí)間。
[0034]實(shí)施例2:如圖1所示為鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)，由圖可知，該成像系統(tǒng)包括上采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片上表面上方，包括第一 LED光源1、第二 LED光源3和第一線陣相機(jī)2;所述第一LED光源I，相對(duì)于被測(cè)極片上平面的法線傾斜角度為30°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片4上表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第一線陣相機(jī)鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第一線陣相機(jī)2，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第一 LED光源的反射光;所述第二LED光源3與第一線陣相機(jī)2均處于所述被測(cè)極片上方;為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第二 LED光源3相對(duì)于極片上平面的法線傾斜角度為60° ;
[0035]下采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片下表面下方，包括第三LED光源5、第四LED光源7和第二線陣相機(jī)6，所述第三LED光源5，相對(duì)于被測(cè)極片下平面的法線傾斜角度為30°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片4下表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第二線陣相機(jī)6鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第二線陣相機(jī)6，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第三LED光源5的反射光;所述第四LED光源7，與第二線陣相機(jī)6均處于所述被測(cè)極片下方;為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第四LED光源7相對(duì)于極片下平面的法線傾斜角度為60°。
[0036]所述上采集檢測(cè)裝置和所述下采集檢測(cè)裝置的光源在所述被測(cè)極片4表面打光的區(qū)域重合，用于對(duì)極片4上、下表面同一區(qū)域，同一時(shí)間進(jìn)行實(shí)時(shí)同步識(shí)別與采集，利于檢測(cè)孔洞。
[0037]所述第一LED光源I，第二LED光源3，第三LED光源5及第四LED光源7，均是由若干LED單元構(gòu)成，由于打光區(qū)域相同，故其LED單元的排列順序相同，打光的區(qū)域也相同。每個(gè)LED單元由一個(gè)高速開關(guān)與LED燈泡組串聯(lián)，通過(guò)高速開關(guān)完成對(duì)LED燈泡組高速的通斷電，以此獲得LED燈的高速閃爍。
[0038]不同模式下的明暗場(chǎng)長(zhǎng)度，與LED燈珠的發(fā)散角以及檢查所需的極片寬度有緊密關(guān)系。實(shí)際應(yīng)用中須根據(jù)極片所需要檢測(cè)的缺陷大小選擇適合的LED燈珠和光學(xué)配件。
[0039]通過(guò)上述設(shè)置可以實(shí)現(xiàn)所述第一模式和第二模式;其中，
[0040]所述第一模式包括:第一 LED光源I和第三LED光源5同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片4上、下表面均處于明場(chǎng)，用于檢測(cè)氣泡，顆粒，翹邊等缺陷；
[0041 ] 所述第二模式包括:第二 LED光源3和第四LED光源7同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片4上、下表面均處于暗場(chǎng)，用于檢測(cè)裂紋，砂眼，劃痕等缺陷。
[0042]所述第一線陣相機(jī)2和所述第二線陣相機(jī)6，用于在任一所述模式下，對(duì)被測(cè)極片4進(jìn)行固定視場(chǎng)成像采集，隨著被測(cè)極片4前進(jìn)，所述第一線陣相機(jī)2和所述第二線陣相機(jī)6的固定視場(chǎng)與所述被測(cè)極片4發(fā)生相對(duì)移動(dòng)，以此進(jìn)行固定視場(chǎng)的成像掃描。
[0043]所述成像系統(tǒng)包括適應(yīng)極片在生產(chǎn)線上的傳輸速度的角位移傳感裝置，所述角位移傳感裝置用于感應(yīng)極片前進(jìn)速度。
[0044]根據(jù)缺陷的成像特點(diǎn)，采用明場(chǎng)拍照和暗場(chǎng)拍照交替檢測(cè)極片，所述第一模式和所述第二模式組合為預(yù)設(shè)組合模式，所述被測(cè)極片在預(yù)設(shè)的位置每前進(jìn)一個(gè)視場(chǎng)寬度便觸發(fā)一次所述預(yù)設(shè)組合模式，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第一模式發(fā)生后進(jìn)行拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第二模式發(fā)生后再進(jìn)行相同方式的拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照;所述預(yù)設(shè)組合模式不斷執(zhí)行直至所述被測(cè)極片4檢測(cè)完;并且完成一次所述預(yù)設(shè)組合模式的時(shí)間小于所述被測(cè)極片4在成像中移動(dòng)一行像素的時(shí)間。
[0045]實(shí)施例3:如圖1所示為鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)裝置的成像系統(tǒng)，由圖可知，該成像系統(tǒng)包括上采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片上表面上方，包括第一 LED光源1、第二 LED光源3和第一線陣相機(jī)2;所述第一LED光源I，相對(duì)于被測(cè)極片上平面的法線傾斜角度為40°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片4上表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第一線陣相機(jī)鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第一線陣相機(jī)2，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第一 LED光源的反射光;所述第二LED光源3與第一線陣相機(jī)2均處于所述被測(cè)極片上方:為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第二 LED光源3相對(duì)于極片上平面的法線傾斜角度為50° ;
[0046]下采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片下表面下方，包括第三LED光源5、第四LED光源7和第二線陣相機(jī)6，所述第三LED光源5，相對(duì)于被測(cè)極片下平面的法線傾斜角度為40°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片4下表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第二線陣相機(jī)6鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第二線陣相機(jī)6，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第三LED光源5的反射光;所述第四LED光源7，與第二線陣相機(jī)6均處于所述被測(cè)極片下方;為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第四LED光源7相對(duì)于極片下平面的法線傾斜角度為50°。
[0047]所述上采集檢測(cè)裝置和所述下采集檢測(cè)裝置的光源在所述被測(cè)極片4表面打光的區(qū)域重合，用于對(duì)極片4上、下表面同一區(qū)域，同一時(shí)間進(jìn)行實(shí)時(shí)同步識(shí)別與采集，利于檢測(cè)孔洞。
[0048]所述第一LED光源I，第二LED光源3，第三LED光源5及第四LED光源7，均是由若干LED單元構(gòu)成，由于打光區(qū)域相同，故其LED單元的排列順序相同，打光的區(qū)域也相同。每個(gè)LED單元由一個(gè)高速開關(guān)與LED燈泡組串聯(lián)，通過(guò)高速開關(guān)完成對(duì)LED燈泡組高速的通斷電，以此獲得LED燈的高速閃爍。
[0049]不同模式下的明暗場(chǎng)長(zhǎng)度，與LED燈珠的發(fā)散角以及檢查所需的極片寬度有緊密關(guān)系。實(shí)際應(yīng)用中須根據(jù)極片所需要檢測(cè)的缺陷大小選擇適合的LED燈珠和光學(xué)配件。
[0050]通過(guò)上述設(shè)置可以實(shí)現(xiàn)所述第一模式和第二模式;其中，
[0051 ] 所述第一模式包括:第一 LED光源I和第三LED光源5同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片4上、下表面均處于明場(chǎng)，用于檢測(cè)氣泡，顆粒，翹邊等缺陷；
[0052]所述第二模式包括:第二 LED光源3和第四LED光源7同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片4上、下表面均處于暗場(chǎng)，用于檢測(cè)裂紋，砂眼，劃痕等缺陷。
[0053]所述第一線陣相機(jī)2和所述第二線陣相機(jī)6，用于在任一所述模式下，對(duì)被測(cè)極片4進(jìn)行固定視場(chǎng)成像采集，隨著被測(cè)極片4前進(jìn)，所述第一線陣相機(jī)2和所述第二線陣相機(jī)6的固定視場(chǎng)與所述被測(cè)極片4發(fā)生相對(duì)移動(dòng)，以此進(jìn)行固定視場(chǎng)的成像掃描。
[0054]所述成像系統(tǒng)包括適應(yīng)極片在生產(chǎn)線上的傳輸速度的角位移傳感裝置，所述角位移傳感裝置用于感應(yīng)極片前進(jìn)速度。
[0055]根據(jù)缺陷的成像特點(diǎn)，采用明場(chǎng)拍照和暗場(chǎng)拍照交替檢測(cè)極片，所述第一模式和所述第二模式組合為預(yù)設(shè)組合模式，所述被測(cè)極片在預(yù)設(shè)的位置每前進(jìn)一個(gè)視場(chǎng)寬度便觸發(fā)一次所述預(yù)設(shè)組合模式，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第一模式發(fā)生后進(jìn)行拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第二模式發(fā)生后再進(jìn)行相同方式的拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照;所述預(yù)設(shè)組合模式不斷執(zhí)行直至所述被測(cè)極片4檢測(cè)完;并且完成一次所述預(yù)設(shè)組合模式的時(shí)間小于所述被測(cè)極片4在成像中移動(dòng)一行像素的時(shí)間。
[0056]以上述依據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例為啟示，通過(guò)上述的說(shuō)明內(nèi)容，相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項(xiàng)發(fā)明技術(shù)思想的范圍內(nèi)，進(jìn)行多樣的變更以及修改。本項(xiàng)發(fā)明的技術(shù)性范圍并不局限于說(shuō)明書上的內(nèi)容，必須要根據(jù)權(quán)利要求來(lái)確定其技術(shù)性范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)的成像系統(tǒng)，其特征在于，包括: 上采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片上表面上方，包括第一 LED光源、第二 LED光源和第一線陣相機(jī):所述第一LED光源，相對(duì)于被測(cè)極片上平面的法線傾斜角度為20°?40°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片上表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第一線陣相機(jī)鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第一線陣相機(jī)，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第一 LED光源的反射光;所述第二 LED光源，與第一線陣相機(jī)均處于所述被測(cè)極片上方;為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第二 LED光源相對(duì)于極片上平面的法線傾斜角度為50°?70° ; 下采集檢測(cè)裝置，置于被測(cè)極片下表面下方，包括第三LED光源、第四LED光源和第二線陣相機(jī)，所述第三LED光源，相對(duì)于被測(cè)極片下平面的法線傾斜角度為20°?40°，其光線經(jīng)所述被測(cè)極片下表面反射，反射光進(jìn)入所述成像系統(tǒng)的第二線陣相機(jī)鏡頭的主光軸，以形成明場(chǎng)環(huán)境;所述第二線陣相機(jī)，調(diào)節(jié)鏡頭正好接收第三LED光源的反射光;所述第四LED光源，與第二線陣相機(jī)均處于所述被測(cè)極片下方;為形成暗場(chǎng)環(huán)境，所述第四LED光源相對(duì)于極片下平面的法線傾斜角度為50°?70°。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，其特征在于:所述上采集檢測(cè)裝置和所述下采集檢測(cè)裝置的光源在所述被測(cè)極片表面打光的區(qū)域重合，用于對(duì)極片上、下表面同一區(qū)域，同一時(shí)間進(jìn)行實(shí)時(shí)同步識(shí)別與采集，利于檢測(cè)孔洞。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，其特征在于:所述成像系統(tǒng)包括第一模式和第二模式;其中，所述第一模式包括:第一 LED光源和第三LED光源同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片上、下表面均處于明場(chǎng)，用于檢測(cè)氣泡，顆粒，翹邊等缺陷；所述第二模式包括:第二 LED光源和第四LED光源同時(shí)打光，其余光源無(wú)打光，此時(shí)所述被測(cè)極片上、下表面均處于暗場(chǎng)，用于檢測(cè)裂紋，砂眼，劃痕等缺陷。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，其特征在于:所述第一線陣相機(jī)和所述第二線陣相機(jī)，用于在任一所述模式下，對(duì)被測(cè)極片進(jìn)行固定視場(chǎng)成像采集，隨著被測(cè)極片前進(jìn)，所述第一線陣相機(jī)和所述第二線陣相機(jī)的固定視場(chǎng)與所述被測(cè)極片發(fā)生相對(duì)移動(dòng)，以此進(jìn)行固定視場(chǎng)的成像掃描。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的成像系統(tǒng)，其特征在于:所述成像系統(tǒng)包括適應(yīng)極片在生產(chǎn)線上的傳輸速度的角位移傳感裝置，所述角位移傳感裝置用于感應(yīng)極片前進(jìn)速度。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，其特征在于:所述第一LED光源，相對(duì)于被測(cè)極片上平面的法線傾斜角度為30° ;所述第二LED光源相對(duì)于極片上平面的法線傾斜角度為60° ;所述第三LED光源，相對(duì)于被測(cè)極片下平面的法線傾斜角度為30°;所述第四LED光源相對(duì)于極片下平面的法線傾斜角度為60°。7.—種如權(quán)利要求1所述的鋰電池極片表面缺陷檢測(cè)的成像系統(tǒng)的使用方法，其特征在于:根據(jù)缺陷的成像特點(diǎn)，采用明場(chǎng)拍照和暗場(chǎng)拍照交替檢測(cè)極片，將所述第一模式和所述第二模式組合為預(yù)設(shè)組合模式，所述被測(cè)極片在預(yù)設(shè)的位置每前進(jìn)一個(gè)視場(chǎng)寬度便觸發(fā)一次所述預(yù)設(shè)組合模式，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第一模式發(fā)生后進(jìn)行拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照，在所述預(yù)設(shè)組合模式中第二模式發(fā)生后再進(jìn)行相同方式的拍照，在該模式結(jié)束前完成拍照;所述預(yù)設(shè)組合模式不斷執(zhí)行直至所述被測(cè)極片檢測(cè)完。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于:完成一次所述預(yù)設(shè)組合模式的時(shí)間小于所述被測(cè)極片在成像中移動(dòng)一行像素的時(shí)間。
【文檔編號(hào)】G01N21/95GK106093068SQ201610649775
【公開日】2016年11月9日
【申請(qǐng)日】2016年8月10日 公開號(hào)201610649775.0, CN 106093068 A, CN 106093068A, CN 201610649775, CN-A-106093068, CN106093068 A, CN106093068A, CN201610649775, CN201610649775.0
【發(fā)明人】劉釗, 楊雅倫, 楊柏, 王興東, 劉源泂, 劉懷廣, 曾鏞, 周三春
【申請(qǐng)人】武漢科技大學(xué)