電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備的制造方法
【專利摘要】一種電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，包括安裝機柜、按鍵功能測試模組、按鍵壽命測試模組及控制系統(tǒng)，按鍵功能測試模組包括功能測試治具、功能測試按壓裝置、功能測試移動系統(tǒng)及功能測試分析裝置；按鍵壽命測試模組包括壽命測試治具、壓緊機構(gòu)、壽命測試按壓裝置、壽命測試移動系統(tǒng)及壽命測試分析裝置；控制系統(tǒng)分別與按鍵功能測試模組、按鍵壽命測試模組電連接。當進行電子器具的功能和壽命測試時，只要將電子器具置于對應(yīng)的功能測試治具、壽命測試治具上即可，便可進行相應(yīng)的自動化測試，有效避免采用人工手壓按壓測試帶來的按壓力度無法掌控、按壓的數(shù)據(jù)不準、員工勞動強度過大、以及容易因人工操作不到位而導(dǎo)致不良流程的發(fā)生問題。
【專利說明】
電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及測試設(shè)備的技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種適于上身乏力的體弱人士的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，對于電子器具的測試，如遙控器的功能和壽命測試，其大多采用的是人工手壓按壓測試。但是，采用手工按壓測試存在以下問題:按壓力度無法掌控、按壓的數(shù)據(jù)不準，員工勞動強度過大。而且，采用此種測試，容易因人工操作不到位而導(dǎo)致不良流程的發(fā)生。
[0003]因此，有必要提供一種技術(shù)手段以解決上述缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之缺陷，提供電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，以解決現(xiàn)有技術(shù)中采用人工手壓按壓測試以檢測電子器具的功能和壽命合格與否而存在按壓力度無法掌控、按壓的數(shù)據(jù)不準、員工勞動強度過大、以及容易因人工操作不到位而導(dǎo)致不良流程的發(fā)生的問題。
[0005]本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的，一種電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，所述電子器具包括一殼體及設(shè)于所述殼體上的若干個按鍵，所述測試設(shè)備包括:
[0006]安裝機柜，所述安裝機柜包括柜臺、及設(shè)于所述柜臺上以供位于所述柜臺上方的部件安裝設(shè)置的支撐框架；
[0007]按鍵功能測試模組，所述按鍵功能測試模組包括位于所述柜臺的一側(cè)端上以供所述電子器具放置的功能測試治具、可移動靠向所述功能測試治具以按壓置于所述功能測試治具上的所述電子器具的按鍵的功能測試按壓裝置、設(shè)于所述安裝機柜上并與所述功能測試按壓裝置連接以驅(qū)使所述功能測試按壓裝置移動的功能測試移動系統(tǒng)、及設(shè)于所述安裝機柜上以通過計量若干個所述按鍵分別被所述功能測試按壓裝置按壓的次數(shù)與若干個所述按鍵分別被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷所述電子器具的功能是否通過的功能測試分析裝置；
[0008]按鍵壽命測試模組，所述按鍵壽命測試模組包括位于所述柜臺的另一側(cè)端上以供所述電子器具放置的壽命測試治具、設(shè)于所述柜臺的另一側(cè)端上并靠近所述壽命測試治具以將置于所述壽命測試治具上的所述電子器具壓緊固定的壓緊機構(gòu)、可移動靠向所述壽命測試治具以按壓置于所述壽命測試治具上的所述電子器具的按鍵的壽命測試按壓裝置、設(shè)于所述安裝機柜上并與所述壽命測試按壓裝置連接以驅(qū)使所述壽命測試按壓裝置移動的壽命測試移動系統(tǒng)、及設(shè)于所述安裝機柜上以通過計量關(guān)鍵的所述按鍵被所述壽命測試按壓裝置按壓的次數(shù)與關(guān)鍵的所述按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷所述電子器具的壽命是否通過的壽命測試分析裝置；
[0009]控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)設(shè)置于安裝機柜上，并分別與所述按鍵功能測試模組、所述按鍵壽命測試模組電連接。
[0010]具體地，所述柜臺的上端面上定義有X軸方向、與所述X軸方向垂直的Y軸方向、及豎直于所述X軸方向和所述Y軸方向的Z軸方向；
[0011]所述功能測試移動系統(tǒng)包括可沿所述X軸方向移動設(shè)于所述柜臺的一側(cè)端上的X軸移動平臺、設(shè)于所述支撐框架上并與所述功能測試按壓裝置連接以驅(qū)動所述功能測試按壓裝置沿所述Y軸方向移動的Y軸移動裝置、及設(shè)于所述支撐框架上并與所述功能測試按壓裝置連接以驅(qū)動所述功能測試按壓裝置沿所述Z軸方向移動的Z軸移動裝置，所述功能測試治具設(shè)于所述X軸移動平臺上。
[0012]進一步地，所述Y軸移動裝置包括可沿所述Y軸方向移動設(shè)于所述支撐框架上的Y軸移動架、設(shè)于所述支撐框架上以用于驅(qū)動所述Y軸移動架移動的Y軸驅(qū)動源、及一端與所述Y軸移動架而另一端與所述Y軸驅(qū)動源連接以將所述Y軸驅(qū)動源產(chǎn)生的動力傳至所述Y軸移動架的Y軸傳動機構(gòu)；
[0013]所述Z軸移動裝置包括可沿所述Z軸方向移動設(shè)于所述Y軸移動架上的Z軸移動架、設(shè)于所述Y軸移動架上并與所述Z軸移動架連接以用于驅(qū)動所述Z軸移動架移動的Z軸驅(qū)動源，所述功能測試按壓裝置設(shè)于所述Z軸移動架上。
[0014]較佳地，所述功能測試移動系統(tǒng)還包括設(shè)于所述柜臺內(nèi)并與所述X軸移動平臺連接以驅(qū)動所述X軸移動平臺移動的X軸驅(qū)動源、及一端與所述X軸移動平臺而另一端與所述X軸驅(qū)動源連接以將所述X軸驅(qū)動源產(chǎn)生的動力傳至所述X軸移動平臺的X軸傳動機構(gòu)。
[0015]具體地，所述壽命測試移動系統(tǒng)包括可沿所述Z軸方向移動設(shè)于所述柜臺的另一側(cè)端上的壽命測試移動桿、設(shè)于所述壽命測試移動桿上并朝所述壽命測試移動桿的徑向方向延伸且與所述壽命測試治具相對設(shè)置的壽命測試安裝板、及設(shè)于所述柜臺內(nèi)以用于驅(qū)動所述壽命測試移動桿移動的壽命測試驅(qū)動源、及一端與所述壽命測試移動桿而另一端與所述壽命測試驅(qū)動源連接以將所述壽命測試驅(qū)動源產(chǎn)生的動力傳至所述壽命測試移動桿的壽命測試傳動機構(gòu)，所述壽命測試按壓裝置設(shè)于所述壽命測試安裝板上。
[0016]進一步地，所述壽命測試驅(qū)動源為一電機，所述壽命測試傳動機構(gòu)包括套設(shè)于所述電機上的偏心輪、一端連接于所述偏心輪而另一端連接于所述壽命測試移動桿的連桿。
[0017]具體地，所述功能測試按壓裝置包括一功能測試按壓砝碼。
[0018]具體地，所述壽命測試按壓裝置包括一壽命測試按壓砝碼。
[0019]具體地，所述功能測試分析裝置包括設(shè)于所述安裝機柜上以設(shè)定所述功能測試按壓裝置分別按壓若干個所述按鍵的次數(shù)的觸摸屏、設(shè)于所述柜臺內(nèi)以計算若干個所述按鍵分別被所述功能測試按壓裝置按壓的次數(shù)的PLC計算模塊、及設(shè)于所述柜臺的一側(cè)端上以接收由若干個所述按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的功能測試信號接收器，所述觸摸屏、所述PLC計算模塊和所述功能測試信號接收器均與所述控制系統(tǒng)電連接。
[0020]具體地，所述壽命測試分析裝置包括設(shè)于所述柜臺上以設(shè)置所述壽命測試按壓裝置按壓關(guān)鍵的所述按鍵的次數(shù)的壽命測試定量器、設(shè)于所述柜臺上以計算關(guān)鍵的所述按鍵被所述功能測試按壓裝置按壓的次數(shù)的壽命測試計數(shù)器、及設(shè)于所述柜臺的一側(cè)端上以接收由關(guān)鍵的所述按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的壽命測試信號接收器，所述壽命測試定量器、所述壽命測試計數(shù)器和所述壽命測試信號接收器均與所述控制系統(tǒng)電連接。。
[0021]本發(fā)明的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備的技術(shù)效果為:當進行電子器具的功能測試時，將電子器具置于功能測試治具上，然后通過控制功能測試移動系統(tǒng)以使功能測試按壓裝置按壓電子器具上的所有按鍵，接著，借由功能測試分析裝置分析得出相應(yīng)結(jié)果，其具體為，通過計量所有按鍵分別被功能測試按壓裝置按壓的次數(shù)與所有按鍵分別被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷電子器具的功能是否通過;而當進行電子器具的壽命測試時，將電子器具置于壽命測試治具上，并借由壓緊機構(gòu)以將電子器具緊致壓緊，然后通過控制壽命測試移動系統(tǒng)以使壽命測試按壓裝置按壓電子器具上的關(guān)鍵按鍵，接著，借由壽命測試分析裝置分析得出相應(yīng)結(jié)果，其具體為，通過計量關(guān)鍵按鍵被壽命測試按壓裝置按壓的次數(shù)與關(guān)鍵按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷電子器具的壽命是否通過。整個電子器具的功能測試和壽命測試均為自動化測試，有效避免采用人工手壓按壓測試帶來的按壓力度無法掌控、按壓的數(shù)據(jù)不準、員工勞動強度過大、以及容易因人工操作不到位而導(dǎo)致不良流程的發(fā)生問題。
[0022]另外，一個測試設(shè)備上可以同時實施電子器具的功能測試和壽命測試，一設(shè)備多功能、多應(yīng)用，既便于用戶的使用，也有利于降低測試使用者的購買成本。
【附圖說明】
[0023]圖1為本發(fā)明的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備的立體圖；
[0024]圖2為本發(fā)明的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備去掉部分安裝機柜的部件的示意圖，以展示測試設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)；
[0025]圖3為圖2的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備去掉部分安裝機柜的部件的另一角度的示意圖；
[0026]圖4為本發(fā)明的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備去掉部分安裝機柜的部件的示意圖，以展示X軸傳動機構(gòu)的結(jié)構(gòu)。
【具體實施方式】
[0027]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0028]請參閱圖1和圖2，下面對本發(fā)明的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備的實施例進行闡述。
[0029]本實施例的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備100，主要為應(yīng)用于電子器具的功能測試和壽命測試，其中，在本實施例中，該電子器具為遙控器，其包括一殼體及設(shè)于殼體上的若干個按鍵；當然，該電子器具亦可采用其它帶有按鍵的電子產(chǎn)品。而測試設(shè)備100包括安裝機柜10、按鍵功能測試模組20、按鍵壽命測試模組30及控制系統(tǒng)40，下面對該測試設(shè)備100的各部件作進一步說明:
[0030]安裝機柜10包括方形體的柜臺11、及設(shè)于柜臺11上以供位于柜臺11上方的部件安裝設(shè)置的支撐框架12，其中，支撐框架12包括兩個豎直分設(shè)于柜臺11兩側(cè)上的豎直支撐側(cè)板121、豎直設(shè)于柜臺11的后側(cè)端上并分別與兩個豎直支撐側(cè)板121連接的豎直支撐后板
122、設(shè)于兩個豎直支撐側(cè)板121的上端并分別與兩個豎直支撐側(cè)板121連接的支撐前板
123、及設(shè)于兩個豎直支撐側(cè)板121和豎直支撐后板122的頂端并分別與兩個豎直支撐側(cè)板121、豎直支撐后板122連接的支撐頂板124，其中，該支撐頂板124與柜臺11的上端面相對設(shè)置；
[0031]按鍵功能測試模組20包括位于柜臺11的一側(cè)端上以供遙控器放置的功能測試治具21、可移動靠向功能測試治具21以按壓置于功能測試治具21上的遙控器的按鍵的功能測試按壓裝置22、設(shè)于安裝機柜10上并與功能測試按壓裝置22連接以驅(qū)使功能測試按壓裝置22移動的功能測試移動系統(tǒng)23、及設(shè)于安裝機柜10上以通過計量若干個按鍵分別被功能測試按壓裝置22按壓的次數(shù)與若干個按鍵分別被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷遙控器的功能是否通過的功能測試分析裝置24;
[0032]按鍵壽命測試模組30包括位于柜臺11的另一側(cè)端上以供遙控器放置的壽命測試治具31、設(shè)于柜臺11的另一側(cè)端上并靠近壽命測試治具31以將置于壽命測試治具上的遙控器壓緊固定的壓緊機構(gòu)32、可移動靠向壽命測試治具31以按壓置于壽命測試治具31上的遙控器的按鍵的壽命測試按壓裝置33、設(shè)于安裝機柜10上并與壽命測試按壓裝置33連接以驅(qū)使壽命測試按壓裝置33移動的壽命測試移動系統(tǒng)34、及設(shè)于安裝機柜10上以通過計量關(guān)鍵的按鍵被壽命測試按壓裝置33按壓的次數(shù)與關(guān)鍵的按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷遙控器的壽命是否通過的壽命測試分析裝置35;
[0033]控制系統(tǒng)40設(shè)置于安裝機柜10上，具體地，其設(shè)置于安裝機柜10的柜臺11內(nèi)，并分別與按鍵功能測試模組20、按鍵壽命測試模組30電連接，以可控制按鍵功能測試模組20、按鍵壽命測試模組30的工作。
[0034]當進行遙控器的功能測試時，將遙控器置于功能測試治具21上，然后通過控制功能測試移動系統(tǒng)23以使功能測試按壓裝置22按壓遙控器上的所有按鍵，接著，借由功能測試分析裝置24分析得出相應(yīng)結(jié)果，其具體為，通過計量所有按鍵分別被功能測試按壓裝置22按壓的次數(shù)與所有按鍵分別被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷遙控器的功能是否通過;而當進行遙控器的壽命測試時，將遙控器置于壽命測試治具31上，并借由壓緊機構(gòu)32以將遙控器緊致壓緊，然后通過控制壽命測試移動系統(tǒng)34以使壽命測試按壓裝置33按壓遙控器上的關(guān)鍵按鍵，接著，借由壽命測試分析裝置35分析得出相應(yīng)結(jié)果，其具體為，通過計量關(guān)鍵按鍵被壽命測試按壓裝置33按壓的次數(shù)與關(guān)鍵按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷遙控器的壽命是否通過。
[0035]整個遙控器的功能測試和壽命測試均為自動化測試，有效避免采用人工手壓按壓測試帶來的按壓力度無法掌控、按壓的數(shù)據(jù)不準、員工勞動強度過大、以及容易因人工操作不到位而導(dǎo)致不良流程的發(fā)生問題。
[0036]另外，一個測試設(shè)備100上可以同時實施遙控器的功能測試和壽命測試，一設(shè)備多功能、多應(yīng)用，既便于用戶的使用，也有利于降低測試使用者的購買成本。
[0037]請參閱圖1和圖2，具體地，柜臺11的上端面上定義有X軸方向、與X軸方向垂直的Y軸方向、及豎直于X軸方向和Y軸方向的Z軸方向；
[0038]功能測試移動系統(tǒng)23包括可沿X軸方向移動設(shè)于柜臺11的一側(cè)端上的X軸移動平臺231、設(shè)于支撐框架12上并與功能測試按壓裝置22連接以驅(qū)動功能測試按壓裝置22沿Y軸方向移動的Y軸移動裝置232、及設(shè)于支撐框架12上并與功能測試按壓裝置22連接以驅(qū)動功能測試按壓裝置232沿Z軸方向移動的Z軸移動裝置233，功能測試治具21設(shè)于X軸移動平臺231 上。
[0039]由此，當要獲取所需的三軸位置以使功能測試按壓裝置22按壓遙控器上指定的按鍵時，具體為，可分別控制X軸移動平臺231、Y軸移動裝置232、Z軸移動裝置233移動，以分別調(diào)節(jié)功能測試按壓裝置22相對于遙控器上指定的按鍵的XYZ軸位置，以此可有效保證功能測試按壓裝置22準確按壓遙控器上指定的按鍵。
[0040]而Y軸移動裝置232的優(yōu)選實施方式為，其包括可沿Y軸方向移動設(shè)于支撐框架12上的Y軸移動架2321、設(shè)于支撐框架12上以用于驅(qū)動Y軸移動架2321移動的Y軸驅(qū)動源2322、及一端與Y軸移動架2321而另一端與Y軸驅(qū)動源2322連接以將Y軸驅(qū)動源2322產(chǎn)生的動力傳至Y軸移動架2321的Y軸傳動機構(gòu)2323。
[0041 ]其中，為了便于設(shè)置及安裝，支撐框架12內(nèi)設(shè)有一安裝支撐板125，Y軸移動架2321可沿Y軸方向移動設(shè)于支撐框架12上；同時地，該Y軸驅(qū)動源2322為一Y向步進電機，而Y軸傳動機構(gòu)2323包括套于Y向步進電機的輸出軸上并可轉(zhuǎn)動設(shè)于支撐框架12—側(cè)端上的第一 Y向傳動輪23231、轉(zhuǎn)動設(shè)于支撐框架12另一側(cè)端上并與第一 Y向傳動輪23231相對設(shè)置的第二 Y向傳動輪23232、及一端卷設(shè)于第一 Y向傳動輪23231上而另一端卷設(shè)于第二 Y向傳動輪23232上并朝著Y軸方向傳動的Y向傳動帶23233，Υ向傳動帶23233與Y軸移動架2321連接，據(jù)此，當要使到Y(jié)軸移動架2321沿Y軸方向移動時，可通過控制系統(tǒng)40控制Y向步進電機工作，而Y向步進電機會將其動力自第一Y向傳動輪23231傳至Y向傳動帶23233上，再由Y向傳動帶23233帶動Y軸移動架2321移動。
[0042]而較佳地，為了保證Y軸移動架2321準確地朝向Y軸方向移動，Y軸移動裝置232還包括Y軸導(dǎo)向機構(gòu)，該Y軸導(dǎo)向機構(gòu)包括設(shè)于安裝支撐板125上并沿Y軸方向延伸設(shè)置的Y軸導(dǎo)軌23241、及設(shè)于Y軸移動架2321上并與Y軸導(dǎo)軌23241滑動配合的Y軸導(dǎo)槽23242。
[0043]請參閱圖2和圖3，Ζ軸移動裝置233的優(yōu)選實施方式為，其包括可沿Z軸方向移動設(shè)于Y軸移動架2321上的Z軸移動架2331、及設(shè)于Y軸移動架2321上并與Z軸移動架2331連接以用于驅(qū)動Z軸移動架2331移動的Z軸驅(qū)動源2332，功能測試按壓裝置22設(shè)于Z軸移動架2331上。其中，Z軸驅(qū)動源2332可以為一氣缸或者電動推桿，以便于取材及安裝設(shè)置。
[0044]而且，較佳地，為了保證Z軸移動架2331準確地朝向Z軸方向移動，Z軸移動裝置233還包括Z軸導(dǎo)向機構(gòu)，該Z軸導(dǎo)向機構(gòu)包括設(shè)于Y軸移動架2321上并沿Z軸方向延伸設(shè)置的Z軸導(dǎo)軌23331、及設(shè)于Z軸移動架2331上并與Z軸導(dǎo)軌23331滑動配合的Z軸導(dǎo)槽23332。
[0045]請參閱圖4，并結(jié)合圖2，本實施例中的功能測試移動系統(tǒng)23還包括設(shè)于柜臺11內(nèi)并與X軸移動平臺231連接以驅(qū)動X軸移動平臺移動231的X軸驅(qū)動源234、及一端與X軸移動平臺231而另一端與X軸驅(qū)動源234連接以將X軸驅(qū)動源234產(chǎn)生的動力傳至X軸移動平臺231的X軸傳動機構(gòu)235，以此，可通過控制系統(tǒng)40電動控制X軸移動平臺231移動工作，減輕測試人員的勞動強度。
[0046]其中，較佳地，該X軸驅(qū)動源234為一X向步進電機，而X軸傳動機構(gòu)235包括套于X向步進電機的輸出軸上并可轉(zhuǎn)動設(shè)于柜臺11的上側(cè)板底側(cè)的一側(cè)端上的第一 X向傳動輪2351、轉(zhuǎn)動設(shè)于柜臺11的上側(cè)板底側(cè)的另一側(cè)端上并與第一 X向傳動輪2351相對設(shè)置的第二 X向傳動輪2352、及一端卷設(shè)于第一 X向傳動輪2351上而另一端卷設(shè)于第二 X向傳動輪2352上并朝著X軸方向傳動的X向傳動帶2353，Χ向傳動帶2353與X軸移動平臺231連接，據(jù)此，當要使到X軸移動平臺231沿X軸方向移動時，可通過控制系統(tǒng)40控制X向步進電機工作，而X向步進電機會將其動力自第一X向傳動輪2351傳至X向傳動帶2353上，再由X向傳動帶2353帶動X軸移動平臺231移動。
[0047]請參閱圖3，本實施例中的壽命測試移動系統(tǒng)34的優(yōu)選實施方式為，其包括可沿Z軸方向移動設(shè)于柜臺11的另一側(cè)端上的壽命測試移動桿341、設(shè)于壽命測試移動桿341上并朝壽命測試移動桿341的徑向方向延伸且與壽命測試治具31相對設(shè)置的壽命測試安裝板342、及設(shè)于柜臺11內(nèi)以用于驅(qū)動壽命測試移動桿341移動的壽命測試驅(qū)動源343、及一端與壽命測試移動桿341而另一端與壽命測試驅(qū)動源343連接以將壽命測試驅(qū)動源342產(chǎn)生的動力傳至壽命測試移動桿341的壽命測試傳動機構(gòu)344，壽命測試按壓裝置33設(shè)于壽命測試安裝板342上。
[0048]由此，當要通過壽命測試移動系統(tǒng)34的移動以調(diào)整壽命測試按壓裝置33對向于遙控器上的關(guān)鍵按鍵的相應(yīng)位置時，可通過控制系統(tǒng)40控制壽命測試驅(qū)動源343工作，而壽命測試驅(qū)動源343會通過壽命測試傳動機構(gòu)344將其產(chǎn)生的動力傳至壽命測試移動桿341，以可由壽命測試移動桿341通過壽命測試安裝板342帶動壽命測試按壓裝置33，使該壽命測試按壓裝置33移至所需位置，整個為電動控制，而且簡單方便，有利于減輕測試人員的勞動強度，并保證壽命測試的測試效果。
[0049]而較佳地，壽命測試驅(qū)動源343為一步進電機，壽命測試傳動機構(gòu)344包括套設(shè)于步進電機上的偏心輪3441、一端連接于偏心輪3441而另一端連接于壽命測試移動桿341的連桿3442，其中，由于偏心輪3441具有最高端及最低端，那么，當偏心輪3441被步進電機驅(qū)動轉(zhuǎn)動時，便可以通過連桿3442以拉動壽命測試移動桿341的上下移動。
[0050]請參閱圖2，本實施例中的功能測試按壓裝置22包括一功能測試按壓砝碼221，以可向測試對象施予標注的按壓力。
[0051]而同時地，壽命測試按壓裝置33包括一壽命測試按壓砝碼331，以可向測試對象施予標注的按壓力。
[0052]請參閱圖1，本實施例中的壓緊機構(gòu)32包括一壓緊件321，該壓緊件321包括沿豎直方向朝上延伸設(shè)置的壓緊延伸段、及與壓緊延伸段相連并朝向壽命測試治具31的水平方向延伸設(shè)置且與壽命測試治具31相對的壓緊接觸段。
[0053]請參閱圖1和圖2，本實施例中的功能測試分析裝置24的優(yōu)選實施方式為，其包括設(shè)于安裝機柜10上以設(shè)定功能測試按壓裝置22分別按壓若干個按鍵的次數(shù)的觸摸屏241、設(shè)于柜臺11內(nèi)以計算若干個按鍵分別被功能測試按壓裝置22按壓的次數(shù)的PLC計算模塊242、及設(shè)于柜臺11的一側(cè)端上以接收由若干個按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的功能測試信號接收器243，觸摸屏241、PLC計算模塊242和功能測試信號接收器243均與控制系統(tǒng)40電連接，其中，為了便于安裝設(shè)置以及測試人員的適于，該觸摸屏241為設(shè)置在支撐框架12的支撐前板123上。
[0054]那么，在進行功能測試時，先在觸摸屏241上找出已設(shè)置好的參數(shù)并確定;接著，將遙控器放在功能測試治具21上，然后啟動相應(yīng)的開關(guān)，以對產(chǎn)品進行測試;而當功能測試按壓裝置22按壓遙控器上的按鍵一次，則PLC計算模塊242會對應(yīng)地自動計數(shù)一次，功能測試信號接收器243也會接收由該按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號并且計數(shù)一次;測試完成后，當PLC計算模塊242計算的按壓次數(shù)與功能測試信號接收器243計算的次數(shù)相等時，則說明遙控器的功能OK，反之，則NG。
[0055]同時地，為了便于測試人員知曉功能測試結(jié)果，功能測試分析裝置24還包括設(shè)于支撐框架12上的功能測試指示結(jié)構(gòu)244，其中，該功能測試指示結(jié)構(gòu)244為功能測試指示燈，那么，當功能測試指示燈亮?xí)r，則說明遙控器的功能OK，反之，則NG。
[0056]而壽命測試分析裝置35的優(yōu)選實施方式為，其包括設(shè)于柜臺11的前側(cè)板上以設(shè)置壽命測試按壓裝置33按壓關(guān)鍵的按鍵的次數(shù)的壽命測試定量器351、設(shè)于柜臺11上以計算關(guān)鍵的按鍵被功能測試按壓裝置33按壓的次數(shù)的壽命測試計數(shù)器352、及設(shè)于柜臺11的一側(cè)端上以接收由關(guān)鍵的按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的壽命測試信號接收器353，壽命測試定量器351、壽命測試計數(shù)器352和壽命測試信號接收器353均與控制系統(tǒng)40電連接。
[0057]那么，在進行壽命測試時，先在壽命測試定量器351上設(shè)置好需要按壓的次數(shù);接著，將遙控器放在壽命測試治具31上，然后啟動相應(yīng)的開關(guān)，以對產(chǎn)品進行測試;而當壽命測試按壓裝置33按壓遙控器上的關(guān)鍵按鍵一次，則壽命測試計數(shù)器352會對應(yīng)地自動計數(shù)一次，壽命測試信號接收器353也會接收由該關(guān)鍵按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號并且計數(shù)一次;測試完成后，當壽命測試計數(shù)器352計算的按壓次數(shù)與壽命測試信號接收器353計算的次數(shù)相等時，則說明遙控器的壽命OK，反之，則NG。
[0058]同時地，為了便于測試人員知曉壽命測試結(jié)果，壽命測試分析裝置35還包括設(shè)于支撐框架12上的功能測試指示結(jié)構(gòu)354，其中，該壽命測試指示結(jié)構(gòu)354為壽命測試指示燈，那么，當壽命測試指示燈亮?xí)r，則說明遙控器的壽命0K，反之，則NG。
[0059]以上所述僅為本發(fā)明較佳的實施例而已，其結(jié)構(gòu)并不限于上述列舉的形狀，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，所述電子器具包括一殼體及設(shè)于所述殼體上的若干個按鍵，其特征在于，所述測試設(shè)備包括: 安裝機柜，所述安裝機柜包括柜臺、及設(shè)于所述柜臺上以供位于所述柜臺上方的部件安裝設(shè)置的支撐框架； 按鍵功能測試模組，所述按鍵功能測試模組包括位于所述柜臺的一側(cè)端上以供所述電子器具放置的功能測試治具、可移動靠向所述功能測試治具以按壓置于所述功能測試治具上的所述電子器具的按鍵的功能測試按壓裝置、設(shè)于所述安裝機柜上并與所述功能測試按壓裝置連接以驅(qū)使所述功能測試按壓裝置移動的功能測試移動系統(tǒng)、及設(shè)于所述安裝機柜上以通過計量若干個所述按鍵分別被所述功能測試按壓裝置按壓的次數(shù)與若干個所述按鍵分別被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷所述電子器具的功能是否通過的功能測試分析裝置； 按鍵壽命測試模組，所述按鍵壽命測試模組包括位于所述柜臺的另一側(cè)端上以供所述電子器具放置的壽命測試治具、設(shè)于所述柜臺的另一側(cè)端上并靠近所述壽命測試治具以將置于所述壽命測試治具上的所述電子器具壓緊固定的壓緊機構(gòu)、可移動靠向所述壽命測試治具以按壓置于所述壽命測試治具上的所述電子器具的按鍵的壽命測試按壓裝置、設(shè)于所述安裝機柜上并與所述壽命測試按壓裝置連接以驅(qū)使所述壽命測試按壓裝置移動的壽命測試移動系統(tǒng)、及設(shè)于所述安裝機柜上以通過計量關(guān)鍵的所述按鍵被所述壽命測試按壓裝置按壓的次數(shù)與關(guān)鍵的所述按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的次數(shù)是否對應(yīng)而分析判斷所述電子器具的壽命是否通過的壽命測試分析裝置； 控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)設(shè)置于安裝機柜上，并分別與所述按鍵功能測試模組、所述按鍵壽命測試模組電連接。2.如權(quán)利要求1所述的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，其特征在于:所述柜臺的上端面上定義有X軸方向、與所述X軸方向垂直的Y軸方向、及豎直于所述X軸方向和所述Y軸方向的Z軸方向； 所述功能測試移動系統(tǒng)包括可沿所述X軸方向移動設(shè)于所述柜臺的一側(cè)端上的X軸移動平臺、設(shè)于所述支撐框架上并與所述功能測試按壓裝置連接以驅(qū)動所述功能測試按壓裝置沿所述Y軸方向移動的Y軸移動裝置、及設(shè)于所述支撐框架上并與所述功能測試按壓裝置連接以驅(qū)動所述功能測試按壓裝置沿所述Z軸方向移動的Z軸移動裝置，所述功能測試治具設(shè)于所述X軸移動平臺上。3.如權(quán)利要求2所述的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，其特征在于:所述Y軸移動裝置包括可沿所述Y軸方向移動設(shè)于所述支撐框架上的Y軸移動架、設(shè)于所述支撐框架上以用于驅(qū)動所述Y軸移動架移動的Y軸驅(qū)動源、及一端與所述Y軸移動架而另一端與所述Y軸驅(qū)動源連接以將所述Y軸驅(qū)動源產(chǎn)生的動力傳至所述Y軸移動架的Y軸傳動機構(gòu)； 所述Z軸移動裝置包括可沿所述Z軸方向移動設(shè)于所述Y軸移動架上的Z軸移動架、設(shè)于所述Y軸移動架上并與所述Z軸移動架連接以用于驅(qū)動所述Z軸移動架移動的Z軸驅(qū)動源，所述功能測試按壓裝置設(shè)于所述Z軸移動架上。4.如權(quán)利要求2所述的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，其特征在于:所述功能測試移動系統(tǒng)還包括設(shè)于所述柜臺內(nèi)并與所述X軸移動平臺連接以驅(qū)動所述X軸移動平臺移動的X軸驅(qū)動源、及一端與所述X軸移動平臺而另一端與所述X軸驅(qū)動源連接以將所述X軸驅(qū)動源產(chǎn)生的動力傳至所述X軸移動平臺的X軸傳動機構(gòu)。5.如權(quán)利要求2所述的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，其特征在于:所述壽命測試移動系統(tǒng)包括可沿所述Z軸方向移動設(shè)于所述柜臺的另一側(cè)端上的壽命測試移動桿、設(shè)于所述壽命測試移動桿上并朝所述壽命測試移動桿的徑向方向延伸且與所述壽命測試治具相對設(shè)置的壽命測試安裝板、及設(shè)于所述柜臺內(nèi)以用于驅(qū)動所述壽命測試移動桿移動的壽命測試驅(qū)動源、及一端與所述壽命測試移動桿而另一端與所述壽命測試驅(qū)動源連接以將所述壽命測試驅(qū)動源產(chǎn)生的動力傳至所述壽命測試移動桿的壽命測試傳動機構(gòu)，所述壽命測試按壓裝置設(shè)于所述壽命測試安裝板上。6.如權(quán)利要求5所述的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，其特征在于:所述壽命測試驅(qū)動源為一電機，所述壽命測試傳動機構(gòu)包括套設(shè)于所述電機上的偏心輪、一端連接于所述偏心輪而另一端連接于所述壽命測試移動桿的連桿。7.如權(quán)利要求1所述的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，其特征在于:所述功能測試按壓裝置包括一功能測試按壓砝碼。8.如權(quán)利要求1所述的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，其特征在于:所述壽命測試按壓裝置包括一壽命測試按壓砝碼。9.如權(quán)利要求1所述的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，其特征在于:所述功能測試分析裝置包括設(shè)于所述安裝機柜上以設(shè)定所述功能測試按壓裝置分別按壓若干個所述按鍵的次數(shù)的觸摸屏、設(shè)于所述柜臺內(nèi)以計算若干個所述按鍵分別被所述功能測試按壓裝置按壓的次數(shù)的PLC計算模塊、及設(shè)于所述柜臺的一側(cè)端上以接收由若干個所述按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的功能測試信號接收器，所述觸摸屏、所述PLC計算模塊和所述功能測試信號接收器均與所述控制系統(tǒng)電連接。10.如權(quán)利要求1-9任一項所述的電子器具的功能及壽命的測試設(shè)備，其特征在于:所述壽命測試分析裝置包括設(shè)于所述柜臺上以設(shè)置所述壽命測試按壓裝置按壓關(guān)鍵的所述按鍵的次數(shù)的壽命測試定量器、設(shè)于所述柜臺上以計算關(guān)鍵的所述按鍵被所述功能測試按壓裝置按壓的次數(shù)的壽命測試計數(shù)器、及設(shè)于所述柜臺的一側(cè)端上以接收由關(guān)鍵的所述按鍵被按壓后發(fā)出的執(zhí)行信號的壽命測試信號接收器，所述壽命測試定量器、所述壽命測試計數(shù)器和所述壽命測試信號接收器均與所述控制系統(tǒng)電連接。
【文檔編號】G01M13/00GK105928696SQ201610423560
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年6月15日
【發(fā)明人】李文峰, 劉露
【申請人】深圳市共進電子股份有限公司