一種k波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，包括PXle機(jī)箱和背板，所述PXle機(jī)箱和背板上通信連接有PXle系統(tǒng)控制器、PXle雙通道DAC模塊、K波段IQ上變頻模塊、K波段IQ下變頻模塊和PXle雙通道ADC模塊；所述PXle雙通道DAC模塊輸出端與K波段IQ上變頻模塊連接；所述K波段IQ上變頻模塊輸出端連接到K波段矢量信號(hào)輸出接口；所述K波段IQ下變頻模塊輸出端連接到PXle雙通道ADC模塊；所述K波段IQ下變頻模塊輸入端連接到K波段矢量信號(hào)輸入接口。本發(fā)明提出了一種K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)基于PXI架構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)在一臺(tái)設(shè)備中實(shí)現(xiàn)對(duì)雷達(dá)收發(fā)信號(hào)的測(cè)試，同時(shí)可測(cè)試?yán)走_(dá)信號(hào)的時(shí)域和頻域波形，并可對(duì)各種信號(hào)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)對(duì)于復(fù)雜雷達(dá)測(cè)試。
【專利說(shuō)明】
一種K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種雷達(dá)波段測(cè)試系統(tǒng)，具體涉及一種K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，屬于雷達(dá)波段測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]目前對(duì)于K波段及以上的雷達(dá)射頻信號(hào)測(cè)試時(shí)，采用的測(cè)試手段大多為依靠幾臺(tái)通用儀器分別測(cè)試不同的信號(hào)和指標(biāo)，存在成本高，測(cè)試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一處理，測(cè)試界面多，操作復(fù)雜，普通測(cè)試人員難以掌握等問(wèn)題;而現(xiàn)有的采用PXI架構(gòu)的設(shè)備技術(shù)指標(biāo)偏低，難以實(shí)現(xiàn)對(duì)K波段射頻信號(hào)的測(cè)量。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提出了一種K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)基于PXI架構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)在一臺(tái)設(shè)備中實(shí)現(xiàn)對(duì)雷達(dá)收發(fā)信號(hào)的測(cè)試，同時(shí)可測(cè)試?yán)走_(dá)信號(hào)的時(shí)域和頻域波形，并可對(duì)各種信號(hào)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)對(duì)于復(fù)雜雷達(dá)測(cè)試。
[0004]本發(fā)明的K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，包括PXle機(jī)箱和背板，所述PXle機(jī)箱和背板上通信連接有PXle系統(tǒng)控制器、PHe雙通道DAC模塊、K波段IQ上變頻模塊、K波段IQ下變頻模塊和PXle雙通道ADC模塊;所述PXle雙通道DAC模塊輸出端與K波段IQ上變頻模塊連接;所述K波段IQ上變頻模塊輸出端連接到K波段矢量信號(hào)輸出接口 ；所述K波段IQ下變頻模塊輸出端連接到PXle雙通道ADC模塊;所述K波段IQ下變頻模塊輸入端連接到K波段矢量信號(hào)輸入接口。
[0005]進(jìn)一步地，所述K波段矢量信號(hào)輸入接口和K波段矢量信號(hào)輸出接口分別連接到射頻開(kāi)關(guān);通過(guò)射頻開(kāi)關(guān)，不同的測(cè)試通過(guò)射頻開(kāi)關(guān)進(jìn)行切換，與通用儀器測(cè)試需要頻繁接線比較，極大節(jié)省了時(shí)間，而且也降低了因反復(fù)插拔接口導(dǎo)致接口損壞的概率。
[0006]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明的K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，由于采用了高集成度設(shè)計(jì)，減少了測(cè)試步驟，所有測(cè)試在一臺(tái)設(shè)備上完成，大大縮短了測(cè)試時(shí)間，可提高測(cè)試效率50%以上;測(cè)試方法簡(jiǎn)單:使用一臺(tái)設(shè)備完成全部測(cè)試，使用統(tǒng)一界面，容易學(xué)習(xí)，操作簡(jiǎn)便；自動(dòng)化程度高:配合自動(dòng)化測(cè)試軟件，內(nèi)部自帶測(cè)試用例，可短時(shí)間完成復(fù)雜測(cè)試，并自動(dòng)生成測(cè)試結(jié)果報(bào)告;成本低:相比于目前通用儀器的測(cè)試方案，成本可降低40%。
【附圖說(shuō)明】
[0007]圖1是本發(fā)明的通信結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0008]如圖1所示的K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，包括PXle機(jī)箱和背板，所述PXle機(jī)箱和背板上通信連接有PXle系統(tǒng)控制器、PHe雙通道DAC模塊、K波段IQ上變頻模塊、K波段IQ下變頻模塊和PXle雙通道ADC模塊;所述PXle雙通道DAC模塊輸出端與K波段IQ上變頻模塊連接;所述K波段IQ上變頻模塊輸出端連接到K波段矢量信號(hào)輸出接口；所述K波段IQ下變頻模塊輸出端連接到PXle雙通道ADC模塊;所述K波段IQ下變頻模塊輸入端連接到K波段矢量信號(hào)輸入接口。
[0009]其中，所述K波段矢量信號(hào)輸入接口和K波段矢量信號(hào)輸出接口分別連接到射頻開(kāi)關(guān);通過(guò)射頻開(kāi)關(guān)，不同的測(cè)試通過(guò)射頻開(kāi)關(guān)進(jìn)行切換，與通用儀器測(cè)試需要頻繁接線比較，極大節(jié)省了時(shí)間，而且也降低了因反復(fù)插拔接口導(dǎo)致接口損壞的概率。
[0010]本發(fā)明的K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，采用PXle機(jī)箱和背板，其是業(yè)界成熟的PXIe平臺(tái)，并集成了成熟的模塊;PXIe平臺(tái)采用PCIe Gen 4X總線，配備Core2 i7的PXle系統(tǒng)控制器；ADC和DAC模塊均采用成熟的PXIe模塊，采樣速率優(yōu)于625MSPS，垂直分辨率高于12位;K波段IQ上變頻和下變頻模塊基于GaAs MMIC技術(shù)，頻率覆蓋24-26.25GHz。
[0011]以上述依據(jù)本發(fā)明的理想實(shí)施例為啟示，通過(guò)上述的說(shuō)明內(nèi)容，相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項(xiàng)發(fā)明技術(shù)思想的范圍內(nèi)，進(jìn)行多樣的變更以及修改。本項(xiàng)發(fā)明的技術(shù)性范圍并不局限于說(shuō)明書(shū)上的內(nèi)容，必須要根據(jù)權(quán)利要求范圍來(lái)確定其技術(shù)性范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:包括PXle機(jī)箱和背板，所述PXle機(jī)箱和背板上通信連接有PXle系統(tǒng)控制器、PHe雙通道DAC模塊、K波段IQ上變頻模塊、K波段IQ下變頻模塊和PXle雙通道ADC模塊;所述PXle雙通道DAC模塊輸出端與K波段IQ上變頻模塊連接;所述K波段IQ上變頻模塊輸出端連接到K波段矢量信號(hào)輸出接口 ；所述K波段IQ下變頻模塊輸出端連接到PXle雙通道ADC模塊;所述K波段IQ下變頻模塊輸入端連接到K波段矢量信號(hào)輸入接口。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的K波段雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述K波段矢量信號(hào)輸入接口和K波段矢量信號(hào)輸出接口分別連接到射頻開(kāi)關(guān)。
【文檔編號(hào)】G01S7/40GK105842669SQ201610183525
【公開(kāi)日】2016年8月10日
【申請(qǐng)日】2016年3月29日
【發(fā)明人】曹震宇
【申請(qǐng)人】智舉電子科技（上海）有限公司