儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法和成像測(cè)井儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及油氣勘探開(kāi)發(fā)技術(shù)領(lǐng)域，具體地說(shuō)，涉及一種儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法和成 像測(cè)井儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著世界石油天然氣資源的不斷開(kāi)發(fā)利用，油氣勘探開(kāi)發(fā)的方向逐漸由常規(guī)油氣 藏轉(zhuǎn)向特殊油氣藏。其中，裂縫型儲(chǔ)層油氣儲(chǔ)量的勘探開(kāi)發(fā)顯得尤為重要，而儲(chǔ)層裂縫類型 的識(shí)別則是裂縫性儲(chǔ)層測(cè)井解釋評(píng)價(jià)的基礎(chǔ)和重點(diǎn)。
[0003] 現(xiàn)有的儲(chǔ)層裂縫類型識(shí)別技術(shù)通常是根據(jù)雙側(cè)向測(cè)井或H孔隙度測(cè)井來(lái)進(jìn)行裂 縫識(shí)別。然而，利用雙側(cè)向測(cè)井進(jìn)行裂縫識(shí)別時(shí)，流體響應(yīng)等因素容易導(dǎo)致雙側(cè)向產(chǎn)生差 異，從而造成利用雙側(cè)向測(cè)井識(shí)別裂縫存在多解風(fēng)險(xiǎn)。而利用H孔隙度測(cè)井進(jìn)行裂縫識(shí)別 時(shí)，儀器的分辨率、巖性的變化、儲(chǔ)層流體性質(zhì)的變化都可能引起H孔隙度增大，使得僅從 孔隙度曲線的響應(yīng)特征出發(fā)難W準(zhǔn)確識(shí)別裂縫。
[0004] 成像測(cè)井系統(tǒng)自20世紀(jì)90年代初問(wèn)世，屬于能夠直接探測(cè)裂縫屬性的測(cè)井方法。 成像測(cè)井資料可W直觀、形象、清晰地展示出井壁二維空間的地質(zhì)特征。但是，成像測(cè)井在 應(yīng)用中也存在實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)缺乏、模式庫(kù)信息不夠豐富、地質(zhì)特征識(shí)別存在多解性等問(wèn)題。例 女口，利用成像測(cè)井進(jìn)行裂縫識(shí)別時(shí)，半充填縫因響應(yīng)不明顯而具有隱蔽性，常被漏解釋；低 角度裂縫又因與層理響應(yīng)接近，而不易被成像測(cè)井識(shí)別出來(lái)。
[0005] 此外，近年來(lái)還出現(xiàn)了井下電視、地層傾角等較為先進(jìn)的裂縫識(shí)別技術(shù)，但較高的 成本限制了它們的廣泛使用。
[0006] 基于上述情況，亟需一種低成本的、能夠有效識(shí)別出各種儲(chǔ)層裂縫類型的方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 為解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法，所述方法包括：
[0008] 孔隙度曲線確定步驟，基于待分析儲(chǔ)層的巖性信息，根據(jù)預(yù)設(shè)孔隙度曲線模型分 別計(jì)算所述待分析儲(chǔ)層的聲波孔隙度曲線、密度孔隙度曲線；
[0009] 孔隙度曲線組合確定步驟，在所述待分析儲(chǔ)層的干層，將聲波孔隙度曲線與密度 孔隙度曲線重合，作為所述待分析儲(chǔ)層的孔隙度曲線組合；
[0010] 裂縫類型識(shí)別步驟，在所述待分析儲(chǔ)層的其它層段，比較所述孔隙度曲線組合中 的所述聲波孔隙度曲線與密度孔隙度曲線，基于比較結(jié)果根據(jù)預(yù)設(shè)裂縫模型確定相應(yīng)層段 的裂縫類型。
[0011] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，在所述孔隙度曲線確定步驟之前，所述方法還包括：
[0012] 巖性信息獲取步驟，根據(jù)待分析儲(chǔ)層的巖也信息、地質(zhì)分析信息和測(cè)井曲線信息， 確定待分析儲(chǔ)層的巖性信息。
[0013] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，在所述預(yù)設(shè)孔隙度曲線模型中：
[0014] 根據(jù)所述待分析儲(chǔ)層的巖性信息，確定所述待分析儲(chǔ)層的巖石骨架聲波時(shí)差和巖 石骨架密度；
[0015] 基于巖石骨架聲波時(shí)差和巖石骨架密度，利用待分析儲(chǔ)層的聲波時(shí)差曲線和體積 密度曲線，分別根據(jù)聲波孔隙度響應(yīng)模型和密度孔隙度響應(yīng)模型計(jì)算所述待分析儲(chǔ)層的聲 波孔隙度曲線和密度孔隙度曲線。
[0016] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述聲波孔隙度響應(yīng)模型包括：
[0017]
[0018] 其中，cKe表示所分析層段的聲波孔隙度，At表示所分析層段的聲波時(shí)差，Atm。 表示所分析層段的巖石骨架聲波時(shí)差，Atf表示所分析層段的巖石孔隙流體的聲波時(shí)差， V,h表示所分析層段的泥質(zhì)含量，At,h表示泥質(zhì)聲波時(shí)差，k表示壓實(shí)校正系數(shù)。
[0019] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述密度孔隙度響應(yīng)模型包括：
[0020]
[0021] 其中，胃表示所分析層段的密度孔隙度，P表示所分析層段的巖石體積密度， Pma表示所分析層段的巖石骨架密度，Pf表示所分析層段的巖石孔隙流體密度，n表示泥 質(zhì)校正系數(shù)，表示所分析層段的泥質(zhì)含量，P&表示所分析層段的泥質(zhì)體積密度。
[0022] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，
[0023] 孔隙度曲線確定步驟還包括：
[0024] 基于所述待分析儲(chǔ)層的中子曲線，確定所述待分析儲(chǔ)層的中子孔隙度曲線；
[00巧]在所述孔隙度曲線組合確定步驟中：
[0026] 在所述待分析儲(chǔ)層的干層，W所述中子孔隙度曲線作為參考曲線，將聲波孔隙度 曲線、密度孔隙度曲線與所述中子孔隙度曲線重合，作為所述待分析儲(chǔ)層的孔隙度曲線組 厶 口 〇
[0027] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，在所述孔隙度曲線組合確定步驟之前，所述方法還包 括干層確定步驟，所述干層確定步驟包括：
[0028] 獲取待分析儲(chǔ)層的地層微電阻率掃描成像，將成像中表現(xiàn)為高亮白的區(qū)域確定為 所述待分析儲(chǔ)層的干層；和/或，
[0029] 獲取待分析儲(chǔ)層的雙側(cè)向曲線，將所述雙側(cè)向曲線中表現(xiàn)為高阻且重合的區(qū)域確 定為所述待分析儲(chǔ)層的干層。
[0030] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，在所述裂縫類型識(shí)別步驟中：
[0031] 當(dāng)所述密度孔隙度曲線高于所述聲波孔隙度曲線時(shí)，判斷該層段發(fā)育的為高角度 裂縫；
[0032] 當(dāng)所述聲波孔隙度曲線高于所述密度孔隙度曲線時(shí)，判斷該層段發(fā)育的為低角度 裂縫；
[0033] 當(dāng)所述聲波孔隙度曲線與所述密度孔隙度曲線相互交叉時(shí)，判斷該層段發(fā)育的為 網(wǎng)狀裂縫。
[0034] 根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，在所述裂縫類型識(shí)別步驟之后，所述方法還包括驗(yàn)證 步驟，所述驗(yàn)證步驟包括：
[0035] 對(duì)獲取的所述待分析儲(chǔ)層的巖也進(jìn)行深度歸位，判斷深度歸位后的所述巖也的各 個(gè)層段的裂縫類型與所述裂縫識(shí)別步驟中識(shí)別得到的相應(yīng)層段的裂縫類型是否匹配；和/ 或，
[0036] 利用成像測(cè)井識(shí)別所述待分析儲(chǔ)層各個(gè)層段的裂縫類型，判斷所述成像測(cè)井識(shí)別 到的各個(gè)層段的裂縫類型與所述裂縫識(shí)別步驟中識(shí)別得到的相應(yīng)層段的裂縫類型是否匹 配。
[0037] 本發(fā)明還提供了一種成像測(cè)井儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法，所述方法包括W下步驟：
[0038] 成像測(cè)井識(shí)別步驟，利用成像測(cè)井對(duì)待識(shí)別儲(chǔ)層中的裂縫進(jìn)行識(shí)別，得到所述待 識(shí)別儲(chǔ)層中裂縫的類型及其幾何參數(shù)；
[0039] 常規(guī)測(cè)井識(shí)別步驟，利用如上所述的方法對(duì)所述待識(shí)別儲(chǔ)層中的裂縫進(jìn)行識(shí)別， 得到所述待識(shí)別儲(chǔ)層中裂縫的類型；
[0040] 修正步驟，根據(jù)所述常規(guī)測(cè)井識(shí)別步驟中得到的所述待識(shí)別儲(chǔ)層中裂縫的類型與 所述成像測(cè)井識(shí)別步驟中得到的裂縫的類型，判斷所述成像測(cè)井識(shí)別步驟中是否存在漏解 釋的裂縫，W修正所述成像測(cè)井識(shí)別步驟的識(shí)別結(jié)果。
[0041] 本發(fā)明提供的裂縫識(shí)別方法使用常規(guī)測(cè)井，通過(guò)常規(guī)H孔隙度測(cè)井曲線重新計(jì)算 排列，來(lái)進(jìn)行儲(chǔ)層裂縫類型的識(shí)別。相較于現(xiàn)有的成像測(cè)井，本發(fā)明通過(guò)使用常規(guī)測(cè)井，在 有效保證識(shí)別結(jié)果的準(zhǔn)確性的同時(shí)，還能夠有效降低成本，也使得實(shí)現(xiàn)過(guò)程更加直觀、快 速，可操作性更強(qiáng)。同時(shí)，本發(fā)明通過(guò)H孔隙度曲線的重新排列，有效解決了現(xiàn)有方法中利 用H孔隙度響應(yīng)特征和雙側(cè)向正、負(fù)差異識(shí)別裂縫的多解性問(wèn)題。此外，將本發(fā)明所提供 的裂縫識(shí)別方法與成像測(cè)井相結(jié)合，還能夠有效克服現(xiàn)有成像測(cè)井因?yàn)榘氤涮羁p響應(yīng)不明 顯、低角度裂縫與層理響應(yīng)接近而導(dǎo)致的裂縫被漏解釋的問(wèn)題，該為成像測(cè)井的廣泛奠定 了基礎(chǔ)。
[0042] 本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說(shuō)明書(shū)中闡述，并且，部分地從說(shuō)明書(shū)中變 得顯而易見(jiàn)，或者通過(guò)實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過(guò)在說(shuō)明書(shū)、權(quán)利 要求書(shū)W及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)和獲得。
【附圖說(shuō)明】
[0043] 為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn) 有技術(shù)描述中所需要的附圖做簡(jiǎn)單的介紹：
[0044] 圖1是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法的流程圖；
[0045] 圖2是根據(jù)本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例的儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法的流程圖；
[0046] 圖3是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的某致密裂縫型氣藏XI井低角度縫識(shí)別圖；
[0047] 圖4是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的某致密裂縫型氣藏X2井高角度縫識(shí)別圖；
[0048] 圖5是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的某致密裂縫型氣藏X3井網(wǎng)狀縫識(shí)別圖；
[0049] 圖6是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的基于成像測(cè)井的儲(chǔ)層裂縫識(shí)別方法的流程圖；
[0050] 圖7是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的某致密裂縫型氣藏X4井半填充縫識(shí)別圖。
【具體實(shí)施方式】
[0051] W下將結(jié)合附圖及實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的