一種cpu rv轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子科技技術(shù)的不斷發(fā)展與進(jìn)步，用戶(hù)對(duì)電子產(chǎn)品性能的要求也不斷提高，為了追求更高的響應(yīng)速度和產(chǎn)品性能，提高CPU的工作性能成為發(fā)展的必然，但是在提高CPU工作性能的同時(shí)，CPU的功耗也必然會(huì)出現(xiàn)相應(yīng)的提高，因此人們對(duì)CPU VR電壓轉(zhuǎn)換損耗的關(guān)注也越來(lái)越多，而CPU VR轉(zhuǎn)換效率是判斷CPU VR電壓轉(zhuǎn)換性能的唯一標(biāo)準(zhǔn)。
[0003]目前，對(duì)于CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試方法主要包括:通過(guò)在輸入端串聯(lián)精密電阻，通過(guò)精密電阻測(cè)量輸入電流，根據(jù)測(cè)試到的輸入電流，進(jìn)行相應(yīng)的計(jì)算，從而獲得CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0004]針對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)的這種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試方法，由于CPU VR輸出電流在滿(mǎn)載時(shí)會(huì)到達(dá)200A以上，大電流將導(dǎo)致精密電阻產(chǎn)生大量的熱量，精密電阻受本身精度和溫度的影響，將使測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生較大的偏差，因此，通過(guò)現(xiàn)有技術(shù)測(cè)量CPU VR轉(zhuǎn)換效率，測(cè)試精度較低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)及方法，能夠提高CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)量精度。
[0006]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)，包括:計(jì)算裝置、可編程直流電源、可編程直流電子負(fù)載及數(shù)據(jù)采集器；
[0007]所述可編程直流電子負(fù)載，與CPU VR輸出端相連，用于對(duì)所述CPU VR進(jìn)行拉載，并在拉載過(guò)程中獲取CPU VR輸出電流；
[0008]所述可編程直流電源，與所述CPU VR所在主板的電源輸入端相連，用于為所述主板提供輸入電壓，并在所述拉載過(guò)程中獲取CPU VR輸入電流；
[0009]所述數(shù)據(jù)采集器，用于在所述CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸入電壓，在所述CPU VR輸出端的輸出電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸出電壓；
[0010]所述計(jì)算裝置，用于從所述可編程直流電源獲取所述CPU VR輸入電流，從所述可編程直流電子負(fù)載獲取所述CPU VR輸出電流，從所述數(shù)據(jù)采集器獲取所述CPU VR輸入電壓及CPU VR輸出電壓，并根據(jù)獲取的所述CPU VR輸入電流、CPU VR輸出電流、CPU VR輸入電壓及CPU VR輸出電壓，計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0011]優(yōu)選地，該系統(tǒng)進(jìn)一步包括:PSU電源；
[0012]所述PSU電源，與所述主板上Driver-MOS的電源輸入端相連，用于為Driver-MOS提供工作電壓；
[0013]所述數(shù)據(jù)采集器，進(jìn)一步用于采集所述Driver-MOS的工作電壓和工作電流；
[0014]所述計(jì)算裝置，用于通過(guò)所述數(shù)據(jù)采集器獲取Driver-MOS的工作電壓及Driver-MOS的工作電流，并進(jìn)一步根據(jù)獲取的Driver-MOS的工作電壓及Driver-MOS的工作電流，執(zhí)行所述計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0015]優(yōu)選地，所述計(jì)算裝置，用于通過(guò)以下公式計(jì)算得出CPU VR轉(zhuǎn)換效率§:
[0016]§ = (V0UtX10Ut)/(VinXIin+Vffl0SXIffl0S);
[0017]其中，Iin^ CPU VR輸入電流，ItjutSCPU VR輸出電流，V in^ CPU VR輸入電壓，VwtSCPU VR輸出電壓，V.為Driver-MOS工作電壓，I.為Driver-MOS工作電流。
[0018]優(yōu)選地，該系統(tǒng)進(jìn)一步包括:精密電阻；
[0019]所述精密電阻分別與所述PSU電源及Driver-MOS的電源輸入端相連；
[0020]所述數(shù)據(jù)采集器，進(jìn)一步用于采集所述精密電阻兩端的電壓；
[0021]所述計(jì)算裝置，進(jìn)一步用于從所述數(shù)據(jù)采集器獲取所述精密電阻兩端的電壓，并根據(jù)所述精密電阻的電阻值，通過(guò)計(jì)算獲得所述Driver-MOS工作電流。
[0022]優(yōu)選地，所述可編程直流電源，用于通過(guò)Sense線與所述CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)相連，實(shí)時(shí)監(jiān)控所述CPU VR輸入電壓，并根據(jù)所述CPU VR輸入電壓調(diào)整自身的輸出電壓。
[0023]優(yōu)選地，該系統(tǒng)進(jìn)一步包括:Intel Load Board ；
[0024]所述Intel Load Board—端與所述CPU VR輸出端相連，另一端與所述可編程直流電子負(fù)載相連，其中，所述可編程直流電子負(fù)載上的負(fù)載線通過(guò)螺絲固定于所述IntelLoad Board上，所述Intel Load Board用于為所述可編程直流電子負(fù)載提供平臺(tái)，所述可編程直流電子負(fù)載通過(guò)該平臺(tái)對(duì)所述CPU VR進(jìn)行拉載。
[0025]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試方法，該方法包括:
[0026]將可編程直流電源與CPU VR所在主板的電源輸入端相連，對(duì)所述CPU VR所在主板提供輸入電壓；
[0027]將可編程直流電子負(fù)載與所述CPU VR輸出端相連，對(duì)所述CPU VR進(jìn)行拉載；
[0028]所述可編程直流電源在所述拉載過(guò)程中獲取CPU VR輸入電流；
[0029]所述可編程直流電子負(fù)載在所述拉載過(guò)程中獲取CPU VR輸出電流；
[0030]數(shù)據(jù)采集器在CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸入電壓，在CPU VR輸出端的輸出電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸出電壓；
[0031 ] 計(jì)算裝置從所述可編程直流電源獲取所述CPU VR輸入電流，從可編程直流電子負(fù)載獲取CPU VR輸出電流；
[0032]所述計(jì)算裝置通過(guò)所述數(shù)據(jù)采集器獲取所述CPU VR輸出電壓及CPU VR輸入電壓；
[0033]所述計(jì)算裝置根據(jù)獲取的所述CPU VR輸入電流、CPU VR輸出電流、CPU VR輸出電壓、CPU VR輸入電壓，計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0034]優(yōu)選地，該方法進(jìn)一步包括:在所述主板上Driver-MOS的電源輸入端連接PSU電源，為所述Driver-MOS提供工作電壓；
[0035]所述數(shù)據(jù)采集器進(jìn)一步采集所述Driver-MOS的工作電壓和工作電流；
[0036]所述計(jì)算裝置通過(guò)所述數(shù)據(jù)采集器獲取Driver-MOS的工作電壓及Driver-MOS的工作電流，并進(jìn)一步根據(jù)獲取的Driver-MOS的工作電壓及Driver-MOS的工作電流，計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0037]優(yōu)選地，所述計(jì)算裝置計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率包括:
[0038]所述計(jì)算裝置通過(guò)以下公式計(jì)算得出CPU VR轉(zhuǎn)換效率§:
[0039]§ = (V0UtX10Ut)/(VinXIin+Vffl0SXIffl0S);
[0040]其中，1&為CPU VR輸入電流，I QUt為CPU VR輸出電流，V &為CPU VR輸入電壓，VwtSCPU VR輸出電壓，V.為Driver-MOS工作電壓，I.為Driver-MOS工作電流。
[0041]優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)采集器采集所述Driver-MOS的工作電流包括:在所述PSU電源與所述Driver-MOS的電源輸入端之間連接一個(gè)精密電阻，所述數(shù)據(jù)采集器采集所述精密電阻兩端的電壓，所述計(jì)算裝置從所述數(shù)據(jù)采集器獲取所述精密電阻兩端的電壓，并根據(jù)所述精密電阻的電阻值，通過(guò)計(jì)算獲得所述Driver-MOS工作電流。
[0042]優(yōu)選地，所述可編程直流電源通過(guò)Sense線與所述CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)相連，實(shí)時(shí)監(jiān)控所述CPU VR輸入電壓，并根據(jù)所述CPU VR輸入電壓調(diào)整自身的輸出電壓。
[0043]優(yōu)選地，在所述可編程直流電子負(fù)載與所述CPU VR輸出端之間連接Intel LoadBoard，其中，所述可編程直流電子負(fù)載上的負(fù)載線通過(guò)螺絲固定于所述Intel Load Board上，所述Intel Load Board用于為所述可編程直流電子負(fù)載提供平臺(tái)，所述可編程直流電子負(fù)載通過(guò)該平臺(tái)對(duì)所述CPU VR進(jìn)行拉載。
[0044]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)包括計(jì)算裝置、可編程直流電源、可編程直流電子負(fù)載及數(shù)據(jù)采集器，由可編程直流電源對(duì)CPU VR所在主板提供輸入電壓，由可編程直流電子負(fù)載對(duì)CPU VR進(jìn)行拉載，在拉載過(guò)程中，可編程直流電源獲取CPU VR輸入電流，可編程直流電子負(fù)載獲取CPU VR輸出電流；數(shù)據(jù)采集器通過(guò)CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸入電壓，通過(guò)CPU VR輸出端的輸出電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸出電壓；計(jì)算裝置分別從可編程直流電源、可編程直流電子負(fù)載及數(shù)據(jù)采集器獲取CPU VR輸入電流、CPU VR輸出電流、CPU VR輸入電壓及CPU VR輸出電壓，并通過(guò)獲取的電流和電壓參數(shù)計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率，由于CPU VR輸入電流是由可編程直流電源直接獲得，在對(duì)CPU VR拉載過(guò)程中，不會(huì)產(chǎn)生因?yàn)殡娏髟龃蟀l(fā)熱而導(dǎo)致所獲取的CPU VR輸入電流不準(zhǔn)確的情況發(fā)生，從而提高CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)量精度。
【附圖說(shuō)明】
[0045]圖1是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種CPUVR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)示意圖；
[0046]圖2是本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例提供的一種CPUVR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0047]圖3是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種C