一種測(cè)試探針裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于飛針測(cè)試機(jī)領(lǐng)域，特別涉及一種應(yīng)用于飛針測(cè)試機(jī)上的測(cè)試探針裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]飛針測(cè)試機(jī)是針對(duì)元件布置高密度、層數(shù)多、布線密度大、測(cè)點(diǎn)距離小的PCB板(印刷電路板)進(jìn)行測(cè)試的一種儀器，主要測(cè)試線路板的絕緣和導(dǎo)通值。測(cè)試儀一般采用“真值比較定位法”，能對(duì)測(cè)試過(guò)程和故障點(diǎn)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，保證測(cè)試的準(zhǔn)確性。飛針測(cè)試機(jī)具有精細(xì)節(jié)距，不受網(wǎng)格限制，測(cè)試靈活，速度快等特點(diǎn)。
[0003]應(yīng)用于飛針測(cè)試機(jī)上的測(cè)試探針裝置通常安裝在測(cè)試手臂上，測(cè)試手臂安裝在機(jī)座的Y軸的滑塊上，可以Y方向上作上下運(yùn)動(dòng)，Y軸安裝在X軸上可以作X方向的左右運(yùn)動(dòng)，而探針安裝在Z軸導(dǎo)軌上，探針可以在Z軸方向上作前后運(yùn)動(dòng)，飛針測(cè)試機(jī)就是通過(guò)上位機(jī)的測(cè)試軟件控制X、Y、Z軸運(yùn)動(dòng)，進(jìn)而控制探針扎到PCB的各個(gè)測(cè)試點(diǎn)，完成對(duì)PCB板的檢測(cè)?，F(xiàn)有的測(cè)試探針裝置如圖1所示，其包括針座主體a、位于針座主體a前端的探針組件b，位于針座主體a后端的信號(hào)線固定組件C，以及位于針座主體a上端的感應(yīng)器組件d ;其中，測(cè)試信號(hào)線e通過(guò)導(dǎo)線固定螺絲g及銅片f固定在底座上，探針組件b中的探針與銅片f通過(guò)焊接在探針上的測(cè)試信號(hào)線el連接；更換探針時(shí)，首先先將導(dǎo)線固定螺絲g拆下，松開銅片f，再將感應(yīng)器組件拆下，然后再將探針組件固定螺絲，才能取下探針組件，可見，上述測(cè)試探針裝置更換探針非常不方便，同時(shí)，該測(cè)試探針裝置中，測(cè)試數(shù)據(jù)線在探針組件處橫向分布，其與待測(cè)PCB板平行而容易產(chǎn)生電容，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)生干擾。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為此，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于現(xiàn)有的測(cè)試探針裝置更換探針不方便且對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)有干擾的問題。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的測(cè)試探針裝置，其包括，針座主體，位于針座主體前端的探針組件，位于針座主體上端的感應(yīng)器組件，以及位于針座主體后端的信號(hào)線固定組件，所述探針組件包括可拆卸連接于所述針座主體上的彈性支架以及固定連接于所述彈性支架上的探針，所述探針固定連接有第一測(cè)試線，所述第一測(cè)試線的另一端固定連接有第一導(dǎo)電片，所述第一導(dǎo)電片可拆卸連接于所述針座本體上，并與所述信號(hào)線固定組件上的信號(hào)線電連接。
[0006]上述測(cè)試探針裝置中，所述信號(hào)線固定組件包括位于所述針座本體后端的固定座，以及固定所述信號(hào)線的第三導(dǎo)電片，所述第三導(dǎo)電片可拆卸地連接于所述固定座上。
[0007]上述測(cè)試探針裝置中，所述第一導(dǎo)電片與所述第三導(dǎo)電片之間通過(guò)第二測(cè)試線連接。
[0008]上述測(cè)試探針裝置中，所述針座本體上可拆卸連接有第二導(dǎo)電片，所述第二測(cè)試線固定連接于所述第二導(dǎo)電片上，所述第一導(dǎo)電片通過(guò)所述第二導(dǎo)電片可拆卸連接于所述針座本體上。
[0009]上述測(cè)試探針裝置中，所述第二導(dǎo)電片螺紋連接于所述針座本體上，所述第一導(dǎo)電片貼合連接于所述第二導(dǎo)電片的外表面，并通過(guò)穿設(shè)于第一導(dǎo)電片及所述第二導(dǎo)電片上的螺釘連接于所述針座本體上。
[0010]上述測(cè)試探針裝置中，所述第一導(dǎo)電片及所述第二導(dǎo)電片位于接近所述探針一側(cè)的針座本體的側(cè)面上。
[0011]上述測(cè)試探針裝置中，所述彈性支架與所述針座本體的配合面上設(shè)有定位結(jié)構(gòu)。
[0012]上述測(cè)試探針裝置中，所述定位結(jié)構(gòu)為分別設(shè)置于所述彈性支架與所述針座本體上的定位凸起/定位凹槽。
[0013]上述測(cè)試探針裝置中，所述第一測(cè)試線的兩端分別焊接連接于所述探針及所述第一導(dǎo)電片上，所述第二測(cè)試線的兩端分別焊接連接于所述第二導(dǎo)電片與第三導(dǎo)電片上。
[0014]上述測(cè)試探針裝置中，所述感應(yīng)器組件包括可拆卸連接于所述針座本體上的感應(yīng)器安裝座以及可拆卸連接于所述感應(yīng)器安裝座上的壓力感應(yīng)器。
[0015]本發(fā)明的上述技術(shù)方案相比現(xiàn)有技術(shù)具有以下優(yōu)點(diǎn):
(I)本發(fā)明的測(cè)試探針裝置中，探針固定連接有第一測(cè)試線，所述第一測(cè)試線的另一端固定連接有第一導(dǎo)電片，所述第一導(dǎo)電片可拆卸連接于所述針座本體上，并與所述信號(hào)線固定組件上的信號(hào)線電連接。更換上述測(cè)試探針裝置的探針組件時(shí)，只需要將第一導(dǎo)電片及彈性支架從針座本體上拆卸下來(lái)即可將探針組件拆下，相比現(xiàn)有技術(shù)需要將信號(hào)線固定組件拆卸才能將探針組件可靠拆下的方式，該測(cè)試探針裝置更換探針更為簡(jiǎn)單、方便。
[0016](2)進(jìn)一步的，本發(fā)明的第一導(dǎo)電片位于接近探針一側(cè)的針座本體的側(cè)面上，這樣，第一測(cè)試線可以從在探針的末端直接從前后方向延伸連接于第一導(dǎo)電片上，使探針組件前端橫向設(shè)置的第一測(cè)試線盡量少，消除電容干擾，使測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。
[0017](3)本發(fā)明的針座本體上可拆卸連接有第二導(dǎo)電片，另一端連接于信號(hào)線上的第二測(cè)試線固定連接于所述第二導(dǎo)電片上，所述第一導(dǎo)電片通過(guò)所述第二導(dǎo)電片可拆卸連接于所述針座本體上。裝配時(shí)，將連接有第二測(cè)試線的第二導(dǎo)電片螺紋連接于所述針座本體上，再將第一導(dǎo)電片貼合連接于所述第二導(dǎo)電片的外表面，并通過(guò)穿設(shè)于第一導(dǎo)電片及所述第二導(dǎo)電片上的螺釘連接于所述針座本體上，更換探針時(shí)，不需要拆卸第二測(cè)試線就可以將探針拆裝，使更換探針更加可靠和方便。
【附圖說(shuō)明】
[0018]為了使本發(fā)明的內(nèi)容更容易被清楚的理解，下面根據(jù)本發(fā)明的具體實(shí)施例并結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明，其中
圖1是本發(fā)明的測(cè)試探針裝置的立體圖；
圖2是本發(fā)明的測(cè)試探針裝置的立體分解圖。
[0019]圖中附圖標(biāo)記表示為:
1-針座本體，2探針組件，21-探針，22-彈性支架，23-第一測(cè)試線，24-第一導(dǎo)電片，3-信號(hào)線固定組件，4-感應(yīng)器組件，41-感應(yīng)器安裝座，42-壓力感應(yīng)器，31-信號(hào)線，32-固定座，33-第三導(dǎo)電片，5-第二導(dǎo)電片，6-第二測(cè)試線。
【具體實(shí)施方式】
[0020]以下將結(jié)合附圖，使用以下實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步闡述。
[0021]為了描述方便，本發(fā)明中所述前后方向即所述測(cè)試探針裝置中探針的探測(cè)時(shí)的行進(jìn)方向，上下方向即為圖1所示的測(cè)試探針裝置的上下側(cè)。
[0022]圖1所示為本發(fā)明的測(cè)試探針裝置，其包括，針座主體I，位于針座主體I前端的探針組件2，位于針座主體I上端的感應(yīng)器組件4，以及位于針座主體I后端的信號(hào)線固定組件3。
[0023]其中，所述探針組件2包括可拆卸連接于所述針座主體I上的彈性支架22以及固定連接于所述彈性支架22上的探針21，其中，作為一種實(shí)施方式，所述探針21通過(guò)焊接連接的方式固定于所述彈性支架22上。所述探針21固定連接有第一測(cè)試線23，所述第一測(cè)試線23的另一端固定連接有第一導(dǎo)電片24，所述第一導(dǎo)電片24可拆卸連接于所述針座本體I上，并與所述信號(hào)線固定組件3上的信號(hào)線31電連接。具體地，所述第一測(cè)試線23的兩端分別焊接連接于所述探針21及所述第一導(dǎo)電片24上。
[0024]更換上述測(cè)試探針裝置的探針組件時(shí)，只需要將第一導(dǎo)電片24及彈性支架22從針座本體I上拆卸下來(lái)即可將探針組件拆下，相比現(xiàn)有技術(shù)來(lái)說(shuō)，該測(cè)試探針裝置更換探針更為方便。
[0025]進(jìn)一步的，所述第一導(dǎo)電片24位于接近所述探針21 —側(cè)的所述針座本體I的側(cè)面上，這樣，所述第一測(cè)試線2