多路晶體管be結(jié)結(jié)溫測量裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種采用電子電路控制能夠精確地測量晶體管在老化過程中BE結(jié)結(jié)溫的裝置，屬于器件老化測試的專用設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]晶體管器件的失效服從浴盆曲線的分布。廠家通常需要對器件進(jìn)行老化試驗(yàn)，以便得到器件的老化參數(shù)。在廠家對生產(chǎn)出來的器件進(jìn)行抽樣加速老化試驗(yàn)時(shí)，要得知器件的老化工作條件。其中包含器件的結(jié)溫。然而，器件的管芯是封裝在器件的外殼中，沒有辦法直接測量BE結(jié)的結(jié)溫。通常的做法是通過熱阻計(jì)算得到晶體管的工作結(jié)溫。然而器件的熱阻是隨著器件的工作溫度的變化而變化的。這就使得對器件老化時(shí)準(zhǔn)確的工作結(jié)溫的提取造成困難。同時(shí)，我們知道晶體管的工作結(jié)電壓與結(jié)溫具有特定的分布關(guān)系。因此，亟待開發(fā)出一種精確、合理地測量對于老化中的晶體管的BE結(jié)結(jié)電壓的裝置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是向國內(nèi)各個(gè)晶體管器件生產(chǎn)商以及研宄單位和類似用途的實(shí)驗(yàn)室提供一種適用于精確測量老化電路中晶體管BE結(jié)結(jié)電壓的專用設(shè)備。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為多路晶體管BE結(jié)結(jié)溫測量裝置，該裝置包括機(jī)箱1、測量端子組a2、老化供電端子組a3、指令傳輸口 4、采集數(shù)據(jù)傳輸口 5、裝置供電輸入耦合器6、裝置開關(guān)按鍵7以及內(nèi)部控制電路；所述內(nèi)部控制電路設(shè)置在機(jī)箱I內(nèi)的襯板上，內(nèi)部控制電路包括輸入耦合器接線端子8、50V直流電源9、15V直流電源10、MP424采集模塊11、開關(guān)測試采集電路PCB板12 ;開關(guān)測試采集電路PCB板包括開關(guān)模塊13、測試模塊14、FPGA控制模塊15、采集模塊16。
[0005]機(jī)箱I的前面板上為測量端子組a2、老化供電端子組a3兩個(gè)區(qū)。
[0006]測量端子組a2包括第一測量端子C2.1.1、第一測量端子B2.1.2、第一測量端子E2.1.3、第二測量端子C2.2.1、第二測量端子B2.2.2、第二測量端子E2.2.3、第三測量端子C2.3.1、第三測量端子B2.3.2、第三測量端子E2.3.3、第四測量端子C2.4.1、第四測量端子B2.4.2、第四測量端子E2.4.3、第五測量端子C2.5.1、第五測量端子B2.5.2、第五測量端子E2.5.3，其分別對應(yīng)連接老化電路中五個(gè)晶體管集電極、基極、發(fā)射極，測量端子組a2在機(jī)箱I內(nèi)部與PCB板上的十五個(gè)測量端子組相連。
[0007]老化供電端子組a3包括第一老化供電端子U3.1.1、第一老化供電端子13.1.2、第二老化供電端子U3.2.1、第二老化供電端子13.2.2、第三老化供電端子U3.3.1、第三老化供電端子13.3.2、第四老化供電端子U3.4.1、第四老化供電端子13.4.2、第五老化供電端子U3.5.1、第五老化供電端子13.5.2，分別對應(yīng)連接老化電路中五個(gè)晶體管的基極和集電極，老化供電端子a3在機(jī)箱I內(nèi)部與開關(guān)測試采集電路PCB板12上十個(gè)老化供電端子組相連。
[0008]機(jī)箱I的后面板設(shè)有一個(gè)指令傳輸口 4，一個(gè)采集數(shù)據(jù)傳輸口 5，一個(gè)電源輸入耦合器6，一個(gè)裝置開關(guān)按鍵7 ο
[0009]指令傳輸口 4通過USB線與PC機(jī)相連，內(nèi)部與開關(guān)測試采集電路PCB板12上指令傳輸模塊相連，達(dá)到指令由PC機(jī)向裝置傳輸。
[0010]采集數(shù)據(jù)傳輸口 5通過USB線與PC機(jī)相連，內(nèi)部與MP424采集模塊11相連，達(dá)到采集數(shù)據(jù)由裝置向PC機(jī)傳輸。
[0011]電源輸入耦合器6內(nèi)置電源濾波，在機(jī)箱I內(nèi)部通過輸入耦合器接線端子8與50V直流電源9、15V直流電源10連接，用以開關(guān)測試采集電路PCB板12上不同模塊的供電。
[0012]所述裝置開關(guān)按鍵7用以控制裝置電路的開斷。PC機(jī)通過指令傳輸模塊27向FPGA控制模塊15發(fā)出指令，F(xiàn)PGA控制模塊15的五個(gè)管腳連接到開關(guān)模塊13的五個(gè)輸入端，控制被測晶體管老化電路斷開，同時(shí)，F(xiàn)PGA控制模塊15的另五個(gè)管腳連接采集模塊16，選通一路測試電流的導(dǎo)通，此時(shí)測試電流從測試模塊14流出，流進(jìn)外部老化電路中的晶體管的基極，電流通過BE結(jié)流回測試模塊14的回路，同時(shí)，PC機(jī)發(fā)出指令，通過FPGA控制模塊15發(fā)出指令，該指令向MP424采集模塊11發(fā)出指令。MP424采集模塊11進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。
[0013]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下明顯的優(yōu)勢和有益效果:
[0014]本發(fā)明多路晶體管BE結(jié)結(jié)溫測量裝置，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控晶體管在老化過程中BE結(jié)結(jié)溫，采用電子控制方式斷電，能夠精確地保證被測器具在斷電瞬間完成測試，確保試驗(yàn)符合標(biāo)準(zhǔn)要求，操作簡單、準(zhǔn)確、重復(fù)性好，測試效率和準(zhǔn)確性都得到大幅提高。
【附圖說明】
[0015]圖1是本發(fā)明設(shè)備前面板圖；
[0016]圖2是本發(fā)明設(shè)備后面板圖；
[0017]圖3是本發(fā)明設(shè)備機(jī)箱內(nèi)部電路圖；
[0018]圖中，1、機(jī)箱，2、測量端子組a，2.1.1、第一測量端子C，2.1.2、第一測量端子B，2.1.3、第一測量端子E，2.2.1、第二測量端子C，2.2.2、第二測量端子B，2.2.3、第二測量端子E，2.3.1、第三測量端子C，2.3.2、第三測量端子B，2.3.3、第三測量端子E，2.4.1、第四測量端子C，2.4.2、第四測量端子匕2.4.3、第四測量端子E，2.5.1、第五測量端子C，
2.5.2、第五測量端子B，2.5.3、第五測量端子E，3、老化供電端子組a，3.1.1、第一老化供電端子U，3.1.2、第一老化供電端子I，3.2.1、第二老化供電端子U，3.2.2、第二老化供電端子1,3.3.1、第三老化供電端子U，3.3.2、第三老化供電端子I，3.4.1、第四老化供電端子U，
3.4.2、第四老化供電端子I，3.5.1、第五老化供電端子U，3.5.2、第五老化供電端子I，4、指令傳輸口，5、采集數(shù)據(jù)傳輸口，6、裝置供電輸入耦合器，7、裝置開關(guān)按鍵，8、輸入耦合器接線端子，9、50V直流電源，10U5V直流電源，11、MP424采集模塊，12、開關(guān)測試采集電路PCB板；13、開關(guān)模塊，14、測試模塊，15、FPGA控制模塊，16、采集模塊。
【具體實(shí)施方式】
[0019]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0020]如圖1-3所示，所述多路晶體管BE結(jié)結(jié)溫測量裝置包括機(jī)箱1、測量端子組a2、老化供電端子組a3、指令傳輸口 4、采集數(shù)據(jù)傳輸口 5、裝置供電輸入耦合器6、裝置開關(guān)按鍵7以及內(nèi)部控制電路；所述內(nèi)部控制電路設(shè)置在機(jī)箱I內(nèi)的襯板上，內(nèi)部控制電路包括輸入耦合器接線端子8、50V直流電源9、15V直流電源10、MP424采集模塊11、開關(guān)測試采集電路PCB板12 ;開關(guān)測試采集電路PCB板包括開關(guān)模塊13、測試模塊14、FPGA控制模塊15、采集模塊16 ;
[0021]機(jī)箱I的前面板上為測量端子組a2、老化供電端子組a3兩個(gè)區(qū)。
[0022]測量端子組a2包括第一測量端子C2.1.1、第一測量端子B2.1.2、第一測量端子E2.1.3、第二測量端子C2.2.1、第二測量端子B2.2.2、第二測量端子E2.2.3、第三測量端子C2.3.1、第三測量端子B2.3.2、第三測量端子E2.3.3、第四測量端子C2.4.1、第四測量端子B2.4.2、第四測量端子E2.4.3、第五測量端子C2.5.1、第五測量端子B2.5.2、第五測量端子E2.5.3，其分別對應(yīng)連接老化電路中五個(gè)晶體管集電極、基極、發(fā)射極，測量端子組a2在機(jī)箱I內(nèi)部與PCB板上的十五個(gè)測量端子組相連。
[0023]老化供電端子組a3包括第一老化供電端子U3.1.1、第一老化供電端子13.1.2、第二老化供電端子U3.2.1、第二老化供電端子13.2.2、第三老化供電端子U3.3.1、第三老化供電端子13.3.2、第四老化供電端子U3.4.1、第四老化供電端子13.4.2、第五老化供電端子U3.5.1、第五老化供電端子13.5.2，分別對應(yīng)連接老化電路中五個(gè)晶體管的基極和集電極，老化供電端子在機(jī)箱I內(nèi)部與開關(guān)測試