一種氮氧傳感器芯片老化測試裝置及老化測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種氮氧傳感器芯片老化測試裝置及老化測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著世界工業(yè)化進(jìn)程的不斷加速，全球汽車保有量持續(xù)快速增長，汽車尾氣排放已成為主要的大氣污染物，由此造成的環(huán)境問題日益突出，對環(huán)境和人類健康造成極大的威脅。目前，汽車發(fā)動(dòng)機(jī)后處理系統(tǒng)通常選用氮氧傳感器來測量尾氣中氮氧化物的濃度，根據(jù)此濃度值采取相應(yīng)的措施，降低氮氧化物的排放，以符合國家標(biāo)準(zhǔn)。
[0003]為了確保氮氧傳感器芯片的使用壽命，在氮氧傳感器芯片出廠前會(huì)對其進(jìn)行加壓老化測試，以篩除有缺陷的芯片。目前國內(nèi)尚未實(shí)現(xiàn)氮氧傳感器芯片的穩(wěn)定量產(chǎn)，對于氮氧傳感器芯片的老化測試也處于空白狀態(tài)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進(jìn)需求，本發(fā)明提供了一種氮氧傳感器芯片老化測試裝置，其目的在于通過對氮氧傳感器芯片的加熱電極循環(huán)加壓，反復(fù)加熱芯片，使得加熱電極有缺陷的芯片在加熱過程中斷裂，由此實(shí)現(xiàn)老化，達(dá)到淘汰不良品的目的。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，按照本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種氮氧傳感器芯片老化測試裝置，包括通訊模塊、控制模塊、信號分析模塊、老化電源和采樣電阻；
[0006]其中，通訊模塊用于實(shí)現(xiàn)控制模塊與外部工控機(jī)之間的數(shù)據(jù)通訊，其數(shù)據(jù)端作為與該工控機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的數(shù)據(jù)收發(fā)端口 ；控制模塊的第一輸入端連接通訊模塊的第一輸出端，控制模塊的第二輸入端連接信號分析模塊的輸出端；控制模塊的第一輸出端連接通訊模塊的控制端；
[0007]信號分析模塊的輸入端連接采樣電阻，用于根據(jù)采樣電阻兩端的電壓獲取待測氮氧傳感器芯片加熱電極上流過的加熱電流，并反饋給控制模塊，由控制模塊辨識相應(yīng)的加熱電極是否斷裂；老化電源的控制端連接控制模塊的第二輸出端，用于根據(jù)控制模塊提供的控制信號調(diào)整輸出的老化電壓；采樣電阻的一端連接老化電源的輸出正端，另一端連接待測氮氧傳感器芯片的加熱正極，待測氮氧傳感器芯片的加熱負(fù)極連接老化電源的輸出負(fù)端；由此，老化電源、采樣電阻與氮氧傳感器芯片構(gòu)成加熱回路；
[0008]采用該老化測試裝置，通過將老化電壓加載在芯片加熱電極上，實(shí)現(xiàn)對待測氮氧傳感器芯片的電極加熱老化，以淘汰經(jīng)老化測試篩選出的不良品。
[0009]控制模塊用于根據(jù)老化目標(biāo)電壓數(shù)據(jù)輸出控制信號，控制老化電源輸出的老化電壓；并根據(jù)信號分析模塊反饋的加熱電流判斷待測氮氧傳感器芯片的加熱電極在老化過程中是否被燒斷。
[0010]優(yōu)選的，上述氮氧傳感器芯片老化測試裝置還包括具有彈性接線柱的芯片夾具；由于待測氮氧傳感器芯片電極位于平面上，外電路無法采用便捷有效的方式與待測氮氧傳感器芯片的電極可靠連接；采用芯片夾具，將電纜線連接在芯片夾具的彈性接線柱上，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)老化電源與待測氮氧傳感器芯片電極的可靠電連接；老化電壓經(jīng)由夾具的彈性接線柱加載在芯片的電極上，實(shí)現(xiàn)對待測氮氧傳感器芯片的電極加熱老化的目的。
[0011]優(yōu)選的，所述芯片夾具包括至少一對彈性接線柱；其中一個(gè)彈性接線與老化電源正極連接，另一個(gè)則與老化電源負(fù)極連接；具備多對彈性接線柱，可同時(shí)對多個(gè)芯片進(jìn)行老化測試。
[0012]優(yōu)選的，通訊模塊包括數(shù)據(jù)處理單元，用于為通訊數(shù)據(jù)添加校驗(yàn)位，以避免通訊數(shù)據(jù)在傳輸過程受到干擾，導(dǎo)致加壓錯(cuò)誤而損壞待測氮氧傳感器芯片。
[0013]優(yōu)選的，老化電源為可調(diào)開關(guān)電源，老化電源的輸出電壓根據(jù)控制模塊的控制信號調(diào)節(jié)；而控制模塊根據(jù)預(yù)設(shè)的目標(biāo)電壓提供控制信號。
[0014]優(yōu)選的，采樣電阻的阻值為0.1歐姆?0.5歐姆，其串聯(lián)入加熱回路中的作用在于:通過采集采樣電阻兩端電壓以獲取待測氮氧傳感器芯片加熱電極上的電流，阻值過大會(huì)影響芯片加熱的效果，阻值過小則會(huì)影響電流的測量精度。
[0015]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種對氮氧傳感器芯片進(jìn)行老化測試的方法，基于上述老化測試裝置，將老化電壓采用漸進(jìn)的方式逐步升高至老化目標(biāo)電壓并在一段時(shí)間內(nèi)循環(huán)加壓，具體如下:
[0016](1)0?第30秒:穩(wěn)定加載初始老化電壓，以在待測氮氧傳感器芯片的加熱電極上形成較低的老化溫度，預(yù)熱待測氮氧傳感器芯片；
[0017](2)第30秒?第90秒:均勾升壓，每t秒升壓一次，每次升壓量為S/N，在第90秒達(dá)到老化目標(biāo)電壓；其中，S為老化目標(biāo)電壓減去初始老化電壓獲得的值；N為本步驟60秒內(nèi)老化電壓升壓次數(shù)為60/N ;
[0018](3)第90秒?第240秒:將老化電壓穩(wěn)定在老化目標(biāo)電壓，持續(xù)老化；
[0019](4)第240秒?第360秒:老化電壓為OV ；
[0020](5)在5個(gè)小時(shí)內(nèi)重復(fù)上述漸進(jìn)加壓步驟(I)?(4) 40?60次，完成對待測氮氧傳感器芯片的循環(huán)加壓；然后分析待測氮氧傳感器芯片的加熱電極在老化過程中是否被燒斷，以剔除不良品，完成對待測氮氧傳感器芯片的老化測試。
[0021]總體而言，通過本發(fā)明所構(gòu)思的以上技術(shù)方案，能取得下列有益效果:
[0022](I)本發(fā)明提供的氮氧傳感器芯片老化測試裝置，用于實(shí)現(xiàn)對待測氮氧傳感器芯片進(jìn)行循環(huán)加熱老化；使加熱電極有缺陷的待測氮氧傳感器芯片在加熱過程中斷裂，實(shí)現(xiàn)老化，達(dá)到淘汰不良品的目的；
[0023](2)本發(fā)明提供的氮氧傳感器芯片老化測試裝置，控制模塊可實(shí)時(shí)獲取加熱電極上的電流，便于隨時(shí)調(diào)整老化目標(biāo)電壓，避免對對氮氧傳感器芯片造成損傷；
[0024](3)本發(fā)明提供的一種氮氧傳感器芯片老化測試方法，采用漸進(jìn)的方式逐步升高加熱電壓至老化目標(biāo)電壓，并循環(huán)加壓；既對待測氮氧傳感器芯片進(jìn)行了充分的老化，又避免了因?yàn)槔匣妷哼^大、升壓過快對氮氧傳感器芯片造成損傷。
【附圖說明】
[0025]圖1是本發(fā)明實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]在所有附圖中，相同的附圖標(biāo)記用來表示相同的元件或結(jié)構(gòu):A1是第一彈性接線柱，A2是第二彈性接線柱，A3是第三彈性接線柱，A4是第四彈性接線柱，A39是第三十九彈性接線柱，A40是第四十彈性接線柱。
【具體實(shí)施方式】
[0027]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。此外，下面所描述的本發(fā)明各個(gè)實(shí)施方式中所涉及到的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互組合。
[0028]本發(fā)明提供的一種氮氧傳感器芯片老化測試裝置，包括通訊模塊、控制模塊、信號分析模塊、老化電源和采樣電阻；
[0029]通訊模塊的數(shù)據(jù)端作為與老化測試裝置外的工控機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的數(shù)據(jù)收發(fā)端口 ；控制模塊的第一輸入端連接通訊模塊的第一輸出端，第一輸出端連接通訊模塊的控制端；信號分析模塊的輸入端連接采樣電阻，輸出端連接控制模塊的第二輸入端；老化電源的控制端連接控制模塊的第二輸出端；采樣電阻的一端連接老化電源的輸出正端，氮氧傳感器芯片加熱正極連接采樣電阻的另一端；氮氧傳感器芯片加熱負(fù)極連接老化電源的輸出負(fù)端；由此，老化電源、采樣電阻與待測氮氧傳感器芯片的加熱電極構(gòu)成加熱回路；
[0030]本發(fā)明提供的這種老化測試裝置，通過測量氮氧傳感器芯片加熱電極的電阻，以確定老化目標(biāo)電壓；然后采用漸進(jìn)的方式逐步升高老化電壓至老化目標(biāo)電壓并循環(huán)加壓，達(dá)到老化測試氮氧傳感器芯片的目的，且降低了因老化電壓過大、升壓過快對氮氧傳感器芯片造成損傷的風(fēng)險(xiǎn)。
[0031]以下結(jié)合