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電子檢測裝置的制造方法

文檔序號:8410991閱讀:243來源:國知局
電子檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及生化檢測領(lǐng)域,尤其是涉及一種用于對化驗檢測的測試條進行讀數(shù)的電子檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前已有一些針對生化檢測試紙的電子檢測裝置,如申請?zhí)枮閆L201120283208.0的專利公開的分析讀數(shù)裝置。該分析讀數(shù)裝置用于對化驗檢測的測試條進行讀數(shù)和分析。該測試條上設(shè)有測試區(qū)和空白區(qū)。該分析讀數(shù)裝置包括至少兩個光源和至少一個光檢測器。當(dāng)只有兩個光源和一個光檢測器時,光源與光檢測器設(shè)在托板的同一側(cè),且兩個光源并列設(shè)置并與光檢測器相對設(shè)置。兩個光源與光檢測器之間通過一個T型隔板隔開。該T型隔板的在T頭位置的橫板比T型隔板的豎版略低,從而與測試條之間形成間隙。兩個光源分別單獨照射在測試條的測試區(qū)和空白區(qū),兩個光源先后發(fā)出光線,照射在測試區(qū)和空白區(qū)后反射,反射的光線通過T型隔板與測試條之間的間隙被光檢測器接收。
[0003]這種T形隔板的設(shè)置,在一定程度上可防止不同光源間的干擾,然而,由于光檢測器與光源之間的隔板存在空隙,并且測試條的測試區(qū)和空白區(qū)距離相當(dāng)近,當(dāng)其中一個光源發(fā)光照射在測試條上時,該光線除了照射在特定區(qū)域之外,還可能通過隔板空隙,散射到特定區(qū)域之外的測試條區(qū)域。因此,光檢測器接收到反射回來的光線將不僅是特定區(qū)域反射回來的光,而是同時包括光源散射到的區(qū)域反射回來的光,這將導(dǎo)致檢測結(jié)果不夠準(zhǔn)確。例如,當(dāng)光源照亮測試區(qū)時,光線在照射測試區(qū)的同時散射到旁邊的空白區(qū),被照射到的測試區(qū)和空白區(qū)反射的光線同時通過隔板縫隙被光檢測器接收到,而光檢測器本來應(yīng)該接收并檢測的是測試區(qū)的光信號,由此導(dǎo)致光線干擾,影響檢測的準(zhǔn)確性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]基于此,有必要提供一種能夠防止光干擾,從而提高檢測結(jié)果準(zhǔn)確性的電子檢測
目.ο
[0005]一種電子檢測裝置,包括支架及設(shè)在所述支架上的測試條和光電檢測系統(tǒng);所述測試條上設(shè)有檢測區(qū)和空白區(qū);所述光電檢測系統(tǒng)包括:
[0006]至少兩個光源,與所述測試區(qū)和所述空白區(qū)的位置對應(yīng),且發(fā)出的光與所述測試區(qū)和所述空白區(qū)相應(yīng);
[0007]至少一個光檢測器,接收來自所述測試區(qū)和所述空白區(qū)的反射光線,并轉(zhuǎn)換成電信號;及
[0008]處理器,接收所述電信號并進行處理;
[0009]所述支架上設(shè)有檢測窗口 ;所述光源與所述光檢測器設(shè)在所述檢測窗口的同一偵牝所述測試條位于所述檢測窗口的另一側(cè);所述檢測窗口中設(shè)有交叉連接的第一分隔件和第二分隔件;所述第一分隔件包括:
[0010]光源分隔件,對應(yīng)所述光源所在的位置設(shè)置,與所述光源在所述支架上的安裝平面以及所述測試條的檢測區(qū)與空白區(qū)之間的區(qū)域無縫抵接,以將所述至少兩個光源隔開,并將所述檢測區(qū)與所述空白區(qū)隔開;及
[0011]防散射分隔件,對應(yīng)所述光檢測器所在的位置設(shè)置,與所述測試條的檢測區(qū)及空白區(qū)之間的區(qū)域無縫抵接,以將所述檢測區(qū)與所述空白區(qū)隔開,可阻擋特定區(qū)域光源發(fā)出的光散射到相鄰區(qū)域,且所述防散射分隔件與所述光檢測器之間設(shè)有第一透光間隙,以確保光檢測器正常接收光信號;
[0012]所述第二分隔件與所述測試條之間設(shè)有第二透光間隙,并與所述安裝平面無縫抵接將所述光源與所述光檢測器隔開,防止所述光源發(fā)出的光線直接進入所述光檢測器,確保光源發(fā)出的光線照射到測試條特定區(qū)域后經(jīng)該第二透光間隙被光檢測器接收到,從而實現(xiàn)檢測。
[0013]在其中一個實施例中,所述光源分隔件及所述防散射分隔件為長方體條狀結(jié)構(gòu),所述第二分隔件為長方體板狀結(jié)構(gòu)。
[0014]在其中一個實施例中,所述光源分隔件的寬度小于所述防散射分隔件的寬度。
[0015]在其中一個實施例中,所述光源分隔件的一端與所述防散射分隔件的一端連接;所述第二分隔件與所述光源分隔件垂直連接;所述光源分隔件的另一端、所述防散射分隔件的另一端及所述第二分隔件的兩端分別與所述檢測窗口的內(nèi)壁連接,形成十字形結(jié)構(gòu)。
[0016]在其中一個實施例中,所述第二分隔件與所述光源分隔件在靠近所述防散射分隔件端部的位置垂直連接。
[0017]在其中一個實施例中,所述支架包括基板和托架;所述基板設(shè)在所述托架的一側(cè),所述測試條位于所述托架的另一側(cè);所述光源、所述光檢測器及所述處理器設(shè)在所述基板上;所述檢測窗口開設(shè)在所述托架上。
[0018]在其中一個實施例中,所述第一分隔件、所述第二分隔件及所述托架為一體成型結(jié)構(gòu)。
[0019]在其中一個實施例中,所述測試條的背側(cè)設(shè)有遮光膠布。
[0020]在其中一個實施例中,所述電子檢測裝置還包括由上殼體、下殼體和前蓋配合構(gòu)成的外殼,所述測試條、所述光電檢測系統(tǒng)及所述支架位于所述外殼內(nèi)。
[0021]在其中一個實施例中,所述測試條的端部設(shè)有與所述測試條連接的吸樣棒,所述前蓋設(shè)有加樣孔,所述吸樣棒部分露在所述加樣孔內(nèi)。
[0022]上述電子檢測裝置在檢測窗口中設(shè)置有交叉的第一分隔件和第二分隔件,其中第一分隔件包括光源分隔件和防散射分隔件,光源分隔件在光源的位置將多個光源分開形成兩組,并且將測試條的檢測區(qū)與空白區(qū)分開,從而可有效防止兩組光源發(fā)光相互干擾;防散射分隔件將測試條的檢測區(qū)與空白區(qū)分開,可防止測試條反射的光線進入其他區(qū)造成干擾;第二分隔件將光源與光檢測器分開,可防止光源發(fā)光直接進入光檢測器,確保光源的光照射到測試條上后,再經(jīng)測試條反射回光檢測器;而防散射分隔件與光檢測器之間非接觸而形成第一透光間隙,該第一透光間隙可確保試紙條反射光被光檢測器接收,同時,防散射分隔件可防止特定光源發(fā)出的光發(fā)生散射,照射到測試條的相鄰區(qū)域,而后光線反射回光檢測器導(dǎo)致結(jié)果判斷失誤,確保讀數(shù)準(zhǔn)確。第二分隔件與測試條之間非接觸而形成第二透光間隙,從檢測區(qū)和空白區(qū)反射的光線可經(jīng)由該第二透光間隙進入光檢測器被檢測,從而上述光電檢測裝置能夠有效防止光干擾,檢測結(jié)果準(zhǔn)確度顯著提高。
[0023]進一步,通過在測試條的背面設(shè)置遮光膠布,該遮光膠布可用來封住檢測區(qū)域和測試條,防止外來光線干擾檢測結(jié)果,并且遮光膠布與托架配合將測試條夾在中間,可以起到固定測試條和檢測區(qū)域的相關(guān)元件的作用,從而進一步提高了整個電子檢測裝置的精密性和檢測準(zhǔn)確度。
【附圖說明】
[0024]圖1為一實施方式的電子檢測裝置的分解示意圖;
[0025]圖2為圖1中托架及基板配合連接的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0026]圖3為圖1中托架的仰視圖;
[0027]圖4為圖3中第一分隔件與第二分隔件的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0028]圖5為圖1中托架與測試條、遮光膠布及吸樣棒配合連接的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0029]為了便于理解本發(fā)明,下面將參照相關(guān)附圖對本發(fā)明進行更全面的描述。附圖中給出了本發(fā)明的較佳實施例。但是,本發(fā)明可以以許多不同的形式來實現(xiàn),并不限于本文所描述的實施例。相反地,提供這些實施例的目的是使對本發(fā)明的公開內(nèi)容的理解更加透徹全面。
[0030]需要說明的是,當(dāng)元件被稱為“固定于”另一個元件,它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當(dāng)一個元件被認(rèn)為是“連接”另一個元件,它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。
[0031]除非另有定義,本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員
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