電性檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電性檢測(cè)，尤其是一種電性檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著電子產(chǎn)品發(fā)展日漸蓬勃，為確保電子產(chǎn)品出廠(chǎng)時(shí)的質(zhì)量，制造、組裝及出廠(chǎng) 前，通常都會(huì)通過(guò)檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)電子產(chǎn)品中各精密電子組件間的電性連接是否正確。
[0003] 但現(xiàn)有的電性檢測(cè)裝置一次僅能對(duì)單一量測(cè)規(guī)格的產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)，而無(wú)法適用于 多種量測(cè)規(guī)格的檢測(cè)。另外，現(xiàn)有的檢測(cè)設(shè)備欲檢測(cè)不同規(guī)格的產(chǎn)品時(shí)，必須重新以人工方 式拆卸替換對(duì)應(yīng)規(guī)格的探針組，不僅耗時(shí)且費(fèi)力。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種電性檢測(cè)裝置，以適用于不同規(guī)格的待測(cè) 部位的電性檢測(cè)。
[0005] 為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種電性檢測(cè)裝置，用于對(duì)一待測(cè)物進(jìn)行電性檢 測(cè)，所述裝置包括：一機(jī)座、一承物臺(tái)、一支架、至少一檢測(cè)臂、至少一轉(zhuǎn)盤(pán)、多個(gè)安置座以及 多個(gè)探針組。其中，該機(jī)座具有相互平行的兩個(gè)第一導(dǎo)軌；該承物臺(tái)設(shè)置于該機(jī)座上，且用 以放置該待測(cè)物：該支架設(shè)置于兩個(gè)第一導(dǎo)軌上，且可沿兩個(gè)第一導(dǎo)軌相對(duì)于該機(jī)座與該 承物臺(tái)移動(dòng)，并具有一第二導(dǎo)軌；該檢測(cè)臂設(shè)置于該第二導(dǎo)軌上，且位于該承物臺(tái)上方，并 可被該支架帶動(dòng)而與該支架同步移動(dòng)，且可沿該第二導(dǎo)軌相對(duì)于該支架移動(dòng)；轉(zhuǎn)盤(pán)設(shè)置于 檢測(cè)臂上，且可相對(duì)于該檢測(cè)臂轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng)；安置座設(shè)置于轉(zhuǎn)盤(pán)上，且可被該轉(zhuǎn)盤(pán)帶動(dòng)而與 該轉(zhuǎn)盤(pán)同步轉(zhuǎn)動(dòng)，且可相對(duì)于該轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng)；探針組分別設(shè)置于安置座上，并可被該安 置座帶動(dòng)而與該安置座同步移動(dòng)，且用以與置放于該承物臺(tái)上的待測(cè)物上的待測(cè)部位抵接 以進(jìn)行電性檢測(cè)。
[0006] 通過(guò)上述設(shè)計(jì)，便可使所述電性檢測(cè)裝置適用于不同規(guī)格的檢測(cè)。
【附圖說(shuō)明】
[0007] 圖1是本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例的電性檢測(cè)裝置的立體圖；
[0008] 圖2是本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例的電性檢測(cè)裝置檢測(cè)臂位置處的結(jié)構(gòu)立體圖；
[0009] 圖3是本發(fā)明一個(gè)較佳實(shí)施例的探針組的立體圖。
[0010] 附圖標(biāo)記說(shuō)明：
[0011] 10、電性檢測(cè)裝置；11、機(jī)座；111、第一導(dǎo)軌；112、開(kāi)口；113、升降裝置；12、承物 臺(tái)；13、支架；131、第二導(dǎo)軌；14、檢測(cè)臂；15、轉(zhuǎn)盤(pán)；151、圓孔；16、傳感器；17、被感測(cè)件； 18、安置座；20、探針組；21、接地針；22、信號(hào)針；23、外殼；100、待測(cè)物。
【具體實(shí)施方式】
[0012] 為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合具體實(shí)施例，并參照 附圖，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。
[0013] 如圖1所示，本發(fā)明的一個(gè)較佳實(shí)施例的電性檢測(cè)裝置10用以對(duì)一待測(cè)物100進(jìn) 行電性檢測(cè)，且該待測(cè)物上具有多個(gè)不同量測(cè)間距的待測(cè)部位（圖中未示出）。該電性檢測(cè) 裝置包含一機(jī)座11、一承物臺(tái)12、一支架13、兩個(gè)檢測(cè)臂14、兩個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)15、四個(gè)傳感器16、 兩個(gè)被感測(cè)件17、多個(gè)安置座18以及多個(gè)探針組20。其中：
[0014] 該機(jī)座11上具有相互平行的兩個(gè)第一導(dǎo)軌111，且該兩個(gè)第一導(dǎo)軌111之間的中 央或趨近中央處具有一開(kāi)口 112,且該開(kāi)口 112中具有一升降裝置113。
[0015] 該承物臺(tái)12用以供該待測(cè)物100置放于其上，且設(shè)置于該機(jī)座11的升降裝置113 上，并可被該升降裝置113帶動(dòng)而在該開(kāi)口 112處上升或下降。
[0016] 該支架13略呈n字型，且其底端分別設(shè)在該兩個(gè)第一導(dǎo)軌111上，使該支架13可 被驅(qū)動(dòng)而沿該兩個(gè)第一導(dǎo)軌111相對(duì)于該機(jī)座11與該承物臺(tái)12移動(dòng)。另外，該支架13的 頂端具有一第二導(dǎo)軌131，且該第二導(dǎo)軌131提供的移動(dòng)軌跡垂直于該兩個(gè)第一導(dǎo)軌111提 供的移動(dòng)軌跡。
[0017] 兩個(gè)檢測(cè)臂14設(shè)置于該第二導(dǎo)軌131上，而分別位于該支架13相反的兩側(cè)，并同 時(shí)位于該承物臺(tái)12上方。另外，兩個(gè)檢測(cè)臂14可同時(shí)被該支架13帶動(dòng)而與該支架13同 步移動(dòng)，且可分別沿該第二導(dǎo)軌111相對(duì)于該支架13移動(dòng)。
[0018] 參閱圖2,各轉(zhuǎn)盤(pán)15呈圓形，且該兩個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)15分別設(shè)置于兩個(gè)檢測(cè)臂14上，并可 被分別驅(qū)動(dòng)而相對(duì)于對(duì)應(yīng)的各檢測(cè)臂14轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng)，且為了有效地達(dá)到輕量化和方便線(xiàn) 材連接的目的，在不影響物理強(qiáng)度的條件下，各轉(zhuǎn)盤(pán)14上等距地設(shè)有多個(gè)圓孔151。
[0019] 傳感器16分別位于兩個(gè)檢測(cè)臂14相反的兩側(cè)上。在本實(shí)施例中，各個(gè)傳感器16 為光遮斷器，用以感測(cè)感測(cè)區(qū)中的光線(xiàn)使否被遮斷。
[0020] 兩個(gè)被感測(cè)件17分別位于兩個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)15上，且可被該轉(zhuǎn)盤(pán)15帶動(dòng)而位于對(duì)應(yīng)檢測(cè) 臂14上的兩個(gè)傳感器16之間，與轉(zhuǎn)盤(pán)15同步轉(zhuǎn)動(dòng)。在本實(shí)施例中，該被感測(cè)件17為一向 上延伸至該傳感器16感測(cè)區(qū)的金屬條，且其高度不高于該傳感器的高度，而可避免各轉(zhuǎn)盤(pán) 15帶動(dòng)該被感測(cè)件17轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，該被感測(cè)件17與該傳感器16之間發(fā)生碰撞的情形，且當(dāng)該 被感測(cè)件17位于該傳感器16的感測(cè)區(qū)時(shí)，該被感測(cè)件17將阻斷感測(cè)區(qū)中的光線(xiàn)。由此通 過(guò)上述設(shè)計(jì)，就可以利用傳感器16感測(cè)光線(xiàn)是否被阻斷而知悉轉(zhuǎn)盤(pán)15的轉(zhuǎn)動(dòng)角度是否大 于180度，從而可以限制轉(zhuǎn)盤(pán)15正、逆向轉(zhuǎn)動(dòng)的最大角度為180度，進(jìn)而避免轉(zhuǎn)盤(pán)15過(guò)度 轉(zhuǎn)動(dòng)造成線(xiàn)材纏繞的情形發(fā)生。
[0021] 安置座18是以四個(gè)為一組，分別等距地設(shè)置在兩個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)15上，且可以被轉(zhuǎn)盤(pán)15 帶動(dòng)而與該轉(zhuǎn)盤(pán)15同步轉(zhuǎn)動(dòng)，且各安置座18可被驅(qū)動(dòng)而相對(duì)于轉(zhuǎn)盤(pán)15轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng)。
[0022] 探針組20分別鎖定設(shè)置于安置座18上，并可以與安置座18同步移動(dòng)。另外，參 閱圖3,各探針組20具有三根探針21、22、21，以及一容納該探針21、22、21的外殼23。外 殼23與安置座18連接，且探針21、22、21的針尖伸出至外殼23外，探針21、22、21依據(jù)測(cè) 試時(shí)的信號(hào)走向分別被區(qū)分為兩個(gè)接地針21以及一個(gè)信號(hào)針22,且該信號(hào)針22位于兩個(gè) 接地針21之間。另外，值得一提的是，某一個(gè)探針組20的信號(hào)針22與各接地針21之間的 間距不同于其他探針組20的信號(hào)針22與各接地針21之間的間距，從而使得該電性檢測(cè)裝 置10具有較大的適用量測(cè)范圍。
[0023] 由此，當(dāng)檢測(cè)人員欲進(jìn)行電性檢測(cè)時(shí)，可以依據(jù)待測(cè)部位的位置與量測(cè)間距，控制 該電性檢測(cè)裝置10的支架13、檢測(cè)臂14、轉(zhuǎn)盤(pán)15以及安置座18移動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)，使對(duì)應(yīng)量測(cè) 間距的探針組20位于進(jìn)行檢測(cè)的待測(cè)部位上方后，再操控對(duì)應(yīng)的安置座18帶動(dòng)其上的探 針組20下移，而使該探針組20的接地針21以及信號(hào)針22接抵該待測(cè)物的待測(cè)部位，以進(jìn) 行后續(xù)電性檢測(cè)。
[0024] 如此一來(lái)，通過(guò)上述多探針組20的設(shè)計(jì)，便可使得該電性檢測(cè)裝置10具有較大的 適用范圍，且通過(guò)可移動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)的支架13、檢測(cè)臂14、轉(zhuǎn)盤(pán)15或安置座18的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，更 可使得各探針組20可移動(dòng)至不同角度的位置上，而可適用于任何設(shè)置角度的待測(cè)部位的 量測(cè)。
[0025] 以上所述的具體實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳 細(xì)說(shuō)明，應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，凡在 本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù) 范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種電性檢測(cè)裝置，用于對(duì)一待測(cè)物進(jìn)行電性檢測(cè)，且包括： 一機(jī)座，具有相互平行的兩個(gè)第一導(dǎo)軌； 一承物臺(tái)，設(shè)置于所述機(jī)座上，用于承放所述待測(cè)物； 一支架，設(shè)置于所述兩個(gè)第一導(dǎo)軌上，且能夠沿所述兩個(gè)第一導(dǎo)軌相對(duì)于所述機(jī)座與 所述承物臺(tái)移動(dòng)，并具有一第二導(dǎo)軌； 至少一檢測(cè)臂，設(shè)置于所述第二導(dǎo)軌上，且位于所述承物臺(tái)上方，并被所述支架帶動(dòng)而 與所述支架同步移動(dòng)，能夠沿所述第二導(dǎo)軌相對(duì)于所述支架移動(dòng)； 至少一轉(zhuǎn)盤(pán)，設(shè)置于所述檢測(cè)臂上，且能夠相對(duì)于所述檢測(cè)臂轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng)； 多個(gè)安置座，設(shè)置于所述轉(zhuǎn)盤(pán)上，且能夠被所述轉(zhuǎn)盤(pán)帶動(dòng)而與所述轉(zhuǎn)盤(pán)同步轉(zhuǎn)動(dòng)，且能 夠相對(duì)于所述轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng)；以及 多個(gè)探針組，分別設(shè)置于所述安置座上，并能夠被所述安置座帶動(dòng)而與所述安置座同 步移動(dòng)，用于與置放于所述承物臺(tái)上的所述待測(cè)物上的待測(cè)部位抵接以進(jìn)行電性檢測(cè)。
2. 如權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其中所述機(jī)座更具有一開(kāi)口位于所述兩個(gè)第一 導(dǎo)軌之間，且所述承物臺(tái)位于所述開(kāi)口處。
3. 如權(quán)利要求2所述的電性檢測(cè)裝置，其中所述機(jī)座更具有一升降裝置，位于所述開(kāi) 口之中，且所述承物臺(tái)設(shè)置于所述升降裝置上，而能夠被所述升降裝置帶動(dòng)而在所述開(kāi)口 處上升或下降。
4. 如權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，還包括有兩個(gè)傳感器以及一被感測(cè)件，所述兩 個(gè)傳感器分別位于所述檢測(cè)臂相反的兩側(cè)上，而所述被感測(cè)件則設(shè)置于所述轉(zhuǎn)盤(pán)上，且能 夠被所述轉(zhuǎn)盤(pán)帶動(dòng)而在所述兩個(gè)傳感器之間與所述轉(zhuǎn)盤(pán)同步轉(zhuǎn)動(dòng)。
5. 如權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其中所述第一軌道提供的移動(dòng)軌跡垂直于所述 第二軌道提供的移動(dòng)軌跡。
6. 如權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其中所述轉(zhuǎn)盤(pán)呈圓形，且所述安置座等距地環(huán) 繞所述轉(zhuǎn)盤(pán)設(shè)置。
7. 如權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其中所述至少一檢測(cè)臂為兩個(gè)檢測(cè)臂，且所述 至少一轉(zhuǎn)盤(pán)為兩個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán)；所述兩個(gè)檢測(cè)臂分別位于所述支架相反的兩側(cè)，且所述兩個(gè)轉(zhuǎn)盤(pán) 分別與所述兩個(gè)檢測(cè)臂連接。
8. 如權(quán)利要求1所述的電性檢測(cè)裝置，其中各所述探針組具有至少兩個(gè)探針，且所述 兩個(gè)探針之間的間距不同于其他探針組兩個(gè)探針之間的間距。
【專(zhuān)利摘要】一種電性檢測(cè)裝置，包括一機(jī)座、一承物臺(tái)、一支架、一檢測(cè)臂、一轉(zhuǎn)盤(pán)、多個(gè)安置座及多個(gè)探針組；該機(jī)座具有相互平行的兩個(gè)第一導(dǎo)軌；承物臺(tái)設(shè)置于該機(jī)座上；支架設(shè)置于該兩個(gè)第一導(dǎo)軌上，且可相對(duì)于該機(jī)座與該承物臺(tái)移動(dòng)，并具有一第二導(dǎo)軌；檢測(cè)臂設(shè)置于該第二導(dǎo)軌上且位于該承物臺(tái)上方，并可與支架同步移動(dòng)，且可相對(duì)于該支架移動(dòng)；轉(zhuǎn)盤(pán)設(shè)置于該檢測(cè)臂上且可相對(duì)于該檢測(cè)臂轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng)；多個(gè)安置座設(shè)置于轉(zhuǎn)盤(pán)上且與該轉(zhuǎn)盤(pán)同步轉(zhuǎn)動(dòng)，并可相對(duì)于該轉(zhuǎn)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)或移動(dòng)；多個(gè)探針組分別設(shè)置于安置座上，并可與該安置座同步移動(dòng)。通過(guò)上述設(shè)計(jì)，便可使該電性檢測(cè)裝置適用于不同規(guī)格的檢測(cè)。
【IPC分類(lèi)】G01R31-00, G01R1-04
【公開(kāi)號(hào)】CN104714123
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410722966
【發(fā)明人】顧偉正, 呂紹瑋, 羅雅鴻, 蔡守仁
【申請(qǐng)人】旺矽科技股份有限公司
【公開(kāi)日】2015年6月17日
【申請(qǐng)日】2014年12月3日
【公告號(hào)】US20150204907