用于密封檢查的系統(tǒng)和方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本公開一般地涉及用于檢查密封的系統(tǒng)和方法。更具體地說，本公開涉及用于檢查螺紋封蓋的密封的系統(tǒng)和方法。
【背景技術(shù)】
[0002]當(dāng)前，為了檢測具有封蓋的瓶子的泄漏，當(dāng)瓶子位于傳送帶上時，使用一種視覺系統(tǒng)檢查封蓋相對于瓶子的頸環(huán)或底部的高度。另一種形式的檢查是查看在容器的頸環(huán)與封蓋之間通過多少光，并且測量顯示器的像素以便測量封蓋與頸環(huán)之間的空間或距離。雖然當(dāng)前視覺系統(tǒng)檢查每個容器，但是它們只能發(fā)現(xiàn)次要或主要缺陷而不能發(fā)現(xiàn)細(xì)微缺陷。這些當(dāng)前檢查系統(tǒng)的問題是封蓋往往是“泄漏件(leaker) ”，即使沒有檢測到高度或空間差異，或者經(jīng)濟(jì)適用的視覺系統(tǒng)的公差高于密封與無密封的公差時也是如此。
[0003]一種備選的泄漏檢測方法是擠壓/壓力或擠壓/頂空測量檢測系統(tǒng)。這些方法需要額外的設(shè)備以便添加到裝配或生產(chǎn)線，從而需要更多的資金和經(jīng)營成本。這些系統(tǒng)中的許多系統(tǒng)同樣不檢查每個容器。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本公開涉及用于檢查封蓋與容器之間的密封以查看泄漏的系統(tǒng)和方法。在一個一般實(shí)施例中，本公開提供一種密封檢查系統(tǒng)，包括:封蓋，其通過螺紋附接到容器，所述封蓋和所述容器均包括標(biāo)記；至少一個攝像機(jī)，其被布置為檢測所述封蓋上的所述標(biāo)記和所述容器上的所述標(biāo)記；以及包括處理器的計(jì)算機(jī)，其被配置為計(jì)算以下項(xiàng)中的至少一個:I)所述容器上的所述標(biāo)記與所述封蓋上的所述標(biāo)記之間的角度，或者2)所述容器上的所述標(biāo)記與所述封蓋上的所述標(biāo)記之間的距離，以及判定所述角度或所述距離是否達(dá)到基準(zhǔn)值。
[0005]在所述系統(tǒng)的一個備選實(shí)施例中，所述封蓋的一個或多個所述標(biāo)記和/或所述容器的一個或多個所述標(biāo)記可由以下至少一個檢測:激光束、X射線或紫外光。在該系統(tǒng)中，一個或多個激光、X射線發(fā)射器和/或紫外光發(fā)射器被布置為朝向所述封蓋和所述容器發(fā)射。一個或多個合適的傳感器然后被適當(dāng)?shù)夭贾?例如，以類似于所述攝像機(jī)的配置)，以便當(dāng)發(fā)射所述激光束、X射線或紫外光時，檢測所述封蓋的所述一個或多個標(biāo)記和/或所述容器的一個或多個標(biāo)記。包括處理器的計(jì)算機(jī)被配置為計(jì)算以下項(xiàng)中的至少一個:1)所述容器上的所述標(biāo)記與所述封蓋上的所述標(biāo)記之間的角度，或者2)所述容器上的所述標(biāo)記與所述封蓋上的所述標(biāo)記之間的距離，以及判定所述角度或所述距離是否達(dá)到基準(zhǔn)值。
[0006]在此處描述的系統(tǒng)的任何實(shí)施例中，如果所述角度或距離達(dá)到或超過所述基準(zhǔn)值，則所述容器可以被指定為非泄漏件。此外或備選地，如果所述角度或距離未達(dá)到所述基準(zhǔn)值，則所述容器可以被指定為泄漏件。
[0007]在此處描述的系統(tǒng)的任何實(shí)施例中，所述封蓋可以包括螺紋部分，所述螺紋部分通過螺紋被附接到所述容器的螺紋部分。
[0008]在此處描述的系統(tǒng)的任何實(shí)施例中，可以由同一攝像機(jī)檢測所述容器上的所述標(biāo)記和所述封蓋上的所述標(biāo)記。當(dāng)查看所述封蓋和所述容器時，所述攝像機(jī)可以被放置在相對于所述封蓋和所述容器的垂直位置的非水平位置處。
[0009]在此處描述的系統(tǒng)的任何實(shí)施例中，所述容器上的所述標(biāo)記可以是凹槽或凸起中的至少一個。同樣，所述封蓋上的所述標(biāo)記可以是凹槽或凸起中的至少一個。
[0010]在此處描述的系統(tǒng)的任何實(shí)施例中，所述封蓋上的所述標(biāo)記可以是所述封蓋的圖形上的點(diǎn)。同樣，所述容器上的所述標(biāo)記可以是所述容器的圖形上的點(diǎn)。
[0011]在此處描述的系統(tǒng)的任何實(shí)施例中，所述封蓋和所述容器可以是被附接到容器的封蓋的裝配線的一部分。
[0012]在一個備選實(shí)施例中，本公開提供一種用于檢查密封的方法。所述方法包括:檢測容器上的標(biāo)記；檢測被附接到所述容器的封蓋上的標(biāo)記；以及計(jì)算以下項(xiàng)中的至少一個:I)所述容器上的所述標(biāo)記與所述封蓋上的所述標(biāo)記之間的角度，或者2)所述容器上的所述標(biāo)記與所述封蓋上的所述標(biāo)記之間的距離，以便判定所述角度或所述距離是否達(dá)到基準(zhǔn)值。
[0013]在另一個實(shí)施例中，本公開提供一種用于檢查密封的方法。所述方法包括:對被附接到容器的封蓋發(fā)射激光、X射線或紫外光中的至少一個；從所發(fā)射的激光、X射線或紫外光檢測所述容器上的標(biāo)記和所述封蓋上的標(biāo)記；以及計(jì)算以下項(xiàng)中的至少一個:1)所述容器上的所述標(biāo)記與所述封蓋上的所述標(biāo)記之間的角度，或者2)所述容器上的所述標(biāo)記與所述封蓋上的所述標(biāo)記之間的距離，以便判定所述角度或所述距離是否達(dá)到基準(zhǔn)值。
[0014]在此處描述的方法的任何實(shí)施例中，所述方法還可以包括:如果所述角度或距離達(dá)到或超過所述基準(zhǔn)值，則將所述容器指定為非泄漏件。此外或備選地，所述方法還可以包括:如果所述角度或距離未達(dá)到所述基準(zhǔn)值，則將所述容器指定為泄漏件。
[0015]在此處描述的方法的任何實(shí)施例中，所述封蓋可以包括螺紋部分，所述螺紋部分通過螺紋被附接到所述容器的螺紋部分。
[0016]在此處描述的方法的任何實(shí)施例中，可以由至少一個攝像機(jī)檢測所述容器上的所述標(biāo)記和所述封蓋上的所述標(biāo)記。此外或備選地，可以由同一攝像機(jī)檢測所述容器上的所述標(biāo)記和所述封蓋上的所述標(biāo)記。當(dāng)查看所述封蓋和所述容器時，所述攝像機(jī)可以被放置在相對于所述封蓋和所述容器的位置的非水平位置處。
[0017]在此處描述的方法的任何實(shí)施例中，所述容器上的所述標(biāo)記可以是凹槽或凸起中的至少一個。同樣，所述封蓋上的所述標(biāo)記可以是凹槽或凸起中的至少一個。
[0018]在此處描述的方法的任何實(shí)施例中，所述封蓋上的所述標(biāo)記可以是所述封蓋的圖形上的點(diǎn)。同樣，所述容器上的所述標(biāo)記可以是所述容器的圖形上的點(diǎn)。
[0019]本公開的一個優(yōu)點(diǎn)是提供用于檢測來自容器的封蓋的泄漏的改進(jìn)系統(tǒng)。
[0020]本公開的另一個優(yōu)點(diǎn)是提供用于檢測來自容器的封蓋的泄漏的改進(jìn)方法。
[0021]本公開的另一個優(yōu)點(diǎn)是提供一種包裝，所述包裝包括被附接到材料容器的封蓋，所述封蓋在制造所述包裝期間和之后防止或最小化潛在泄漏。
[0022]在此描述了其它特性和優(yōu)點(diǎn)，并且從以下【具體實(shí)施方式】和【附圖說明】，其它特性和優(yōu)點(diǎn)將顯而易見。
【附圖說明】
[0023]圖1是本公開的一個實(shí)施例中沿著水平面具有攝像機(jī)的密封檢查系統(tǒng)；
[0024]圖2是本公開的一個實(shí)施例中沿著垂直面具有攝像機(jī)的密封檢查系統(tǒng)；
[0025]圖3是本公開的一個實(shí)施例中具有標(biāo)記的封蓋和具有標(biāo)記的容器的頸部的特寫透視圖；
[0026]圖4是本公開的一個實(shí)施例中具有標(biāo)記的封蓋和具有標(biāo)記的容器的頸部的特寫透視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]本公開涉及密封技術(shù)。更具體地說，本公開涉及用于檢查螺紋封蓋的密封的系統(tǒng)和方法。此處描述的檢查系統(tǒng)提供一種對每個容器上的指定標(biāo)記的視覺測量，以便評估每個封蓋與容器之間的密封的任何細(xì)微缺陷。
[0028]如圖1中所示，本公開提供一種密封檢查系統(tǒng)10，其具有被附接到容器30的封蓋20。封蓋20可以通過螺紋被附接到容器30。封