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圓柱外表面反射率譜測(cè)量用的支架的制作方法

文檔序號(hào):6133150閱讀:382來源:國(guó)知局
專利名稱:圓柱外表面反射率譜測(cè)量用的支架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及到一種園柱外表面的反射率譜測(cè)量用的支架。具有積分球的分光光度計(jì)借助于本實(shí)用新型,在儀器測(cè)量范圍內(nèi),可以對(duì)園柱外表面上具有的涂層進(jìn)行反射率譜值的測(cè)量,也可以對(duì)有外玻璃置管內(nèi)管園柱表面的反射率譜進(jìn)行測(cè)量以及測(cè)量園柱外表面反射率沿軸方向的分布。本實(shí)用新型屬于涂層光學(xué)性能測(cè)試范疇。
紫外—可見—近紅外分光光度計(jì)可以測(cè)量平整表面的反射率,采用具有積分球的分光光度計(jì)可以測(cè)量平整表面的總反射率和漫反射率,進(jìn)而做數(shù)據(jù)處理、計(jì)算得到不同大氣質(zhì)量下平均太陽(yáng)反射率比值。通常,在具有積分球的分光光度計(jì)的外壁測(cè)量孔處有一個(gè)支架,它由固定塊1-1、支撐架1-2、拉緊彈簧1-3組成,A是積分球外壁,B是波測(cè)件。如附圖1所示(PE公司生產(chǎn)Lambda 19分光光度計(jì))。測(cè)量時(shí),只需將被測(cè)件放置在固定塊與測(cè)量孔之間,由彈簧拉緊,即可進(jìn)行測(cè)量。而對(duì)于園柱外表面的反射率就無法進(jìn)行測(cè)量,大量的科學(xué)研究和生產(chǎn)實(shí)踐中需要對(duì)園柱外表面反射率的測(cè)量,只能間接進(jìn)行,例如,測(cè)量全玻璃真空太陽(yáng)集熱管的內(nèi)管的外表面具有涂層時(shí)的反射率譜值,就只能先做樣品陪片,然后對(duì)陪片進(jìn)行測(cè)量,不僅工藝復(fù)雜,而且稍有不慎還會(huì)偏離內(nèi)管涂層的實(shí)際情況,造成誤差,在實(shí)際應(yīng)用中不利于抽檢。
本實(shí)用新型的目的是設(shè)計(jì)一種新型支架,能直接用具有積分球的分光光度計(jì)測(cè)量園柱外表面的反射率譜。
本實(shí)用新型由V形塊、固緊裝置和與積分球外壁相連的連接架組成,V形塊的軸線與積分球測(cè)量孔軸線組成的平面垂直于積分球外壁。如附圖2所示,2-1是V形塊,2-2是固緊裝置,2-3是連接架。
測(cè)量園柱外表面的反射率譜時(shí),只需將被測(cè)量園柱置于V形塊內(nèi),調(diào)節(jié)固緊裝置將園柱固緊就可進(jìn)行測(cè)量。
所說的V形塊可以豎向放置或橫向放置,V形塊角度也可以隨意改變。
所說的固緊裝置可以是螺旋推進(jìn)器,也可以是用彈簧拉緊或壓緊。
所說的連接架可以是一塊板,板上還可開一個(gè)孔,當(dāng)被測(cè)園柱較長(zhǎng)且需豎直放置時(shí),可將被測(cè)園柱伸到連接架下。當(dāng)然連接架也可以是框架結(jié)構(gòu)。
將鍍有太陽(yáng)選擇性吸收涂層的玻璃園管水平固定在支架上測(cè)試其反射率譜,再對(duì)比測(cè)量鍍有同樣涂層的玻璃平片的反射率譜,大氣質(zhì)量為2時(shí),經(jīng)過加權(quán)計(jì)算,用園管測(cè)出的反射率值為0.091,平片測(cè)出的反射率值為0.093,偏差只有0.002,在儀器的測(cè)量誤差范圍(±0.005)內(nèi)。
將帶有玻璃罩管的內(nèi)管外表面鍍有涂層的真空集熱管豎直固定在支架上,測(cè)其綜合反射率,再對(duì)比鍍有同樣涂層的橫向放置內(nèi)管外表面反射率。在大氣質(zhì)量為2時(shí),帶罩管的涂層反射率值為0.143,經(jīng)修正后,得到涂層的反射率值為0.092,不帶罩管的內(nèi)管外表面涂層的反射率值為0.090,即利用支架也可以直接測(cè)量真空太陽(yáng)集熱管的涂層的反射率。這里所說的修正是指經(jīng)過反復(fù)實(shí)驗(yàn),找到二者之間的關(guān)系,得到不同波長(zhǎng)所對(duì)應(yīng)的修正系數(shù)而進(jìn)行的。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是能夠利用具有積分球的分光光度計(jì)直接進(jìn)行柱形外表面反射率譜,提高了真空太陽(yáng)集熱管等選擇性吸收涂層檢測(cè)的可靠性,而且測(cè)量方法簡(jiǎn)單,使用方便。


附圖1是具有積分球分光光度計(jì)測(cè)量支架結(jié)構(gòu)示意圖。
附圖2是柱形外表面反射率譜測(cè)量用支架結(jié)構(gòu)圖。
附圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例結(jié)構(gòu)圖。
實(shí)施例附圖3給出了本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例,3-1是V形塊、3-2是螺旋推進(jìn)口、3-3是連接板、3-4是園孔,該支架固定在積分球外壁上。
權(quán)利要求1.一種園柱外表面反射率譜測(cè)量用的支架,其特征在于由V形塊、固緊裝置及連接架組成,連接架固定在積分球的外壁上,V形塊的軸線與積分球測(cè)量孔軸線組成的平面垂直于積分球外壁。
2.按照權(quán)利要求1所說的園柱外表面反射率譜測(cè)量用的支架,其特征在于所說的V形塊可以豎向放置或橫向放置,V形塊角度也可以隨意改變。
3.按照權(quán)利要求1和2所說的園柱外表面反射率譜測(cè)量用的支架,其特征在于所說的固緊裝置可以是螺旋推進(jìn)器,也可以是拉緊或壓緊彈簧。
4.按照權(quán)利要求1和2所說的園柱外表面反射率譜測(cè)量用的支架,其特征在于所說的連接架可以是一塊連接板,也可以在連接板上加開一個(gè)孔,還可以是框架結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及到一種圓柱外表面的反射率譜測(cè)量用的支架,具有積分球的分光光度計(jì)借助于本實(shí)用新型可以對(duì)圓柱外表面上的涂層的反射率譜直接進(jìn)行測(cè)量,其技術(shù)要點(diǎn)是由V形塊、固緊裝置及連接架組成。優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量方法簡(jiǎn)單,使用方便,提高測(cè)量的可靠性。
文檔編號(hào)G01J3/00GK2269588SQ9624145
公開日1997年12月3日 申請(qǐng)日期1996年10月25日 優(yōu)先權(quán)日1996年10月25日
發(fā)明者殷志強(qiáng), 安瑞紅 申請(qǐng)人:北京清華大學(xué)太陽(yáng)能電子廠
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