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一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架的制作方法

文檔序號:5945693閱讀:230來源:國知局
專利名稱:一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及微波毫米波吸波材料的反射率測試技術(shù),尤其涉及一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架,屬于微波毫米波測試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
吸波材料廣泛地應(yīng)用于軍事和民用領(lǐng)域中。隨著隱身技術(shù)的迅速發(fā)展,對吸波材料吸波性能的要求也越來越高。反射率是用來表征吸波材料稀薄性能的一個重要指標(biāo)參數(shù),吸波材料反射率的測量對于吸波材料的特性研究具有重要的意義。在吸波材料測量過程中,需要將被測目標(biāo)支撐到一定的高度,固定轉(zhuǎn)臺上以進(jìn)行測量。但是,我們在實際操作的過程中發(fā)現(xiàn),對于被測材料的固定有比較大的難度,需要反復(fù)調(diào)整俯仰、高低,而且每次更換材料之后都需要進(jìn)行固定,校準(zhǔn)。這些問題造成反射率測量時間較長,準(zhǔn)備繁瑣。如何能夠快速的進(jìn)行反射率的測量,同時又不降低測量的準(zhǔn)確性?為此,設(shè)計出一種用于快速測量反射率的支架,能夠保證反射率測量既有比較高的精度,同時具有較高的效率。

發(fā)明內(nèi)容
I、目的本發(fā)明的目的在于提供一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架。此種支架具有低RCS(雷達(dá)散射截面)反射,易于加工攜帶和使用的特點。可應(yīng)用于雷達(dá)吸波材料反射率的快速測量。2、技術(shù)方案本發(fā)明一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架,分為上中下三個部分。上面部分為L型托撐結(jié)構(gòu),由金屬材料構(gòu)成,長邊為LI X LI X 5mm的金屬板,短邊為LlXL2X 5mm的金屬板;其中LI、L2表示L型托撐結(jié)構(gòu)的長邊和短邊邊長,5mm為厚度,在L型托撐結(jié)構(gòu)的長邊后方連接著相同面積的透波結(jié)構(gòu),該透波結(jié)構(gòu)是由具有良好透波性能的材料構(gòu)成,通過上面部分的設(shè)計能夠?qū)y量樣板平穩(wěn)放置進(jìn)行固定。中間部分是金屬支撐桿,它在高度方向上朝一側(cè)傾斜,橫斷面面積由下而上逐漸均勻減小,其橫斷面呈菱形,金屬支撐桿穿過透波材料和標(biāo)準(zhǔn)板連接。下面部分為一金屬托板,金屬支撐桿下方與該金屬托板連接,并與金屬托板所在水平面成45°到60°之間的傾斜角;金屬托板為長方體,金屬托板上設(shè)置有孔,通過螺絲和下面的二維轉(zhuǎn)臺連接。其中,該L型托撐結(jié)構(gòu)中LI的范圍在5cm-30cm之間,L2的范圍在lcm_5cm之間;其中,該金屬支撐桿長度在40cm-63cm之間,菱形角度在20°到30°之間;其中,該金屬托板長度范圍在20cm-50cm之間,寬度范圍在20cm-30cm之間,厚度為 1cm。該支架工作程序如下在使用過程中,將要測量的材料通過粘貼或者其他方式固定在支架的托撐結(jié)構(gòu)上,然后將支架下端固定在二維轉(zhuǎn)臺上,然后即可開始測試。更換測試材料時只需重復(fù)上述步驟即可。本發(fā)明一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架的優(yōu)點是金屬結(jié)構(gòu),結(jié)實耐用,菱形金屬結(jié)構(gòu)具有較小的RCS能夠保證精確測量;同時,L型托撐結(jié)構(gòu)能夠方便對待測材料進(jìn)行固定,提高測試效率。


圖I表示本發(fā)明的快速放射率測量支架的主視2表示本發(fā)明 的快速反射率測量支架金屬支撐桿的截面3表示本發(fā)明的快速反射率測量支架的右視中符號說明如下β金屬支撐桿菱形截面的角度;①為待測材料;②為L型托撐結(jié)構(gòu);③為透波材料;為金屬支撐桿;⑤為金屬托板。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本專利申請作更為具體的描述。本發(fā)明一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架,分為上、中、下三個部分。這里以LI長為18cm, L2長為5cm為例說明。如圖I所示,整個支架由② ⑤構(gòu)成。分成上中下三個部分。上面部分在圖I中表示為①、②、③,其中,①為待測材料,②為L型托撐結(jié)構(gòu),由金屬材料構(gòu)成;③為附在托撐結(jié)構(gòu)長邊后面的透波材料,選用環(huán)氧樹脂板,用于對待測材料的固定。此種設(shè)計能夠?qū)y量樣板平穩(wěn)快速放置在上面進(jìn)行固定。中間部分是在圖中為編號④的金屬支撐桿,它在高度方向上朝一側(cè)傾斜,橫斷面面積由下而上逐漸均勻減小,其橫斷面呈菱形,菱形角度為25。,長度為45cm。下面部分在圖中為編號⑤的金屬托板,為長方體,長度為50cm,寬度為20cm,厚度為Icm ;金屬托板上設(shè)置有孔,通過螺絲和下面的二維轉(zhuǎn)臺連接。如圖2所示,所說的支架下面部分由金屬構(gòu)成,橫斷面呈菱形。由方程
σ2Ρ_ _2_ 義!Vertical ;r [(2 -sin (2 -/ )]
^2D_ _2_又 |Horizontal π\(zhòng)^{2-β/π^ tan (;r/(2 _/ )]式中β為金屬支架的劈內(nèi)角,σ表示RCS散射值,λ為波長,我們假設(shè)劈內(nèi)角β從1°變化到50°時,通過上述公式就可以得到金屬支架的歸一化散射寬度與劈內(nèi)角β的關(guān)系,當(dāng)劈內(nèi)角β比較小的時候,對應(yīng)水平極化的歸一化散射寬度非常小;垂直極化的歸一化散射寬度隨劈內(nèi)角β的改變變化的不明顯,而且數(shù)值明顯大于水平極化的結(jié)果。考慮到實際應(yīng)用的因素,劈內(nèi)角β通常選擇在20°到30°之間。這種橫截面為菱形的結(jié)構(gòu)能夠很好的保證此金屬結(jié)構(gòu)具有低RCS,能夠減小引入金屬結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的測量誤差。如圖3所示,在使用過程中,我們將要測量的材料固定在支架的托撐結(jié)構(gòu)上,然后將支架下端固定在二維轉(zhuǎn)臺上,將二維轉(zhuǎn)臺與大轉(zhuǎn)臺連接,然后即可開始測試。更換測試材料時只需重復(fù)上述步驟即可。支架上面有透波材料的托撐結(jié)構(gòu)能夠滿足快速安裝、固定和測量的要求;同時,支架下面的低RCS金屬結(jié)構(gòu)能夠保證快速測量的準(zhǔn)確性,同時保證支架的穩(wěn)定性和使用壽
命ο
權(quán)利要求
1.一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架,其特征在于它分為上、中、下三個部分,該上面部分為L型托撐結(jié)構(gòu),由金屬材料構(gòu)成,長邊為LlXLlX5mm的金屬板,短邊為LI X L2 X 5mm的金屬板,其中L1、L2表示L型托撐結(jié)構(gòu)的長邊和短邊邊長,5mm為厚度,在L型托撐結(jié)構(gòu)的長邊后方連接著相同面積的透波結(jié)構(gòu),該透波結(jié)構(gòu)是由具有良好透波性能的材料制成,通過上面部分的設(shè)計能夠?qū)y量樣板平穩(wěn)放置進(jìn)行固定;該中間部分是金屬支撐桿,它在高度方向上朝一側(cè)傾斜,橫斷面面積由下而上逐漸均勻減小,其橫斷面呈菱形,金屬支撐桿穿過透波材料和標(biāo)準(zhǔn)板連接;該下面部分為一金屬托板,金屬支撐桿下方與該金屬托板連接,并與金屬托板所在水平面成45°到60°之間的傾斜角;該金屬托板為長方體,金屬托板上設(shè)置有孔,通過螺絲和下面的二維轉(zhuǎn)臺連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架,其特征在于該L型托撐結(jié)構(gòu)中LI的范圍在5cm-30cm之間,L2的范圍在lcm_5cm之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架,其特征在于該金屬支撐桿長度在40cm-63cm之間,菱形角度在20°到30°之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架,其特征在于該金屬托板長度范圍在20cm-50cm之間,寬度范圍在20cm-30cm之間,厚度為1cm。
全文摘要
一種應(yīng)用于快速反射率測量的支架,它由為上、中、下三部分組成,該上面部分為L型托撐結(jié)構(gòu),長邊為L1×L1×5mm的金屬板,短邊為L1×L2×5mm的金屬板,在L型托撐結(jié)構(gòu)的長邊后方連接著相同面積具有良好透波性能的透波結(jié)構(gòu),這樣的設(shè)計能夠?qū)y量樣板平穩(wěn)放置進(jìn)行固定;該中間部分是金屬支撐桿,它在高度方向上朝一側(cè)傾斜,橫斷面由下而上逐漸均勻減小,其橫斷面呈菱形,金屬支撐桿穿過透波材料和標(biāo)準(zhǔn)板連接;該下面部分為一金屬托板,金屬支撐桿下方與該金屬托板連接,并與金屬托板所在水平面成45°到60°之間的傾斜角;該金屬托板為長方體,金屬托板上設(shè)置有孔,通過螺絲和下面的二維轉(zhuǎn)臺連接。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單,能提高測試效率。
文檔編號G01N22/00GK102621162SQ201210102109
公開日2012年8月1日 申請日期2012年4月9日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月9日
發(fā)明者洪韜, 田進(jìn)軍, 趙京城, 閆海倫 申請人:北京航空航天大學(xué)
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