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波長(zhǎng)測(cè)量方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品與流程

文檔序號(hào):40391908發(fā)布日期:2024-12-20 12:15閱讀:5來(lái)源:國(guó)知局
波長(zhǎng)測(cè)量方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品與流程

本發(fā)明涉及光電,尤其涉及一種波長(zhǎng)測(cè)量方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。


背景技術(shù):

1、隨著科技發(fā)展,波長(zhǎng)檢測(cè)是科學(xué)研究、工業(yè)應(yīng)用以及教育領(lǐng)域中經(jīng)常用到的一種技術(shù)。目前主流的波長(zhǎng)檢測(cè)設(shè)備主要包括光譜儀、波長(zhǎng)計(jì)等設(shè)備。這些設(shè)備可以提供很高的檢測(cè)精度,但是這些設(shè)備結(jié)構(gòu)都很復(fù)雜,操作難度相對(duì)較大,而且其價(jià)格昂貴,對(duì)于工業(yè)應(yīng)用和教育領(lǐng)域難以廣泛應(yīng)用。

2、現(xiàn)有產(chǎn)品主要優(yōu)點(diǎn)在于精度特別高,但是很多使用場(chǎng)景并不需要很高的精度,比如顯示器件的主波長(zhǎng)測(cè)量、教學(xué)示教等場(chǎng)合,從而亟需一種在滿足一定測(cè)量精度的情況下造價(jià)便宜、操作容易并且攜帶方便的波長(zhǎng)檢測(cè)設(shè)備。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的主要目的在于提供一種波長(zhǎng)測(cè)量方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,旨在解決現(xiàn)有產(chǎn)品造價(jià)高昂、攜帶不便的技術(shù)問題,提升在顯示器件的主波長(zhǎng)測(cè)量和教學(xué)示教等場(chǎng)景下的適用性。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出一種波長(zhǎng)測(cè)量方法,應(yīng)用于波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備,所述波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備包括依次沿光路設(shè)置的光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡、針孔安置筒鏡、光電檢測(cè)部件,所述光電檢測(cè)部件與主控部件之間通信連接,所述方法包括:

3、設(shè)置待檢光源,使得所述待檢光源發(fā)出的光線依次經(jīng)過所述光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡和針孔安置筒鏡,發(fā)生衍射;

4、通過所述光電檢測(cè)部件收集所述待檢光源產(chǎn)生的衍射圖樣;

5、將所述衍射圖樣輸入目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型,得到所述目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型輸出的波長(zhǎng)信息。

6、在一實(shí)施例中,從權(quán)所述波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備還包括校正裝置,所述設(shè)置待檢光源,使得所述待檢光源發(fā)出的光線依次經(jīng)過所述光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡和針孔安置筒鏡,發(fā)生衍射的步驟之前還包括:

7、將所述光電檢測(cè)部件與所述校正裝置的出光口連接;

8、控制所述校正裝置發(fā)出均勻的面光源,所述光電檢測(cè)部件對(duì)所述面光源發(fā)出的光線進(jìn)行響應(yīng),根據(jù)所述光電檢測(cè)部件中各個(gè)探元的響應(yīng)值對(duì)所述光電檢測(cè)部件進(jìn)行校正。

9、在一實(shí)施例中,所述將所述衍射圖樣輸入目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型,得到所述目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型輸出的波長(zhǎng)信息的步驟之前還包括:

10、獲取樣本圖像,將所述樣本圖像輸入卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型中,得到所述卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型輸出的預(yù)測(cè)值;

11、計(jì)算所述預(yù)測(cè)值與所述樣本圖像的標(biāo)簽之間的損失值;

12、根據(jù)所述損失值對(duì)所述卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行迭代優(yōu)化,直至所述損失值收斂,得到目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型。

13、此外,為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提出一種波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備,包括:

14、依次沿光路設(shè)置的光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡、針孔安置筒鏡、光電檢測(cè)部件,所述光電檢測(cè)部件與主控部件之間通信連接;

15、所述主控部件包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序配置為實(shí)現(xiàn)如上文所述的波長(zhǎng)測(cè)量方法的步驟。

16、在一實(shí)施例中,所述波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備還包括校正裝置,所述校正裝置包括:

17、外殼,所述外殼上設(shè)置有出光口;

18、聚四氟乙烯球形內(nèi)襯,所述聚四氟乙烯球形內(nèi)襯位于所述外殼內(nèi)部;

19、校正光源,所述校正光源設(shè)置于所述外殼相對(duì)的兩側(cè);

20、米散射板,所述米散射板位于所述出光口的外側(cè);

21、其中,所述校正光源發(fā)出的光線入射到所述聚四氟乙烯球形內(nèi)襯經(jīng)多次反射后,從所述出光口出射,經(jīng)過所述米散射板,得到均勻的面光源。

22、在一實(shí)施例中,所述校正光源為led、鹵鎢燈、氙燈或氘燈;和/或,所述米散射板的材質(zhì)為熔融石英或毛玻璃。

23、在一實(shí)施例中,所述光電檢測(cè)部件為面陣響應(yīng)器件或線陣響應(yīng)器件。

24、在一實(shí)施例中,所述光束導(dǎo)入口為光纖轉(zhuǎn)接口、點(diǎn)光源導(dǎo)入口、平行光導(dǎo)入口或積分球光源導(dǎo)入口。

25、此外,為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提出一種存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)為計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上文所述的波長(zhǎng)測(cè)量方法的步驟。

26、此外,為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上文所述的波長(zhǎng)測(cè)量方法的步驟。

27、本發(fā)明提出的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案,以波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備為基礎(chǔ),波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備包括依次沿光路設(shè)置的光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡、針孔安置筒鏡、光電檢測(cè)部件,在波長(zhǎng)測(cè)量過程中先設(shè)置待檢光源,使得待檢光源發(fā)出的光線依次經(jīng)過光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡和針孔安置筒鏡,發(fā)生衍射,光束導(dǎo)入口將待檢光源發(fā)出的光導(dǎo)入波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備的光路中,光束準(zhǔn)直筒鏡使導(dǎo)入的光束以平行光的形式照射到針孔安置筒鏡中,光在針孔安置筒鏡中發(fā)生衍射,通過光電檢測(cè)部件收集待檢光源產(chǎn)生的衍射圖樣,光電檢測(cè)部件位于針孔安置筒鏡后方,收集衍射現(xiàn)象產(chǎn)生的衍射圖樣;將衍射圖樣輸入目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型,得到目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型輸出的波長(zhǎng)信息,從而達(dá)到測(cè)量出待檢光源的波長(zhǎng)的目的。也即,本發(fā)明實(shí)施例將結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備與人工智能模型相結(jié)合,基于光的衍射原理設(shè)置波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備中的光路,以待檢光源產(chǎn)生的衍射圖樣為輸入,通過目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型預(yù)測(cè)待檢光源的波長(zhǎng),相比于現(xiàn)有的采用邁克爾遜干涉儀等精密設(shè)備測(cè)量波長(zhǎng)的方式,波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備的結(jié)構(gòu)得到了極大的簡(jiǎn)化,同時(shí)波長(zhǎng)測(cè)量的精度能夠滿足教學(xué)示教等場(chǎng)景的要求,提升了波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備的便攜性。



技術(shù)特征:

1.一種波長(zhǎng)測(cè)量方法,其特征在于,應(yīng)用于波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備,所述波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備包括依次沿光路設(shè)置的光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡、針孔安置筒鏡、光電檢測(cè)部件,所述光電檢測(cè)部件與主控部件之間通信連接,所述波長(zhǎng)測(cè)量方法包括:

2.如權(quán)利要求1所述的波長(zhǎng)測(cè)量方法,其特征在于,所述波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備還包括校正裝置,所述設(shè)置待檢光源,使得所述待檢光源發(fā)出的光線依次經(jīng)過所述光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡和針孔安置筒鏡,發(fā)生衍射的步驟之前還包括:

3.如權(quán)利要求1所述的波長(zhǎng)測(cè)量方法,其特征在于,所述將所述衍射圖樣輸入目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型,得到所述目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型輸出的波長(zhǎng)信息的步驟之前還包括:

4.一種波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備,其特征在于,所述波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備包括:

5.如權(quán)利要求4所述的波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備,其特征在于,所述波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備還包括校正裝置,所述校正裝置包括:

6.如權(quán)利要求5所述的波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備,其特征在于,所述校正光源為led、鹵鎢燈、氙燈或氘燈;和/或,所述米散射板的材質(zhì)為熔融石英或毛玻璃。

7.如權(quán)利要求4所述的波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備,其特征在于,所述光電檢測(cè)部件為面陣響應(yīng)器件或線陣響應(yīng)器件。

8.如權(quán)利要求4所述的波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備,其特征在于,所述光束導(dǎo)入口為光纖轉(zhuǎn)接口、點(diǎn)光源導(dǎo)入口、平行光導(dǎo)入口或積分球光源導(dǎo)入口。

9.一種存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述存儲(chǔ)介質(zhì)為計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的波長(zhǎng)測(cè)量方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的波長(zhǎng)測(cè)量方法的步驟。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種波長(zhǎng)測(cè)量方法、設(shè)備、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,涉及光電技術(shù)領(lǐng)域,波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備包括依次沿光路設(shè)置的光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡、針孔安置筒鏡、光電檢測(cè)部件,光電檢測(cè)部件與主控部件之間通信連接,設(shè)置待檢光源,使得待檢光源發(fā)出的光線依次經(jīng)過光束導(dǎo)入口、光束準(zhǔn)直筒鏡和針孔安置筒鏡,發(fā)生衍射;通過光電檢測(cè)部件收集待檢光源產(chǎn)生的衍射圖樣;將衍射圖樣輸入目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型,得到目標(biāo)波長(zhǎng)測(cè)量模型輸出的波長(zhǎng)信息。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了簡(jiǎn)化波長(zhǎng)測(cè)量設(shè)備的結(jié)構(gòu),提升波長(zhǎng)測(cè)量的便捷性的技術(shù)效果。

技術(shù)研發(fā)人員:汪偉,張海裕,畢海
受保護(hù)的技術(shù)使用者:季華實(shí)驗(yàn)室
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/12/19
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