本申請涉及測量，尤其涉及一種平面度測量方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在精密結(jié)構(gòu)測量領(lǐng)域，平面度測量可以用于評估零件或結(jié)構(gòu)的平整度和質(zhì)量，確保零件的平面度符合設(shè)計(jì)要求，提高產(chǎn)品的精度和質(zhì)量。

2、平面度是指一個(gè)平面與其理想位置的偏離程度，用于描述平面表面的平整度和質(zhì)量。平面度測量是指對一個(gè)平面表面的平整程度進(jìn)行測量和評估的過程，平面度測量通常通過使用測量儀器(如平面度測量儀、激光測量儀等)對平面表面進(jìn)行掃描或測量，然后將實(shí)際測量結(jié)果與理想平面進(jìn)行比較，計(jì)算出平面度的偏差值。

3、在相關(guān)方案中，平面度的測量主要依賴于物理接觸的方法，如賽片、量規(guī)等工具直接測量被測物體的表面，這種方法測量效率低，且精度受限于測量工具的精度和操作者的技能；隨著光學(xué)技術(shù)的發(fā)展，非接觸式的光學(xué)測量方法開始被應(yīng)用于平面度測量，如激光掃描、光學(xué)比較儀等，這種方法在精密結(jié)構(gòu)的平面度測量方面仍然存在問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請實(shí)施例提供了一種平面度測量方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，可以解決如何實(shí)現(xiàn)高精度、高效率平面度測量的技術(shù)問題。

2、第一方面，本申請實(shí)施例提供了一種平面度測量方法，包括：

3、利用線激光根據(jù)預(yù)設(shè)掃描軌跡掃描待測目標(biāo)的表面，得到待測目標(biāo)的掃描數(shù)據(jù)，掃描數(shù)據(jù)包括亮度數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)。

4、根據(jù)亮度數(shù)據(jù)確定待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息，待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息用于確定待測目標(biāo)的目標(biāo)定位區(qū)域。

5、對點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波處理，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)。

6、根據(jù)目標(biāo)定位區(qū)域和目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)生成待測目標(biāo)的高度數(shù)據(jù)。

7、根據(jù)高度數(shù)據(jù)生成擬合基準(zhǔn)平面。

8、根據(jù)擬合基準(zhǔn)平面計(jì)算待測目標(biāo)的平面度。

9、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)亮度數(shù)據(jù)確定待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息，包括：

10、根據(jù)亮度數(shù)據(jù)生成對應(yīng)的亮度圖并確定亮度圖的亮度值區(qū)間。

11、對亮度圖在亮度值區(qū)間內(nèi)進(jìn)行二值化處理，生成目標(biāo)亮度值區(qū)間。

12、對目標(biāo)亮度值區(qū)間進(jìn)行形態(tài)學(xué)開運(yùn)算處理，得到目標(biāo)亮度圖。

13、根據(jù)目標(biāo)亮度圖確定待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息。

14、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，對點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波處理，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)，包括：

15、計(jì)算點(diǎn)云數(shù)據(jù)中的點(diǎn)與預(yù)設(shè)基準(zhǔn)面的垂直距離，得到點(diǎn)云數(shù)據(jù)中的點(diǎn)的垂直距離。

16、根據(jù)點(diǎn)云數(shù)據(jù)中的點(diǎn)的垂直距離計(jì)算點(diǎn)云數(shù)據(jù)中的點(diǎn)的高度比例。

17、在點(diǎn)云數(shù)據(jù)中刪除高度比例大于預(yù)設(shè)高度比例閾值對應(yīng)的點(diǎn)。

18、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，對點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波處理，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)，還包括：

19、根據(jù)點(diǎn)云數(shù)據(jù)分割出對應(yīng)的形狀區(qū)域。

20、計(jì)算形狀區(qū)域的面積。

21、刪除形狀區(qū)域的面積小于預(yù)設(shè)面積閾值對應(yīng)的形狀區(qū)域。

22、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，根據(jù)高度數(shù)據(jù)生成擬合基準(zhǔn)平面，包括：

23、對高度數(shù)據(jù)進(jìn)行排序，得到排序高度數(shù)據(jù)。

24、根據(jù)預(yù)設(shè)區(qū)間對排序高度數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選處理，得到篩選高度數(shù)據(jù)。

25、根據(jù)篩選高度數(shù)據(jù)生成擬合基準(zhǔn)平面。

26、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，線激光的安裝角度相對于x軸的傾斜角度為13度～14度。

27、第二方面，本申請實(shí)施例提供了一種平面度測量裝置，該裝置具有實(shí)現(xiàn)第一方面或其任意可能的實(shí)現(xiàn)方式中的方法的功能。具體地，該裝置包括實(shí)現(xiàn)第一方面或其任意可能的實(shí)現(xiàn)方式中的方法的單元。

28、在其中的一個(gè)實(shí)施例中，該裝置包括：

29、獲取單元，用于利用線激光根據(jù)預(yù)設(shè)掃描軌跡掃描待測目標(biāo)的表面，得到待測目標(biāo)的掃描數(shù)據(jù)，掃描數(shù)據(jù)包括亮度數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)。

30、處理單元，用于根據(jù)亮度數(shù)據(jù)確定待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息，待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息用于確定待測目標(biāo)的目標(biāo)定位區(qū)域。

31、處理單元還用于，對點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波處理，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)。

32、處理單元還用于，根據(jù)目標(biāo)定位區(qū)域和目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)生成待測目標(biāo)的高度數(shù)據(jù)。

33、處理單元還用于，根據(jù)高度數(shù)據(jù)生成擬合基準(zhǔn)平面，擬合基準(zhǔn)平面用于計(jì)算待測目標(biāo)的平面度。

34、處理單元還用于，根據(jù)擬合基準(zhǔn)平面計(jì)算待測目標(biāo)的平面度。

35、第三方面，本申請實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，該處理器執(zhí)行計(jì)算機(jī)程序時(shí)，使得計(jì)算機(jī)設(shè)備實(shí)現(xiàn)上述第一方面任意一種實(shí)現(xiàn)方式的方法。

36、第四方面，本申請實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)存儲有計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被計(jì)算機(jī)設(shè)備執(zhí)行時(shí)，使得計(jì)算機(jī)設(shè)備實(shí)現(xiàn)上述第一方面任意一種實(shí)現(xiàn)方式的方法。

37、第五方面，本申請實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，當(dāng)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在計(jì)算機(jī)設(shè)備上運(yùn)行時(shí)，使得計(jì)算機(jī)設(shè)備執(zhí)行上述第一方面任意一種實(shí)現(xiàn)方式的方法。

38、本申請實(shí)施例與現(xiàn)有技術(shù)相比存在的有益效果是：通過預(yù)設(shè)掃描軌跡使得激光掃描流程更加省時(shí)；通過亮度數(shù)據(jù)可以準(zhǔn)確定位待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息，為后續(xù)的數(shù)據(jù)處理提供準(zhǔn)確的定位信息；通過濾波處理可以去除噪聲和異常點(diǎn)，提高點(diǎn)云數(shù)據(jù)的質(zhì)量和可靠性，使得后續(xù)數(shù)據(jù)處理更加準(zhǔn)確和可靠；根據(jù)目標(biāo)定位區(qū)域和目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)生成的高度數(shù)據(jù)可以提供更加準(zhǔn)確的高度信息，為后續(xù)平面度計(jì)算提供可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)；通過擬合基準(zhǔn)平面可以提供準(zhǔn)確的參考平面，從而計(jì)算出更加準(zhǔn)確的平面度，實(shí)現(xiàn)高精度、高效率、高穩(wěn)定性和高自動(dòng)化的平面度測量。

技術(shù)特征：

1.一種平面度測量方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述亮度數(shù)據(jù)確定所述待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波處理，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述對所述點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波處理，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)，還包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述高度數(shù)據(jù)生成擬合基準(zhǔn)平面，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述線激光的安裝角度相對于x軸的傾斜角度為13度～14度。

7.一種平面度測量裝置，其特征在于，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述處理單元還用于，根據(jù)所述亮度數(shù)據(jù)生成對應(yīng)的亮度圖并確定所述亮度圖的亮度值區(qū)間；對所述亮度圖在所述亮度值區(qū)間內(nèi)進(jìn)行二值化處理，生成目標(biāo)亮度值區(qū)間；對所述目標(biāo)亮度值區(qū)間進(jìn)行形態(tài)學(xué)開運(yùn)算處理，得到目標(biāo)亮度圖；根據(jù)所述目標(biāo)亮度圖確定所述待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息。

9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，其特征在于，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)，使得所述計(jì)算機(jī)設(shè)備實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被計(jì)算機(jī)設(shè)備執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請適用于測量技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種平面度測量方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，該方法包括：利用線激光根據(jù)預(yù)設(shè)掃描軌跡掃描待測目標(biāo)的表面，得到所述待測目標(biāo)的掃描數(shù)據(jù)，所述掃描數(shù)據(jù)包括亮度數(shù)據(jù)和點(diǎn)云數(shù)據(jù)；根據(jù)所述亮度數(shù)據(jù)確定所述待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息，所述待測目標(biāo)的點(diǎn)位信息用于確定所述待測目標(biāo)的目標(biāo)定位區(qū)域；對所述點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波處理，得到目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)；根據(jù)所述目標(biāo)定位區(qū)域和所述目標(biāo)點(diǎn)云數(shù)據(jù)生成所述待測目標(biāo)的高度數(shù)據(jù)；根據(jù)所述高度數(shù)據(jù)生成擬合基準(zhǔn)平面；根據(jù)所述擬合基準(zhǔn)平面計(jì)算所述待測目標(biāo)的平面度。該方案有利于實(shí)現(xiàn)高精度、高效率平面度測量。

技術(shù)研發(fā)人員：周逸銘,秦浩,許應(yīng)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市辰卓科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/17