技術(shù)編號：40321040
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及測量，尤其涉及一種平面度測量方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)。背景技術(shù)、在精密結(jié)構(gòu)測量領(lǐng)域，平面度測量可以用于評估零件或結(jié)構(gòu)的平整度和質(zhì)量，確保零件的平面度符合設(shè)計要求，提高產(chǎn)品的精度和質(zhì)量。、平面度是指一個平面與其理想位置的偏離程度，用于描述平面表面的平整度和質(zhì)量。平面度測量是指對一個平面表面的平整程度進行測量和評估的過程，平面度測量通常通過使用測量儀器(如平面度測量儀、激光測量儀等)對平面表面進行掃描或測量，然后將實際測量結(jié)果與理想平面進行比較，計算出平面度的偏差值。、在相關(guān)方案中...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。