本發(fā)明涉及老化測試,具體涉及一種通用電源老化車。
背景技術(shù):
1、隨著電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用,電源產(chǎn)品質(zhì)量可靠性越發(fā)重要。電源老化試驗作為電源產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié),通過對電源產(chǎn)品施加額定交流電壓且?guī)лd測試并檢測性能指標(biāo),可檢測其穩(wěn)定性和可靠性,發(fā)現(xiàn)潛在故障問題,提升電源產(chǎn)品質(zhì)量。
2、現(xiàn)有的電源老化過程中,經(jīng)常會存在如下技術(shù)問題:
3、第一,無法實現(xiàn)對老化設(shè)備電路異常的快速檢測以及記錄,以提升通用老化車的處理效率和對異常情況的可追溯性;
4、第二,現(xiàn)有技術(shù)在電源老化測試中存在負(fù)載電阻選擇缺乏優(yōu)化、對異常情況分析不深入以及缺乏問題反饋機制;
5、第三,現(xiàn)有的報警閾值通常是統(tǒng)一設(shè)定的,無法針對不同的被老化電源進行調(diào)整,可能出現(xiàn)誤報或漏報的情況。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本
技術(shù)實現(xiàn)要素:
部分用于以簡要的形式介紹構(gòu)思,這些構(gòu)思將在后面的具體實施方式部分被詳細(xì)描述。本發(fā)明內(nèi)容部分并不旨在標(biāo)識要求保護的技術(shù)方案的關(guān)鍵特征或必要特征,也不旨在用于限制所要求的保護的技術(shù)方案的范圍。
2、本發(fā)明提出了一種通用電源老化車,來解決以上背景技術(shù)部分提到的技術(shù)問題中的一項或多項。
3、本發(fā)明提供了一種通用電源老化車,包括:
4、單片機采樣系統(tǒng),單片機采樣系統(tǒng)配置有單片機、多個多路模擬開關(guān)芯片、控制模塊、鎖存器組,單片機通過串口與上位機進行通信,多個多路模擬開關(guān)芯片中每個多路模擬開關(guān)芯片對應(yīng)有多路輸入信號,輸入信號為被老化電源組中被老化電源的電壓信號、電流信號、溫度數(shù)據(jù);
5、單片機用于接收控制面板發(fā)送的電路分析信號,根據(jù)電路分析信號從多個多路模擬開關(guān)芯片中確定目標(biāo)多路模擬開關(guān)芯片,并生成數(shù)據(jù)采集指令,將數(shù)據(jù)采集指令發(fā)送至目標(biāo)多路模擬開關(guān)芯片,以使目標(biāo)多路模擬開關(guān)芯片從多路輸入信號中選取對應(yīng)的輸入信號作為輸出信號并傳輸至單片機;
6、單片機用于接收目標(biāo)多路模擬開關(guān)芯片發(fā)送的輸出信號,并對輸出信號進行分析,得到輸出信號對應(yīng)的分析結(jié)果,若輸出信號對應(yīng)的分析結(jié)果為電路異常,生成電路異常信號;根據(jù)電路異常信號,生成異常參數(shù)記錄;將異常參數(shù)記錄發(fā)送至上位機,以使上位機根據(jù)異常參數(shù)記錄執(zhí)行相應(yīng)操作;并向控制模塊發(fā)送開關(guān)控制信號;
7、控制模塊配置有譯碼單元和預(yù)設(shè)數(shù)量個雙通道信號反轉(zhuǎn)單元,譯碼單元用于對開關(guān)控制信號進行編碼轉(zhuǎn)換,得到目標(biāo)數(shù)量個電平信號,并將目標(biāo)數(shù)量個電平信號傳輸至預(yù)設(shè)數(shù)量個雙通道信號反轉(zhuǎn)單元;雙通道信號反轉(zhuǎn)單元用于對譯碼單元發(fā)送的電平信號進行反向處理,得到每個電平信號對應(yīng)的反向電平信號;雙通道信號反轉(zhuǎn)單元還用于將每個反向電平信號發(fā)送至對應(yīng)的鎖存器組;以使鎖存器組根據(jù)反向電平信號控制老化設(shè)備的開關(guān)的開合狀態(tài);
8、上位機,用于接收單片機發(fā)送的異常參數(shù)記錄,并對單片機發(fā)送的異常參數(shù)記錄進行存儲。
9、可選的,還包括:
10、異常記錄分析設(shè)備,異常記錄分析設(shè)備用于從上位機中獲取每個被老化電源在測試周期內(nèi)的多個異常參數(shù)記錄,異常參數(shù)記錄包括被老化電源對應(yīng)的異常時間點、被老化電源對應(yīng)的負(fù)載電阻、被老化電源對應(yīng)的類型信息;根據(jù)被老化電源對應(yīng)的異常時間點,對每個被老化電源的多個異常參數(shù)記錄中各個異常參數(shù)記錄進行排序,得到每個被老化電源對應(yīng)的異常參數(shù)記錄序列;根據(jù)測試周期,對每個異常參數(shù)記錄序列進行劃分,得到每個被老化電源對應(yīng)的多個異常參數(shù)記錄子序列;其中,每個異常參數(shù)記錄子序列對應(yīng)一個時間區(qū)間;根據(jù)每個被老化電源對應(yīng)的多個異常參數(shù)記錄子序列,確定每個負(fù)載電阻與同類型被老化電源的匹配系數(shù);根據(jù)每個負(fù)載電阻與同類型被老化電源的匹配系數(shù)從大到小的順序,將各個負(fù)載電阻進行排序,得到負(fù)載電阻序列;選取負(fù)載電阻序列中最大匹配系數(shù)的負(fù)載電阻作為對應(yīng)同類型被老化電源的標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載電阻。
11、可選的,每個負(fù)載電阻與同類型被老化電源的匹配系數(shù)是通過以下步驟確定的:
12、根據(jù)負(fù)載電阻的電阻數(shù)值和被老化電源對應(yīng)的類型信息,將每個被老化電源對應(yīng)的多個異常參數(shù)記錄子序列進行劃分,得到多個異常參數(shù)記錄子序列集合;其中,每個異常參數(shù)記錄子序列集合對應(yīng)一個負(fù)載電阻和一個類型信息;
13、對于每個異常參數(shù)記錄子序列集合,確定每個時間區(qū)間下異常參數(shù)記錄的數(shù)量,將每個時間區(qū)間下異常參數(shù)記錄的數(shù)量在預(yù)設(shè)的異常評分表中查詢,得到每個時間區(qū)間對應(yīng)的異常評分;對每個時間區(qū)間對應(yīng)的異常評分分配對應(yīng)的加權(quán)權(quán)重;
14、將各個時間區(qū)間對應(yīng)的異常評分對應(yīng)的加權(quán)權(quán)重進行加權(quán)求和,得到每個負(fù)載電阻與同類型被老化電源的匹配系數(shù)。
15、可選的,異常記錄分析設(shè)備還用于根據(jù)被老化電源對應(yīng)的批次信息,對每個被老化電源進行劃分,得到多個被老化電源組;其中,每個被老化電源組對應(yīng)一個批次信息;
16、對于多個被老化電源組,根據(jù)每個被老化電源對應(yīng)的異常參數(shù)記錄數(shù)量和預(yù)設(shè)的固定數(shù)量,對每個被老化電源組中各個被老化電源進行聚類,得到每個被老化電源組對應(yīng)的固定數(shù)量個聚類簇;
17、將每個聚類簇中各個被老化電源對應(yīng)的異常參數(shù)記錄數(shù)量求和,得到每個聚類簇對應(yīng)的異常參數(shù)記錄總數(shù)量;將最大異常參數(shù)記錄總數(shù)量對應(yīng)的聚類簇,確定為目標(biāo)聚類簇;
18、根據(jù)目標(biāo)聚類簇中每個被老化電源對應(yīng)的多個異常參數(shù)記錄和每個異常參數(shù)記錄對應(yīng)的異常時間點,生成異常散點圖;
19、根據(jù)異常散點圖,生成批次異常報告;并將批次異常報告發(fā)送至上位機,以使上位機對批次異常報告進行儲存。
20、可選的,批次異常報告是通過以下步驟確定的:
21、根據(jù)測試周期,對異常散點圖對應(yīng)的時間軸進行劃分,生成多個異常散點區(qū)間;確定每個異常散點區(qū)間對應(yīng)的異常參數(shù)記錄數(shù)量;
22、將各個異常散點區(qū)間對應(yīng)的異常參數(shù)記錄數(shù)量的總和求平均,得到異常參數(shù)記錄平均值;將每個異常散點區(qū)間對應(yīng)的異常參數(shù)記錄數(shù)量與異常參數(shù)記錄平均值進行對比,若存在異常參數(shù)記錄數(shù)量大于異常參數(shù)記錄平均值的異常散點區(qū)間,將異常參數(shù)記錄數(shù)量大于異常參數(shù)記錄平均值的異常散點區(qū)間確定為目標(biāo)異常散點區(qū)間;
23、根據(jù)目標(biāo)異常散點區(qū)間對應(yīng)的異常參數(shù)記錄,確定每個類型信息對應(yīng)的被老化電源的出現(xiàn)次數(shù);根據(jù)每個類型信息對應(yīng)的被老化電源的出現(xiàn)次數(shù),生成批次異常報告。
24、本發(fā)明具有如下有益效果:1.通過設(shè)置多個多路模擬開關(guān)芯片,根據(jù)單片機發(fā)送的數(shù)據(jù)采集指令,從多路輸入信號中選取對應(yīng)的輸入信號作為輸出信號,并發(fā)送至單片機。單片機接收輸出信號后進行分析,若輸出信號被判定為電路異常,生成電路異常信號。并根據(jù)電路異常信號生成異常參數(shù)記錄,并發(fā)送至上位機。上位機對異常參數(shù)記錄進行存儲??刂颇K用于根據(jù)開關(guān)控制信號控制老化設(shè)備的開合狀態(tài)。通過多個模擬開關(guān)芯片與單片機、控制模塊和上位機的協(xié)同工作,檢測到電路異常情況并及時進行處理,而記錄功能則為后續(xù)問題追溯提供了有利依據(jù),從而提升了通用老化車對異常情況的處理效率和對異常問題可追溯性;
25、2.通過對被老化電源異常參數(shù)記錄的序列劃分與分析,確定負(fù)載電阻與同類型被老化電源的匹配系數(shù)以選取標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載電阻,實現(xiàn)了負(fù)載電阻的優(yōu)化選擇;依據(jù)批次信息對被老化電源進行聚類并生成異常散點圖,劃分時間軸確定目標(biāo)異常散點區(qū)間,根據(jù)目標(biāo)異常散點區(qū)間中異常參數(shù)記錄確定不同類型被老化電源出現(xiàn)次數(shù),通過生成批次異常報告的方式向上位機反饋信息,有效解決了對異常情況分析不深入以及缺乏問題反饋機制的問題;
26、3.通過獲取不同類型信息對應(yīng)的被老化電源的額定電壓范圍和絕對最大額定值,計算額定差值并在容忍度評分表中查詢得到容忍度評分,將容忍度評分與預(yù)設(shè)評分區(qū)間進行匹配,并確定報警閾值調(diào)整方案,對于第一評分區(qū)間的每個類型信息對應(yīng)的被老化電源在臨界值表中查詢確定臨界值進而確定最大報警閾值和報警范圍閾值以生成報警方案,對于第二評分區(qū)間的每個類型信息對應(yīng)的被老化電源直接以最大額定值作為報警閾值生成報警方案,解決了因統(tǒng)一設(shè)定報警閾值導(dǎo)致的誤報或漏報問題,實現(xiàn)了針對不同類型信息對應(yīng)的被老化電源的報警閾值設(shè)置。