本發(fā)明涉及掃描裝置，特別涉及一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置。

背景技術(shù)：

1、近幾年來(lái)，世界各國(guó)安全機(jī)構(gòu)對(duì)處理突發(fā)恐怖事件的警用排爆設(shè)備需求量多。便攜式安檢機(jī)是安全部隊(duì)警務(wù)工作必備裝備，該產(chǎn)品具有x光透視拍照功能，可以快速檢測(cè)隱藏在包裹里的雷管、爆炸物、tnt、毒品等違禁品與化學(xué)藥品，提高了排爆處突的工作效率。

2、目前市場(chǎng)上便攜式安檢機(jī)產(chǎn)品品牌多，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用過程需搭建三角支架固定面陣470x470mm的探測(cè)板，只能對(duì)尺寸不超過470x470mm手提式小包裹進(jìn)行透視拍照成像，超過范圍需要來(lái)回多次移動(dòng)包裹校正位置后重復(fù)多次透視拍照，才能獲得整個(gè)包裹的完整x光透視像片后，安檢操作人員再進(jìn)行判圖操作，分辨危險(xiǎn)品物質(zhì)。如果包裹內(nèi)有定時(shí)炸彈等威脅，在安檢操作員來(lái)回提拿包裹翻動(dòng)過程中可能引起爆炸，產(chǎn)生傷亡事件。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置，安裝靈活使用方便，體積小重量輕，x光拍照范圍大，可對(duì)大型箱包快速x光拍照成像，提高安檢效率。

2、為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的技術(shù)方案為：

3、一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置，所述x光掃描裝置包括：

4、x光射線源裝置，所述x光射線源裝置包括x光射線源和光源支撐裝置，所述x光射線源設(shè)置在x光機(jī)架上，所述x光射線源與所述x光機(jī)架滑動(dòng)連接，所述x光射線源與x光縱向驅(qū)動(dòng)組件連接，所述光源支撐裝置包括第一支撐直桿和與所述第一支撐直桿平行設(shè)置的第二支撐直桿，所述第一支撐直桿與所述第二支撐直桿之間設(shè)有平行設(shè)置的第一上支撐橫桿和第一下支撐橫桿，所述x光機(jī)架與所述第一上支撐橫桿、所述第一下支撐橫桿滑動(dòng)連接，所述x光機(jī)架與x光橫向滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)組件連接，所述x光縱向驅(qū)動(dòng)組件、所述x光橫向滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)組件均與控制器連接；

5、面陣列x光能量探測(cè)裝置，所述面陣列x光能量探測(cè)裝置設(shè)置在所述x光射線源裝置發(fā)射x光照射的一側(cè)，所述面陣列x光能量探測(cè)裝置包括探測(cè)器安裝架和探測(cè)支撐裝置，所述探測(cè)器安裝架上設(shè)有探測(cè)器，所述探測(cè)器安裝架與探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)組件連接，所述探測(cè)器安裝架滑動(dòng)設(shè)置在探測(cè)機(jī)架上，所述探測(cè)支撐裝置包括第三支撐直桿和與所述第三支撐直桿平行設(shè)置的第四支撐直桿，所述第三支撐直桿與所述第四支撐直桿之間設(shè)有平行設(shè)置的第二上支撐橫桿和第二下支撐橫桿，所述探測(cè)機(jī)架與所述第二上支撐橫桿、所述第二下支撐橫桿均滑動(dòng)連接，所述探測(cè)機(jī)架與探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)組件連接，所述探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)組件、所述探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)組件均與控制器連接。

6、優(yōu)選的，所述x光縱向驅(qū)動(dòng)組件包括x光縱向驅(qū)動(dòng)電機(jī)，所述x光縱向驅(qū)動(dòng)電機(jī)與所述控制器電連接，所述x光縱向驅(qū)動(dòng)電機(jī)的動(dòng)力輸出端與x光縱向驅(qū)動(dòng)螺桿連接，所述x光射線源上設(shè)有x光源支撐件，所述x光源支撐件上設(shè)有與所述x光縱向驅(qū)動(dòng)螺桿配合的螺紋孔，所述x光源支撐件上設(shè)有x光源定位卡，所述x光機(jī)架上設(shè)有與所述x光源定位卡配合的第一縱向限位槽。

7、優(yōu)選的，所述x光橫向滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)組件包括x光橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)，所述x光橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)與所述控制器電連接，所述x光橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)的動(dòng)力輸出端與x光橫向螺桿連接，所述x光機(jī)架上設(shè)有x光機(jī)架支撐件，所述x光機(jī)架支撐件上設(shè)有與所述x光橫向螺桿配合的第一內(nèi)螺紋孔，所述x光機(jī)架上設(shè)有與所述第一上支撐橫桿配合的第一上限位卡以及與所述第一下支撐橫桿配合的第一下限位卡。

8、優(yōu)選的，所述探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)組件包括探測(cè)縱向電機(jī)，所述探測(cè)縱向電機(jī)與所述控制器電連接，所述探測(cè)縱向電機(jī)的動(dòng)力輸出端與探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)螺桿連接，所述探測(cè)器安裝架上設(shè)有探測(cè)支撐件，所述探測(cè)支撐件上設(shè)有與所述探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)螺桿配合的螺紋孔，所述探測(cè)支撐件上設(shè)有探測(cè)定位卡，所述探測(cè)機(jī)架上設(shè)有與所述探測(cè)定位卡配合的第二縱向限位槽。

9、優(yōu)選的，所述探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)組件包括探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)，所述探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)與所述控制器電連接，所述探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)的動(dòng)力輸出端與探測(cè)橫向螺紋桿連接，所述探測(cè)機(jī)架上設(shè)有探測(cè)機(jī)架支撐件，所述探測(cè)機(jī)架支撐件設(shè)有與所述探測(cè)橫向螺紋桿配合的第二內(nèi)螺紋孔，所述探測(cè)機(jī)架上設(shè)有與所述第二上支撐橫桿配合的第二上限位卡，以及與所述第二下支撐橫桿配合的第二下限位卡。

10、優(yōu)選的，所述第一支撐直桿的底部設(shè)有第一支撐三角架，所述第一支撐三角架設(shè)置在第一支撐板上，所述第二支撐直桿的底部設(shè)有第二支撐三角架，所述第二支撐三角架設(shè)置在第二支撐板上。

11、優(yōu)選的，所述第三支撐直桿的底部設(shè)有第三支撐三角架，所述第三支撐三角架設(shè)置在第三支撐板上，所述第四支撐直桿的底部設(shè)有第四支撐三角架，所述第四支撐三腳架設(shè)置在所述第四支撐板上。

12、采用上述技術(shù)方案，具有以下有益效果：

13、通過設(shè)置所述x光縱向驅(qū)動(dòng)組件、所述x光橫向滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)組件，可以驅(qū)動(dòng)x光射線源縱向移動(dòng)或者橫向移動(dòng)，便于進(jìn)行安檢掃描；

14、通過設(shè)置探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)組件、所述探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)組件，可以驅(qū)動(dòng)探測(cè)器安裝架、探測(cè)器縱向移動(dòng)或者橫向移動(dòng)，便于進(jìn)行安檢掃描。

技術(shù)特征：

1.一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置，其特征在于，所述x光掃描裝置包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置，其特征在于，所述x光縱向驅(qū)動(dòng)組件包括x光縱向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(16)，所述x光縱向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(16)與所述控制器電連接，所述x光縱向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(16)的動(dòng)力輸出端與x光縱向驅(qū)動(dòng)螺桿(17)連接，所述x光射線源(1)上設(shè)有x光源支撐件(55)，所述x光源支撐件(55)上設(shè)有與所述x光縱向驅(qū)動(dòng)螺桿(17)配合的螺紋孔，所述x光源支撐件(55)上設(shè)有x光源定位卡(22)，所述x光機(jī)架(18)上設(shè)有與所述x光源定位卡(22)配合的第一縱向限位槽(21)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置，其特征在于，所述x光橫向滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)組件包括x光橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(11)，所述x光橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(11)與所述控制器電連接，所述x光橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(11)的動(dòng)力輸出端與x光橫向螺桿(10)連接，所述x光機(jī)架(18)上設(shè)有x光機(jī)架支撐件(23)，所述x光機(jī)架支撐件(23)上設(shè)有與所述x光橫向螺桿(10)配合的第一內(nèi)螺紋孔(24)，所述x光機(jī)架(18)上設(shè)有與所述第一上支撐橫桿(8)配合的第一上限位卡(25)以及與所述第一下支撐橫桿(9)配合的第一下限位卡(26)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置，其特征在于，所述探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)組件包括探測(cè)縱向電機(jī)(28)，所述探測(cè)縱向電機(jī)(28)與所述控制器電連接，所述探測(cè)縱向電機(jī)(28)的動(dòng)力輸出端與探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)螺桿(30)連接，所述探測(cè)器安裝架(27)上設(shè)有探測(cè)支撐件(54)，所述探測(cè)支撐件(54)上設(shè)有與所述探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)螺桿(30)配合的螺紋孔，所述探測(cè)支撐件(54)上設(shè)有探測(cè)定位卡(51)，所述探測(cè)機(jī)架(31)上設(shè)有與所述探測(cè)定位卡(51)配合的第二縱向限位槽(32)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置，其特征在于，所述探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)組件包括探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(36)，所述探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(36)與所述控制器電連接，所述探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)電機(jī)(36)的動(dòng)力輸出端與探測(cè)橫向螺紋桿(35)連接，所述探測(cè)機(jī)架(31)上設(shè)有探測(cè)機(jī)架支撐件(52)，所述探測(cè)機(jī)架支撐件(52)設(shè)有與所述探測(cè)橫向螺紋桿(35)配合的第二內(nèi)螺紋孔(53)，所述探測(cè)機(jī)架(31)上設(shè)有與所述第二上支撐橫桿(33)配合的第二上限位卡(49)，以及與所述第二下支撐橫桿(34)配合的第二下限位卡(50)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置，其特征在于，所述第一支撐直桿(2)的底部設(shè)有第一支撐三角架(4)，所述第一支撐三角架(4)設(shè)置在第一支撐板(5)上，所述第二支撐直桿(3)的底部設(shè)有第二支撐三角架(6)，所述第二支撐三角架(6)設(shè)置在第二支撐板(7)上。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)x光掃描裝置，其特征在于，所述第三支撐直桿(41)的底部設(shè)有第三支撐三角架(42)，所述第三支撐三角架(42)設(shè)置在第三支撐板(43)上，所述第四支撐直桿(44)的底部設(shè)有第四支撐三角架(45)，所述第四支撐三腳架(45)設(shè)置在所述第四支撐板(46)上。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種垂直與水平運(yùn)動(dòng)X光掃描裝置，屬于掃描裝置技術(shù)領(lǐng)域，包括：X光射線源裝置，所述X光射線源裝置包括X光射線源和光源支撐裝置，所述X光射線源設(shè)置在X光機(jī)架上，所述X光射線源與所述X光機(jī)架滑動(dòng)連接，所述X光射線源與X光縱向驅(qū)動(dòng)組件連接，所述X光機(jī)架與X光橫向滑動(dòng)驅(qū)動(dòng)組件連接；面陣列X光能量探測(cè)裝置，所述面陣列X光能量探測(cè)裝置設(shè)置在所述X光射線源裝置發(fā)射X光照射的一側(cè)，所述面陣列X光能量探測(cè)裝置包括探測(cè)器安裝架和探測(cè)支撐裝置，所述探測(cè)器安裝架上設(shè)有探測(cè)器，所述探測(cè)器安裝架與探測(cè)縱向驅(qū)動(dòng)組件連接，所述探測(cè)機(jī)架與探測(cè)橫向驅(qū)動(dòng)組件連接。

技術(shù)研發(fā)人員：李凌云
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢艾崴科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19