本發(fā)明涉及一種分光裝置。

背景技術(shù)：

1、在紅外分光分析中，提出了如下技術(shù)：通過(guò)使用在量子力學(xué)上具有相關(guān)性的光子對(duì)，從而不需要紅外線的檢測(cè)，能夠通過(guò)僅檢測(cè)可見(jiàn)光來(lái)進(jìn)行分光分析(例如參照非專(zhuān)利文獻(xiàn)1、非專(zhuān)利文獻(xiàn)2以及非專(zhuān)利文獻(xiàn)3)。

2、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

3、非專(zhuān)利文獻(xiàn)

4、非專(zhuān)利文獻(xiàn)1：anna?paterova,hongzhi?yang,chengwu?an,dmitry?kalashnikovand?leonid?krivitsky,“measurement?of?infrared?optical?constants?with?visiblephotons”,new?journal?of?physics,april?2018,volume?20?043015

5、非專(zhuān)利文獻(xiàn)2：chiara?lindner,sebastian?wolf,jens?kiessling,and?drankkuhnemann,“fourier?transforminfrared?spectroscopy?with?visible?light”,opticsexpress,vol.28,issue?4,pp.4426-4432(2020)

6、非專(zhuān)利文獻(xiàn)3：y.mukai,m.arahata,t.tashima,r.okamoto,and?s.takeuchi,“quantum?fourier-transform?infrared?spectroscopy?for?complex?transmittancemeasurements”,physical?review?applied,vol.15,issue?3,march?2021

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、發(fā)明要解決的問(wèn)題

2、然而，在進(jìn)行光子對(duì)的生成等的光學(xué)系統(tǒng)中存在如下問(wèn)題：在產(chǎn)生了雜散光、干擾光、光學(xué)元件的熒光等噪光的情況下，分光分析的精度由于該噪光的影響而變差。

3、本發(fā)明的目的在于提供一種能夠抑制因噪光的影響導(dǎo)致的精度的降低的分光裝置。

4、用于解決問(wèn)題的方案

5、在本說(shuō)明書(shū)中包含在2022年3月8日申請(qǐng)的日本專(zhuān)利申請(qǐng)/日本特愿2022-035693號(hào)的全部?jī)?nèi)容。

6、本發(fā)明的一個(gè)方式是，一種分光裝置，具備：光源，其射出泵浦光；量子光學(xué)系統(tǒng)，其具有一個(gè)以上的非線性光學(xué)元件，并且具備試樣配置器具，所述泵浦光入射到所述非線性光學(xué)元件，所述非線性光學(xué)元件通過(guò)糾纏光子對(duì)產(chǎn)生過(guò)程來(lái)從所述泵浦光產(chǎn)生閑頻光及信號(hào)光的光子對(duì)，所述試樣配置器具用于將試樣配置在所述閑頻光的光路上；檢測(cè)部，其檢測(cè)從所述量子光學(xué)系統(tǒng)輸出的光的光強(qiáng)度；以及解析裝置，其基于所述光強(qiáng)度來(lái)獲取干涉圖，其中，所述量子光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成為使第一信號(hào)光和第二信號(hào)光以互不相同的光程射出，所述檢測(cè)部具備從所述量子光學(xué)系統(tǒng)接收第一信號(hào)光和第二信號(hào)光的分束器，所述檢測(cè)部對(duì)從所述分束器射出的兩束光各自的光強(qiáng)度進(jìn)行檢測(cè)，所述解析裝置根據(jù)由所述檢測(cè)部檢測(cè)到的所述兩束光來(lái)獲取所述干涉圖。

7、發(fā)明的效果

8、根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方式，能夠抑制因噪光的影響導(dǎo)致的精度的降低。

技術(shù)特征：

1.一種分光裝置，具備：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光裝置，其中，

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光裝置，其中，

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的分光裝置，其中，

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光裝置，其中，

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光裝置，其中，

7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的分光裝置，其中，

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光裝置，其中，

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分光裝置，其中，

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明抑制因噪光的影響導(dǎo)致的精度的降低。分光裝置(1)具備：光源(2)；量子光學(xué)系統(tǒng)(4)，其具有一個(gè)以上的非線性光學(xué)元件(12)，并且具備試樣配置器具(35)，所述非線性光學(xué)元件(12)通過(guò)糾纏光子對(duì)產(chǎn)生過(guò)程來(lái)從所述泵浦光產(chǎn)生閑頻光及信號(hào)光的光子對(duì)，所述試樣配置器具(35)用于將試樣(SP)配置在所述閑頻光的光路上；檢測(cè)部(6)，其檢測(cè)從所述量子光學(xué)系統(tǒng)(4)輸出的光的光強(qiáng)度；以及解析裝置(8)。所述量子光學(xué)系統(tǒng)(4)構(gòu)成為使第一、第二信號(hào)光(s1、s2)以互不相同的光程射出，所述檢測(cè)部(6)具備從所述量子光學(xué)系統(tǒng)(4)接收第一、第二信號(hào)光(s1、s2)的分束器(40)，所述檢測(cè)部(6)對(duì)從所述分束器(40)射出的兩束光各自的光強(qiáng)度進(jìn)行檢測(cè)，所述解析裝置(8)根據(jù)由所述檢測(cè)部(6)檢測(cè)到的所述兩束光來(lái)獲取干涉圖。

技術(shù)研發(fā)人員：久光守,若林直樹(shù),德田勝?gòu)?br/>受保護(hù)的技術(shù)使用者：株式會(huì)社島津制作所
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19