本技術(shù)涉及醫(yī)療設(shè)備測試，尤其涉及一種電源線拔插測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、現(xiàn)有的大多數(shù)醫(yī)療產(chǎn)品都是由ac(交流電源)和電池兩種方式供電，而產(chǎn)品在使用過程中難免會發(fā)生異常掉電的情況，如電池不在位或損壞、電源線松動或停電、ac不在位時儀器震動導(dǎo)致電池松動等。對于醫(yī)療儀器而言，即便在這種非正常使用情況時，醫(yī)療產(chǎn)品也需要確保自身能正常工作，即在非正常情況下也需要快速上電，以確保產(chǎn)品正常工作，從而保障患者的生命安全；因此需要在產(chǎn)品(尤其是治療類產(chǎn)品)的開發(fā)階段對儀器進(jìn)行多次上掉電模擬測試，以觀察每次掉電再啟動時的儀器狀況。但為了實(shí)時監(jiān)測每次測試的狀況，相關(guān)技術(shù)中通常采用手動測試的方式，該測試方式費(fèi)時費(fèi)力，測試效率較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型提供了一種電源線拔插測試系統(tǒng)，旨在解決相關(guān)技術(shù)中采用人工測試的方式效率較低的問題。

2、為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了一種電源線拔插測試系統(tǒng)，包括：電源排插、電源線、供電排插、控制單元及繼電器；所述電源線分別電性連接于所述電源排插及所述供電排插，所述供電排插用于電性連接待測儀器系統(tǒng)，所述待測儀器系統(tǒng)與所述控制單元通信連接，所述繼電器串聯(lián)于所述電源線的火線且與所述控制單元電性連接；所述控制單元包括單片機(jī)及開關(guān)管，所述開關(guān)管分別與所述單片機(jī)及所述繼電器電性連接，所述單片機(jī)與所述待測儀器系統(tǒng)通信連接。

3、進(jìn)一步地，所述開關(guān)管的柵極電性連接于所述單片機(jī)的輸入輸出接口，所述開關(guān)管漏極與所述繼電器電性連接，所述開關(guān)管源極接地。

4、進(jìn)一步地，所述控制單元還包括第一電阻、第二電阻及第三電阻；所述第一電阻電性接入所述單片機(jī)與所述開關(guān)管的柵極之間；所述第二電阻的兩端分別電性連接于所述開關(guān)管的柵極及源極；所述第三電阻的一端電性連接于所述開關(guān)管的漏極，所述第三電阻的另一端與所述繼電器電性連接。

5、進(jìn)一步地，所述繼電器的第一端與電源電性連接，所述繼電器的第二端與所述第三電阻電性連接，所述繼電器的第三端及第四端均與所述火線的第一端電性連接，所述繼電器的第五端及第六端均與所述火線的第二端電性連接。

6、進(jìn)一步地，所述電源線拔插測試系統(tǒng)還包括二極管，所述二極管的正極電性連接于所述第三電阻與所述繼電器的公共連接端，所述二極管的負(fù)極與所述繼電器的第一端電性連接。

7、進(jìn)一步地，所述電源線拔插測試系統(tǒng)還包括第一電容及第二電容，所述第一電容及所述第二電容的一端均與所述繼電器的第一端電性連接，第一電容及第二電容的另一端均接地。

8、進(jìn)一步地，所述待測儀器系統(tǒng)包括多個待測儀器，各所述待測儀器的電源輸入端均與所述供電排插電性連接；首個待測儀器的第一串口與所述單片機(jī)通信連接，所述首個待測儀器的第二串口與下一待測儀器的第一串口通信連接；最末尾的待測儀器的第一串口及第二串口均與所述單片機(jī)通信連接；其余的待測儀器的第一串口分別與上一待測儀器的第二串口通信連接，所述其余的待測儀器的第二串口分別與下一待測儀器的第一串口通信連接。

9、進(jìn)一步地，所述待測儀器系統(tǒng)包括多個待測儀器，各所述待測儀器的電源輸入端均與所述供電排插電性連接，各所述待測儀器的電源輸入端的第一串口及第二串口均與所述單片機(jī)通信連接。

10、進(jìn)一步地，所述電源線拔插測試系統(tǒng)還包括保險絲，所述保險絲的一端電性連接于所述火線的第一端，所述保險絲的另一端電性連接于所述電源排插。

11、進(jìn)一步地，所述待測儀器系統(tǒng)中待測儀器的電源開關(guān)兩端短接。

12、從上述描述可知，本申請通過將繼電器串接于電源線的火線中，并在控制單元中的單片機(jī)的程序設(shè)計下，自動控制開關(guān)管的通斷，從而控制繼電器的通斷及通斷時延，進(jìn)而控制火線的通斷，模擬儀器上掉電場景；并通過串口通訊的方式實(shí)現(xiàn)單片機(jī)與待測儀器系統(tǒng)的交互，以將測試結(jié)果數(shù)據(jù)如開關(guān)機(jī)正常次數(shù)返回至待測儀器系統(tǒng)，從而實(shí)現(xiàn)自動化測試，減少了人力成本且有效提高測試效率。

技術(shù)特征：

1.一種電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：電源排插、電源線、供電排插、控制單元及繼電器；所述電源線分別電性連接于所述電源排插及所述供電排插，所述供電排插用于電性連接待測儀器系統(tǒng)，所述待測儀器系統(tǒng)與所述控制單元通信連接，所述繼電器串聯(lián)于所述電源線的火線且與所述控制單元電性連接；所述控制單元包括單片機(jī)及開關(guān)管，所述開關(guān)管分別與所述單片機(jī)及所述繼電器電性連接，所述單片機(jī)與所述待測儀器系統(tǒng)通信連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，所述開關(guān)管的柵極電性連接于所述單片機(jī)的輸入輸出接口，所述開關(guān)管的漏極與所述繼電器電性連接，所述開關(guān)管的源極接地。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制單元還包括第一電阻、第二電阻及第三電阻；所述第一電阻電性接入所述單片機(jī)與所述開關(guān)管的柵極之間；所述第二電阻的兩端分別電性連接于所述開關(guān)管的柵極及源極；所述第三電阻的一端電性連接于所述開關(guān)管的漏極，所述第三電阻的另一端與所述繼電器電性連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，所述繼電器的第一端與電源電性連接，所述繼電器的第二端與所述第三電阻電性連接，所述繼電器的第三端及第四端均與所述火線的第一端電性連接，所述繼電器的第五端及第六端均與所述火線的第二端電性連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電源線拔插測試系統(tǒng)還包括二極管，所述二極管的正極電性連接于所述第三電阻與所述繼電器的公共連接端，所述二極管的負(fù)極與所述繼電器的第一端電性連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電源線拔插測試系統(tǒng)還包括第一電容及第二電容，所述第一電容及所述第二電容的一端均與所述繼電器的第一端電性連接，所述第一電容及所述第二電容的另一端均接地。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，所述待測儀器系統(tǒng)包括多個待測儀器，各所述待測儀器的電源輸入端均與所述供電排插電性連接；首個待測儀器的第一串口與所述單片機(jī)通信連接，所述首個待測儀器的第二串口與下一待測儀器的第一串口通信連接；最末尾的待測儀器的第一串口及第二串口均與所述單片機(jī)通信連接；其余的待測儀器的第一串口分別與上一待測儀器的第二串口通信連接，所述其余的待測儀器的第二串口分別與下一待測儀器的第一串口通信連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，所述待測儀器系統(tǒng)包括多個待測儀器，各所述待測儀器的電源輸入端均與所述供電排插電性連接，各所述待測儀器的第一串口及第二串口均與所述單片機(jī)通信連接。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電源線拔插測試系統(tǒng)還包括保險絲，所述保險絲的一端電性連接于所述火線的第一端，所述保險絲的另一端電性連接于所述電源排插。

10.根據(jù)權(quán)利要求1至9任一項所述的電源線拔插測試系統(tǒng)，其特征在于，所述待測儀器系統(tǒng)中待測儀器的電源開關(guān)兩端短接。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)提供了一種電源線拔插測試系統(tǒng)，包括：電源排插、電源線、供電排插、控制單元及繼電器；電源線分別電性連接于電源排插及供電排插，供電排插用于電性連接待測儀器系統(tǒng)，待測儀器系統(tǒng)與控制單元通信連接，繼電器串聯(lián)于電源線的火線且與控制單元電性連接；控制單元包括單片機(jī)及開關(guān)管，開關(guān)管分別與單片機(jī)及繼電器電性連接，單片機(jī)與待測儀器系統(tǒng)通信連接。通過本技術(shù)的實(shí)施，由單片機(jī)程序來控制開關(guān)管的通斷，進(jìn)而控制繼電器通斷，模擬儀器上掉電場景，并通過串口通訊實(shí)現(xiàn)單片機(jī)與待測儀器的交互以實(shí)現(xiàn)自動化測試，從而提高待測儀器性能測試的測試效率。

技術(shù)研發(fā)人員：孫云鵬
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市科曼醫(yī)療設(shè)備有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20231229
技術(shù)公布日：2024/12/19