本實(shí)用新型涉及實(shí)驗(yàn)分析儀器領(lǐng)域，具體涉及一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤。

背景技術(shù)：

目前在使用各類分析儀器進(jìn)行化學(xué)分析測(cè)試時(shí)，需要取樣設(shè)備將實(shí)驗(yàn)檢測(cè)樣品送入分析儀器，常見的取樣設(shè)備有樣品獲取和輸送功能，控制機(jī)構(gòu)根據(jù)輸入的樣品位，按需求取得和輸送樣品，現(xiàn)有取樣設(shè)備通常只具備樣品獲取和輸送功能，控制機(jī)構(gòu)無法得知哪些樣品位放置了樣品，必須通過人工確認(rèn)輸入。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)樣品位是否被占用并記錄在控制器內(nèi)，通過控制器進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳輸與接收，便于操作者進(jìn)行樣品位的管理與使用，提高工作效率，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，便于操作，用以解決現(xiàn)有技術(shù)導(dǎo)致的缺陷。

為解決上述技術(shù)問題本實(shí)用新型提供以下的技術(shù)方案：一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，固定于自動(dòng)進(jìn)樣器上用于分析實(shí)驗(yàn)時(shí)進(jìn)樣，其中，所述進(jìn)樣盤由樣品盤體、傳感裝置、控制器組成，所述樣品盤體上設(shè)有復(fù)數(shù)排放置試管的樣品位，每個(gè)所述樣品位的底部均設(shè)有所述傳感裝置，所述傳感裝置包括傳感器，所述傳感器設(shè)置于所述樣品位的下側(cè)，所述傳感器的外圍固定于所述樣品盤體的底部，所述樣品盤體與所述控制器均設(shè)置于所述自動(dòng)進(jìn)樣器上，所述控制器控制連接所述傳感器。

上述的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，其中，所述傳感器未固定于所述樣品盤體的一側(cè)有部分探出所述樣品位。

上述的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，其中，所述傳感器為接觸傳感器。

上述的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，其中，所述傳感器為壓電傳感器。

上述的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，其中，所述傳感器為電容式位移傳感器。

上述的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，其中，所述樣品位為圓形通孔。

上述的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，其中，設(shè)置于所述樣品盤體上同一排的所述圓形通孔的直徑均一致。

上述的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，其中，所述樣品盤體為樣品圓盤。

上述的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，其中，所述控制器內(nèi)部設(shè)有數(shù)據(jù)處理器與收發(fā)器。

依據(jù)上述本實(shí)用新型一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤提供的技術(shù)方案效果是：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品位是否被占用并記錄在控制器內(nèi)，通過控制器進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳輸與接收，便于操作者進(jìn)行樣品位的管理與使用，提高工作效率，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，便于操作。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤中單個(gè)樣品位的側(cè)面結(jié)構(gòu)示意圖。

其中，附圖標(biāo)記如下：進(jìn)樣盤101、樣品盤體102、傳感裝置103、控制器104、樣品位105、自動(dòng)進(jìn)樣器106、試管201。

具體實(shí)施方式

為了使實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)造特征、達(dá)成目的和功效易于明白了解，下結(jié)合具體圖示，進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型。

本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例是提供一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，目的是實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品位是否被占用并記錄在控制器內(nèi)，通過控制器進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳輸與接收，便于操作者進(jìn)行樣品位的管理與使用，提高工作效率，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，便于操作。

如圖1-2所示，一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，固定于自動(dòng)進(jìn)樣器106上用于分析實(shí)驗(yàn)時(shí)進(jìn)樣，其中，進(jìn)樣盤101由樣品盤體102、傳感裝置103、控制器104組成，樣品盤體102上設(shè)有復(fù)數(shù)排放置試管201的樣品位105，每個(gè)樣品位105的底部均設(shè)有傳感裝置103，傳感裝置103包括傳感器，傳感器設(shè)置于樣品位105的下側(cè)，傳感器的外圍固定于樣品盤體102的底部，樣品盤體102與控制器104均設(shè)置于自動(dòng)進(jìn)樣器106上，控制器104控制連接傳感器。

本實(shí)施例提供的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤采用的傳感器未固定于樣品盤體102的一側(cè)有部分探出樣品位105，當(dāng)試管201或者離心管放進(jìn)樣品位105時(shí)，試管201或離心管由于自重會(huì)接觸到部分探出樣品位105的傳感器。

本實(shí)施例提供的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤采用的傳感器為接觸傳感器，當(dāng)接觸傳感器觸碰到放置于樣品位105中的試管201時(shí)，控制器104與接觸傳感器連通并接收到使用信號(hào)，當(dāng)試管201離開樣品位105時(shí)，控制器104與接觸傳感器斷開連接。

本實(shí)施例提供的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤采用的樣品位105為圓形通孔。

本實(shí)施例提供的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤采用的設(shè)置于樣品盤體102上同一排的圓形通孔的直徑均一致。

本實(shí)施例提供的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤采用的樣品盤體102為樣品圓盤。

本實(shí)施例提供的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤采用的控制器104內(nèi)部設(shè)有數(shù)據(jù)處理器與收發(fā)器，將進(jìn)行儲(chǔ)存與統(tǒng)計(jì)后的數(shù)據(jù)發(fā)送至PC端，更加直觀的顯示出來。

第二實(shí)施例：

與第一實(shí)施例不同的是本實(shí)施例提供的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤采用的述傳感器為壓電傳感器，當(dāng)壓電傳感器觸碰到放置于樣品位105中的試管201時(shí)，控制器104與壓電傳感器連通并接收到使用信號(hào)，當(dāng)試管201離開樣品位105時(shí)，控制器104與電容式位移傳感器斷開連接。

第三實(shí)施例：

與第一實(shí)施例不同的是本實(shí)施例提供的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤采用的述傳感器為電容式位移傳感器，當(dāng)電容式位移傳感器觸碰到放置于樣品位105中的試管201時(shí)，控制器104與電容式位移傳感器連通并接收到使用信號(hào)，當(dāng)試管201離開樣品位105時(shí)，控制器104與電容式位移傳感器斷開連接。

綜上，本實(shí)用新型的一種設(shè)有傳感裝置的進(jìn)樣盤，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)樣品位是否被占用并記錄在控制器內(nèi)，通過控制器進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳輸與接收，便于操作者進(jìn)行樣品位的管理與使用，提高工作效率，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，便于操作。

以上對(duì)實(shí)用新型的具體實(shí)施例進(jìn)行了描述。需要理解的是，實(shí)用新型并不局限于上述特定實(shí)施方式，其中未盡詳細(xì)描述的設(shè)備和結(jié)構(gòu)應(yīng)該理解為用本領(lǐng)域中的普通方式予以實(shí)施；本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在權(quán)利要求的范圍內(nèi)做出各種變形或修改做出若干簡(jiǎn)單推演、變形或替換，這并不影響實(shí)用新型的實(shí)質(zhì)內(nèi)容。