技術(shù)總結(jié)
本實用新型涉及一種用于電力半導(dǎo)體芯片通態(tài)壓降測試用的自適應(yīng)電力半導(dǎo)體芯片測試適配器，包括下墊塊、芯片定位環(huán)、下探針絕緣套、彈簧支撐柱、香蕉插頭、門極探針絕緣套、上墊塊、陰極測試引出線、探針絕緣棒固定塊、探針絕緣棒、芯片上壓塊、陰極測試探針、門極觸發(fā)探針、緊頂螺絲、滑動定位銷，本實用新型可針對不同電力半導(dǎo)體芯片直徑、門極區(qū)和保護膠直徑自適應(yīng)調(diào)整測試取樣探針位置進行測試，可配套于電力半導(dǎo)體器件常規(guī)測試壓力夾具中，進行電力半導(dǎo)體芯片的通態(tài)壓降測試。本實用新型完成后現(xiàn)已應(yīng)用到測試設(shè)備中，完全滿足芯片實際測試要求，可滿足不同尺寸規(guī)格芯片的測試要求，提高了芯片測試效率，具有極大的推廣前景。

技術(shù)研發(fā)人員：李更生;饒瓊;肖秦梁;喬宇
受保護的技術(shù)使用者：西安派瑞功率半導(dǎo)體變流技術(shù)股份有限公司
文檔號碼：201720160662
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.22
技術(shù)公布日：2017.09.08