1.一種集成電路測試用的扁平探針，其特征在于：
包括上接觸端、彎折段和下接觸端，其中，彎折段設(shè)置有提供彈性變形并與上接觸端和下接觸端一體成型的彈簧部、以及用于導(dǎo)通的繼電部；
繼電部上端與上接觸端一體成型，其下端與下接觸端的側(cè)邊接觸固定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的扁平探針，其特征在于：繼電部的側(cè)面還與彈簧部接觸固定。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的扁平探針，其特征在于：下接觸端設(shè)置有一防止彈簧部在彈性壓縮時(shí)偏位的較寬平面段。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的扁平探針，其特征在于：下接觸端設(shè)置有一用于限位的L型臺階，繼電部其下端設(shè)置有適配的F型端部。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的扁平探針，其特征在于：上接觸端和下接觸端的探針頭分別設(shè)置為扁平平板結(jié)構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的扁平探針，其特征在于：上接觸端和下接觸端的探針頭形狀分別設(shè)置為P頭、B頭、T頭、F頭、W頭、M頭、V頭、O頭、R頭中的任意一種。