本發(fā)明涉及光學(xué)測距裝置的產(chǎn)品檢測領(lǐng)域，尤其是涉及一種檢測裝置。

背景技術(shù)：

目前，在研發(fā)過程中，對(duì)光電產(chǎn)品的光學(xué)特性、電學(xué)特性及其工作具體性能參數(shù)的檢測是必不可少的程序。在對(duì)光電產(chǎn)品光學(xué)特性的檢測中，特別是對(duì)透鏡裝置的檢測，在現(xiàn)有的技術(shù)中，通常使用的檢測方式為根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)鏡片的尺寸進(jìn)行比較。但是，通過這種方式僅僅能檢測出透鏡的尺寸偏差，并不能檢測出透鏡在應(yīng)用到整體部件中的性能，比如通過透鏡測出的性能參數(shù)是否在既定的光電裝置光學(xué)性能要求范圍內(nèi)。

測量偏心的方法是通過讓樣品旋轉(zhuǎn)，通過平行光入射（透射或反射）樣品的焦平面（或曲率中心）上十字叉絲的跳動(dòng)來判斷偏心大小。用以測量偏心的透鏡檢測裝置有透鏡定中心儀、焦距儀等，主要是通過非接觸式的方式以透射式或透反式兩種方式進(jìn)行誤差的定量測量。

上述兩種方式用于測量和判定透鏡的各項(xiàng)參數(shù)誤差的操作均較為復(fù)雜，對(duì)于整體的透鏡的性能是否適用于測量裝置還需要進(jìn)一步的加權(quán)計(jì)算，加大了測量結(jié)果的誤差。同理，對(duì)于測距裝置的電路板、光源、接收模塊往往采用專門的電路進(jìn)行測量，然后經(jīng)過不同的計(jì)算得出相應(yīng)的參數(shù)誤差，采用的測量工具較多，采取的測量方式較多，增大了測量成本，加大了測量的誤差。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了解決上述問題，本發(fā)明提供一種能夠通過測出的性能參數(shù)判斷待測對(duì)象是否在既定的光電測距裝置對(duì)光學(xué)性能的要求范圍內(nèi)的檢測裝置，采用如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)：

一種檢測裝置，包括反射結(jié)構(gòu)和光學(xué)測距裝置，所述光學(xué)測距裝置安放有至少一個(gè)可拆卸待測測試元件，所述反射結(jié)構(gòu)和光學(xué)測距裝置的間距可調(diào)，所述光學(xué)測距裝置在每個(gè)設(shè)定的測試點(diǎn)位測量其與反射結(jié)構(gòu)的間距并輸出測量距離或測量光強(qiáng)，通過在每一個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的真實(shí)距離和測量距離的比對(duì)或真實(shí)距離和測量光強(qiáng)的比對(duì)，以確定光學(xué)測距裝置上的待測測試元件是否合格。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述光學(xué)測距裝置包括光源、電路板、用于會(huì)聚發(fā)射光束的發(fā)射光學(xué)組件、用于會(huì)聚反射光束的接收光學(xué)組件和接收模塊，所述電路板驅(qū)動(dòng)光源發(fā)出光束，所述光束入射到反射結(jié)構(gòu)，所述接收模塊接收反射結(jié)構(gòu)反射后的光束，所述光源、電路板、發(fā)射光學(xué)組件、接收光學(xué)組件和接收模塊中的至少一個(gè)或幾個(gè)可拆卸設(shè)置于光學(xué)測距裝置中。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，還包括驅(qū)動(dòng)裝置和控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)通過驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)所述光學(xué)測距裝置或反射結(jié)構(gòu)逐一經(jīng)過測試點(diǎn)位。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述測試點(diǎn)位由控制系統(tǒng)根據(jù)驅(qū)動(dòng)裝置的運(yùn)行參數(shù)計(jì)算并確定；

或者，所述測試點(diǎn)位由真實(shí)距離標(biāo)定裝置測量并標(biāo)定后將相應(yīng)的信號(hào)傳輸至控制系統(tǒng)。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述驅(qū)動(dòng)裝置包括驅(qū)動(dòng)器和步進(jìn)電機(jī)，所述步進(jìn)電機(jī)通過齒輪齒條結(jié)構(gòu)或絲桿螺母結(jié)構(gòu)與反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置相連接；

或者，所述驅(qū)動(dòng)裝置包括驅(qū)動(dòng)器和直線電機(jī)，所述直線電機(jī)的輸出軸直接連接反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述絲桿螺母結(jié)構(gòu)包括設(shè)置在所述反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置下方的螺母座，以及螺接在所述螺母座內(nèi)且與螺母座相適配的絲桿，所述絲桿的固定端與步進(jìn)電機(jī)的傳動(dòng)軸相連接，所述絲桿的另一端穿設(shè)在支撐座上。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述絲桿的固定端和支撐座分別對(duì)應(yīng)設(shè)置有限位開關(guān)，所述限位開關(guān)在其與對(duì)應(yīng)絲桿端部的實(shí)測距離小于等于設(shè)定安全距離值時(shí)，向控制系統(tǒng)發(fā)出信號(hào)，收到信號(hào)后所述控制系統(tǒng)指令驅(qū)動(dòng)裝置停止移動(dòng)。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述檢測裝置還包括與反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置的設(shè)定測試路徑相平行的直線光軸導(dǎo)軌，與驅(qū)動(dòng)裝置相連接的反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置套設(shè)在直線光軸導(dǎo)軌上，且所述反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置只可沿與直線光軸導(dǎo)軌相平行的設(shè)定測試路徑移動(dòng)。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述接收模塊包括感光芯片和/或計(jì)時(shí)芯片；所述光源為led光源或者激光光源。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，光源為兩個(gè)或四個(gè)，兩個(gè)或四個(gè)所述光源分別對(duì)稱設(shè)置在接收模塊的兩側(cè)。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述檢測裝置還包括外殼底座，所述外殼底座上設(shè)置有用于安裝光源、發(fā)射光學(xué)組件、接收光學(xué)組件、電路板和接收模塊的安裝槽，所述外殼底座上方還設(shè)置有用于定位發(fā)射光學(xué)組件和接收光學(xué)組件的定位透鏡上蓋，以及用于定位電路板的定位電路板上蓋。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，還包括沿豎直方向上下移動(dòng)并在設(shè)定高度定位的升降臺(tái)，所述光學(xué)測距裝置或者反射結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述升降臺(tái)上。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，還包括將所述反射結(jié)構(gòu)和光學(xué)測距裝置封裝起來的殼體，所述殼體上開設(shè)有用于更換待測測試元件的側(cè)開門。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述殼體由透明材料制成。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述發(fā)射光學(xué)組件包括設(shè)置在發(fā)射光路上的發(fā)射透鏡，每條發(fā)射光路上對(duì)應(yīng)設(shè)置有一個(gè)發(fā)射透鏡。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述接收光學(xué)組件包括沿接收光路自外而內(nèi)依次設(shè)置的接收外透鏡和接收內(nèi)透鏡。

本發(fā)明還提供了一種檢測方法，將待測測試元件對(duì)應(yīng)安裝在光學(xué)測距裝置上，通過驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)驅(qū)動(dòng)反射結(jié)構(gòu)或光學(xué)測距裝置連續(xù)運(yùn)動(dòng)并逐一經(jīng)過設(shè)定的測試點(diǎn)位，所述光學(xué)測距裝置在每個(gè)測試點(diǎn)位測量并輸出測量距離，對(duì)每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量距離和真實(shí)距離比對(duì)，判斷待測測試元件是否合格；

或者，對(duì)每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量光強(qiáng)和真實(shí)距離比對(duì)，判斷待測測試元件是否合格。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，采用比值法對(duì)每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量距離an和真實(shí)距離an或者測量光強(qiáng)in和真實(shí)距離an進(jìn)行比對(duì)：

每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量距離an和真實(shí)距離an的比值pn的數(shù)值范圍在（k1，k2）之間時(shí)，待測測試元件合格；

或者，每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)的測量光強(qiáng)in和真實(shí)距離an的比值qn的數(shù)值范圍在（k3，k4）之間時(shí)，待測測試元件合格；

其中，所述n為大于等于1的自然數(shù)，所述k1、k2、k3和k4為常數(shù)，且k2大于k1，k4大于k3。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述pn中n的取值為m，則從p1到pm這m個(gè)數(shù)值中最多有n-1個(gè)在（k1，k2）之外，則pn所對(duì)應(yīng)的待測測試元件為合格；

或者，所述qn中n的取值為m，則從q1到qm這m個(gè)數(shù)值中最多有n-1個(gè)在（k3，k4）之外，則qn所對(duì)應(yīng)的待測測試元件為合格；

m為大于1的自然數(shù)，n為大于等于1的自然數(shù)，且m大于n-1。

作為本技術(shù)方案的優(yōu)選方案之一，所述pn中n的取值為80，則p1到p80這80個(gè)數(shù)值中最多有5個(gè)在設(shè)定的（k1，k2）之外，滿足前述條件的待測測試元件為合格；

或者，所述qn中n的取值為80，則q1到q80這80個(gè)數(shù)值中最多有5個(gè)在設(shè)定的（k3，k4）之外，滿足前述條件的待測測試元件為合格。

本發(fā)明針對(duì)待測對(duì)象產(chǎn)品在實(shí)際使用的環(huán)境，創(chuàng)造一個(gè)小型系統(tǒng)，針對(duì)某一個(gè)或者某幾個(gè)測試元件的組合進(jìn)行綜合的數(shù)據(jù)測量，利用了光學(xué)測距裝置的光學(xué)測速快速高效的特性，比對(duì)快速準(zhǔn)確，適用多種測試元件，一機(jī)多用，節(jié)省檢測設(shè)備的占用空間。在本發(fā)明中由實(shí)驗(yàn)多次測量標(biāo)定的檢測標(biāo)準(zhǔn)以及誤差作為判斷的標(biāo)準(zhǔn)，判斷透鏡是否合格，同時(shí)可檢測出透鏡的一致性，因而增強(qiáng)了對(duì)透鏡的甄別，并有效的建立了透鏡的數(shù)據(jù)庫，增強(qiáng)了透鏡測試的可追溯性。

附圖說明

圖1為本發(fā)明檢測裝置的光路圖。

圖2為本發(fā)明檢測裝置的整體裝配示意圖。

圖3為本發(fā)明檢測裝置的外殼底座的結(jié)構(gòu)示意圖。

1-發(fā)射透鏡；2-反射結(jié)構(gòu)；3-接收外透鏡；4-接收內(nèi)透鏡；5-支承座；6-限位開關(guān)；7-外殼底座；8-螺母座；9-絲杠；10-直線光軸導(dǎo)軌；11-固定端；12-聯(lián)軸器；13-步進(jìn)電機(jī)；14-控制系統(tǒng)；15-驅(qū)動(dòng)器；16-殼體；17-升降臺(tái)；18-定位透鏡上蓋；19-定位電路板上蓋；20-電路板。

具體實(shí)施方式

實(shí)施例1

本發(fā)明提供了一種檢測裝置，如圖2所示，包括：包括反射結(jié)構(gòu)2和光學(xué)測距裝置，所述光學(xué)測距裝置安放有至少一個(gè)可拆卸待測測試元件，所述反射結(jié)構(gòu)2和光學(xué)測距裝置的間距可調(diào)，所述光學(xué)測距裝置在每個(gè)設(shè)定的測試點(diǎn)位測量其與反射結(jié)構(gòu)2的間距并輸出測量距離或測量光強(qiáng)，通過在每一個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的真實(shí)距離和測量距離的比對(duì)或真實(shí)距離和測量光強(qiáng)的比對(duì)，以確定光學(xué)測距裝置上的待測測試元件是否合格。

通過安放有至少一個(gè)可拆卸待測測試元件的所述光學(xué)測距裝置和作為光學(xué)測距裝置的測量目標(biāo)的反射結(jié)構(gòu)2的結(jié)構(gòu)設(shè)置，創(chuàng)造一個(gè)完整的測試系統(tǒng)，針對(duì)某一個(gè)或者某幾個(gè)測試元件的組合進(jìn)行綜合的數(shù)據(jù)測量，利用了光學(xué)測距裝置的光學(xué)測速快速高效的特性，比對(duì)快速準(zhǔn)確，適用多種待測測試元件的檢測，一機(jī)多用，節(jié)省檢測設(shè)備的占用空間。具體應(yīng)用中，所述光學(xué)測距裝置可以是采用tof時(shí)間法的脈沖光學(xué)測距裝置或者相位法光學(xué)測距裝置，還可以是采用三角法的光學(xué)測距裝置。

優(yōu)選的，如圖1所示，所述光學(xué)測距裝置包括光源、電路板20、用于會(huì)聚發(fā)射光束的發(fā)射光學(xué)組件、用于會(huì)聚反射光束的接收光學(xué)組件和接收模塊，所述接收模塊包括感光芯片和/或計(jì)時(shí)芯片。所述電路板20驅(qū)動(dòng)光源發(fā)出光束，所述光束入射到反射結(jié)構(gòu)2并反射，所述接收模塊接收反射結(jié)構(gòu)2反射后的光束，所述光源、電路板20、發(fā)射光學(xué)組件、接收光學(xué)組件和接收模塊中的至少一個(gè)或幾個(gè)可拆卸設(shè)置于光學(xué)測距裝置中。

為了進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制和運(yùn)行，所述檢測裝置還包括驅(qū)動(dòng)裝置和控制系統(tǒng)14，所述控制系統(tǒng)14通過驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)所述反射結(jié)構(gòu)2逐一經(jīng)過測試點(diǎn)位，所述驅(qū)動(dòng)裝置的運(yùn)行參數(shù)由所述控制系統(tǒng)14設(shè)定并根據(jù)具體的測試要求進(jìn)行修改。所述測試點(diǎn)位由測試人員根據(jù)測試需要具體設(shè)定，在測試的過程中測試點(diǎn)位的確定由控制系統(tǒng)14根據(jù)驅(qū)動(dòng)裝置的運(yùn)行參數(shù)計(jì)算并確定。

所述驅(qū)動(dòng)裝置有多種選擇，例如，所述驅(qū)動(dòng)裝置包括驅(qū)動(dòng)器15和直線電機(jī)，所述直線電機(jī)的輸出軸直接連接反射結(jié)構(gòu)2?；蛘?，所述驅(qū)動(dòng)裝置包括驅(qū)動(dòng)器15和步進(jìn)電機(jī)13。

作為優(yōu)選項(xiàng)的，所述驅(qū)動(dòng)裝置包括驅(qū)動(dòng)器15和步進(jìn)電機(jī)13，所述反射結(jié)構(gòu)2可以直接在步進(jìn)電機(jī)13直接驅(qū)動(dòng)下沿設(shè)定測試路徑運(yùn)行，所述反射結(jié)構(gòu)2的真實(shí)距離可以通過記錄步進(jìn)電機(jī)13的轉(zhuǎn)速和轉(zhuǎn)動(dòng)圈數(shù)得出。所述步進(jìn)電機(jī)13通過齒輪齒條結(jié)構(gòu)或絲桿螺母結(jié)構(gòu)與反射結(jié)構(gòu)2相連接；所述絲桿螺母結(jié)構(gòu)或齒輪齒條結(jié)構(gòu)均用于推動(dòng)反射結(jié)構(gòu)2相對(duì)于光學(xué)測距裝置移動(dòng)。

為了保證反射結(jié)構(gòu)2移動(dòng)呈直線且保持連貫，所述絲桿螺母結(jié)構(gòu)包括設(shè)置在所述反射結(jié)構(gòu)2下方的螺母座8，以及螺接在所述螺母座8內(nèi)且與螺母座8相適配的絲桿9，所述絲桿9的固定端11與步進(jìn)電機(jī)13的傳動(dòng)軸相連接，所述絲桿9的另一端穿設(shè)在支撐座5上。優(yōu)選的，所述絲桿9的固定端11通過聯(lián)軸器12與步進(jìn)電機(jī)13的傳動(dòng)軸相連接。所述控制系統(tǒng)14通過步進(jìn)電機(jī)13和驅(qū)動(dòng)器15控制絲桿9轉(zhuǎn)動(dòng)以帶動(dòng)反射結(jié)構(gòu)2運(yùn)行，每一個(gè)測試點(diǎn)位對(duì)應(yīng)一個(gè)絲桿9轉(zhuǎn)動(dòng)的圈數(shù)數(shù)值，當(dāng)絲桿9帶動(dòng)反射結(jié)構(gòu)2轉(zhuǎn)至設(shè)定的圈數(shù)數(shù)值時(shí)，控制系統(tǒng)14記錄測試點(diǎn)位真實(shí)距離an。螺母座8和絲桿9相配合的結(jié)構(gòu)，提高了反射結(jié)構(gòu)2沿測試路徑運(yùn)行的穩(wěn)定性，同時(shí)，通過記錄絲桿9的轉(zhuǎn)動(dòng)圈數(shù)來記錄反射結(jié)構(gòu)2的真實(shí)距離其更為準(zhǔn)確，干擾更小。

為了防止反射結(jié)構(gòu)2和光學(xué)測距裝置的間距超過設(shè)定測量最大范圍或者絲桿9脫出螺母座8，所述絲桿9的固定端11和支撐座5分別對(duì)應(yīng)設(shè)置有限位開關(guān)6，所述限位開關(guān)6在其與對(duì)應(yīng)絲桿9端部的實(shí)測距離小于等于設(shè)定安全距離值時(shí)，向控制系統(tǒng)14發(fā)出信號(hào)，收到信號(hào)后所述控制系統(tǒng)14指令驅(qū)動(dòng)裝置停止移動(dòng)。

所述限位開關(guān)6為行程開關(guān)或霍爾接近開關(guān)。優(yōu)選的，所述限位開關(guān)6為npn常開型的霍爾接近開關(guān)，其檢測距離為1cm。在霍爾接近開關(guān)的探頭探測到距其1cm內(nèi)有磁鐵時(shí)，所述霍爾接近開關(guān)向與其相連接的控制系統(tǒng)14發(fā)出信號(hào)，所述控制系統(tǒng)14指令驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)停止移動(dòng)；進(jìn)一步的，所述檢測裝置還包括警示燈，所述警示燈連接霍爾接近開關(guān)或控制板，在霍爾接近開關(guān)的探頭探測到距其1cm內(nèi)有磁鐵時(shí)，所述警示燈亮，以提醒測試者進(jìn)行下一個(gè)測試步驟或下一次測試，優(yōu)選的，所述警示燈為led警示燈。

所述檢測裝置還包括與反射結(jié)構(gòu)2或光學(xué)測距裝置的設(shè)定測試路徑相平行的直線光軸導(dǎo)軌10，與驅(qū)動(dòng)裝置相連接的反射結(jié)構(gòu)2套設(shè)在直線光軸導(dǎo)軌10上，且所述反射結(jié)構(gòu)2或光學(xué)測距裝置只可沿與直線光軸導(dǎo)軌10相平行的設(shè)定測試路徑移動(dòng)。所述反射結(jié)構(gòu)2可以通過與直線光軸導(dǎo)軌10相適配的套環(huán)與直線光軸導(dǎo)軌10相套接，以保證測試路徑始終與直線光軸導(dǎo)軌10相平行。

所述光源為led光源或者激光光源，所述光源的數(shù)量不限，可以是一個(gè)，兩個(gè)或多個(gè)。優(yōu)選的，所述光源為兩個(gè)或四個(gè)，兩個(gè)或四個(gè)所述光源分別對(duì)稱設(shè)置在接收模塊的兩側(cè)。

所述發(fā)射光學(xué)組件和/或所述接收光學(xué)組件為透鏡或透鏡組件。所述透鏡組件包括多個(gè)透鏡的排列組合，或者單個(gè)、多個(gè)透鏡與功能膜片的組合。所述發(fā)射光學(xué)組件包括設(shè)置在發(fā)射光路上的發(fā)射透鏡1，每條發(fā)射光路上對(duì)應(yīng)設(shè)置有一個(gè)發(fā)射透鏡1。所述接收光學(xué)組件包括沿接收光路自外而內(nèi)依次設(shè)置的接收外透鏡3和接收內(nèi)透鏡4。

至少對(duì)應(yīng)每個(gè)測試點(diǎn)位處，兩個(gè)對(duì)稱設(shè)置在接收光學(xué)組件兩側(cè)的led燈在電路板20驅(qū)動(dòng)下發(fā)出光束，如圖1所示，所述光束通過對(duì)應(yīng)的發(fā)射透鏡1后射向反射結(jié)構(gòu)2，經(jīng)反射結(jié)構(gòu)2反射后依次經(jīng)過接收外透鏡3和接收內(nèi)透鏡4進(jìn)入接收模塊。

優(yōu)選的，所述驅(qū)動(dòng)器15為兩相步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器，型號(hào)為：vicsr2，所述步進(jìn)電機(jī)13型號(hào)為stp-42d2138-02，所述絲桿9為滾珠絲桿。所述控制系統(tǒng)14線連接兩相步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行供電，直線光軸導(dǎo)軌10線連接驅(qū)動(dòng)器15的控制端，直線光軸導(dǎo)軌10的另外一個(gè)端口連接光學(xué)測距裝置。兩相步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器的四個(gè)端口與步進(jìn)電機(jī)13相連，步進(jìn)電機(jī)13通過聯(lián)軸器12帶動(dòng)滾珠絲桿，當(dāng)步進(jìn)電機(jī)13驅(qū)動(dòng)滾珠絲桿運(yùn)動(dòng)時(shí)，滾珠絲杠帶動(dòng)著反射結(jié)構(gòu)2在水平方向上移動(dòng)，所述光學(xué)測距裝置可以一直測試，由控制系統(tǒng)14提取每一個(gè)測試點(diǎn)位對(duì)應(yīng)的真實(shí)距離和測試距離或測試光強(qiáng)；或者也可以由控制系統(tǒng)14在每一個(gè)測試點(diǎn)位指令光學(xué)測距裝置測距，在測試點(diǎn)位之間指令光學(xué)測距裝置停止測距。

具體實(shí)施時(shí)，所述控制系統(tǒng)14也可以通過驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)所述光學(xué)測距裝置逐一經(jīng)過測試點(diǎn)位，整體技術(shù)方案與上述技術(shù)內(nèi)容相類同，不再贅述。

實(shí)施例2

與實(shí)施例1不同的是，如圖3所示，所述檢測裝置還包括外殼底座7，所述外殼底座7上設(shè)置有用于安裝光源、發(fā)射光學(xué)組件、接收光學(xué)組件、電路板20和接收模塊的安裝槽，所述外殼底座7上方還設(shè)置有用于定位發(fā)射光學(xué)組件和接收光學(xué)組件的定位透鏡上蓋18，以及用于定位電路板20的定位電路板上蓋19。所述具有安裝槽的外殼底座7的結(jié)構(gòu)設(shè)置實(shí)現(xiàn)了檢測裝置的集成化，使得更換測試元件更為快速方便。

為了便于調(diào)整光學(xué)測距裝置和反射結(jié)構(gòu)2的相對(duì)高度，所述檢測裝置還包括可沿豎直方向上下移動(dòng)并在設(shè)定高度定位的升降臺(tái)17，所述光學(xué)測距裝置或者反射結(jié)構(gòu)2設(shè)置在所述升降臺(tái)17上。

為了進(jìn)一步降低外部環(huán)境的干擾，所述檢測裝置還包括將所述反射結(jié)構(gòu)2和光學(xué)測距裝置封裝起來的殼體16，所述殼體16上開設(shè)有用于更換待測測試元件的側(cè)開門。所述殼體16的設(shè)置，減少了實(shí)驗(yàn)時(shí)外部的碰觸和干擾。

優(yōu)選的，所述殼體16由透明材料制成?？梢郧宄庇^的觀察檢測裝置的結(jié)構(gòu)及測試過程。

實(shí)施例3

與實(shí)施例1-2不同的是，所述檢測裝置還包括真實(shí)距離標(biāo)定裝置，所述真實(shí)距離標(biāo)定裝置用于校準(zhǔn)所述驅(qū)動(dòng)裝置所標(biāo)出的真實(shí)距離的誤差。所述真實(shí)距離標(biāo)定裝置可以是直尺、光電門等測距裝置。

或者，所述真實(shí)距離標(biāo)定裝置實(shí)時(shí)測量出所述反射結(jié)構(gòu)2與所述光學(xué)測距裝置的間距并至少將每一個(gè)測試點(diǎn)位的真實(shí)測距信息傳輸至控制系統(tǒng)14，由控制系統(tǒng)14控制光學(xué)測距裝置至少在測試點(diǎn)位進(jìn)行其與反射結(jié)構(gòu)2的間距的測量。

優(yōu)選的，所述真實(shí)距離標(biāo)定裝置是光電門，所述光電門連接控制系統(tǒng)14。當(dāng)然，所述真實(shí)距離標(biāo)定裝置包含但不限于直尺和光電門，可擴(kuò)展到測量領(lǐng)域的任何測量工具。

實(shí)施例4

本發(fā)明還提供了一種檢測方法，將待測測試元件對(duì)應(yīng)安裝在光學(xué)測距裝置上，通過驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)驅(qū)動(dòng)反射結(jié)構(gòu)2或光學(xué)測距裝置連續(xù)運(yùn)動(dòng)并逐一經(jīng)過設(shè)定的測試點(diǎn)位，所述光學(xué)測距裝置在每個(gè)測試點(diǎn)位測量并輸出測量距離an，對(duì)每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量距離an和真實(shí)距離an比對(duì)，判斷待測測試元件是否合格。對(duì)每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量距離an和真實(shí)距離an比對(duì)有多種比對(duì)方法，可以是函數(shù)法，比值法，差值法等。

優(yōu)選的，采用比值法對(duì)每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量距離an和真實(shí)距離an進(jìn)行比對(duì)：每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量距離an和真實(shí)距離an的比值pn的數(shù)值范圍在（k1，k2）之間時(shí)，待測測試元件合格。其中，所述n為大于等于1的自然數(shù)，所述k1和k2為常數(shù)，且k2大于k1。

優(yōu)選的，為了盡可能的排除偶然因素的影響，采用aql抽樣方式，提高了檢測的科學(xué)性和合理性，所述pn中n的取值為m，則從p1到pm這m個(gè)數(shù)值中最多有n-1個(gè)在（k1，k2）之外，則pn所對(duì)應(yīng)的待測測試元件為合格；

m為大于1的自然數(shù)，n為大于等于1的自然數(shù)，且m大于n-1。當(dāng)p1到pm這m個(gè)數(shù)值中至少有n個(gè)在設(shè)定的（k1，k2）之外，則滿足前述條件的pn所對(duì)應(yīng)的待測元件為不合格。不合格的待測元件需要返回供應(yīng)商處進(jìn)行相應(yīng)的修改或調(diào)換。

具體實(shí)施時(shí)，以所述pn中n的取值為80為例，則p1到p80這80個(gè)數(shù)值中最多有5個(gè)在設(shè)定的（k1，k2）之外，滿足前述條件的待測測試元件為合格；則p1到p80這80個(gè)數(shù)值中至少有6個(gè)在設(shè)定的（k1，k2）之外，滿足前述條件的待測測試元件為不合格。

實(shí)施例5

與實(shí)施例4不同的是，所述光學(xué)測距裝置具有感光芯片，所述光學(xué)測距裝置在每個(gè)測試點(diǎn)位測量并輸出測量光強(qiáng)in，對(duì)每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量光強(qiáng)in和真實(shí)距離an比對(duì)，判斷待測測試元件是否合格。對(duì)每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量光強(qiáng)in和真實(shí)距離an比對(duì)有多重比對(duì)方法，可以是函數(shù)法，比值法，差值法等。

優(yōu)選的，采用比值法對(duì)每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量光強(qiáng)in和真實(shí)距離an進(jìn)行比對(duì)：

每個(gè)測試點(diǎn)位的光學(xué)測距裝置與反射結(jié)構(gòu)2的測量光強(qiáng)in和真實(shí)距離an判的比值qn的數(shù)值范圍在（k3，k4）之間時(shí)，待測測試元件合格。其中，所述n為大于等于1的自然數(shù)，所述k3和k4為常數(shù)，k4大于k3。

優(yōu)選的，為了盡可能的排除偶然因素的影響，采用aql抽樣方式，提高了檢測的科學(xué)性和合理性，所述qn中n的取值為m，則從q1到qm這m個(gè)數(shù)值中最多有n-1個(gè)在設(shè)定的（k3，k4）之外，則qn所對(duì)應(yīng)的待測測試元件為合格；m為大于1的自然數(shù)，n為大于等于1的自然數(shù)，且m大于n-1。

具體實(shí)施時(shí)，所述qn中n的取值為80，則q1到q80這80個(gè)數(shù)值中最多有5個(gè)在設(shè)定的（k3，k4）之外，滿足前述條件的待測測試元件為合格。

本發(fā)明利用控制變量法、比較法，根據(jù)實(shí)際需要設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值與誤差，測試待測對(duì)象在實(shí)際環(huán)境中的效果，透鏡本身所作用的探頭是在相對(duì)移動(dòng)的環(huán)境下進(jìn)行測量，本發(fā)明創(chuàng)造設(shè)計(jì)出這樣一個(gè)完整的系統(tǒng)，其中包括機(jī)械結(jié)構(gòu)部分以及電子程序部分。目前，透鏡檢測技術(shù)均為對(duì)于透鏡自身的檢測，本發(fā)明的靈敏度很高，可檢測出透鏡在整個(gè)過程中的異常問題，包括透鏡的裝反、污漬、劃痕。本發(fā)明作為一個(gè)可以獨(dú)立運(yùn)作的產(chǎn)品，檢測裝置還可以開發(fā)拓展出其他的功能，比如對(duì)整個(gè)光學(xué)測距裝置或是對(duì)光學(xué)電路板的檢測。

以上所述的僅是本發(fā)明的優(yōu)選的實(shí)施方式。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的情況下，還可以作出若干改進(jìn)和變型，這也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。