技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供的是一種多功能鈮酸鋰集成器件的偏振性能測(cè)量方法。同時(shí)對(duì)波導(dǎo)芯片消光比、光纖的耦合串音、波導(dǎo)輸入輸出端光纖的分布式消光比進(jìn)行測(cè)量；利用不同偏振角度的起偏器和檢偏器對(duì)波導(dǎo)進(jìn)行多次測(cè)量，得到波導(dǎo)輸入/輸出端光纖內(nèi)部的串?dāng)_數(shù)據(jù)，計(jì)算串?dāng)_數(shù)據(jù)的能量分布曲線，得到光纖的分布式消光比；測(cè)量得到帶有芯片消光比、耦合串音信息的干涉圖樣，利用干涉圖樣中左右對(duì)稱的干涉峰測(cè)量消光比和串音，判斷左右兩端測(cè)量結(jié)果的差值是否滿足要求，如果差值較大需要重新測(cè)量，直至結(jié)果符合要求為止。該方法充分利用白光干涉精度高，動(dòng)態(tài)范圍大的特點(diǎn)，對(duì)探測(cè)到的偏振串?dāng)_數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量，使測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠。

技術(shù)研發(fā)人員：楊軍;侯成城;喻張俊;張浩亮;苑勇貴;彭峰;李寒陽(yáng);苑立波
受保護(hù)的技術(shù)使用者：哈爾濱工程大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.29
技術(shù)公布日：2017.11.03