技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明是關(guān)于一種XRF分析的基體校正系數(shù)的計算方法，包括，根據(jù)待測物品的化學(xué)成分及各成分的質(zhì)量百分含量，設(shè)計樣品的化學(xué)成分及各成分的質(zhì)量百分含量，所述的待測物品至少包含待測成分i、和輔助成分k；利用Sherman方程，計算待測成分i在待測物品中的X射線熒光強度Ri和待測成分i在設(shè)計樣品中的X射線熒光強度Ri′；根據(jù)所述的R和R′，計算輔助成分k對待測成分i的基體校正系數(shù)αik，所述的設(shè)計樣品各成分的質(zhì)量百分含量總和等于所述的待測物品各成分的質(zhì)量百分含量總和。本發(fā)明提供的計算方法得到的基體校正系數(shù)更加準確可信。

技術(shù)研發(fā)人員：馬振珠;劉玉兵;韓蔚;鄧賽文;戴平;盧娟娟;田駿
受保護的技術(shù)使用者：中國建材檢驗認證集團股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.26
技術(shù)公布日：2017.10.24