本發(fā)明屬于全反射x熒光光譜儀的設計，具體涉及一種全反射x熒光光譜儀的樣品盤定位裝置。

背景技術：

全反射x熒光光譜儀(txrf)具有靈敏度高(pg-ng)，樣品用量少(ng-μg，包括微米級微塵樣品)，定量準確、樣品無需消化，即可直接和多元素同時分析等一系列突出優(yōu)點。txrf體積小，可帶到取樣現(xiàn)場，能夠分析中子活化(naa)不能分析的pb，s，as等元素。

txrf與普通的ed-xrf不同之處在于經(jīng)過切割反射體，當x射線發(fā)生全反射時，入射x射線和出射線的強度相等，消除了原級x射線在反射體上的相干和不相干散射現(xiàn)象，使散射本底降低了3個多量級，從而大大提高了峰背比。txrf就是利用x射線全反射原理，將樣品在反射體兼樣品架上涂成薄層進行激發(fā)，達到降低散射本底、提高峰背比，以實現(xiàn)痕量元素分析的一項高新分析技術。

txrf樣品架的位置位于探測器正下方，用于承載樣品盤，第二次全反射應該發(fā)生在樣品盤表面中部。對mo靶x射線熒光全反射角度為0.1度，微小的位置變化會造成很大的誤差，因此，對樣品架及定位裝置精度要求嚴格。

布魯克的txrf儀的樣品盤是豎直放置，固定樣品盤采用夾片式固定方式，將樣品架向外拉出，裝樣后將樣品架送入進行測量，這種裝樣方式對固體微塵顆粒樣品測量存在困難。

對于水平裝樣系統(tǒng)，不適合采用夾片式樣品架及定位，樣品架裝在入射光方向及兩側都會影響入射光到達樣品盤表面，裝在出射光方向影響樣品放入與取出，不方便儀器調試。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于針對現(xiàn)有技術中存在的問題，提供一種適用于水平裝樣系統(tǒng)的全反射x熒光光譜儀的樣品盤定位裝置，方便儀器調試及裝放樣品和定位。

本發(fā)明的技術方案如下：一種全反射x熒光光譜儀的樣品盤定位裝置，包括位于探測器下方的樣品盤架，樣品盤架的底面能夠水平抽拉，樣品盤水平設置于樣品盤架的底面上，在樣品盤架底面的下方設有壓緊裝置，在樣品盤架兩側邊框上設有水平定位裝置。

進一步，如上所述的全反射x熒光光譜儀的樣品盤定位裝置，其中，所述的壓緊裝置包括傾斜設置的壓板和與壓板端部連接的升降軸，所述升降軸的上端連接有彈簧，彈簧的頂端設有鋼珠，當樣品盤處于測量位置時，通過樣品盤架的底面下壓所述壓緊裝置的壓板一側，使壓板另一側端部的升降軸向上運動頂起所述鋼珠，從而壓緊樣品盤。

進一步，如上所述的全反射x熒光光譜儀的樣品盤定位裝置，其中，所述壓板能以圓柱銷為中心轉動，在壓板設升降軸的一端下方連接復位彈簧。

進一步，如上所述的全反射x熒光光譜儀的樣品盤定位裝置，其中，所述的水平定位裝置包括位于樣品盤架兩側邊框上的凸緣，在所述凸緣上設有定位頂珠，所述定位頂珠頂住樣品盤的邊緣。

本發(fā)明的有益效果如下：本發(fā)明所提供的全反射x熒光光譜儀的樣品盤定位裝置采用抽拉上頂式，與布魯克的txrf儀的樣品架不同。該裝置的樣品盤固定結構，方便裝樣、放樣，以及樣品到位后的固定。將樣品盤架水平抽出，可實現(xiàn)樣品放入與取出。樣品盤定位點位于樣品盤邊緣，不影響入射和出射光，方便儀器調試及裝放樣品和定位，對于固體微塵顆粒樣品也不影響測量。本發(fā)明解決了水平裝樣系統(tǒng)的全反射x射線熒光儀的裝樣和樣品定位問題，該結構操作簡單，位置固定。

附圖說明

圖1為本發(fā)明全反射x熒光光譜儀的樣品盤定位裝置結構原理圖；

圖2為樣品盤定位裝置的機械結構圖；

圖3為樣品盤定位裝置的俯視圖；

圖4為樣品盤定位裝置處于不同位置的結構原理圖。

圖中，1.探測器2.樣品盤3.樣品盤架4.壓板5.壓緊件6.凸緣7.定位頂珠8.圓柱銷9.復位彈簧10.升降軸

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發(fā)明進行詳細的描述。

如圖1所示，本發(fā)明所提供的全反射x熒光光譜儀的樣品盤定位裝置，包括位于探測器1下方的樣品盤架3，樣品盤架3的底面能夠水平抽拉，樣品盤2水平設置于樣品盤架3的底面上，在樣品盤架底面的下方設有壓緊裝置，壓緊裝置包括傾斜設置的壓板4和位于壓板端部的壓緊件5，在樣品盤架兩側邊框上設有水平定位裝置。

作為一個具體的實施例，壓緊裝置的結構如圖2所示，所述壓緊裝置包括傾斜設置的壓板4，在壓板一端的上方連接升降軸10，所述升降軸10的上端連接有彈簧，彈簧的頂端設有鋼珠，升降軸、彈簧、鋼珠即構成了壓緊件5的一種實施方式。壓板4能以圓柱銷8為中心轉動，在壓板4設升降軸的一端下方連接復位彈簧9。當樣品盤2處于測量位置時(即位于探測器1的正下方)，通過樣品盤架3的底面下壓所述壓緊裝置的壓板4一側，壓板4便圍繞圓柱銷8發(fā)生旋轉，使壓板另一側端部的升降軸10向上運動，升降軸10通過彈簧頂起鋼珠，從而通過鋼珠壓緊樣品盤2。

由于在壓板4連接升降軸的一端下方連接有復位彈簧9，當樣品盤2隨著樣品盤架3外抽時，樣品盤架3的底面脫離壓板4，壓板4連接升降軸的一端被復位彈簧9下拉，使得升降軸10隨之向下運動。由于升降軸10的下移釋放了其頂端彈簧對鋼珠的壓緊力，使樣品盤2能夠隨樣品盤架3向外抽拉。

如圖3所示，所述水平定位裝置包括位于樣品盤架3兩側邊框上的凸緣6，在所述凸緣6上設有定位頂珠7，所述定位頂珠7頂住樣品盤2的邊緣。在本實施例中，一側凸緣上設置兩個定位頂珠，另一側凸緣上設置一個定位頂珠。

在裝樣時，將樣品盤架底面抽出，如圖4中所示的a狀態(tài)，將樣品盤2放置在樣品盤架3的表面；然后將樣品盤架3送回，在樣品盤架3推回到位時將壓板4壓下，把壓板端部的壓緊件5頂起壓緊樣品盤2，如圖4中所示的b狀態(tài)；樣品盤2上面通過凸緣6上的定位頂珠保證樣品盤的水平位置，如圖4中所示的c狀態(tài)。

顯然，本領域的技術人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若對本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權利要求及其同等技術的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。

技術特征：

技術總結
本發(fā)明涉及一種全反射X熒光光譜儀的樣品盤定位裝置，包括位于探測器下方的樣品盤架，樣品盤架的底面能夠水平抽拉，樣品盤水平設置于樣品盤架的底面上，在樣品盤架底面的下方設有壓緊裝置，在樣品盤架兩側邊框上設有水平定位裝置。本發(fā)明解決了水平裝樣系統(tǒng)的全反射X射線熒光儀的裝樣和樣品定位問題，定位裝置不影響入射和出射光，該結構操作簡單，位置固定。

技術研發(fā)人員：鄭維明;康海英;崔大慶;劉聯(lián)偉
受保護的技術使用者：中國原子能科學研究院
技術研發(fā)日：2017.06.30
技術公布日：2017.10.24