本發(fā)明涉及一種差壓流量傳感器及其加工方法,尤其是一種基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器及其加工方法。
背景技術(shù):
在工業(yè)生產(chǎn)、日常生活中,流量作為能源計(jì)量及其重要的組成部分之一,對(duì)于科學(xué)實(shí)驗(yàn)計(jì)量、經(jīng)濟(jì)核算以及工程生產(chǎn)都具有及其重要的意義。從上兩個(gè)世紀(jì)的石油、機(jī)械、冶金到航空、熱電等不同領(lǐng)域的流量檢測(cè),現(xiàn)在已經(jīng)深入發(fā)展到了醫(yī)療器械、汽車(chē)電子等諸多領(lǐng)域。
不同流體的性狀、流動(dòng)條件、流動(dòng)狀態(tài)以及感測(cè)機(jī)理的復(fù)雜多樣給流體的測(cè)量帶來(lái)了諸多不便,同時(shí)也使得流量計(jì)的測(cè)量原理、測(cè)量精度、適用條件以及價(jià)格多樣化。
壓差流量計(jì)是一種測(cè)定流量的儀器,例如中國(guó)專(zhuān)利cn200810012819.4所示,一般由一次裝置和二次裝置組成,一次裝置稱(chēng)流量測(cè)量元件,它安裝在被測(cè)流體的管道中,產(chǎn)生與流量(流速)成比例的壓力差,二次裝置稱(chēng)顯示儀表,它接收測(cè)量元件產(chǎn)生的差壓信號(hào),并將其轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的流量進(jìn)行顯示。
差壓流量計(jì)的一次裝置常為節(jié)流裝置或動(dòng)壓測(cè)定裝置(皮托管、均速管等),節(jié)流裝置是在管道中安裝的一個(gè)局部收縮元件,最常用的有孔板、噴嘴和文丘里管,二次裝置為各種機(jī)械式、電子式、組合式差壓計(jì)配以流量顯示儀表。
傳統(tǒng)的差壓式流量(如孔板等)儀表都是屬于節(jié)流式差壓流量?jī)x表,其工作原理都是基于封閉管道中流體質(zhì)量守恒(連續(xù)性方程)和能量守恒(伯努利方程)兩個(gè)定律。
質(zhì)量守恒:流體在一個(gè)封閉的管道中流動(dòng),當(dāng)遇到節(jié)流件時(shí),在節(jié)流件前后它的質(zhì)量是不變的,用連續(xù)性方程表示為:
v1×a1×ρ1=v2×a2×ρ2(液體為:v1×a1=v2×a2)。
能量守恒:用伯努利方程來(lái)表示為是指封閉管道中流體的壓力和流速有如下的關(guān)系:
p+1/2v2ρ=常數(shù)
對(duì)于安裝有節(jié)流件的管道則有:
p1+1/2×(v1)2×ρ1=p2+1/2×(v2)2×ρ2
式中:a1、a2分別是節(jié)流件前后的截面積;v1、v2分別是a1、a2處的流速;p1、p2分別是a1、a2處的壓力;ρ1、ρ2分別是a1、a2處的流體密度。
此類(lèi)流量計(jì)由于具有一次裝置和二次裝置,體積無(wú)法做到很小,并且重量重,集成度低,因此流量計(jì)的自身結(jié)構(gòu)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量時(shí)產(chǎn)生的壓損較大,只適合大流量介質(zhì)流動(dòng)的測(cè)量,同時(shí)由于受現(xiàn)場(chǎng)流體環(huán)境(溫度、壓力等)和自身客觀條件限制,測(cè)量精度不高,對(duì)低流速流量介質(zhì)流動(dòng)反應(yīng)不靈敏,偏差大,不適合低流量介質(zhì)流量的測(cè)量,所以,對(duì)于生活家電用品領(lǐng)域的應(yīng)用受到限制。
而mems傳感器是采用微電子和微機(jī)械加工技術(shù)制造出來(lái)的新型傳感器,與傳統(tǒng)的傳感器相比,它具有體積小、重量輕、成本低、功耗低、可靠性高、適于批量化生產(chǎn)的特點(diǎn),其在流量計(jì)行業(yè)的應(yīng)用具有較大的前景,但是由于mems芯片體積小,因此給流量計(jì)的封裝和制造造成了困難。
并且,當(dāng)其應(yīng)用于液體流量測(cè)量時(shí),需要對(duì)mems芯片及相關(guān)電路進(jìn)行可靠的防水密封,這就進(jìn)一步增加了制造難度。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的就是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問(wèn)題,提供一種基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器及其加工方法。
本發(fā)明的目的通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn):
基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,用于低流速流量監(jiān)測(cè),包括設(shè)置于同一外殼的內(nèi)腔中的mems差壓傳感器芯片封裝體及信號(hào)處理電路板,所述mems差壓傳感器芯片封裝體設(shè)置于所述信號(hào)處理電路板上并與其連接通信,且所述mems差壓傳感器芯片封裝體的去向壓力導(dǎo)壓口與信號(hào)處理電路板上的通孔共軸,以及與所述外殼上的一個(gè)導(dǎo)通孔共軸且四周密封連接,所述mems差壓傳感器芯片封裝體的來(lái)向壓力導(dǎo)壓口與外殼上的另一導(dǎo)通孔共軸且四周密封連接;所述mems差壓傳感器芯片封裝體及信號(hào)處理電路板通過(guò)填充所述外殼的內(nèi)腔的防水密封層密封固定,所述信號(hào)處理電路板上連接引出線(xiàn)纜,所述引出線(xiàn)纜延伸到所述外殼和防水密封層外。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述mems差壓傳感器芯片封裝體包括量程在0-10kpa的硅壓阻式差壓芯片,其壓力應(yīng)變膜為微米級(jí)并采用恒流源或恒壓源供電。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述mems差壓傳感器芯片封裝體與信號(hào)處理電路板通過(guò)鍵合線(xiàn)連接通信,所述鍵合線(xiàn)的弧高度小于60μm,且其包覆于防水膠層中。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述外殼至少包括探測(cè)段及連接段,所述mems差壓傳感器芯片封裝體位于所述探測(cè)段所在的內(nèi)腔區(qū)域,所述連接段用于與流體管道密封連接。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述連接段包括一段外螺紋、密封圈及限位凸臺(tái),所述密封圈位于所述外螺紋的根部并與所述限位凸臺(tái)的側(cè)壁貼合。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述連接段包括兩個(gè)位于兩個(gè)導(dǎo)通孔所在表面上且對(duì)稱(chēng)的坡面,所述坡面的后端設(shè)置有防水密封圈,所述防水密封圈抵靠于第一凸臺(tái)的一側(cè),所述第一凸臺(tái)的另一側(cè)與第二凸臺(tái)配合形成一凹槽。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述外殼的內(nèi)壁上設(shè)置有支撐臺(tái)階,所述支撐臺(tái)階與一個(gè)導(dǎo)通孔的孔壁配合形成用于放置信號(hào)處理電路板的支撐面。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:兩個(gè)所述導(dǎo)通孔為沉孔或臺(tái)階狀,其內(nèi)密封設(shè)置有導(dǎo)壓膜片,所述導(dǎo)壓膜片密封的區(qū)域內(nèi)填充有傳壓介質(zhì)。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述防水密封層包括第一灌封層和第二灌封層,
所述第一灌封層至少填充所述mems差壓傳感器芯片封裝體所在的內(nèi)腔區(qū)域;
所述第二灌封層至少填充所述引出線(xiàn)纜和信號(hào)處理電路板連接點(diǎn)到第一灌封層之間的內(nèi)腔區(qū)域。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述第一灌封層為納米復(fù)合高分子聚合物材料;所述第二灌封層為硅膠類(lèi)和/或環(huán)氧類(lèi)膠水。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述第二灌封層包括一次灌封層和二次灌封層,所述一次灌封層至少覆蓋所述信號(hào)處理電路板上的信號(hào)放大器件和處理芯片,所述二次封灌層至少覆蓋整個(gè)信號(hào)處理電路板。
優(yōu)選的,所述的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,其中:所述基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器的量程在0.1-30l/min。
基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器的加工方法,包括如下步驟:
s1,將信號(hào)放大器件和處理芯片通過(guò)回流焊接表貼到信號(hào)處理電路板;
s2,將mems差壓傳感器芯片封裝體進(jìn)行微型化封裝后,焊接到信號(hào)處理電路板上,使所述mems差壓傳感器芯片封裝體的去向壓力導(dǎo)壓口與所述信號(hào)處理電路板上的通孔共軸,并控制鍵合線(xiàn)的弧高度在60um以下;
s3,利用固化溫度小于90℃的防水膠將mems差壓傳感器芯片封裝體與信號(hào)處理電路板的鍵合線(xiàn)進(jìn)行覆蓋;
s4,將mems差壓傳感器芯片封裝體的來(lái)向壓力導(dǎo)壓口及去向壓力導(dǎo)壓口的外周分別進(jìn)行防水處理;
s5,將引出線(xiàn)纜與信號(hào)處理電路板焊接互聯(lián)在一起;
s6,將經(jīng)過(guò)s1步驟-s5步驟封裝完成的信號(hào)處理電路板塞入外殼的內(nèi)腔中,并使所述mems差壓傳感器芯片封裝體的去向壓力導(dǎo)壓口及來(lái)向壓力導(dǎo)壓口分別與一個(gè)導(dǎo)通孔同軸密封連接;
s7,利用納米復(fù)合高分子聚合物材料灌封mems差壓傳感器芯片封裝體所在的內(nèi)腔區(qū)域,灌封后靜置10小時(shí)以上以充分固化形成第一灌封層;
s8,利用硅膠類(lèi)和/或環(huán)氧類(lèi)膠水至少填充信號(hào)處理電路板末端到第一灌封層之間的內(nèi)腔區(qū)域,固化后形成二次灌封層。
本發(fā)明技術(shù)方案的優(yōu)點(diǎn)主要體現(xiàn)在:
本發(fā)明設(shè)計(jì)精巧,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,采用微型化的mems差壓傳感器芯片封裝體并且將其集成在信號(hào)處理線(xiàn)路板上,省去了二次裝置的結(jié)構(gòu),在較小的外殼空間內(nèi)提高了整體的集成度且與傳統(tǒng)壓差流量計(jì)相比,整個(gè)流量傳感器的體積可以做到很小,從而降低流量傳感器自身對(duì)流場(chǎng)的干擾,減小壓損,相應(yīng)提高了測(cè)量精度,適用于低流量、流速的檢測(cè);采用多結(jié)構(gòu)的密封防水層將信號(hào)處理電路板及mems芯片密封固定在外殼中,固定牢固可靠,密封性和防水性大大提高,并且降低了封裝過(guò)程中密封穩(wěn)定性受外殼加工精度的影響,從而便于加工,適用于生活家電設(shè)備領(lǐng)域的應(yīng)用,大大拓寬了應(yīng)用領(lǐng)域和范圍。
本發(fā)明采用量程為0-10kpa的硅基壓阻式差壓芯片,并且優(yōu)選其芯片壓力應(yīng)變薄膜為微米級(jí),因此對(duì)外界壓力非常敏感,對(duì)壓力的響應(yīng)也非???,能夠很好的適用于低流速或低流量的測(cè)量并且保證測(cè)量精度,同時(shí)優(yōu)選供電模式,能夠利用芯片自身特性進(jìn)行性溫度補(bǔ)償,從而降低了流體特性對(duì)測(cè)量結(jié)果的干擾,進(jìn)一步提高了測(cè)量精度。
本發(fā)明的mems差壓傳感器芯片封裝體是基于半導(dǎo)體或微電子工藝制作,所以芯片在傳感器批次的一致性、重復(fù)性、可靠性方面,比傳統(tǒng)的流量傳感器要好。
本發(fā)明是基于mems技術(shù)加工的半導(dǎo)體硅基傳感器,所以在熱傳導(dǎo)、熱對(duì)流等方面比較穩(wěn)定,不像傳統(tǒng)的流量傳感器采用金屬等部件,易受溫度、熱的影響,另外,由于體積小,單位體積熱效應(yīng)就小,功耗也低。
本發(fā)明的封裝導(dǎo)壓材料,根據(jù)測(cè)量的介質(zhì)差異和不同應(yīng)用需求,可選擇高彈性的防水材料,甚至不用防水材料覆蓋,芯片表面直接與所測(cè)量介質(zhì)接觸,因此靈敏度可以做的非常好。
密封防水層采用多層結(jié)構(gòu),并且根據(jù)不同應(yīng)用場(chǎng)合的需要優(yōu)選不同層的密封材料,能夠適應(yīng)不同區(qū)域元器件的防水要求,同時(shí)保證相應(yīng)層與外殼粘結(jié)的牢固性,保證產(chǎn)品的防水密封可靠性,同時(shí)保證mems差壓傳感器芯片封裝體及信號(hào)處理線(xiàn)路板固定的穩(wěn)定性,減少震動(dòng)對(duì)它們的影響,保證其應(yīng)用的可靠性。
外殼上設(shè)置有外螺紋結(jié)構(gòu)及密封圈,便于將整個(gè)流量傳感器與管道快速連接并保證與管道連接的密封性。
本發(fā)明的加工方法,基于mems加工技術(shù),過(guò)程簡(jiǎn)單,易于實(shí)現(xiàn),提供了一種成本低、效率高、可靠性好與本發(fā)明的差壓流量傳感器的實(shí)際結(jié)構(gòu)向匹配的封裝方法。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本發(fā)明實(shí)施例1的使用狀態(tài)圖;
圖3是本發(fā)明實(shí)施例1中另一種外殼的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4是本發(fā)明實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明的目的、優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn),將通過(guò)下面優(yōu)選實(shí)施例的非限制性說(shuō)明進(jìn)行圖示和解釋。這些實(shí)施例僅是應(yīng)用本發(fā)明技術(shù)方案的典型范例,凡采取等同替換或者等效變換而形成的技術(shù)方案,均落在本發(fā)明要求保護(hù)的范圍之內(nèi)。
本發(fā)明揭示了基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器,可用于低流速流量監(jiān)測(cè),如附圖1所示,其包括內(nèi)部為空心結(jié)構(gòu)的外殼3,所述外殼3包括一體成型的探測(cè)段33及連接段34,所述探測(cè)段33為扁平的長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu),其兩個(gè)相對(duì)的側(cè)壁上分別設(shè)置有共軸的導(dǎo)通孔31,兩個(gè)所述導(dǎo)通孔31的結(jié)構(gòu)和形狀影響所述基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器的靈敏度系數(shù),優(yōu)選兩個(gè)所述導(dǎo)通孔31為沉孔或臺(tái)階狀孔。
所述連接段34用于與流體管道7密封連接,其包括一段與流體管道7外壁配合的外螺紋、密封圈341及限位凸臺(tái)342,所述外螺紋延伸的區(qū)域整體為圓柱型,其從所述探測(cè)段33的末端開(kāi)始延伸一段長(zhǎng)度,所述外螺紋的根部及限位凸臺(tái)342之間設(shè)置有用于防水的所述密封圈341,所述限位凸臺(tái)342背離所述探測(cè)段33的一端為開(kāi)口結(jié)構(gòu)。
具體連接時(shí),如附圖2所示,通過(guò)所述連接段34的外螺紋與所述流體管道7連接,并通過(guò)所述流體管道7和限位凸臺(tái)342配合擠壓所述密封圈341,從而實(shí)現(xiàn)外殼1和流體管道7的密封連接,此時(shí),所述探測(cè)段33位于所述流體管道7內(nèi),且其上的導(dǎo)通孔31的表面與流體方向垂直。
當(dāng)然在其他實(shí)施例中,所述連接段34也可以是其他可行的結(jié)構(gòu),如附圖3所示,其包括兩個(gè)位于探測(cè)段33的兩個(gè)導(dǎo)通孔31所在表面上且對(duì)稱(chēng)的坡面343,所述坡面343的后端(即遠(yuǎn)離兩個(gè)導(dǎo)通孔31的一端)設(shè)置有防水密封圈344,所述防水密封圈344抵靠于第一凸臺(tái)345的一側(cè),所述第一凸臺(tái)345的另一側(cè)與第二凸臺(tái)346配合形成一凹槽347,所述第二凸臺(tái)346的后端為開(kāi)口結(jié)構(gòu)。
所述外殼3的內(nèi)腔中設(shè)置有mems差壓傳感器芯片封裝體1及信號(hào)處理電路板2,所述mems差壓傳感器芯片封裝體1位于所述探測(cè)段33所在的內(nèi)腔區(qū)域,其設(shè)置于所述信號(hào)處理電路板2上并與其連接通信,且所述mems差壓傳感器芯片封裝體1的去向壓力導(dǎo)壓口11與信號(hào)處理電路板2上的通孔21共軸,所述去向壓力導(dǎo)壓口11與所述外殼3上的一個(gè)導(dǎo)通孔31共軸且四周密封配接,所述mems差壓傳感器芯片封裝體1的來(lái)向壓力導(dǎo)壓口12與外殼3上的另一個(gè)導(dǎo)通孔31共軸且四周密封配接。
具體來(lái)說(shuō),所述mems差壓傳感器芯片封裝體1包括量程在0-10kpa的硅壓阻式差壓芯片,所述硅壓阻式差壓芯片包括四個(gè)壓敏電阻組成全橋差動(dòng)電路,其壓力應(yīng)變膜為微米級(jí)并采用恒流源或恒壓源供電,由于采用恒壓源或恒流源,電源端一對(duì)橋頂兩點(diǎn)之間的電位差即為溫度輸出信號(hào),另外一對(duì)橋頂兩點(diǎn)之間的電位差就是壓力傳感器的測(cè)壓輸出信號(hào),因此所述硅壓阻式差壓芯片具有溫度自檢測(cè)功能,融合溫度補(bǔ)償算法,能夠減小溫度對(duì)流量監(jiān)測(cè)的影響。
所述mems差壓傳感器芯片封裝體1焊接到所述信號(hào)處理電路板2上,其封裝殼包括空氣腔、去向壓力導(dǎo)壓口11、來(lái)向壓力導(dǎo)壓口12及金屬電極,所述去向壓力導(dǎo)壓口11、來(lái)向壓力導(dǎo)壓口12開(kāi)口處設(shè)置有防水和氣體滲透膜(圖中未示出),它們共軸設(shè)置,且之間設(shè)置有所述mems差壓傳感器芯片,所述金屬電極用于通過(guò)鍵合線(xiàn)與所述信號(hào)處理電路板2連接通信,同時(shí),為了提高mems差壓傳感器芯片封裝體的微型化程度,所述鍵合線(xiàn)(圖中未示出)的弧高度小于60μm,且其包覆于防水膠層6中。
并且,所述信號(hào)處理電路板2上表貼有信號(hào)放大器件22和處理芯片23,從而提高了整體的集成度,不需要再像傳統(tǒng)差壓流量計(jì)一樣再連接二次設(shè)備,另外,考慮到所述信號(hào)處理電路板2在外殼內(nèi)腔中放置的平穩(wěn)性,進(jìn)一步,在所述外殼3的內(nèi)壁上設(shè)置有支撐臺(tái)階35,所述支撐臺(tái)階35與一個(gè)導(dǎo)通孔的孔壁配合形成用于放置信號(hào)處理電路板2的支撐面,所述信號(hào)處理電路板2位于所述探測(cè)段的一端抵靠在所述探測(cè)段頂壁的內(nèi)壁處。
進(jìn)一步,所述mems差壓傳感器芯片封裝體1及信號(hào)處理電路板2通過(guò)填充所述外殼內(nèi)腔的防水密封層4密封固定于所述外殼中,所述防水密封層4一是進(jìn)行整體灌封防水,二是使信號(hào)處理電路板2和外殼3成為一個(gè)整體結(jié)構(gòu),使mems差壓傳感器芯片封裝體1位置相對(duì)固定,減少震動(dòng)或晃動(dòng)對(duì)傳感器芯片性能的影響。
所述信號(hào)處理電路板2上還連接引出線(xiàn)纜5,所述引出線(xiàn)纜5與信號(hào)處理電路板2的連接點(diǎn)相對(duì)于信號(hào)放大器件22和處理芯片23而言,更靠近所述限位凸臺(tái)342的開(kāi)口,所述引出線(xiàn)纜5用于輸出初級(jí)處理信號(hào)給與其連接的設(shè)備,所述引出線(xiàn)纜5延伸到所述外殼3和防水密封層4外。
詳細(xì)來(lái)說(shuō),所述防水密封層4包括第一灌封層41和第二灌封層42,所述第一灌封層41至少填充所述mems差壓傳感器芯片封裝體1所在的內(nèi)腔區(qū)域以對(duì)所述mems差壓傳感器芯片封裝體進(jìn)行保護(hù),所述第一灌封層41為納米復(fù)合高分子聚合物材料;所述第二灌封層42至少填充所述引出線(xiàn)纜5和信號(hào)處理電路板2連接點(diǎn)到第一灌封層41之間的內(nèi)腔區(qū)域,從而對(duì)信號(hào)處理電路板2上的處理芯片進(jìn)行保護(hù),所述第二灌封層42包括一次灌封層421和二次灌封層422,所述一次灌封層421至少覆蓋所述信號(hào)處理電路板2上的信號(hào)放大器件22和處理芯片23,所述二次封灌層422至少覆蓋整個(gè)信號(hào)處理電路板2,優(yōu)選其延伸到所述限位凸臺(tái)的開(kāi)口外,并且所述一次灌封層421和二次灌封層422為硅膠類(lèi)或環(huán)氧類(lèi)膠水,優(yōu)選所述二次封灌層422為環(huán)氧類(lèi)膠水,從而保證二次封裝層422與殼體粘結(jié)的牢固性。
發(fā)明人通過(guò)多種工藝的研究和實(shí)測(cè)發(fā)現(xiàn):所述基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器的量程在0.1-30l/min,防水密封性好,可使用于熱水器、洗衣機(jī)、壁掛爐、電磁熱水器、飲水機(jī)、凈水機(jī)、r.o.機(jī)、u.f.機(jī)、咖啡機(jī)、熱水卡機(jī)、水控機(jī)、控水機(jī)、啤酒機(jī)、電解制水機(jī)、能量水機(jī)、熱泵熱水工程、一卡通管理系統(tǒng)、智能水表ic水表、蒸汽設(shè)備、噴灌設(shè)備、校園卡售水系統(tǒng)、自助售水(販賣(mài))機(jī)、投幣洗衣機(jī)、自動(dòng)洗車(chē)設(shè)備、水處理設(shè)備、配水配藥設(shè)備、冷卻系統(tǒng)、循環(huán)系統(tǒng)、智能馬桶(坐便器)、潔身器、機(jī)械設(shè)備、加熱設(shè)備、儀器儀表、制藥(制劑)設(shè)備等。
使用本發(fā)明的基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器時(shí),通過(guò)所述連接段32將其連接到所述流體管道7上,并使所述導(dǎo)通孔與所述流體的流向垂直,流體流動(dòng),并通過(guò)所述外殼上的導(dǎo)通孔流向所述mems芯片的來(lái)向壓力導(dǎo)壓口11并向mems差壓傳感器芯片封裝體的壓力應(yīng)變薄膜施加壓力,所述mems差壓傳感器芯片封裝體1的去向壓力導(dǎo)壓口處存在靜壓,從而所述mems差壓傳感器芯片封裝體1檢測(cè)到差壓并經(jīng)所述信號(hào)放大器件22后輸出給所述處理芯片23,所述處理芯片23按照如下的計(jì)算公式計(jì)算流量:
式中q代表流量,△p代表差壓,ρ代表流體密度,k是靈敏度系數(shù),可以由出廠標(biāo)定時(shí)得到,具體標(biāo)定時(shí),結(jié)合溫度補(bǔ)償算法,通過(guò)優(yōu)選的曲線(xiàn)擬合法確定曲線(xiàn)擬合方程進(jìn)而確定靈敏度系數(shù),所述處理芯片23處理后的信號(hào)通過(guò)所述引出線(xiàn)纜5輸送給與其連接的設(shè)備。
更進(jìn)一步,本發(fā)明進(jìn)一步揭示了基于mems技術(shù)的差壓流量傳感器的加工方法,包括如下步驟:
s1,將信號(hào)放大器件22和處理芯片22通過(guò)回流焊接表貼到信號(hào)處理電路板2。
s2,將mems差壓傳感器芯片封裝體1進(jìn)行微型化封裝后,焊接到所述信號(hào)處理電路板2上,使所述mems差壓傳感器芯片封裝體1的去向壓力導(dǎo)壓口11與所述信號(hào)處理電路板2上的通孔共軸,并控制鍵合線(xiàn)的弧高度在60um以下。
s3,利用固話(huà)溫度小于90℃的防水膠將mems差壓傳感器芯片封裝體1與信號(hào)處理電路板2的鍵合線(xiàn)進(jìn)行覆蓋,固化時(shí)間為10分鐘。
s4,將mems差壓傳感器芯片封裝體的去向壓力導(dǎo)壓口11及來(lái)向壓力導(dǎo)壓口12的外周分別進(jìn)行防水處理,防水密封材料可以是防水膠水,也可以是防水橡膠圈。
s5,將引出線(xiàn)纜5與信號(hào)處理電路板2焊接互聯(lián)在一起。
s6,將經(jīng)過(guò)s1步驟-s5步驟封裝完成的信號(hào)處理電路板2塞入外殼3的內(nèi)腔中,并使所述mems差壓傳感器芯片封裝體1的去向壓力導(dǎo)壓口11和來(lái)向壓力導(dǎo)壓口12分別通過(guò)防水膠水或防水橡膠圈與一個(gè)導(dǎo)通孔的內(nèi)壁密封連接。
s7,利用納米復(fù)合高分子聚合物材料灌封mems差壓傳感器芯片封裝體所在的內(nèi)腔區(qū)域,灌封后靜置10小時(shí)以上以充分固化形成第一灌封層41。
s8,利用硅膠類(lèi)和/或環(huán)氧類(lèi)膠水至少填充信號(hào)處理電路板2的末端到第一灌封層41之間的內(nèi)腔區(qū)域,固化后形成二次灌封層42中,所述二次灌封層42的灌封過(guò)程可以根據(jù)實(shí)際場(chǎng)合需要分一次或兩次灌封完成,優(yōu)選分兩次灌封完成。
實(shí)施例2
本實(shí)施例與實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)整體相同,區(qū)別在于:實(shí)施例1中,待測(cè)介質(zhì)一般為非腐蝕性液體或氣體并且直接與mems差壓傳感器芯片封裝體1接觸實(shí)現(xiàn)壓力的傳導(dǎo),而本實(shí)施例中,除了適用于非腐蝕性液體或氣體外,還可以用于腐蝕性液體或氣體,主要是通過(guò)在所述外殼1的兩個(gè)導(dǎo)通孔中密封設(shè)置有導(dǎo)壓介質(zhì),對(duì)于流體低流速或低流量的測(cè)量,為提高測(cè)量精度和靈敏度,導(dǎo)壓介質(zhì)的厚度要薄,對(duì)于流體較高流速或流量的測(cè)量,導(dǎo)壓介質(zhì)的厚度可以適當(dāng)增加。
具體而言,所述導(dǎo)壓介質(zhì)可以是高彈性材料,也可以是如附圖4所示的由導(dǎo)壓膜片8和傳壓介質(zhì)形成的密封結(jié)構(gòu),所述導(dǎo)壓膜片8可以是高分子薄膜、金屬薄膜、聚合物高分子薄膜等,針對(duì)腐蝕性液體和氣體還需要有防腐的性能,其密封連接所述外殼3的兩個(gè)導(dǎo)通孔,其厚度可以根據(jù)要測(cè)的流體的流速及靈敏度要求來(lái)調(diào)整,例如可以采用50μm的金屬薄膜來(lái)滿(mǎn)足0.1l/min的流量檢測(cè),所述導(dǎo)壓膜片與mems差壓傳感器芯片封裝體的來(lái)向壓力導(dǎo)壓口和去向壓力導(dǎo)壓口之間(即導(dǎo)壓膜片密封形成的區(qū)域)填充所述傳壓介質(zhì)(圖中未示出),所述傳壓介質(zhì)可以是空氣或水或硅油或聚合物高分子材料等,此種結(jié)構(gòu)的應(yīng)用場(chǎng)合更廣泛。
檢測(cè)時(shí),流體流動(dòng)使高彈性材料和導(dǎo)壓膜片變形從而直接或通過(guò)傳壓介質(zhì)直接傳導(dǎo)壓力給mems差壓傳感器芯片封裝體產(chǎn)生壓差。
本發(fā)明尚有多種實(shí)施方式,凡采用等同變換或者等效變換而形成的所有技術(shù)方案,均落在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。