技術總結
本發(fā)明涉及一種用于線性傳感器的測試系統(tǒng)，主要解決現(xiàn)有技術中存在的測試過程復雜，測試精度低的技術問題，本發(fā)明通過采用所述測試系統(tǒng)包括待測線性傳感器，AMP運放，與AMP運放連接的ADC轉換模塊，與所述ADC轉換模塊連接的FPGA，與FPGA連接的A380圖像處理器，以及與A380圖像處理器連接的上位機，所述FPGA還與光源模塊連接，較好的解決了該問題，可用于線性傳感器的工業(yè)生產(chǎn)中。

技術研發(fā)人員：不公告發(fā)明人
受保護的技術使用者：張家港市歐微自動化研發(fā)有限公司
文檔號碼：201710176054
技術研發(fā)日：2017.03.23
技術公布日：2017.06.30