1.一種用于線性傳感器的測試系統(tǒng)，其特征在于：所述測試系統(tǒng)包括待測線性傳感器，AMP運(yùn)放，與AMP運(yùn)放連接的ADC轉(zhuǎn)換模塊，與所述ADC轉(zhuǎn)換模塊連接的FPGA，與FPGA連接的A380圖像處理器，以及與A380圖像處理器連接的上位機(jī)；所述FPGA還與光源模塊連接；
所述AMP運(yùn)放用于放大待測線性傳感器模擬輸出信號；
所述ADC轉(zhuǎn)換模塊用于轉(zhuǎn)換AMP輸出的放大信號至12Bit；
所述FPGA用于預(yù)處理所述12Bit數(shù)據(jù)；
所述A380圖像處理器用于傳輸預(yù)處理后的8Bit數(shù)據(jù)；
所述上位機(jī)用于測試圖像質(zhì)量；
所述光源模塊用于輸出光源。