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用于樣本的分析檢查的測(cè)試元件分析系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):11249500閱讀:374來源:國(guó)知局
用于樣本的分析檢查的測(cè)試元件分析系統(tǒng)的制造方法與工藝

本發(fā)明涉及用于樣本的分析檢查的測(cè)試元件分析系統(tǒng)以及涉及用于制造該系統(tǒng)的方法。根據(jù)本發(fā)明的設(shè)備和方法主要可以用在對(duì)樣本(諸如體液的樣本)中的至少一個(gè)分析物進(jìn)行定性或定量檢測(cè)和/或用于確定樣本的至少一個(gè)參數(shù)的領(lǐng)域中。其它應(yīng)用領(lǐng)域是可行的。



背景技術(shù):

在醫(yī)學(xué)技術(shù)和診斷學(xué)的領(lǐng)域中,已知用于確定樣本中的一個(gè)或多個(gè)分析物的存在和/或濃度的大量設(shè)備和方法,該樣本特別是流體樣本,諸如體液。在不限制本發(fā)明的范圍的情況下,在下文中,主要參考血液中的凝結(jié)參數(shù)的確定或者主要參考血糖濃度。然而,應(yīng)當(dāng)注意到,可以以類似的方式使用其它類型的樣本或其它類型的分析物或參數(shù)。

為了執(zhí)行快速且簡(jiǎn)單的測(cè)量,已知若干類型的測(cè)試元件,其主要基于使用一個(gè)或多個(gè)測(cè)試化學(xué)品,即基于使用一個(gè)或多個(gè)化學(xué)物質(zhì)、一個(gè)或多個(gè)化學(xué)化合物或一個(gè)或多個(gè)化學(xué)混合物,其被適配用于執(zhí)行用于檢測(cè)分析物的檢測(cè)反應(yīng)。測(cè)試化學(xué)品通常還被稱作測(cè)試物質(zhì)、測(cè)試試劑、測(cè)試化學(xué)組成或稱作檢測(cè)器物質(zhì)。對(duì)于也可用在本發(fā)明內(nèi)的潛在測(cè)試化學(xué)品和包括這樣的測(cè)試化學(xué)品的測(cè)試元件的細(xì)節(jié),可以參考j.hoenes等人的:thetechnologybehindglucosemeters:teststrips,diabetestechnology&therapeutics,vol.10,增刊1,2008,s-10至s-26。其它類型的測(cè)試元件和/或測(cè)試物質(zhì)是可行的且可以用在本發(fā)明內(nèi)。

通過使用一個(gè)或多個(gè)測(cè)試化學(xué)品,可以發(fā)起檢測(cè)反應(yīng),其過程取決于待確定的至少一個(gè)分析物的存在和/或濃度。檢測(cè)反應(yīng)優(yōu)選地可以是分析物特定的。通常,如在本發(fā)明中也可以是這種情況:測(cè)試化學(xué)品被適配成在分析物存在于體液中時(shí)執(zhí)行至少一個(gè)檢測(cè)反應(yīng),其中檢測(cè)反應(yīng)的范圍和/或程度通常取決于分析物的濃度。一般而言,測(cè)試化學(xué)品可以被適配成在分析物存在的情況下執(zhí)行檢測(cè)反應(yīng),其中測(cè)試化學(xué)品和體液中的至少一個(gè)的至少一個(gè)可檢測(cè)的性質(zhì)由于檢測(cè)反應(yīng)而改變。所述至少一個(gè)可檢測(cè)的性質(zhì)一般可以選自物理性質(zhì)和化學(xué)性質(zhì)。在下文中,在不限制潛在的其它實(shí)施例的情況下,將主要參考其中一個(gè)或多個(gè)物理性質(zhì)由于檢測(cè)反應(yīng)而改變(諸如至少一個(gè)電學(xué)性質(zhì)和至少一個(gè)光學(xué)性質(zhì)中的一個(gè)或多個(gè))的檢測(cè)反應(yīng)。此外,在不限制可替換的解決方案的情況下,將參考其中電氣可檢測(cè)的至少一個(gè)化學(xué)性質(zhì)被改變的檢測(cè)反應(yīng),即,將參考電化學(xué)測(cè)試元件。然而,其它測(cè)試元件(諸如光學(xué)測(cè)試元件)也是可使用的。

在分析設(shè)備的技術(shù)領(lǐng)域中,使用條形碼和條形碼讀取器是可能的,諸如用于提供與用于測(cè)試元件分析系統(tǒng)的測(cè)試元件的具體細(xì)節(jié)有關(guān)的信息。因而,作為示例,批特定的數(shù)據(jù)、滿期日期、校準(zhǔn)參數(shù)或與測(cè)試元件有關(guān)的其它信息可以被傳遞到分析系統(tǒng)。

在ep1851680b1和us7,635,834b2中,公開了用于在檢測(cè)設(shè)備上且特別是在ccd或cmos元件上借助于針孔孔徑對(duì)對(duì)象(特別是承載信息的光學(xué)圖案或碼)進(jìn)行光學(xué)成像的系統(tǒng)。特別地,描述了具有特殊設(shè)備的系統(tǒng),該特殊設(shè)備基本上補(bǔ)償由針孔孔徑引起的成像缺陷,且特別是補(bǔ)償在檢測(cè)設(shè)備上由針孔孔徑形成的對(duì)象的圖像的亮度方面的系統(tǒng)固有外圍減小。

盡管有已知設(shè)備和方法的優(yōu)點(diǎn),但若干技術(shù)挑戰(zhàn)仍然存在。因而,特別是對(duì)于手持設(shè)備,條形碼讀取器的體積以及總體光學(xué)系統(tǒng)的高度仍然是問題。這主要是由于以下事實(shí):典型的條形碼在測(cè)試元件上延伸至少若干毫米。為了讀取所述橫向尺寸的條形碼,盡管可以使用廣角相機(jī),但是條形碼和條形碼讀取器之間的自由工作距離仍然是相當(dāng)顯著的,這必須被考慮作為用于分析系統(tǒng)的附加空間和體積。

要解決的問題

因此,本發(fā)明的目的是提供至少部分地克服上述技術(shù)挑戰(zhàn)的設(shè)備和方法。特別地,應(yīng)當(dāng)提出用于樣本的分析檢查的測(cè)試元件分析系統(tǒng)以及用于制造該系統(tǒng)的方法,其允許如與具有條形碼讀取器的常規(guī)分析設(shè)備相比的小體積以及工作空間縮減。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

該問題由具有獨(dú)立權(quán)利要求的特征的用于樣本的分析檢查的測(cè)試元件分析系統(tǒng)以及用于制造該系統(tǒng)的方法來解決。可以以隔離的方式或以任何任意組合實(shí)現(xiàn)的優(yōu)選實(shí)施例被列出在從屬權(quán)利要求中。

如在下文中所使用的,術(shù)語“具有”、“包含”或“包括”或其任何任意的語法上的變型以非排他的方式被使用。因而,這些術(shù)語既可以指代其中除由這些術(shù)語引入的特征外沒有另外的特征存在于該上下文中所述的實(shí)體中的情形,又可以指代其中存在一個(gè)或多個(gè)另外的特征的情形。作為示例,表述“a具有b”、“a包含b”以及“a包括b”既可以指代其中除b外沒有其它元素存在于a中的情形(即,其中a僅僅且排他地包括b的情形),又可以指代其中除b外一個(gè)或多個(gè)另外的元素(諸如元素c、元素c和d或甚至另外的元素)存在于實(shí)體a中的情形。

另外,應(yīng)當(dāng)注意到,指示特征或元素可以存在一次或多于一次的術(shù)語“至少一個(gè)”、“一個(gè)或多個(gè)”或類似的表述通常在引入相應(yīng)的特征或元素時(shí)將被使用僅一次。在下文中,在大多數(shù)情況中,當(dāng)指代相應(yīng)的特征或元素時(shí),表述“至少一個(gè)”或者“一個(gè)或多個(gè)”將不被重復(fù),盡管有以下事實(shí):相應(yīng)的特征或元素可以存在一次或多于一次。

此外,如在下文中所使用的,術(shù)語“優(yōu)選地”、“更優(yōu)選地”、“特別地”、“更特別地”、“具體地”、“更具體地”或類似的術(shù)語結(jié)合可選特征而使用,而不限制可替換的可能性。因而,由這些術(shù)語引入的特征是可選特征且不意圖以任何方式限制權(quán)利要求的范圍。如技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到的,本發(fā)明可以通過使用可替換的特征而執(zhí)行。類似地,由“在本發(fā)明的實(shí)施例中”或類似的表述引入的特征意圖是可選特征,而沒有關(guān)于本發(fā)明的可替換實(shí)施例的任何限制、沒有關(guān)于本發(fā)明的范圍的任何限制、并且沒有關(guān)于將以這樣的方式引入的特征與本發(fā)明的其它可選或非可選特征進(jìn)行組合的可能性的任何限制。

在本發(fā)明的第一方面中,公開了一種用于樣本、特別是體液的分析檢查的測(cè)試元件分析系統(tǒng)。所述測(cè)試元件分析系統(tǒng)包括至少一個(gè)評(píng)估設(shè)備,其具有至少一個(gè)測(cè)試元件支承器,所述測(cè)試元件支承器用于定位包含樣本的至少一個(gè)測(cè)試元件。此外,所述評(píng)估設(shè)備包括用于測(cè)量測(cè)試元件的測(cè)量區(qū)中的改變的至少一個(gè)測(cè)量設(shè)備。所述改變表示樣本的分析物或參數(shù)的特性。此外,所述測(cè)試元件分析系統(tǒng)包括用于讀取測(cè)試元件上的至少一個(gè)條形碼的至少一個(gè)條形碼讀取器。所述條形碼讀取器包括至少一個(gè)電路板。所述電路板具有正側(cè),所述正側(cè)面向被定位在測(cè)試元件支承器中的測(cè)試元件的條形碼。此外,所述電路板具有至少一個(gè)背側(cè),所述背側(cè)背對(duì)測(cè)試元件。所述條形碼讀取器的至少一個(gè)電子控制元件被設(shè)置在電路板上。所述電路板包括至少一個(gè)腔,所述腔至少部分地或完全地穿透電路板。所述條形碼讀取器還包括被設(shè)置在電路板的背側(cè)上的至少一個(gè)相機(jī)載體元件以及至少一個(gè)相機(jī)。相機(jī)電連接到相機(jī)載體元件,其中相機(jī)載體元件和相機(jī)被定位成使得相機(jī)通過電路板的腔來觀測(cè)條形碼。

如本文中還使用的,術(shù)語“系統(tǒng)”指代形成整體的交互或相互依賴的組成部分的任意集合。特別地,組件可以彼此交互以便履行至少一個(gè)共同的功能。至少兩個(gè)組件可以被獨(dú)立地處置或者可以耦合或可連接。因而,術(shù)語“測(cè)試元件分析系統(tǒng)”一般指代能夠交互以便通過與任意測(cè)試元件交互來執(zhí)行至少一個(gè)分析檢測(cè)(特別是樣本的至少一個(gè)分析物的至少一個(gè)分析檢測(cè))的至少兩個(gè)元件或組件的組。測(cè)試元件分析系統(tǒng)一般還可以被稱為分析系統(tǒng)、分析套件、傳感器系統(tǒng)或測(cè)量系統(tǒng)。

如在本發(fā)明內(nèi)一般所使用的,術(shù)語“患者”和“用戶”可以指代人類或動(dòng)物,這與以下事實(shí)無關(guān):人類或動(dòng)物分別可能處于健康狀況中或可能患有一種或多種疾病。作為示例,患者或用戶可以是患有糖尿病的人類或動(dòng)物。然而,附加地或可替換地,本發(fā)明可以適用于其它類型的用戶或患者或疾病。

如在本文中還使用的,術(shù)語“樣本”可以指代針對(duì)分析、測(cè)試或研究而采取的任意材料或材料組合。樣本可以是意圖類似于且表示更大量的有限量的某物。然而,樣本還可以包括完全的試樣。樣本可以是固體樣本、液體樣本、或氣體樣本、或這些的組合。特別地,樣本可以是流體樣本,即,完全或部分地處于液體狀態(tài)中和/或處于氣體狀態(tài)中的樣本。樣本的量在其體積、質(zhì)量或大小方面可以是可描述的。然而,其它尺寸是可行的。樣本可以包括僅一個(gè)材料或僅一個(gè)化合物??商鎿Q地,樣本可以包括若干材料或化合物。

術(shù)語“分析物”一般指代可存在于樣本中且其存在和/或濃度對(duì)于用戶、患者或醫(yī)務(wù)人員(諸如醫(yī)學(xué)醫(yī)生)而言可能有趣的任意元素、成分或化合物。特別地,分析物可以是或可以包括可參與用戶或患者的新陳代謝的任意化學(xué)物質(zhì)或化學(xué)化合物,諸如至少一個(gè)代謝物。所述至少一個(gè)分析物的檢測(cè)特別地可以是分析物特定的檢測(cè)。

術(shù)語“參數(shù)”一般可以指代在分析測(cè)試內(nèi)可獲得或者通過分析測(cè)試可獲得的任意值,諸如測(cè)量值。示例性地,參數(shù)可以對(duì)應(yīng)于如上所述的樣本的性質(zhì)和/或至少一個(gè)分析物的性質(zhì)。特別地,參數(shù)可以是凝結(jié)參數(shù),諸如到分析物的凝結(jié)時(shí)間。對(duì)于關(guān)于如在本文中還使用的術(shù)語“凝結(jié)參數(shù)”的進(jìn)一步細(xì)節(jié),可以參考us2006/0035298。

如在本文中還使用的,術(shù)語“體液”可以指代通常存在于用戶或患者的身體或身體組織中和/或可由用戶或患者的身體產(chǎn)生的流體。作為身體組織的示例,可以命名間質(zhì)組織。因而,作為示例,體液可以選自包括血液和間質(zhì)液的組。然而,附加地或可替換地,可以使用一種或多種其它類型的體液,諸如唾液、淚液、尿液或其它體液。在檢測(cè)至少一個(gè)分析物期間,體液可以存在于身體或身體組織內(nèi)。因而,特別地,如以下將進(jìn)一步詳細(xì)概述的,傳感器可以被配置用于檢測(cè)身體組織中的至少一個(gè)分析物。

術(shù)語“分析檢查”一般可以指代確定至少一個(gè)分析物的存在和/或量和/或濃度的過程,或者指代確定表示樣本性質(zhì)的特性的樣本參數(shù)(例如表示血液樣本的凝結(jié)性質(zhì)的特性的凝結(jié)參數(shù))的過程。檢測(cè)可以是或可以包括定性檢測(cè),簡(jiǎn)單地確定至少一個(gè)分析物的存在或至少一個(gè)分析物的不存在,和/或可以是或可以包括定量檢測(cè),其確定至少一個(gè)分析物的量和/或濃度。作為檢測(cè)的結(jié)果,可以產(chǎn)生至少一個(gè)信號(hào),其表征檢測(cè)的結(jié)果,諸如至少一個(gè)測(cè)量信號(hào)。所述至少一個(gè)測(cè)量信號(hào)特別地可以是或可以包括至少一個(gè)電子信號(hào),諸如至少一個(gè)電壓和/或至少一個(gè)電流。所述至少一個(gè)信號(hào)可以是或可以包括至少一個(gè)模擬信號(hào)和/或可以是或可以包括至少一個(gè)數(shù)字信號(hào)。

術(shù)語“測(cè)試元件”一般可以指代能夠檢測(cè)樣本中的分析物或確定樣本的參數(shù)的任意設(shè)備。測(cè)試元件可以特別地是條狀測(cè)試元件。如本文中所使用的,術(shù)語“條狀”指代具有細(xì)長(zhǎng)形狀和厚度的元件,其中元件在橫向維度上的延伸超過元件的厚度,諸如是至少2倍、優(yōu)選地至少5倍、更優(yōu)選地至少10倍、并且最優(yōu)選地至少20倍或甚至至少30倍。因而,測(cè)試元件還可以稱作測(cè)試條。

測(cè)試元件可以包括當(dāng)分析物存在于樣本中時(shí)改變至少一個(gè)可檢測(cè)的性質(zhì)的至少一個(gè)成分或至少一個(gè)試劑,諸如測(cè)試化學(xué)組成。術(shù)語“測(cè)試化學(xué)組成”,還稱作測(cè)試化學(xué)品,可以指代被適配成在分析物存在的情況下改變至少一個(gè)可檢測(cè)的性質(zhì)的任意材料或材料組成。通常,該性質(zhì)可以選自電化學(xué)可檢測(cè)的性質(zhì)和/或光學(xué)可檢測(cè)的性質(zhì),諸如顏色改變和/或緩解性質(zhì)中的改變。特別地,測(cè)試化學(xué)組成可以是高度選擇性的測(cè)試化學(xué)組成,其僅僅在分析物存在于被施加到測(cè)試元件的體液的樣本中的情況下改變性質(zhì),而如果分析物不存在,則沒有改變發(fā)生。更優(yōu)選地,性質(zhì)的改變或程度可以取決于體液中的分析物的濃度,以便允許分析物的定量檢測(cè)。

特別地,測(cè)試元件可以包括至少一個(gè)試劑,所述試劑被配置用于激活體液的成分的凝結(jié)。試劑可以包括凝血致活酶的反應(yīng)性成分和肽底物。因而,在試劑暴露于樣本的情況中,凝血致活酶可以激活凝塊,并且,可以生成凝血酶。凝血酶可以分裂肽底物,并且,可以生成電化學(xué)信號(hào)。電化學(xué)信號(hào)可以關(guān)于其發(fā)生的時(shí)間而被評(píng)估。然而,其它試劑和/或測(cè)量原理可以是可行的。

如在本文中所使用的,術(shù)語“電化學(xué)檢測(cè)”指代通過電化學(xué)手段(諸如電化學(xué)檢測(cè)反應(yīng))而對(duì)分析物的電化學(xué)可檢測(cè)的性質(zhì)的檢測(cè)。因而,例如,電化學(xué)檢測(cè)反應(yīng)可以通過將一個(gè)或多個(gè)電極電勢(shì)(諸如工作電極的電勢(shì))與一個(gè)或多個(gè)另外的電極(諸如反電極或參考電極)的電勢(shì)進(jìn)行比較而被檢測(cè)。檢測(cè)可以是分析物特定的。檢測(cè)可以是定性和/或定量檢測(cè)。

測(cè)試元件可以具有能夠執(zhí)行表示分析物或參數(shù)的特性的至少一個(gè)改變的至少一個(gè)測(cè)量區(qū)。如在本文中還使用的,術(shù)語“測(cè)量區(qū)”可以指代其中進(jìn)行任意測(cè)量(特別是分析測(cè)量)的對(duì)象的任意區(qū)域或區(qū)。特別地,如上所述的測(cè)試化學(xué)組成可以位于測(cè)量區(qū)內(nèi),特別是在測(cè)量區(qū)的表面上。

測(cè)試元件可以是電化學(xué)測(cè)試元件。術(shù)語“電化學(xué)測(cè)試元件”可以指代被配置用于進(jìn)行至少一個(gè)電化學(xué)檢測(cè)的任意測(cè)試元件。如本文中所使用的,術(shù)語“電化學(xué)檢測(cè)”指代至少一個(gè)任意分析物的電化學(xué)可檢測(cè)的性質(zhì)的檢測(cè),諸如電化學(xué)檢測(cè)反應(yīng)。因而,例如,電化學(xué)檢測(cè)反應(yīng)可以通過將一個(gè)或多個(gè)電極電勢(shì)(諸如工作電極的靜電勢(shì))與一個(gè)或多個(gè)另外的電極(諸如反電極或參考電極)的靜電勢(shì)進(jìn)行比較而被檢測(cè)。檢測(cè)可以是分析物特定的。檢測(cè)可以是定性和/或定量檢測(cè)。測(cè)試元件可以包括被配置用于接收樣本的至少一個(gè)毛細(xì)管。術(shù)語“毛細(xì)管”一般指代任意小的細(xì)長(zhǎng)空隙容積、諸如小管。通常,毛細(xì)管可以包括毫米或亞毫米范圍中的尺寸。通常,流體介質(zhì)可以通過毛細(xì)作用來遷移通過毛細(xì)管,其中流體介質(zhì)可以在沒有外力(比如重力)輔助的情況下、由于在流體介質(zhì)與面向流體介質(zhì)的毛細(xì)管表面之間的分子間力而在毛細(xì)管的窄空間中流動(dòng)。

測(cè)試元件還可以包括至少一個(gè)條形碼。如在本文中還使用的,術(shù)語“條形碼”可以指代下述任意信息載體:其被配置成通過光學(xué)或光電子手段而讀出,并且其可以具有多個(gè)光學(xué)可檢測(cè)的模塊,其中每一個(gè)光學(xué)可檢測(cè)的模塊可以假定至少兩個(gè)不同的光學(xué)可檢測(cè)的狀態(tài)。特別地,條形碼可以承載選自包括以下各項(xiàng)的組的至少一個(gè)光學(xué)信息項(xiàng):測(cè)試類型;批次或批號(hào);制造日期;滿期日期;關(guān)于校準(zhǔn)的信息項(xiàng)。仍然,其它光學(xué)信息是可行的。

術(shù)語“模塊”一般可以指代條形碼的二維或三維區(qū)。特別地,模塊可以是或可以包括條形碼的載體的表面上的所定義的二維區(qū),或者否則到載體的材料內(nèi)的三維區(qū)。模塊可以特別地是條形碼的信息的最小單元。

然而本申請(qǐng)不受限于的重要示例是所謂的線性碼或線碼,即一維條形碼,其中模塊包括可假定至少兩個(gè)不同值(例如“白色”和“黑色”)的行的序列。作為對(duì)此的可替換方案或附加于此,使用還可以由二維條形碼(例如所謂的數(shù)據(jù)矩陣碼)構(gòu)成,其中模塊在兩個(gè)方向上被應(yīng)用且例如被布置成形成矩陣。在該情況下,模塊可以例如被體現(xiàn)為方形或矩形。然而,原則上,其它實(shí)施例也可以是可行的。關(guān)于可能的條形碼,可以參考例如根據(jù)ean(歐洲物品編號(hào))、upc(通用產(chǎn)品編碼)或類似編碼的常規(guī)商用條形碼。用于條形碼的其它已知標(biāo)準(zhǔn)也是可適用的。關(guān)于二維條形碼,可以參考例如數(shù)據(jù)矩陣碼、qr碼、根據(jù)pdf標(biāo)準(zhǔn)的編碼或類似的編碼。

條形碼可以特別地是包括至少兩個(gè)不同的光學(xué)可檢測(cè)的狀態(tài)的二進(jìn)制條形碼。在二進(jìn)制條形碼的情況中,所述至少兩個(gè)狀態(tài)可以是二進(jìn)制的,即,可以假定第一狀態(tài)或第二狀態(tài)。然而,原則上,其它實(shí)施例也可以是可行的,即,其中多于兩個(gè)狀態(tài)可以可行的實(shí)施例,其例如可以在所謂的灰度碼的范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)。

可假定至少兩個(gè)狀態(tài)的光學(xué)可感知的性質(zhì)可以是不同類型的光學(xué)性質(zhì)中的一個(gè)。示例性地,這可以是反射率、顏色、熒光性、透明性、或另一類型的光學(xué)性質(zhì)、或者上述和/或其它性質(zhì)的組合。光學(xué)可感知的性質(zhì)可以例如被直接引入到條形碼的載體中,例如引入到材料中和/或引入到載體的表面上,或可以作為附加標(biāo)記材料而例如被施加到載體。示例性地,可以參考將顏色打印到載體的表面上,作為其結(jié)果,例如,載體表面的反射率和/或透明性和/或載體表面的熒光性質(zhì)被改變。示例性地,該附加標(biāo)記材料可以被打印、噴射或滴注到載體上或者否則借助于分離的載體元件(例如黏合膜)而施加到載體。可替換地,還可以可行的是修改載體本身,例如通過輻照,例如借助于激光器,借助于該激光器,將條形碼直接施加到載體上或引入到載體中,或者進(jìn)而到連接到載體的標(biāo)記材料上或到其中。各種實(shí)施例可以是可行的。

術(shù)語“條形碼讀取器”一般可以指代被配置成至少在以下程度上讀出條形碼的任意設(shè)備:來自條形碼的信息被轉(zhuǎn)換成電信號(hào)或條形碼讀取器的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的存儲(chǔ)狀態(tài)。因此,條形碼讀取器可以包括具有光學(xué)發(fā)射器的至少一個(gè)設(shè)備,該光學(xué)發(fā)射器用于發(fā)射至少一種電磁輻射,優(yōu)選地,可見和/或紅外和/或紫外光譜范圍中的光。該設(shè)備因而還可以被稱作光源。

此外,條形碼讀取器包括至少一個(gè)相機(jī)。如在本文中還使用的,術(shù)語“相機(jī)”可以指代被配置用于接收電磁輻射(優(yōu)選地,紅外和/或可見和/或紫外光譜范圍中的光)的任意光學(xué)儀器。因而,相機(jī)可以被配置用于記錄圖像,該圖像可以被本地存儲(chǔ)、被傳輸?shù)搅硪晃恢没蜻@二者。相機(jī)還可以被稱作檢測(cè)器或光學(xué)檢測(cè)器。

特別地,術(shù)語“相機(jī)”可以涉及被配置成以定性或優(yōu)選地定量的方式捕獲可假定至少兩個(gè)狀態(tài)的條形碼的模塊的性質(zhì)的任意設(shè)備。相機(jī)可以被配置用于至少條形碼的模塊的一維捕獲。如在本文中還使用的,條形碼的術(shù)語“信息模塊的捕獲”一般可以指代以時(shí)間序列記錄信息的相機(jī)的性質(zhì),特別是在條形碼相對(duì)于條形碼讀取器移動(dòng)的情況中。

相機(jī)可以是集成芯片,包括ccd或cmos相機(jī)中的一個(gè)或多個(gè)。特別地,相機(jī)可以包括至少一個(gè)光學(xué)敏感的元件,例如光電二極管、光電池、ccd芯片、光電晶體管或類似的光學(xué)敏感的元件,其可以被配置成檢測(cè)入射電磁輻射(更特別地,可見和/或紅外和/或紫外光譜范圍中的光)的強(qiáng)度或強(qiáng)度中的改變。術(shù)語“電荷耦合器件(ccd)相機(jī)”一般可以指代包括大量(特別是至少一百個(gè))排成行的小型光傳感器的陣列的任意設(shè)備。每個(gè)光傳感器可以被配置成測(cè)量光的強(qiáng)度。ccd相機(jī)可以被配置成生成與應(yīng)當(dāng)被描繪(特別是通過順序地測(cè)量跨行中的每個(gè)光傳感器的電壓)的對(duì)象的模式相同的至少一個(gè)電壓模式。術(shù)語“互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(cmos)相機(jī)”一般可以指代包括像素傳感器(特別是光電檢測(cè)器)陣列和有源放大器的任意設(shè)備。因而,cmos相機(jī)可以通過互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體技術(shù)而生產(chǎn)。除此之外,集成相機(jī)芯片可以包括透鏡系統(tǒng)或孔系統(tǒng)中的一個(gè)或多個(gè)。術(shù)語“透鏡”可以指代被配置成通過折射影響光束聚焦的任意透射光學(xué)設(shè)備,并且術(shù)語“孔(aperture)”一般可以指代光行進(jìn)通過的任意孔洞或開口。

術(shù)語“電路板”一般可以指代被配置成特別地通過使用軌道、焊盤和/或其它元件(諸如晶體管或電阻器)機(jī)械地支撐和/或電連接電子組件的任意設(shè)備。電路板可以特別地是印刷電路板。術(shù)語“印刷電路板”一般可以指代下述任意電路板:其中軌道、焊盤和/或其它組件可以從被層壓到非導(dǎo)電基底上的銅片材中蝕刻。基底可以示例性地由纖維玻璃、復(fù)合環(huán)氧樹脂、層壓材料中的至少一個(gè)制成。如上所述,條形碼讀取器的至少一個(gè)電子控制元件被設(shè)置在電路板上。術(shù)語“電子控制元件”一般可以指代被配置成控制一個(gè)或多個(gè)電學(xué)系統(tǒng)或子系統(tǒng)的任意電子設(shè)備。特別地,電子控制元件可以包括被配置用于進(jìn)行下述一個(gè)或多個(gè)的至少一個(gè)電子組件:驅(qū)動(dòng)、監(jiān)控或評(píng)估條形碼讀取功能。條形碼評(píng)估設(shè)備可以被配置用于控制條形碼讀取和/或用于進(jìn)行對(duì)由相機(jī)提供的光學(xué)信息的記錄、存儲(chǔ)、評(píng)估、監(jiān)控中的一個(gè)或多個(gè)。特別地,條形碼評(píng)估設(shè)備可以被配置成從條形碼中導(dǎo)出至少一項(xiàng)信息。條形碼評(píng)估設(shè)備可以包括軟件和/或硬件組件。此外,電子控制元件可以包括至少一個(gè)數(shù)據(jù)處理設(shè)備,可選地具有一個(gè)或多個(gè)易失性或非易失性存儲(chǔ)元件。此外,電子控制元件可以包括一個(gè)或多個(gè)操作元件,諸如錄入命令和/或控制數(shù)據(jù)和/或其它信息。此外,電子控制元件可以包括一個(gè)或多個(gè)顯示設(shè)備和/或其它類型的用戶接口。電子控制元件可以被體現(xiàn)為單個(gè)組件或可以被體現(xiàn)為多個(gè)部分,可選地還分布在電路板的各種區(qū)上??刂圃梢园ㄌ幚砥鳌pga、dsp或asic中的一個(gè)或多個(gè)。其它實(shí)施例是可行的。

如上所述,電路板具有正側(cè)和背側(cè)。術(shù)語“側(cè)”一般可以指代可以從一個(gè)視角可觀看的對(duì)象的任意組件或部分。在對(duì)象具有立方體形狀的情況中,術(shù)語“側(cè)”可以特別地指代立方體的一個(gè)表面。術(shù)語“正側(cè)”和“背側(cè)”可以被視為描述,而沒有指定次序且沒有排除若干種類的正側(cè)和背側(cè)面可以被應(yīng)用的可能性。

如上所述,電路板包括穿透電路板的至少一個(gè)腔。術(shù)語“腔”一般可以指代固體材料的表面內(nèi)的任意空隙容積。特別地,腔可以是電路板中的通孔??蛇x地,通孔可以被層(特別地,被透明層)覆蓋。層可以在電路板的一側(cè)上(特別地在電路板的背側(cè)上)覆蓋通孔。此外,腔可以具有選自包括以下各項(xiàng)的組的至少一個(gè)橫截面:圓形橫截面、橢圓形橫截面、多邊形橫截面,特別是矩形橫截面。

術(shù)語“載體元件”一般可以指代被配置成支承、支撐或接收另一元件的任意對(duì)象。所述另一元件可以松弛地位于所述對(duì)象上或可以穩(wěn)固地附連到所述對(duì)象。示例性地,所述另一元件可以接合到所述對(duì)象上或可以集成到所述對(duì)象中。術(shù)語“接合的”一般可以指代固定地連接到另一對(duì)象的任意元件的性質(zhì)。特別地,元件可以經(jīng)由至少一個(gè)黏合材料或經(jīng)由焊接而連接到所述對(duì)象。然而,其它實(shí)施例可以是可行的。術(shù)語“集成的”可以指代下述狀態(tài):其中兩個(gè)或更多個(gè)對(duì)象可以被永久地構(gòu)建到所述兩個(gè)或更多個(gè)對(duì)象中的至少另一個(gè)中。因而,所述兩個(gè)或更多個(gè)對(duì)象可以形成單個(gè)件。因而,所述兩個(gè)或更多個(gè)對(duì)象可以以節(jié)省空間或緊致的方式布置。此外,所述兩個(gè)或更多個(gè)對(duì)象可以以互補(bǔ)的方式被設(shè)計(jì)成使得組件可能能夠與彼此交互。示例性地,相機(jī)載體元件可以是以下之一:接合到電路板的背側(cè)上或可以集成到電路板的背側(cè)中和/或經(jīng)由至少一個(gè)插頭連接而連接到電路板的背側(cè)。特別地,電路板和相機(jī)載體元件可以是印刷電路板,并且相機(jī)載體元件的印刷電路板可以接合在電路板的背側(cè)上。

術(shù)語“評(píng)估設(shè)備”一般可以指代被配置成從數(shù)據(jù)中導(dǎo)出至少一項(xiàng)信息的任意設(shè)備。特別地,評(píng)估設(shè)備可以被配置成從至少一個(gè)信號(hào)中導(dǎo)出關(guān)于以下各項(xiàng)的至少一項(xiàng)信息:體液中分析物的存在和/或濃度或者體液的參數(shù)。

如上所述,評(píng)估設(shè)備包括測(cè)量設(shè)備。術(shù)語“測(cè)量設(shè)備”一般可以指代可被配置成檢測(cè)至少一個(gè)信號(hào)的任意設(shè)備,優(yōu)選地,電子設(shè)備。信號(hào)可以是光學(xué)信號(hào)和/或電化學(xué)信號(hào)。測(cè)量設(shè)備可以與測(cè)試元件無關(guān)地處置,且可以被適配成與測(cè)試元件交互以便執(zhí)行分析,諸如通過檢測(cè)至少一個(gè)信號(hào)。因而,術(shù)語“測(cè)量設(shè)備”通常還可以被稱為測(cè)量設(shè)備、分析設(shè)備、儀表或測(cè)試設(shè)備。

如上所述,評(píng)估設(shè)備包括測(cè)試元件支承器。術(shù)語“測(cè)試元件支承器”一般可以指代被配置成接收或支承任意測(cè)試元件的任意對(duì)象。特別地,測(cè)試元件可以被定位在測(cè)試元件支承器內(nèi)的特定位置上,使得測(cè)試元件在至少一個(gè)方向上的移動(dòng)可以至少在很大程度上被抑制。因而,測(cè)試元件的測(cè)量區(qū)和/或條形碼可以分別位于相對(duì)于測(cè)量設(shè)備和相機(jī)的預(yù)定位置中。測(cè)試元件可以特別地被配置成被可逆地置于測(cè)試元件支承器中。因而,測(cè)試元件可以在沒有另外的麻煩的情況下可從測(cè)試元件支承器移除。仍然,其它實(shí)施例是可行的。測(cè)試元件可以至少部分地被接收在測(cè)試元件支承器中。術(shù)語“被接收”一般可以指代對(duì)象完全或至少部分地位于或被插入到插座中或另一元件的開口中的狀況。因而,對(duì)象的一部分可以位于所述另一元件外部。示例性地,測(cè)試元件支承器可以包括被配置用于接收測(cè)試元件的至少一個(gè)插座。因而,插座可以被成形為與測(cè)試元件互補(bǔ)。因此,插座和測(cè)試元件可以被配置成建立形狀配合(form-fit)的連接。條形碼讀取器和測(cè)量設(shè)備可以位于插座的相對(duì)側(cè)上。仍然,其它實(shí)施例是可行的。測(cè)試元件支承器可以包括具有接觸表面的至少一個(gè)接觸元件,所述接觸表面允許測(cè)試元件的接觸表面與測(cè)試元件支承器的接觸表面之間的電接觸。

相機(jī)載體元件可以包括電連接到相機(jī)的電接觸部。因而,電接觸部可以電連接到電路板的至少一個(gè)電接觸部。電路板的電接觸部可以位于電路板的背側(cè)上。電路板可以包括至少一個(gè)通路,其將位于背側(cè)上的電路板的電接觸部與位于正側(cè)上的至少一個(gè)電子控制元件電連接。如本文中所使用的,術(shù)語“接觸元件”一般指代導(dǎo)電的任意元件。此外,接觸元件可以包括一個(gè)或多個(gè)表面,特別是平坦表面,其可以被配置成與其它導(dǎo)電元件建立緊密連接。術(shù)語“通路”一般可以指代穿過一個(gè)或多個(gè)相鄰層的至少一個(gè)平面的層之間的任意電連接。

相機(jī)載體元件可以包括至少一個(gè)印刷電路板,所述印刷電路板具有至少一個(gè)電接觸焊盤,所述電接觸焊盤具有相機(jī)電接合在其上。如本文中所使用的,術(shù)語“接觸焊盤”一般指代具有導(dǎo)電的開放或電可接觸表面的元件。作為示例,接觸焊盤可以是或可以包括至少一個(gè)導(dǎo)電材料的至少一個(gè)層,所述導(dǎo)電材料直接地或間接地可以沉積到基底上,且提供電可接觸表面。在與基底的表面平行的方向或維度上,接觸焊盤可以提供接觸表面區(qū)域,諸如具有矩形形狀、多邊形形狀或圓形形狀的區(qū)域。其它形狀是可能的。

相機(jī)載體元件可以包括相機(jī)載體元件腔。相機(jī)載體元件可以被定位成使得相機(jī)載體元件腔完全或部分地位于腔內(nèi)部或以與電路板的腔重疊的方式定位。相機(jī)可以被安裝在相機(jī)載體元件腔內(nèi)部。特別地,相機(jī)載體元件腔可以是盲孔,其具有面向測(cè)試元件的開口。相機(jī)載體元件可以包括相機(jī)載體元件腔內(nèi)部的至少一個(gè)電接觸焊盤,并且相機(jī)可以電接合到電接觸焊盤上。

相機(jī)可以包括正面。如本文中還使用的術(shù)語“面”可以指代可以從一個(gè)視角可觀看的對(duì)象的部分。特別地,相機(jī)的正面可以指代被配置用于記錄圖像的相機(jī)部分。因而,術(shù)語“正面”可以被視為描述,而沒有指定次序并且沒有排除若干種類的正面可以存在的可能性。測(cè)試元件支承器內(nèi)部的測(cè)試元件的條形碼與電路板的正側(cè)之間的距離可以小于條形碼與相機(jī)正面之間的距離。特別地,條形碼與相機(jī)正側(cè)之間的距離可以按至少電路板厚度而超過條形碼與電路板正側(cè)之間的距離。如本文中還使用的,術(shù)語“距離”可以指代兩個(gè)或更多個(gè)對(duì)象距彼此相隔多遠(yuǎn)的數(shù)值描述。特別地,距離可以指代物理長(zhǎng)度。術(shù)語“厚度”一般可以指代任意對(duì)象的與對(duì)象的延伸方向垂直的尺寸。特別地,電路板可以具有細(xì)長(zhǎng)形狀,并且正側(cè)可以指代電路板的沿延伸方向延伸的一側(cè)。因而,厚度可以指代電路板的與電路板的正側(cè)垂直的尺寸。特別地,電路板的厚度可以貢獻(xiàn)于相機(jī)的自由工作距離。術(shù)語“自由工作距離”可以指代任意相機(jī)(特別是相機(jī)的正透鏡)與任意所聚焦的對(duì)象之間的距離。

在本發(fā)明的另一方面中,公開了一種用于制造根據(jù)如上所述或如下進(jìn)一步描述的任何實(shí)施例的測(cè)試元件分析系統(tǒng)的方法。所述方法包括如獨(dú)立權(quán)利要求中給出且如列出如下的方法步驟。這些方法步驟可以以給定的次序執(zhí)行。然而,這些方法步驟的其它次序是可行的。此外,這些方法步驟中的一個(gè)或多個(gè)可以并行地和/或以適時(shí)重疊的方式執(zhí)行。此外,這些方法步驟中的一個(gè)或多個(gè)可以重復(fù)執(zhí)行。此外,可以存在沒有列出的附加方法步驟。

用于制造測(cè)試元件分析系統(tǒng)的方法包括:

a)提供電路板;

b)提供相機(jī)載體元件;

c)將相機(jī)連接到相機(jī)載體元件;

d)將相機(jī)載體元件連接到電路板的背側(cè)。

在步驟c)中,相機(jī)可以通過接合而連接到相機(jī)載體元件。特別地,相機(jī)載體元件可以接合到電路板的背側(cè)。附加地或可替換地,載體元件和電路板可以被制造為一個(gè)單個(gè)件。

所提出的用于樣本的分析檢查的測(cè)試元件分析系統(tǒng)以及所提出的用于制造測(cè)試元件分析系統(tǒng)的方法提供了相比于已知設(shè)備和方法的許多優(yōu)點(diǎn)。

通常,組件的構(gòu)造高度(特別是在手持醫(yī)學(xué)設(shè)備(諸如手持分析系統(tǒng))的領(lǐng)域中)仍然是有挑戰(zhàn)性的。由于不僅光學(xué)系統(tǒng)本身的元件的構(gòu)造高度而且還有自由工作距離都貢獻(xiàn)于相機(jī)或相機(jī)系統(tǒng)的所需總構(gòu)造高度,因此這方面可能特別地必須被考慮。

通常,常見的測(cè)試元件分析系統(tǒng)一般可以包括大的安裝空間、大的自由工作距離和/或可以是高價(jià)格的。一般在小安裝空間的情況中,可能存在長(zhǎng)焦距,其可能特別地導(dǎo)致大的自由工作距離。此外,構(gòu)造單元可能一般僅僅在短期(消費(fèi)者市場(chǎng))內(nèi)是可用的。

因此,根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試元件分析系統(tǒng)可以包括相機(jī),所述相機(jī)被置于載體元件的載體元件腔中且可以示例性地焊接到載體元件和/或可以被密封。該單元可以焊接到電路板的背側(cè),其中相機(jī)俯視,即朝向電路板的腔。相機(jī)可以面向要通過電路板的腔而檢測(cè)的平面。因此,電路板的厚度可以貢獻(xiàn)于自由工作距離。

在另一方面中,公開了一種用于讀取至少一個(gè)條形碼的條形碼讀取器。所述條形碼讀取器包括:

-至少一個(gè)電路板,所述電路板具有面向條形碼的正側(cè)和背對(duì)條形碼的至少一個(gè)背側(cè),其中條形碼讀取器的至少一個(gè)電子控制元件被設(shè)置在電路板上,并且其中電路板包括穿透電路板的至少一個(gè)腔;

-至少一個(gè)相機(jī)載體元件,其被設(shè)置在電路板的背側(cè)上;

-至少一個(gè)相機(jī),所述相機(jī)電連接到相機(jī)載體元件,其中相機(jī)載體元件和相機(jī)被定位成使得相機(jī)通過腔來觀測(cè)條形碼。

對(duì)于條形碼讀取器的特征的定義以及對(duì)于條形碼讀取器的可選細(xì)節(jié),可以參考如上所公開或如下進(jìn)一步詳細(xì)公開的測(cè)試元件分析系統(tǒng)的實(shí)施例中的一個(gè)或多個(gè)。特別地,條形碼讀取器可以被體現(xiàn)成具有參考根據(jù)測(cè)試元件分析系統(tǒng)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例的條形碼讀取器的特征。

根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試元件分析系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)可以是低構(gòu)造高度,特別是在相機(jī)可以被置于相機(jī)載體元件內(nèi)時(shí)。此外,相機(jī)可以被保護(hù)免受機(jī)械應(yīng)力且可以被屏蔽對(duì)抗環(huán)境影響,諸如潮濕和/或環(huán)境大氣、電磁影響等等。保護(hù)可以特別地通過將相機(jī)置于相機(jī)載體元件內(nèi)和/或通過密封相機(jī)(特別是通過密封相機(jī)載體元件腔)而實(shí)現(xiàn)。此外,自由工作距離可以增加,特別是在相機(jī)可以被配置成通過電路板的腔來觀看時(shí)。示例性地,腔可以集成到相機(jī)載體元件中。最后,這可能導(dǎo)致較低的自由工作距離,其可以被電路板的較高厚度補(bǔ)償。

總結(jié)本發(fā)明的研究結(jié)果,以下實(shí)施例是優(yōu)選的:

實(shí)施例1:一種用于樣本、特別是體液的分析檢查的測(cè)試元件分析系統(tǒng),包括:

-至少一個(gè)評(píng)估設(shè)備,其具有:至少一個(gè)測(cè)試元件支承器,用于定位包含樣本的至少一個(gè)測(cè)試元件;以及至少一個(gè)測(cè)量設(shè)備,用于測(cè)量測(cè)試元件的測(cè)量區(qū)中的改變,所述改變表示樣本的分析物或參數(shù)的特性;

-至少一個(gè)條形碼讀取器,用于讀取測(cè)試元件上的至少一個(gè)條形碼,其中所述條形碼讀取器包括:

○至少一個(gè)電路板,所述電路板具有面向被定位在測(cè)試元件支承器中的測(cè)試元件的條形碼的正側(cè)以及背對(duì)測(cè)試元件的至少一個(gè)背側(cè),其中條形碼讀取器的至少一個(gè)電子控制元件被設(shè)置在電路板上,并且其中所述電路板包括穿透電路板的至少一個(gè)腔;

○至少一個(gè)相機(jī)載體元件,其被設(shè)置在電路板的背側(cè)上;

○至少一個(gè)相機(jī),所述相機(jī)電連接到相機(jī)載體元件,其中相機(jī)載體元件和相機(jī)被定位成使得相機(jī)通過腔來觀測(cè)條形碼。

實(shí)施例2:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中相機(jī)載體元件是以下之一:接合到電路板的背側(cè)上、集成到電路板的背側(cè)中或經(jīng)由至少一個(gè)插頭連接而連接到電路板的背側(cè)。

實(shí)施例3:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中相機(jī)載體元件包括至少一個(gè)印刷電路板,所述印刷電路板具有至少一個(gè)電接觸焊盤,所述電接觸焊盤具有相機(jī)電接合在其上。

實(shí)施例4:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中電路板和相機(jī)載體元件是印刷電路板,其中相機(jī)載體元件的印刷電路板接合在電路板的背側(cè)上。

實(shí)施例5:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中所述腔是電路板中的通孔。

實(shí)施例6:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中相機(jī)載體元件包括相機(jī)載體元件腔,其中所述相機(jī)載體元件被定位成使得相機(jī)載體元件腔完全或部分地位于腔內(nèi)部或者以與電路板的腔重疊的方式定位,其中相機(jī)被安裝在相機(jī)載體元件腔內(nèi)部。

實(shí)施例7:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中相機(jī)載體元件腔是盲孔,其具有面向測(cè)試元件的開口。

實(shí)施例8:根據(jù)前述兩個(gè)實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中相機(jī)載體元件包括相機(jī)載體元件腔內(nèi)部的至少一個(gè)電接觸焊盤,其中相機(jī)電接合到電接觸焊盤上。

實(shí)施例9:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中相機(jī)包括正面,其中在被置于測(cè)試元件支承器內(nèi)部時(shí)測(cè)試元件的條形碼與電路板的正側(cè)之間的距離小于條形碼與相機(jī)正面之間的距離。

實(shí)施例10:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中條形碼與相機(jī)正面之間的距離按至少電路板厚度而超過條形碼與電路板的正側(cè)之間的距離。

實(shí)施例11:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中電路板的厚度貢獻(xiàn)于相機(jī)的自由工作距離。

實(shí)施例12:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中測(cè)試元件支承器包含接觸元件,所述接觸元件具有接觸表面,所述接觸表面允許測(cè)試元件的接觸表面與測(cè)試元件支承器的接觸表面之間的電接觸。

實(shí)施例13:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中測(cè)試元件支承器包括被配置用于接收測(cè)試元件的至少一個(gè)插座。

實(shí)施例14:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中條形碼讀取器和測(cè)量設(shè)備位于插座的相對(duì)側(cè)上。

實(shí)施例15:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中測(cè)試元件分析系統(tǒng)還包括至少一個(gè)測(cè)試元件,所述測(cè)試元件具有能夠執(zhí)行表示分析物或參數(shù)的特性的至少一個(gè)改變的至少一個(gè)測(cè)量區(qū),所述測(cè)試元件還具有至少一個(gè)條形碼。

實(shí)施例16:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中測(cè)試元件是電化學(xué)測(cè)試元件。

實(shí)施例17:根據(jù)前述兩個(gè)實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中條形碼承載選自包括以下各項(xiàng)的組的至少一個(gè)光學(xué)信息:測(cè)試類型;批次或批號(hào);制造日期;滿期日期;關(guān)于校準(zhǔn)的信息項(xiàng)。

實(shí)施例18:根據(jù)前述三個(gè)實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中測(cè)試元件包括被配置用于接收樣本的至少一個(gè)毛細(xì)管。

實(shí)施例19:根據(jù)前述四個(gè)實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中測(cè)試元件包括被配置用于激活體液的成分的凝結(jié)的至少一個(gè)試劑。

實(shí)施例20:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中電子控制元件包括至少一個(gè)條形碼評(píng)估設(shè)備,所述條形碼評(píng)估設(shè)備被配置用于進(jìn)行以下各項(xiàng)中的至少一個(gè):對(duì)由相機(jī)提供的光學(xué)信息的記錄、存儲(chǔ)、評(píng)估、監(jiān)控。

實(shí)施例21:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中相機(jī)是集成相機(jī)芯片,其包括ccd或cmos相機(jī)中的一個(gè)或多個(gè)。

實(shí)施例22:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中集成相機(jī)芯片還包括透鏡系統(tǒng)或孔系統(tǒng)中的一個(gè)或多個(gè)。

實(shí)施例23:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中相機(jī)載體元件包括電連接到相機(jī)的電接觸部。

實(shí)施例24:根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中相機(jī)載體元件的電接觸部電連接到電路板的至少一個(gè)電接觸部。

實(shí)施例25:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的測(cè)試元件分析系統(tǒng),其中電路板的電接觸部位于電路板的背側(cè)上,并且其中所述電路板包括至少一個(gè)通路,所述通路將電路板的電接觸部與被設(shè)置在正側(cè)上的至少一個(gè)電子控制元件電連接。

實(shí)施例26:一種用于制造根據(jù)前述實(shí)施例中任一個(gè)的測(cè)試元件分析系統(tǒng)的方法,所述方法包括:

a)提供電路板;

b)提供相機(jī)載體元件;

c)將相機(jī)連接到相機(jī)載體元件;

d)將相機(jī)載體元件連接到電路板的背側(cè)。

實(shí)施例27:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的方法,其中相機(jī)通過接合而連接到相機(jī)載體元件。

實(shí)施例28:根據(jù)前述兩個(gè)實(shí)施例中任一個(gè)的方法,其中相機(jī)載體元件接合到電路板的背側(cè)。

實(shí)施例29:根據(jù)實(shí)施例26或27中任一個(gè)的方法,其中相機(jī)載體元件和電路板被制造為一個(gè)單個(gè)件。

實(shí)施例30:一種用于讀取至少一個(gè)條形碼的條形碼讀取器,其中所述條形碼讀取器包括:

-至少一個(gè)電路板,所述電路板具有面向條形碼的正側(cè)以及背對(duì)條形碼的至少一個(gè)背側(cè),其中條形碼讀取器的至少一個(gè)電子控制元件被設(shè)置在電路板上,并且其中所述電路板包括穿透電路板的至少一個(gè)腔;

-被設(shè)置在電路板的背側(cè)上的至少一個(gè)相機(jī)載體元件;

-至少一個(gè)相機(jī),所述相機(jī)電連接到相機(jī)載體元件,其中相機(jī)載體元件和相機(jī)被定位成使得相機(jī)通過腔來觀測(cè)條形碼。

實(shí)施例31:根據(jù)前項(xiàng)實(shí)施例的條形碼讀取器,所述條形碼讀取器具有參考如實(shí)施例1至25中的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中所公開的條形碼讀取器的特征。

附圖說明

將在優(yōu)選實(shí)施例的隨后描述中、優(yōu)選地結(jié)合從屬權(quán)利要求而更詳細(xì)地公開本發(fā)明的另外的可選特征和實(shí)施例。其中,相應(yīng)的可選特征可以以隔離的方式以及以任何任意可行的組合而實(shí)現(xiàn),如技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到的那樣。本發(fā)明的范圍不受優(yōu)選實(shí)施例限制。實(shí)施例在附圖中被示意性地描繪。其中,這些附圖中的相同參考標(biāo)號(hào)指代相同的或功能上可比較的元件。

在附圖中:

圖1a至1b以后視圖(圖1a)和以前視圖(圖1b)示出了測(cè)試元件的示例性實(shí)施例;

圖2a和2b以透視圖(圖2a)和以前視圖(圖2b)示出了相機(jī)載體元件的示例性實(shí)施例;

圖3a和3b以橫截面視圖示出了條形碼讀取器的示例性實(shí)施例;以及

圖4以橫截面視圖示出了測(cè)試元件分析系統(tǒng)的示例性實(shí)施例。

具體實(shí)施方式

圖1a和1b以后視圖(圖1a)和以前視圖(圖1b)示出了測(cè)試元件110的示例性實(shí)施例。測(cè)試元件110可以特別地是條狀測(cè)試元件112且還可以被稱作測(cè)試條114。測(cè)試元件110可以特別地是電化學(xué)測(cè)試元件116。電化學(xué)測(cè)試元件116可以被配置用于執(zhí)行至少一個(gè)電化學(xué)檢測(cè)。因此,測(cè)試元件110可以具有:至少一個(gè)測(cè)量區(qū)118,能夠執(zhí)行表示樣本的分析物或參數(shù)的特性的至少一個(gè)改變??梢越柚谠跍y(cè)量區(qū)118中提供的電極(未示出)來測(cè)量電學(xué)量。測(cè)試元件110可以包括導(dǎo)電接觸表面120。可以經(jīng)由導(dǎo)體路徑122將電信號(hào)傳遞到導(dǎo)電接觸表面120上。測(cè)試元件110可以包括被配置用于接收樣本的至少一個(gè)毛細(xì)管124。毛細(xì)管124可以被配置成使得諸如樣本之類的流體介質(zhì)可以通過毛細(xì)作用來遷移通過毛細(xì)管。毛細(xì)管124可以包括至少一個(gè)進(jìn)口124和至少一個(gè)通風(fēng)開口128。

測(cè)試元件110還可以包括至少一個(gè)條形碼130,如圖1b中所示。條形碼130可以是二維條形碼132,特別是數(shù)據(jù)矩陣碼134。條形碼130可以包括多個(gè)模塊136。模塊136可以示例性地被體現(xiàn)為方形或矩形。特別地,條形碼130可以承載選自包括以下各項(xiàng)的組的至少一個(gè)光學(xué)信息:測(cè)試類型;批次或批號(hào);制造日期;滿期日期;關(guān)于校準(zhǔn)的信息項(xiàng)。仍然,其它光學(xué)信息是可行的。條形碼130可以被配置成通過光學(xué)或光電子手段而讀出。因而,模塊136可以被配置成假定至少兩個(gè)不同的光學(xué)可檢測(cè)的狀態(tài)。

圖2a和2b以透視圖(圖2a)和以前視圖(圖2b)示出了相機(jī)載體元件138的示例性實(shí)施例。相機(jī)載體元件138可以特別地是印刷電路板140且可以示例性地具有矩形形狀。仍然,其它實(shí)施例是可行的。相機(jī)載體元件138可以特別地包括至少一個(gè)相機(jī)載體元件腔142。特別地,相機(jī)載體元件腔142可以是具有開口146的盲孔144。開口146可以在被置于評(píng)估設(shè)備的測(cè)試元件支承器內(nèi)部時(shí)面向測(cè)試元件110,諸如,如圖1a至1b內(nèi)所描述的測(cè)試元件110。相機(jī)載體元件腔142可以具有圓形橫截面。仍然,其它實(shí)施例是可行的。此外,相機(jī)載體元件142可以包括相機(jī)載體元件腔142內(nèi)部的至少一個(gè)電接觸焊盤148。

圖3a和3b以橫截面視圖示出了條形碼讀取器150的示例性實(shí)施例。條形碼讀取器150包括至少一個(gè)電路板152、至少一個(gè)相機(jī)154和至少一個(gè)相機(jī)載體元件138。相機(jī)載體元件138可以至少在寬部分中對(duì)應(yīng)于如圖2a和2b中所圖示的相機(jī)載體元件138。因而,可以參考以上對(duì)圖2a和2b的描述。

電路板152具有正側(cè)156和背側(cè)158。正側(cè)156面向被定位在測(cè)試元件支承器160(在圖3中未示出)中的測(cè)試元件110(在圖3中未示出)的條形碼130。背側(cè)158背對(duì)測(cè)試元件110。電路板152包括至少一個(gè)腔162。腔162完全或部分地穿透電路板152。特別地,腔162可以是電路板152中的通孔164。示例性地,腔162可以具有圓形橫截面或者矩形橫截面。仍然,其它實(shí)施例是可行的。除此之外,電路板152包括條形碼讀取器150的至少一個(gè)電子控制元件166。電子控制元件166被設(shè)置在電路板152上。條形碼讀取器150可以包括至少一個(gè)條形碼評(píng)估設(shè)備167,該條形碼評(píng)估設(shè)備167被配置用于進(jìn)行以下各項(xiàng)中的至少一個(gè):對(duì)由相機(jī)154提供的光學(xué)信息的記錄、存儲(chǔ)、評(píng)估、監(jiān)控。條形碼評(píng)估設(shè)備167可以是電子控制元件166的部分。

相機(jī)載體元件138被設(shè)置在電路板152的背側(cè)158上。示例性地,如在圖3a中所示,相機(jī)載體元件138接合到電路板152的背側(cè)158上??商鎿Q地,如圖3b中所示,相機(jī)載體元件138可以集成到電路板152的背側(cè)158中。

相機(jī)154可以是集成相機(jī)芯片168,其示例性地包括ccd相機(jī)170。此外,集成相機(jī)芯片168可以包括透鏡系統(tǒng)或孔系統(tǒng)(未示出)中的一個(gè)或多個(gè)。相機(jī)154電連接到相機(jī)載體元件138。特別地,相機(jī)154可以電接合到相機(jī)載體元件138的電接觸焊盤148上。相機(jī)載體元件138和相機(jī)154被定位成使得相機(jī)154通過電路板152的腔162來觀測(cè)條形碼130(在圖3中未示出)。相機(jī)154可以包括正面172。測(cè)試元件支承器160內(nèi)部的測(cè)試元件110的條形碼130與電路板152的正側(cè)156之間的距離可以小于條形碼130與相機(jī)154的正面172之間的距離。特別地,條形碼130與相機(jī)154的正面172之間的距離可以按電路板152的至少厚度t而超過條形碼130與電路板152的正側(cè)156之間的距離。電路板152的厚度t可以貢獻(xiàn)于相機(jī)154的自由工作距離。

圖4以橫截面視圖示出了測(cè)試元件分析系統(tǒng)174的示例性實(shí)施例。測(cè)試元件分析系統(tǒng)174被配置用于樣本(特別是體液)的分析檢查。測(cè)試元件分析系統(tǒng)174包括至少一個(gè)評(píng)估設(shè)備176,該評(píng)估設(shè)備176具有測(cè)試元件支承器160和測(cè)量設(shè)備178。此外,測(cè)試元件分析系統(tǒng)174包括至少一個(gè)條形碼讀取器150。條形碼讀取器150包括至少一個(gè)電路板152、至少一個(gè)相機(jī)載體元件138和至少一個(gè)相機(jī)154。條形碼讀取器150至少在寬部分中對(duì)應(yīng)于如圖3a和3b中所圖示的條形碼讀取器150。因而,可以參考以上對(duì)圖3a和3b的描述。測(cè)試元件110可以至少在寬部分中對(duì)應(yīng)于如圖1a和1b中所圖示的測(cè)試元件110。因而,可以參考以上對(duì)圖1a和1b的描述。

測(cè)試元件支承器160被配置用于定位包含樣本的測(cè)試元件110。因此,測(cè)試元件支承器160可以包括被配置用于接收測(cè)試元件110的至少一個(gè)插座180。因而,插座180可以被成形為與測(cè)試元件110互補(bǔ)。插座180和測(cè)試元件110可以被配置成建立形狀配合的連接。特別地,測(cè)試元件110可以被固定地定位在測(cè)試元件支承器160內(nèi)的特定位置上,使得測(cè)試元件110在至少一個(gè)方向上的移動(dòng)可以至少在很大程度上被抑制。因而,測(cè)試元件110的測(cè)量區(qū)118和/或條形碼130可以分別位于相對(duì)于測(cè)量設(shè)備178和相機(jī)154的預(yù)定位置中。特別地,條形碼讀取器150和測(cè)量設(shè)備178可以位于插座180的相對(duì)側(cè)上。仍然,其它實(shí)施例是可行的。

測(cè)量設(shè)備178被配置用于測(cè)量測(cè)試元件110的測(cè)量區(qū)118中的改變,該改變表示樣本的分析物或參數(shù)的特性。測(cè)試元件支承器160可以包括接觸元件182,接觸元件182具有接觸表面184,接觸表面184可以允許測(cè)試元件110的導(dǎo)電接觸表面120之間的電接觸。接觸元件182可以連接到測(cè)量和評(píng)估電子器件186,測(cè)量和評(píng)估電子器件186可以是高度集成的,以便實(shí)現(xiàn)非常緊致的構(gòu)造和高度可靠性。測(cè)量和評(píng)估電子器件186可以特別地包括印刷電路板188和集成電路190。仍然,其它實(shí)施例是可行的。

參考標(biāo)號(hào)列表

110測(cè)試元件

112條狀測(cè)試元件

114測(cè)試條

116電化學(xué)測(cè)試元件

118測(cè)量區(qū)

120接觸表面

122導(dǎo)體路徑

124毛細(xì)管

126進(jìn)口

128通風(fēng)開口

130條形碼

132二維條形碼

134數(shù)據(jù)矩陣碼

136模塊

138相機(jī)載體元件

140印刷電路板

142相機(jī)載體元件腔

144盲孔

146開口

148電接觸焊盤

150條形碼讀取器

152電路板

154相機(jī)

156正側(cè)

158背側(cè)

160測(cè)試元件支承器

162腔

164通孔

166電子控制元件

167條形碼評(píng)估設(shè)備

168集成相機(jī)芯片

170ccd相機(jī)

172正面

174測(cè)試元件分析系統(tǒng)

176評(píng)估設(shè)備

178測(cè)量設(shè)備

180插座

182接觸元件

184接觸表面

186測(cè)量和評(píng)估電子器件

188印刷電路板

190集成電路

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