專利名稱：用于對測試元件上的試樣進(jìn)行分析的分析儀器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及ー種用于對分析的測試元件上的試樣進(jìn)行分 析的分析儀器，該分析儀器包括至少ー個(gè)用于電流傳輸?shù)碾娊佑|的部件。
背景技術(shù)：
為分析試樣，比如象血液或尿液一祥的體液，經(jīng)常使用分析儀器，在所述分析儀器上，在對試樣進(jìn)行分析之前，有待分析的試樣處于測試元件上，并且在測試區(qū)中必要時(shí)與所述測試元件上的ー種或多種試劑進(jìn)行反應(yīng)。對測試元件進(jìn)行光學(xué)的尤其光度測量的分析以及電化學(xué)的分析是最為常用的、用于快速確定分析物在試樣中的濃度的方法。具有用于試樣分析的測試元件的分析系統(tǒng)通常用在分析學(xué)、環(huán)境分析學(xué)領(lǐng)域中，并且首先用在醫(yī)學(xué)診斷的領(lǐng)域中。尤其在從毛細(xì)管血液中進(jìn)行血糖診斷的領(lǐng)域中，通過光度測量或電化學(xué)的方法接受分析的測量元件具有重要價(jià)值。在此有不同形式的測試元件。比如已知基本上正方形的、又稱為玻片(Slide)的薄片，在其中間設(shè)置了多層的測試區(qū)。構(gòu)造為條帶狀的診斷測試元件則稱為測試條。在現(xiàn)有技術(shù)中，比如在文件 DE-A 19753 847,EP-A 0 821 233,EP-A 0 821 234 或 WO 97/02487中對測試元件進(jìn)行了全面地說明。本發(fā)明涉及任意形狀的測試元件，尤其涉及條帶狀的測試元件。為了對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析檢查，在現(xiàn)有技術(shù)中公開了測試元件-分析系統(tǒng)，所述測試元件-分析系統(tǒng)包括用于將測試元件定位在測量位置中的測試元件接納ロ以及用于對由此產(chǎn)生的分析結(jié)果進(jìn)行測量和計(jì)算的測量及分析裝置。WO 00/19185 Al涉及ー種用于對測試元件進(jìn)行光度測量分析的裝置，該裝置包括-具有至少ー個(gè)第一及ー個(gè)第二光源的照明単元，-用于固定具有證明區(qū)的測試元件，使得所述證明區(qū)相對于所述照明単元進(jìn)行定位的支架，-具有至少ー個(gè)探測器的探測單元，所述探測器對由所述證明區(qū)反射的或者通過所述證明區(qū)傳遞的光進(jìn)行探測，-控制單元，該控制単元激活所述兩個(gè)光源并且將由所述探測單元產(chǎn)生的信號作為探測信號記錄下來，以及-分析単元，該分析單元對所述探測信號進(jìn)行分析，用于對包含在試樣中的分析物濃度進(jìn)行計(jì)算。其它分析儀器比如從EP 0 618 443 Al或WO 01/48461 Al中得到公開。由羅氏診斷公司(Roche Diagnostics)開發(fā)的血糖分析儀器Accu-Chek Compact Plus根據(jù)光度測量的測量原理來測量血糖值。事先用病人的血液來潤濕測試元件，在此用光學(xué)的測量模塊來探測在設(shè)在所述測試元件上的測試區(qū)中的變色情況并在儀器中以電子方式將其轉(zhuǎn)換為與血糖成比例的數(shù)值。通過接通按鍵來啟動測量過程。隨后設(shè)在馬達(dá)模塊中的馬達(dá)使用作儲備容器的、存有測試元件的滾筒繼續(xù)轉(zhuǎn)過所述儲備容器的ー個(gè)腔室，并且第二馬達(dá)則借助于推桿推出測試元件，從而可以由使用者在儀器外部用血液來潤濕該測試元件。在這過程中該測試元件在一定程度上留在所述分析儀器中，使得具有指示化學(xué)藥品的測試區(qū)在測量模塊中通過測量光學(xué)系統(tǒng)來定位。這個(gè)測量光學(xué)系統(tǒng)具有兩個(gè)ニ極管、一個(gè)光電管和一個(gè)透鏡。漫反射的變化由所述光電管轉(zhuǎn)換為信號電流，所述信號電流則通過印制電路板上的電子線路進(jìn)行處理并且在LC-顯示器上 作為血糖值顯示出來。再度操縱所述接通按鍵來結(jié)束測量過程，將所述測量元件推出來并且切斷所述分析儀器。在此通過兩個(gè)電池向測量及驅(qū)動電子裝置供給大約3V的總電壓。在類似的分析儀器中比如必須從外面輸送測試元件并且必須手動操縱單個(gè)的中間狀態(tài)，與此相反，這個(gè)儀器具有提高的功能集成性。17個(gè)單個(gè)的測試元件存放在滾筒狀的儲備容器中，借助于所述分析儀器中的條形碼閱讀器來自動地識別所述儲備容器的規(guī)格。通過外殼上部分上的開關(guān)在測試元件料盒接納ロ蓋板打開和閉合之后探測這個(gè)滾筒狀的測試元件料盒的更換。所需要的狀態(tài)，如所述測試元件料盒旋轉(zhuǎn)了一步以及在測試元件進(jìn)給過程中不同的保持位置通過與所述印制電路板的電子裝置之間的滑動觸點(diǎn)以及動態(tài)有彈性的開關(guān)觸點(diǎn)來報(bào)告，而不需要由使用者操作的操作功能。動態(tài)有彈性的在這方面意味著在運(yùn)行中力的加載和卸載以及多次移動。所述分析儀器的用于執(zhí)行這些機(jī)電功能的核心部分是馬達(dá)模塊。此外，該馬達(dá)模塊用于接納驅(qū)動馬達(dá)及傳動裝置印制電路板。所述印制電路板用與所述馬達(dá)模塊螺紋連接在一起。為此，所有其它在這兩個(gè)組件之間的觸點(diǎn)構(gòu)造為可松開的靜態(tài)的彈簧觸點(diǎn)，比如用于向驅(qū)動馬達(dá)及測量模塊供電的觸點(diǎn)。靜態(tài)有彈性的在這方面意味著在儀器裝配中一次性的力加載和移動。由于大量集成在該儀器中的、必須由儀器軟件來控制的功能，所述印制電路板構(gòu)造為四層結(jié)構(gòu)。在現(xiàn)有技術(shù)中公開的分析儀器具有大量電接觸的部件。比如在羅氏診斷公司(Roche Diagnostics)的Accu-Chek Compact Plus中就存在著有彈性的觸點(diǎn)、插頭觸點(diǎn)、焊接觸點(diǎn)或滑動觸點(diǎn)，這些觸點(diǎn)將印制電路板、馬達(dá)模塊、測量模塊、滾筒蓋開關(guān)、條形碼閱讀器及LCD (液晶顯示器)這些組件彼此連接在一起。在現(xiàn)有技術(shù)中，為此使用了金屬的沖壓及彎曲件，它們必須定位和安裝在單個(gè)的組件上，由此需要大量單個(gè)的部件并產(chǎn)生很高的裝配開銷及很長的公差鏈。此外，在使用所述沖壓及彎曲件的情況下，所述電接觸的部件的設(shè)計(jì)自由度受到限制。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的任務(wù)是，避免現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)并且提供ー種具有電接觸的部件的、用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的分析儀器，方法是在減少有待裝配的單個(gè)零件的數(shù)目的情況下保證可靠的接觸。按本發(fā)明，該任務(wù)通過ー種包括至少ー個(gè)用于電流傳輸?shù)碾娊佑|的部件的、用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的測試儀器得到解決，所述電接觸的部件適合于與至少ー個(gè)另外的部件之間建立電接觸。該電接觸的部件在此是注塑的線路載體(MID)，尤其是三維的注塑的線路載體。
注塑的線路載體(模塑互連器件(Molded Interconnect Devices-MID)及其制造方法在現(xiàn)有技術(shù)中比如從DE 197 17 882 Al或WO 00/67982 Al中得到公開。在MID-エ藝這個(gè)概念下面歸納了不同的方法，利用這些方法可以制造立體的電子的組件。這些方法的目的是，將電路結(jié)構(gòu)集成在聚合的(多數(shù)熱塑性的)載體部件中。如果研究關(guān)于在儀器中電接觸及電子線路的常規(guī)的解決方案，經(jīng)常發(fā)現(xiàn)彈簧觸點(diǎn)，所述彈簧觸點(diǎn)插入、粘合或熱壓制在外殼中(比如在許多小型儀器中的電池觸點(diǎn))。另ー種方案是金屬的板式彈簧或滑動觸點(diǎn)，它們使外圍的電氣部件與印制電路板相接觸(比如滑動開關(guān)、按鍵或調(diào)整輪)。對儀器功能進(jìn)行控制的電子線路多 數(shù)在印制電路板上實(shí)現(xiàn)。所述印制電路板裝備有必需的電子部件。在最簡單的線路中，為進(jìn)行布線焊接了線纜或者通過插頭使其相互連接。所有這些構(gòu)造及連接技術(shù)有ー個(gè)共同點(diǎn)，即為構(gòu)造有功能能力的系統(tǒng)，多個(gè)部件必須自動地或者手動地定位、接合和安裝。在這種情況下，要么在自動化制造中會產(chǎn)生巨大的設(shè)備開銷，要么在非自動化的制造中要花費(fèi)大量時(shí)間及人事費(fèi)用。與此相反，在分析儀器中使用MIDエ藝來制造電接觸的部件由此提供減少或消除傳統(tǒng)的解決方案的這些缺點(diǎn)的可能性裝配過程可以縮短或完全避免。減少了部件數(shù)量并且縮短公差鏈。在儀器中使用了更少的不同種類的材料，這就方便了廢物清理及回收。除此以外，ー些MID方法提供了用傳統(tǒng)的解決方案無法實(shí)現(xiàn)的功能。MID方法基于有選擇地在注塑件上設(shè)置導(dǎo)電的金屬層。一種這樣的金屬噴涂的聚合的注塑件可以包含電氣功能(比如印制導(dǎo)線、插頭觸點(diǎn)或滑動觸點(diǎn)的功能)以及機(jī)械功能(比如作為緊固件的功能)。最重要的、可以用來在按本發(fā)明的分析儀器中制造所述注塑的線路載體的MID方法是-雙成分注塑，-熱壓模(HeiUprkgen)，-薄膜后噴涂(Folienhinterspritzen)以及-激光結(jié)構(gòu)化(Laserstrukturierung)。在雙成分注塑中，將ー種可金屬噴涂的和ー種不可金屬噴涂的熱塑性的材料成分在兩個(gè)工作步驟中彼此重疊地進(jìn)行噴涂。在這種情況下，在第二次壓射時(shí)使該エ件在模具中支撐在特定的表面上，所述表面在第一次壓射過程中就已得到其最終輪廓。在注塑之后，必要時(shí)使所述可金屬噴涂的熱塑性的塑料的表面產(chǎn)生活性并且以化學(xué)或電鍍的方式施加所期望的金屬層厚度(比如銅層厚度)。在隨后的步驟中，進(jìn)行表面調(diào)質(zhì)處理，比如Ni-Au。在所述可金屬噴涂的材料成分中比如混入鈀，所述鈀用作用于金屬噴涂的晶核。所述鈀晶核比如用作用于穩(wěn)定化的鎳溶液或銅溶液的分解中心。在其它的方法中，使用本來就可金屬噴涂的塑料。金屬噴涂方法分為無外電流的化學(xué)的金屬噴涂(無電源)及電鍍的金屬沉積(有施加的電源)?？赡艿?、可用于所述雙成分注塑法的、可金屬噴涂的成分比如是PES(聚醚砜)、PEI (聚醚酰亞胺)、LCP (液晶聚合物)、PA (聚酰胺)、PPA (聚對苯ニ酰對苯ニ胺)或者ABS (丙烯腈-丁ニ烯-苯こ烯)。作為不可金屬噴涂的成分可以比如使用ABS+PSU(丙烯腈-丁ニ烯-苯こ烯+聚砜)、PPA (聚對苯ニ酰對苯ニ胺)、PBT (聚丁烯苯甲酸酯)、PPS (聚苯硫醚)、PES (聚醚砜)、PC (聚碳酸酯)或PA (聚酰胺)。
在熱壓模中，在注塑之后在ー個(gè)工作步驟中通過金屬薄膜(比如銅膜)的沖裁和印鑄(Aufprkgen)將金屬結(jié)構(gòu)(比如印制導(dǎo)線)施加到塑料基片上。在熱壓模技術(shù)中，可以通過給穿孔填注導(dǎo)電膏來實(shí)現(xiàn)電接觸。在熱壓模中，除了基片的單成分注塑之外還需要制造薄膜。用于MID應(yīng)用的熱壓模薄膜的特征通常在于ー種由ー層導(dǎo)電的銅膜、ー層在下側(cè)面上的附著層以及一層用作氧化層且用于改善可焊接性及可接觸性的表面金屬噴涂層構(gòu)成的三層結(jié)構(gòu)。所述銅膜以電解方式在硫酸銅溶液中直接沉積在旋轉(zhuǎn)的鈦輥上。所述銅膜的在壓模過程中為剪開所述金屬結(jié)構(gòu)(印制導(dǎo)線)所要求的微小的剪切強(qiáng)度在薄膜制造過程中通過特殊的エ藝來達(dá)到，該エ藝導(dǎo)致垂直于薄膜表面的定向的晶體生長。在使用不同的電流負(fù)荷之前，制造具有12、18、35和100微米的層厚度的銅膜，其中在印制電路板技術(shù)中經(jīng)常使用的35微米的層厚度是典型的。薄膜在基片上的附著強(qiáng)度要么通過在薄膜下側(cè)面上的粘合劑層要么通過薄膜下側(cè)面的結(jié)構(gòu)化來實(shí)現(xiàn)。可能的、可用于熱壓模方法的材料比如是ABS(丙烯腈-丁ニ烯-苯こ烯)、PA(聚酰胺)、PBT(聚丁烯苯甲酸酯)、 PC+ABS (聚碳酸酯+丙烯腈-丁ニ烯-苯こ烯)及PPS (聚苯硫醚)。在薄膜后噴涂(Folienhinterspritzen)中，首先在塑料薄膜上結(jié)構(gòu)化所期望的線路圖。所述薄膜可以比如用減去型的柔性-印制電路板技術(shù)或者添加型地借助于底漆工藝(Primertechnologie)或熱壓模方法來進(jìn)行結(jié)構(gòu)化。在所述柔性-印制電路板技術(shù)中，聚合物薄膜(比如由聚酰胺制成)在整個(gè)表面上進(jìn)行金屬噴涂并且隨后在減去型技術(shù)中通過腐蝕過程來結(jié)構(gòu)化。在底漆工藝中，通過壓制法將可金屬噴涂的增附劑涂覆到塑料薄膜上。在結(jié)構(gòu)化之后，可以使所述薄膜變形并且隨后進(jìn)行后噴涂(Hinterspritzt)。塑料件的金屬噴涂可以在后噴涂之前或之后進(jìn)行。后噴涂的塑料薄膜可以比如包括PEI (聚醚酰亞胺)、PC (聚碳酸酯)或PC/PBT (聚碳酸酯/聚丁烯苯甲酸酯)?？捎糜趯Ρ∧みM(jìn)行后噴涂的材料比如是PEI (聚醚酰亞胺)、PC (聚碳酸酯)、PBT (聚丁烯苯甲酸酯)、PET (聚對苯ニ甲酸こニ醇酯)或PEN (聚萘ニ甲
酸こニ醇酯)。另ー種可能的用于制造用于按本發(fā)明的分析儀器的(三維的)注塑的線路載體的方法是激光結(jié)構(gòu)化(Laserstrukturierung)。在減去型的激光結(jié)構(gòu)化中，注塑的エ件在印制導(dǎo)線的結(jié)構(gòu)化之前全表面地首先以濕化學(xué)方法并且而后以電解方式進(jìn)行鍍銅直至所期望的最終層厚度。在銅層上涂上抗蝕齊U，比如光致抗蝕劑或者抗電鍍劑(Galvanoresist),其中在使用光致抗蝕劑時(shí)借助于紫外輻射加入的能量觸發(fā)化學(xué)反應(yīng)并且其中借助于激光輻射來剝蝕所述抗電鍍劑。而后借助于激光輻射來實(shí)現(xiàn)所述抗蝕劑的結(jié)構(gòu)化，并且在結(jié)構(gòu)化的區(qū)域中隨后蝕去所述銅。而后進(jìn)行表面調(diào)質(zhì)。在添加型的激光結(jié)構(gòu)化中，如此對熱塑性的材料進(jìn)行改性，使得金屬有機(jī)的復(fù)雜化合物以溶解或精細(xì)分散的方式存在于材料中。而后在如此摻雜的熱塑性塑料上借助于激光使有待實(shí)現(xiàn)的印制導(dǎo)線有針對性地產(chǎn)生活性并且隨后在化學(xué)池中進(jìn)行金屬噴涂。對于這個(gè)過程通常使用化學(xué)的銅電解質(zhì)，所述銅電解質(zhì)典型地產(chǎn)生5到8微米厚的銅層。隨后可以進(jìn)行合適的表面拋光處理。激光結(jié)構(gòu)化比如可以應(yīng)用于PEI (聚醚酰亞胺)、PA (聚酰胺)、LCP (液晶聚合物)、ABS (丙烯腈-丁ニ烯-苯こ烯)、PC (聚碳酸酯)、PC+ABS (聚碳酸酯+丙烯腈-丁ニ烯-苯こ烯)、PBT (聚丁烯苯甲酸酯)、PI (聚酰亞胺)或PET (聚對苯ニ甲酸こニ醇酯)，其中必要時(shí)必須對所述材料進(jìn)行摻雜。按本發(fā)明的分析儀器可以比如以光度測量方法和/或電化學(xué)方法對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析。在按本發(fā)明的分析儀器中，存在至少ー個(gè)電接觸的部件作為三維的注塑的線路載體，該線路載體可以根據(jù)前面所說明的方法中的任一種來制成。所述電接觸的部件適合于建立與至少ー個(gè)另外的部件的電觸點(diǎn)，優(yōu)選建立從有彈性的觸點(diǎn)、插頭 觸點(diǎn)、滑動觸點(diǎn)、焊接觸點(diǎn)或?qū)щ娔z觸點(diǎn)這種觸點(diǎn)組中選出的ー種電觸點(diǎn)。從這樣的電觸點(diǎn)開始，印制導(dǎo)線在這個(gè)注塑的線路載體(MID-部件)上通往ー個(gè)電氣元件，比如傳感器、條形碼閱讀器、另ー個(gè)觸點(diǎn)、馬達(dá)等。在此，不僅單次靜態(tài)有弾性地接觸的觸點(diǎn)而且多次靜態(tài)有弾性地接觸的觸點(diǎn)都稱為有彈性的觸點(diǎn)。按照本發(fā)明的一種優(yōu)選的實(shí)施方式，所述電接觸的部件具有至少ー個(gè)有彈性的、用干與所述第二部件相接觸的接點(diǎn)片，該接點(diǎn)片包括由注塑的塑料制成的接點(diǎn)片本體以及金屬的導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。作為注塑的塑料，可以比如使用PEI (聚醚酰亞胺)、PA (聚酰胺)、LCP (液晶聚合物)、ABS (丙烯腈-丁ニ烯-苯こ烯)、PC(聚碳酸酯)、PC+ABS(聚碳酸酯+丙烯腈-丁ニ烯-苯こ烯)、PBT (聚丁烯苯甲酸酯)、PI (聚酰亞胺)或PET (聚對苯ニ甲酸こニ醇酷)并且可以為金屬的導(dǎo)體結(jié)構(gòu)比如使用銅、金或鎳。所述接點(diǎn)片可以在分析儀器的里面或上面與所述分析儀器的另ー個(gè)靜止的、另ー個(gè)旋轉(zhuǎn)的或另ー個(gè)線性運(yùn)動的部件相接觸。在按本發(fā)明的分析儀器中，所述構(gòu)造為注塑的線路載體的接觸的部件可以比如是所述分析儀器的功能性的組件并且所述另ー個(gè)接觸的部件可以是所述分析儀器的印制電路板。功能性的組件在此比如是條形碼閱讀器裝置、外殼、用于測試元件的輸送單元、馬達(dá)模塊、測量模塊、用于測試元件料盒的定位裝置、包含傳感器的測試元件料盒接納ロ或者測量模塊中的恒溫裝置。條形碼閱讀器裝置比如包含在按本發(fā)明的分析儀器中，用于借助于條形碼閱讀器讀入測試元件的儲備容器上的條形碼，該條形碼比如包括關(guān)于包含在儲備容器中的測試元件及其最佳分析的信息。在現(xiàn)有技術(shù)中，條形碼閱讀器通常固定在印制電路板支臂上，所述印制電路板支臂伸入所述分析儀器的外殼區(qū)段中，在該外殼區(qū)段中可以接納用于測試元件的儲備容器(測試元件料盒)。在此通過加長的印制電路板支臂來與所述條形碼閱讀器進(jìn)行電接觸。與此不同的是，優(yōu)選按本發(fā)明的分析儀器包括條形碼閱讀器裝置，該條形碼閱讀器裝置則包括所述分析儀器的一個(gè)外殼區(qū)段，在所述外殼區(qū)段中布置了條形碼閱讀器，其中所述外殼區(qū)段包括朝所述條形碼閱讀器延伸的印制導(dǎo)線以及用干與印制電路板相接觸的有彈性的觸點(diǎn)，并且所述具有印制導(dǎo)線及有彈性的觸點(diǎn)的外殼區(qū)段是注塑的線路載體，尤其是三維的注塑的線路載體。在這種實(shí)施方式中可以省去所述加長的印制電路板支臂。所述條形碼閱讀器直接在所述外殼內(nèi)部與所述外殼區(qū)段(比如通過焊接觸點(diǎn))相連接。所述外殼區(qū)段本身包括必需的印制導(dǎo)線及靜止有彈性的、用干與所述印制電路板相接觸的觸點(diǎn)，以便保證所述條形碼閱讀器的電流供給。由此省去相關(guān)部件及安裝步驟并且在所述分析儀器內(nèi)部贏得了結(jié)構(gòu)空間。比如在將測試元件自動地從測試元件料盒中取出時(shí)需要用于該測試元件料盒的定位裝置，以便能夠有針對性地取用所述測試元件。這樣的定位裝置比如使?jié)L筒狀的、如在DE 198 54 316 Al中所說明的測試元件料盒旋轉(zhuǎn)。一旦所述測試元件料盒正確定位，就可以通過輸送單元從中取出測試元件并且在所述分析儀器中繼續(xù)輸送。在現(xiàn)有技術(shù)中，比如如此構(gòu)造用于滾筒狀測試元件料盒的定位裝置，使得作為用于所述測試元件料盒的驅(qū)動輪而設(shè)置的滾筒輪與所述測試元件料盒 一同旋轉(zhuǎn)并且滾筒旋轉(zhuǎn)在滾筒輪上通過兩個(gè)熱壓制在傳動裝置印制電路板上的彈簧觸點(diǎn)及一個(gè)分段的滑環(huán)記錄下來(總供五個(gè)有待安裝的單個(gè)部件)。按照本發(fā)明的一種優(yōu)選的實(shí)施方式，按本發(fā)明的分析儀器包括用于測試元件料盒的定位裝置，該定位裝置則包括用于供電的印制電路板以及通過馬達(dá)來驅(qū)動的、用于驅(qū)動所述可旋轉(zhuǎn)的測試元件料盒的驅(qū)動輪，其中所述具有彈簧觸點(diǎn)的印制電路板構(gòu)造為注塑的線路載體并且所述具有可電接觸的分段盤(Segmentscheibe)的驅(qū)動輪構(gòu)造為注塑的線路載體。由此所述五個(gè)單個(gè)部件被兩個(gè)MID部件所取代。此外，在這種情況下還提供了這樣的優(yōu)點(diǎn)，即通過MIDエ藝中塑料件及布置在塑料件上的印制導(dǎo)線的更加自由的造型使得在按本發(fā)明的分析儀器中的結(jié)構(gòu)空間設(shè)計(jì)更加靈活。測試元件的輸送單元在用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的分析儀器中用于在該分析儀器中輸送測試元件，比如將測試元件從測試元件料盒輸送到試樣交付位置和測量位置中。一種這樣的輸送單元比如從DE 19902601A1中得到公開。該公開文獻(xiàn)涉及用于將分析的耗材尤其是測試元件從具有腔室的儲備容器中取出的ー種方法和ー種裝置，其中所述腔室被薄膜封閉并且通過挺桿從所述腔室中推出所述耗材。所述挺桿(推桿)由馬達(dá)沿軸向方向推動。在這種情況下，所述推桿在一個(gè)端部上具有導(dǎo)向軸套，該導(dǎo)向軸套在所述推桿移動時(shí)在一個(gè)導(dǎo)向裝置中導(dǎo)引。所述導(dǎo)向裝置具有構(gòu)造為沖壓-彎曲件的、具有三個(gè)接點(diǎn)片的接觸部件，所述接點(diǎn)片用于所述導(dǎo)向軸套的定位并且由此用于所述推桿的定位。為此，所述接點(diǎn)片按所述導(dǎo)向軸套的位置通過該導(dǎo)向軸套朝印制電路板上的接觸面擠壓。按照本發(fā)明的一種實(shí)施方式，按本發(fā)明的分析儀器包括用于測試元件的輸送單元，該輸送單元則包括用于在所述分析儀器內(nèi)部輸送測試元件的推桿，其中所述推桿具有導(dǎo)向軸套，所述導(dǎo)向軸套在輸送測試元件時(shí)可以在導(dǎo)向裝置中導(dǎo)引。在此，所述導(dǎo)向軸套具有有彈性的、用干與印制電路板相接觸的接點(diǎn)片，并且所述導(dǎo)向裝置包括開關(guān)元件，如此布置所述開關(guān)元件，使得其在所述導(dǎo)向軸套在所述導(dǎo)向裝置中的特定位置中將所述接點(diǎn)片朝所述印制電路板擠壓，其中所述具有接點(diǎn)片的導(dǎo)向軸套是注塑的線路載體(尤其是三維的注塑的線路載體)。因此將開關(guān)功能集成在所述導(dǎo)向軸套中，該導(dǎo)向軸套的接點(diǎn)片比如通過在所述導(dǎo)向裝置上的注塑的接觸凸朝所述印制電路板觸點(diǎn)擠壓。由此，與現(xiàn)有技術(shù)相比不僅省去加工步驟、定位步驟及安裝步驟，而且也在對導(dǎo)向軸套進(jìn)行相應(yīng)設(shè)計(jì)時(shí)提供了節(jié)省位置空間的可能性。在很大程度上自動化的、用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的分析儀器在現(xiàn)有技術(shù)中包括馬達(dá)模塊，所述馬達(dá)模塊則包括馬達(dá)。這些馬達(dá)是電動機(jī)，并且比如用于定位測試元件料盒或者用于驅(qū)動使測試元件在所述分析儀器內(nèi)部移動的推桿。
在現(xiàn)有技術(shù)中，為了給馬達(dá)(電動葫蘆或推桿馬達(dá))供電，朝馬達(dá)支架中壓入接觸板，該接觸板通過有彈性的接點(diǎn)片與印制電路板之間建立導(dǎo)電連接。按本發(fā)明的一種優(yōu)選的實(shí)施方式，按本發(fā)明的分析儀器包括馬達(dá)模塊，該馬達(dá)模塊包括馬達(dá)和馬達(dá)支架，其中所述馬達(dá)支架具有用干與印制電路板相接觸的接點(diǎn)片，并且所述具有接點(diǎn)片的馬達(dá)支架是注塑的線路載體，尤其是三維的注塑的線路載體。所述MID部件的接點(diǎn)片可以焊接在印制電路板上。通過所述注塑的線路載體的使用，可以節(jié)省加工及安裝步驟。尤其所述馬達(dá)支架可以設(shè)計(jì)得更加簡單，因?yàn)楸热缈梢允∪ビ糜诠潭▍g獨(dú)的接觸板的噴注的拱頂(Dome)。此外，用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的、為儲備大量測試元件可以在測試元件料盒接納ロ中接納測試元件料盒的分析儀器按本發(fā)明可以在所述測試元件料盒接納口中包括傳感器，該傳感器對測試元件料盒的更換進(jìn)行探測。在按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中，一旦打開并且隨后關(guān)閉所述將測試元件接納ロ蓋住的分析儀器蓋就將料盒的更換記錄下來，因?yàn)樵谶@過程中操縱了所述印制電路板上的閉鎖開關(guān)。但是，如果所述分析儀器蓋在沒有更換料盒的情況下打開和關(guān)閉，那么該儀器也記錄一次料盒更換，盡管在實(shí)際上沒有更 換料盒。其結(jié)果是，為了通過所述條形碼閱讀器進(jìn)行識別并且為了查出填有測試元件的腔室而使所述料盒旋轉(zhuǎn)，盡管這樣做沒有必要。在現(xiàn)有技術(shù)中不存在用于對實(shí)際上的料盒更換進(jìn)行檢測的傳感器，因?yàn)樘綔y到料盒更換的位置無法通過在所述分析儀器中存在的ニ維的印制電路板來達(dá)到并且也無法以較為經(jīng)濟(jì)的方式比如通過焊接的柔性的線纜進(jìn)行接觸。按照本發(fā)明的一種實(shí)施方式，按本發(fā)明的分析儀器包括包含傳感器的測試元件料盒接納ロ，該測試元件料盒接納ロ包括朝所述傳感器延伸的電的印制導(dǎo)線，其中所述具有印制導(dǎo)線的測試元件料盒接納ロ是注塑的線路載體，尤其是三維的注塑的線路載體。如果比如通過在取出料盒時(shí)觸點(diǎn)的閉合來激活所述傳感器，那么而后可以通過所述電的印制導(dǎo)線將信號傳輸給所述印制電路板。用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的分析儀器必要時(shí)包括恒溫裝置，用于在分析之前及分析過程中對測試元件進(jìn)行恒溫處理(比如在測量血液凝固吋)。在現(xiàn)有技術(shù)中，不僅公開了儀器側(cè)的加熱器(比如在測量模塊中，在該測量模塊中用在所述測試元件上的試樣進(jìn)行測量)，而且(比如從DE 103 59 160 Al)公開了集成在所述測試元件中的加熱元件。作為儀器側(cè)的加熱器使用陶瓷元件，所述陶瓷元件安裝在所述測試元件接納口中或者在所述測試元件接納ロ的制造過程中加入到這個(gè)測試元件接納ロ中。但是，在已安裝的加熱元件中經(jīng)常會出現(xiàn)密封性問題。液體會侵入儀器中并且導(dǎo)致?lián)p壞。如果因試樣材料而出現(xiàn)污染，那就會出現(xiàn)其它問題。此外，還需要多個(gè)安裝步驟，用于獲得制成的組件。陶瓷加熱器的使用通常具有這樣的缺點(diǎn)，也就是會出現(xiàn)陶瓷破裂并且由此無法保證儀器的功能能力。此外，所述集成的陶瓷加熱器的使用向所使用的制造方法提出了很高的要求并且顯著増加了制造方法的復(fù)雜性。按照本發(fā)明的一種實(shí)施方式，按本發(fā)明的分析儀器包括用于接納測試元件的測試元件接納ロ(比如在測量過程中)，在該測試元件接納口中包含了用于對所述測試元件進(jìn)行恒溫處理的恒溫裝置，其中所述恒溫裝置包括加熱螺旋燈絲，并且是注塑的線路載體，尤其是三維的注塑的線路載體。所述用作加熱螺旋燈絲的印制導(dǎo)線因此借助于MID技術(shù)直接集成在所述測試元件接納ロ的塑料中。在此沒有必要集成陶瓷加熱器。用于向所述加熱螺旋燈絲進(jìn)行供電的觸點(diǎn)可以比如由金屬的沖壓件或彎曲件制成或者同樣通過MID方法制成。所述觸點(diǎn)能夠?qū)⑺龊銣匮b置連接到用于供電的印制電路板上。按本發(fā)明的具有恒溫裝置的分析儀器的這種實(shí)施方式的優(yōu)點(diǎn)是簡化制造過程，避免因陶瓷破裂引起的問題，因陶瓷制造過程的省去而降低制造費(fèi)用，得到密封的測試元件接納ロ并且可以實(shí)現(xiàn)復(fù)雜及微型化的形狀。按照本發(fā)明的另ー種實(shí)施方式，按本發(fā)明的分析儀器包括用于對包含在測試元件上的分析物進(jìn)行測量的測量模塊，該測量模塊包括用于在測量時(shí)接納所述測試元件的測試元件接納ロ，用于對所述測試元件進(jìn)行恒溫處理的恒溫裝置包含在這個(gè)測試元件接納ロ中，其中所述具有包含加熱螺旋燈絲及有彈性的觸點(diǎn)的恒溫裝置的 測試元件接納ロ是注塑的線路載體，尤其是三維的注塑的線路載體。所述用作加熱螺旋燈絲的印制導(dǎo)線因此借助于MID技術(shù)直接集成在所述測試元件接納ロ的塑料中。在此沒有必要集成陶瓷加熱器。所述有彈性的、同樣通過MID方法制造的觸點(diǎn)能夠?qū)⑺龊銣匮b置連接到用于供電的印制電路板上。因此沒有必要使用插針(Pin)。所述恒溫裝置的整個(gè)制造過程因此優(yōu)選局限于通過注塑引起的塑料成形以及在所述MID部件上的金屬結(jié)構(gòu)的施加。按本發(fā)明的具有恒溫裝置的分析儀器的這種實(shí)施方式的優(yōu)點(diǎn)是簡化制造過程，避免因陶瓷破裂引起的問題，因陶瓷制造過程的省去而降低制造費(fèi)用，得到密封的測試元件接納ロ并且可以實(shí)現(xiàn)復(fù)雜及微型化的形狀。在用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的分析儀器中包括至少ー個(gè)測試元件接納ロ，用于在分析之前及分析過程中使測試元件定位(比如在接納試樣時(shí)以及尤其在對試樣進(jìn)行電化學(xué)或光學(xué)分析時(shí))。按照本發(fā)明的一種實(shí)施方式，所述測試元件接納ロ包括至少兩個(gè)有彈性的觸點(diǎn)，所述觸點(diǎn)用于使測試元件在所述測試元件接納口中定位，其中所述具有至少兩個(gè)有彈性的觸點(diǎn)的測試元件接納ロ是注塑的線路載體(尤其是三維的注塑的線路載體)?？梢越柚谶@樣的測試元件接納ロ比如如此進(jìn)行定位，從而，一旦所述測試元件處于所期望的位置中，設(shè)置在所述測試元件上面的金屬的導(dǎo)電的結(jié)構(gòu)(比如金屬區(qū))就使所述至少兩個(gè)有彈性的觸點(diǎn)短接。通過這種短接，電流可以流經(jīng)所述觸點(diǎn)，在此可探測到該電流并且作為位置信號對其進(jìn)行分析。按照本發(fā)明的一種實(shí)施方式，按本發(fā)明的分析儀器作為構(gòu)造為注塑的線路載體(尤其是三維的注塑的線路載體)的電接觸的部件包括用于在該分析儀器中進(jìn)行測試元件分析的接觸元件。這個(gè)用于測試元件分析的接觸元件可以與有待以電化學(xué)方式分析的測試元件相接觸。用于確定分析物的濃度的電化學(xué)的方法比如基于電流分析法或電量分析法。這樣的方法比如從公開文獻(xiàn)US 4，654，197,EP 0 505 475 BI或US 5，108，564得到公開。為實(shí)施電化學(xué)分析，必須在所述測試元件和分析系統(tǒng)之間傳輸電信號。因此，加入到在分析系統(tǒng)中的測試元件必須在所述分析系統(tǒng)中借助于電連接系統(tǒng)進(jìn)行電接觸。在現(xiàn)有技術(shù)中，為進(jìn)行接觸使用插塞連接器作為接觸元件，該插塞連接器由塑料件以及由金屬元件制成。所述塑料件用作外殼并且承擔(dān)所述測試元件的導(dǎo)向功能。所述金屬元件則用于導(dǎo)電和接觸。所述金屬元件通過彎曲及沖壓過程來制成并且要么安裝在所述塑料件上要么直接噴注在該塑料件中。在插塞連接器的設(shè)計(jì)及布局方面的限制主要因所述沖壓及彎曲過程的限制以及因所述金屬件的可安裝性或者說可擠壓包封性的要求而產(chǎn)生。由于所述沖壓及彎曲過程，所述接觸元件的布局及設(shè)計(jì)在現(xiàn)有技術(shù)中與塑料エ藝的可能性相比受到很大限制。此外，在設(shè)計(jì)時(shí)必須考慮所述金屬件的可安裝性或者說可擠壓包封性的要求。在按本發(fā)明的分析儀器中，不是通過安裝的金屬件來實(shí)現(xiàn)所述電接觸的功能，而是通過MIDエ藝的使用來制造接觸元件。按照本發(fā)明的一種實(shí)施方式，按本發(fā)明的分析儀器包括用于測試元件分析的接觸元件，該接觸元件具有用于測試元件的支承面，其中大量的接觸斜面突出超過該支承面，所述接觸斜面設(shè)置用干與定位在所述支承面上的測試元件之間建立電接觸，并且可以通過在所述接觸元件上延伸的印制導(dǎo)線與印制電路板相連接，其中所述接觸元件是注塑的線路載體，尤其是三維的注塑的線路載體。優(yōu)選將有待以電化學(xué)方式分析的測試元件在所述接觸元件的支承面上在所述分析儀器的縫隙狀的導(dǎo)槽中的推動，直 至其如此定位在所述接觸斜面上，使得這些接觸斜面朝所述測試元件擠壓并且接觸到所述測試元件的電觸點(diǎn)。所述接觸斜面可以比如構(gòu)造為布置在所述支承面的延長段上的、斜面狀的凸起或者構(gòu)造為單個(gè)的斜面狀的有彈性的接點(diǎn)片。所述印制導(dǎo)線在所述接觸元件上比如一直延伸到所述接觸元件的端部，所述印制導(dǎo)線在該端部上與所述用于供電及信號處理的印制電路板焊接在一起。按照本發(fā)明的一種實(shí)施方式，將所述用于測試元件分析的接觸元件集成在所述分析儀器的外殼中，其中所述外殼包括接觸元件是注塑的線路載體，尤其是三維的注塑的線路載體。按照本發(fā)明的另ー種實(shí)施方式，所述用于測試元件分析的接觸元件集成在測試元件料盒中。在這種情況下，要么可以為每個(gè)測試元件實(shí)現(xiàn)單個(gè)的觸點(diǎn)，要么為所有包含在料盒中的測試元件實(shí)現(xiàn)ー個(gè)共同的觸點(diǎn)。在所述料盒上還額外地布置與所述分析儀器的接ロ。通過這個(gè)接ロ，在最后將所述測試元件與所述儀器相連接。這種實(shí)施方式的優(yōu)點(diǎn)是可以實(shí)現(xiàn)節(jié)省結(jié)構(gòu)空間的設(shè)計(jì)，單個(gè)的測試元件不必相對于所述分析儀器進(jìn)行精確定位，并且可以在節(jié)省費(fèi)用的情況下設(shè)計(jì)在所述料盒中的接觸，因?yàn)閮H僅需要一次性地接觸數(shù)量有限的、包含在料盒中的測試元件，并且隨后將所述接觸元件與所述料盒一起清除。此外，本發(fā)明還涉及ー種用于至少兩個(gè)測試元件的儲備容器(測試元件料盒)，其中所述測試元件具有電的印制導(dǎo)線并且所述儲備容器包括用于在對測試元件上的試樣進(jìn)行電化學(xué)分析時(shí)與包含在該儲備容器中的測試元件的印制導(dǎo)線相接觸的電觸點(diǎn)。所述儲備容器比如是滾筒狀的測試元件料盒，該測試元件料盒尤其可以在很大程度上構(gòu)造成如在DE 198 54 316 Al中所說明的儲備容器一祥。按本發(fā)明的儲備容器具有用干與有待以電化學(xué)方式分析的測試元件進(jìn)行電接觸的電觸點(diǎn)。按本發(fā)明的儲備容器具有優(yōu)選至少兩個(gè)単獨(dú)的、用于接納所述測試元件的腔室，其中在每個(gè)腔室中布置了用于在對所述測試元件上的試樣進(jìn)行電化學(xué)分析時(shí)相應(yīng)地與包含在該腔室中的測試元件的印制導(dǎo)線進(jìn)行接觸的電觸點(diǎn)。在現(xiàn)有技術(shù)中，在所述分析儀器的測量模塊中進(jìn)行電化學(xué)分析，在該測量模塊中與所述測試元件進(jìn)行電接觸并且該測量模塊與所述測試元件儲備容器間隔開地布置在所述分析儀器中。所述測試元件在需要時(shí)自動地通過所述分析儀器中的輸送單元從所述測試元件儲備容器中輸送出來，移交給所述測量模塊并且在那里相對于所述電觸點(diǎn)進(jìn)行精確定位。一種這樣的在測量模塊中的觸點(diǎn)的缺點(diǎn)比如是在所述分析儀器內(nèi)部需要較大的結(jié)構(gòu)空間用于對所述測試元件進(jìn)行電化學(xué)分析。此外，所述用于接觸的測試元件必須精確定位。將測試元件移交給所述分析儀器中的接觸點(diǎn)在定位、可靠性及動態(tài)接觸方面是潛在的薄弱之處。此外，在所述分析儀器中的測量模塊的觸點(diǎn)僅僅適用于在測試元件上的特定的電極結(jié)構(gòu)。與此相反，按本發(fā)明的解決方案具有從將所述電觸點(diǎn)集成到所述儲備容器(測試元件料盒)中獲得的優(yōu)點(diǎn)，即在所述分析儀器和料盒之間可以布置簡單的可標(biāo)準(zhǔn)化的接ロ，其中所述比如布置在相應(yīng)的料盒的腔室中的電觸點(diǎn)與包含在該腔室中的測試元件的電極結(jié)構(gòu)相一致并且可以靈活地進(jìn)行設(shè)計(jì)。此外，可以在節(jié)省結(jié)構(gòu)空間的情況下設(shè)計(jì)所述分析儀器和料盒。另外，所述測試元件不必在所述分析儀器中的儲備容器外部進(jìn)行精確定位?？梢怨?jié)省成本地設(shè)計(jì)所述料盒中的測試元件的觸點(diǎn)，因?yàn)樵撚|點(diǎn)僅僅必須接觸到包含在所述料盒中的測試元件，并且隨后可以將所述料盒清除。在所述儲備容器中的觸點(diǎn)則可以通過安裝的或擠壓包封的金屬件來實(shí)現(xiàn)。按照本發(fā)明的一種優(yōu)選的實(shí)施方式，按本發(fā)明的具有所述電觸點(diǎn)的儲備容器基本上是注塑的線路載體，尤其是三維的注塑的線路載體。

在現(xiàn)有技術(shù)中，在有待以電化學(xué)方式分析的測試元件中，所必需的電極結(jié)構(gòu)多數(shù)通過壓制法或者通過激光燒蝕來制造。為此，首先生產(chǎn)所述測試元件并且隨后設(shè)置所述電極結(jié)構(gòu)。所述測試元件的三維結(jié)構(gòu)由此大受限制或者說不可能實(shí)現(xiàn)。因此，更大的、具有多重測試區(qū)或用于不同參數(shù)的測試區(qū)的測試元件很難生產(chǎn)，因?yàn)樵诩す鉄g中曝光窗ロ的大小受到限制，并且在壓制法中設(shè)計(jì)可能性受到很大限制。因此，本發(fā)明也涉及ー種測試元件，該測試元件包括用于在分析儀器中對液態(tài)的試樣進(jìn)行電化學(xué)分析的測試區(qū)，其中所述測試區(qū)在所述測試元件上與電的印制導(dǎo)線相連接，其中所述具有電的印制導(dǎo)線的測試元件基本上是注塑的線路載體。在按本發(fā)明的解決方案中，所述電極結(jié)構(gòu)借助于MID方法集成在塑料試樣載體中。由此獲得在設(shè)計(jì)所述測試元件(真正的三維結(jié)構(gòu))方面很大的設(shè)計(jì)自由度、簡單的制造過程(注塑)以及可以制造很大的具有多個(gè)測試區(qū)的測試元件這些優(yōu)點(diǎn)。此外，本發(fā)明還涉及ー種用于制造對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的分析儀器的方法，該分析儀器包括至少ー個(gè)電接觸的、用于電流傳輸?shù)牟考?。該方法適合于建立與至少ー個(gè)另外的接觸的部件之間的電接觸，它包括以下方法步驟a)通過用于制造注塑的線路載體(MID)尤其是三維的注塑的線路載體的方法來制造所述電接觸的部件，該部件包括一個(gè)基體及ー個(gè)金屬的導(dǎo)體結(jié)構(gòu)，以及b)將所述電接觸的部件定位和安裝在所述分析儀器中，用干與另ー個(gè)接觸的部件建立電接觸。所述用于制造注塑的線路載體(MID)尤其是三維的注塑的線路載體的方法在此優(yōu)選是從雙成分注塑、熱壓模、薄膜后噴涂及激光結(jié)構(gòu)化方法組中選出的方法。


下面借助于附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)解釋。其中圖I. I是按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器，圖I. 2是圖I. I所示的分析儀器的分解圖，圖2是按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器的不同組件的分解圖，
圖3. I是用于按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的測試元件料盒的定位裝置的分解圖，圖3. 2是用于按本發(fā)明的分析儀器中的測試元件料盒的定位裝置，圖4. I是用于按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的測試元件的輸送單元，圖4. 2是用于按本發(fā)明的分析儀器中的測試元件的輸送單元，圖5. I是按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的馬達(dá)模塊 的分解圖，圖5. 2是按本發(fā)明的分析儀器中的馬達(dá)模塊的馬達(dá)支架，圖6. I是按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的條形碼閱讀器裝置，圖6. 2是按本發(fā)明的分析儀器中的條形碼閱讀器裝置，圖7. I是按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的測試元件料盒接納ロ，圖7. 2是按本發(fā)明的分析儀器中的、具有傳感器的測試元件料盒接納ロ，圖8是按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的、用于測試元件分析的接觸元件，圖9是按本發(fā)明的分析儀器中的、用于測試元件分析的第一接觸元件，圖10是按本發(fā)明的分析儀器中的、用于測試元件分析的第二接觸元件，圖11. I是按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器的測量模塊中的恒溫裝置，圖11. 2是按現(xiàn)有技術(shù)的加熱元件的背面，圖11. 3是按現(xiàn)有技術(shù)的加熱元件的正面，圖11. 4是按本發(fā)明的分析儀器的測量模塊中的恒溫裝置，圖12是按本發(fā)明的、用于分析儀器中的測試元件的儲備容器，并且圖13是基本上構(gòu)造為注塑的線路載體的、按本發(fā)明的測試元件的第一實(shí)施方式，并且圖14是基本上構(gòu)造為注塑的線路載體的、按本發(fā)明的測試元件的第二實(shí)施方式。
具體實(shí)施例方式圖I. I示出了按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器。 所述分析儀器I具有一個(gè)外殼2，該外殼2包括顯示區(qū)域3 (IXD4)和操作區(qū)域5 (接通按鍵6)。在圖I. I所示的分析儀器I中，可以看出測試元件料盒接納ロ 7，因?yàn)橐岩谱吡藴y試元件料盒接納ロ蓋板。在所述測試元件料盒接納ロ 7中有ー個(gè)滾筒狀的、可以接納大量測試元件的測試元件料盒8。該測試元件料盒在外側(cè)面上具有條形碼9,該條形碼9包含有比如關(guān)于包含在測試元件料盒中的測試元件的信息并且可以由(未示出的)條形碼閱讀器讀入。通過所述接通按鍵6來啟動測量過程。(看不見的)馬達(dá)使所述測試元件料盒8繼續(xù)轉(zhuǎn)過ー個(gè)腔室10，并且(看不見的)第二馬達(dá)則借助于推桿將測試元件11從所述測試元件料盒8的腔室10中推出來，直至測試元件從所述分析儀器I中伸出。在這個(gè)位置中，使用者可以將試樣(比如血液)加到該測試元件11上。(看不見的)設(shè)在所述分析儀器I中的測量光學(xué)系統(tǒng)對測試元件11上的試樣進(jìn)行分析。在LC-顯示器上顯示出分析的結(jié)果(比如血糖值)。在所述分析儀器I的外殼2的側(cè)面上，設(shè)置了可取下的刺入輔助件12，該刺入輔助件12可用于提取試樣。圖I. 2示出了圖I. I所示的分析儀器的分解圖。從上往下依次示出了測試元件料盒接納ロ蓋板7、上面的外殼半體14、LC_顯示器4、印制電路板15、測量模塊20、馬達(dá)模塊16、下面的外殼半體17、型號銘牌18、電池艙蓋19以及刺入輔助件12。所述下面的外殼半體17具有可翻開的蓋板21，該蓋板21可借助于解鎖按鈕22解鎖并打開。而后可以將測試元件料盒裝入所述測試元件料盒接納ロ 7中或者進(jìn)行更換。所述馬達(dá)模塊16包括推桿馬達(dá)模塊23和料盒馬達(dá)模塊24。其中所述料盒馬達(dá)模塊24具有伸入所述測試元件料盒接納ロ 7中的驅(qū)動輪27，該驅(qū)動輪27為嚙合在有待驅(qū)動的測試元件料盒中而具有ー個(gè)齒部。所述印制電路板15具有一直伸入所述測試元件料盒接納ロ 7中的印制電路板支臂25，此外條形碼閱讀器26固定在該印制電路板支臂25上。圖2示出了按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器的不同的組件的分解圖。不同的組件具有大量的用于電流傳輸?shù)碾娪|點(diǎn)。為進(jìn) 行分類，分為有彈性的觸點(diǎn)、插頭觸點(diǎn)、焊接觸點(diǎn)及滑動觸點(diǎn)。為在電子方面進(jìn)行區(qū)別，根據(jù)電流負(fù)荷將這些觸點(diǎn)分為信號傳輸觸點(diǎn)和有效電流傳輸觸點(diǎn)。此外，所述有彈性的觸點(diǎn)在機(jī)械方面分為靜態(tài)弾性跳動(einfedernd)的及動態(tài)彈性跳動的觸點(diǎn)。圖2示出了不同種類的觸點(diǎn),這些觸點(diǎn)將馬達(dá)模塊16、測量模塊20及條形碼閱讀器26這些組件彼此連接在一起并且與(未示出的)印制電路板相連接。具體說來，圖2示出了以下部件a)用于測試元件的輸送單元，包括推桿29、導(dǎo)向軸套30以及導(dǎo)向裝置31，所述導(dǎo)向軸套30可在該導(dǎo)向裝置31中導(dǎo)引。后面借助圖4. I對該輸送単元的作用原理進(jìn)行詳細(xì)解釋。b)推桿馬達(dá)模塊23，包括馬達(dá)支架28和馬達(dá)32。c)料盒馬達(dá)模塊24，同樣包括馬達(dá)支架28和馬達(dá)32。后面借助于圖5. I對所述馬達(dá)模塊進(jìn)行詳細(xì)解釋。d)用于測試元件料盒的定位裝置33，包括驅(qū)動輪27、分段盤34和傳動裝置印制電路板35。后面借助于圖3. I和3. 2對該定位裝置進(jìn)行詳細(xì)解釋。e)條形碼閱讀器裝置36，包括外殼區(qū)段37和條形碼閱讀器26，該條形碼閱讀器26固定在(未示出的)伸入所述外殼區(qū)段37中的印制電路板支臂上。后面借助于圖6. I對所述條形碼閱讀器裝置36進(jìn)行詳細(xì)解釋。f)測量模塊20，包括測試元件接納ロ 38和光學(xué)印制電路板39。此外，所述組件具有以下電觸點(diǎn)電池觸點(diǎn)40、料盒馬達(dá)觸點(diǎn)41、推桿馬達(dá)觸點(diǎn)42、測量模塊觸點(diǎn)43、所述驅(qū)動輪27的位置開關(guān)觸點(diǎn)44、推桿開關(guān)觸點(diǎn)45、與所述驅(qū)動輪27之間的滑動觸點(diǎn)46、在所述測量模塊20中的測試元件觸點(diǎn)47、在所述測量模塊20中的光學(xué)印制電路板觸點(diǎn)48、條形碼閱讀器觸點(diǎn)49、馬達(dá)觸點(diǎn)50以及分段盤34形式的料盒位置觸點(diǎn)51。在這個(gè)按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中，設(shè)置的觸點(diǎn)超過67個(gè)，這些觸點(diǎn)通過超過19個(gè)的單獨(dú)的部件來實(shí)現(xiàn)。在按本發(fā)明的分析儀器中，可以在很大程度上省去這些單獨(dú)的部件以及由此引起的安裝步驟，方法是將這些部件集成在電接觸的MID部件中。圖3. I示出了用于在按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的測試元件的定位裝置的分解圖。所述定位裝置33包括傳動裝置印制電路板35、金屬的分段盤34和驅(qū)動輪27。所述驅(qū)動輪27借助于(未示出的)馬達(dá)來轉(zhuǎn)動。通過在所述驅(qū)動輪27上的齒部52，使(未示出的)測試元件料盒一同旋轉(zhuǎn)。所述測試元件料盒的旋轉(zhuǎn)在現(xiàn)有技術(shù)中通過兩個(gè)熱壓制在所述傳動裝置印制電路板35上的滑動觸點(diǎn)46在所述分段盤34上檢測得到。通過另外兩個(gè)位置開關(guān)觸點(diǎn)44，將信號傳送給(未示出的)印制電路板。圖3. 2示出了用于按本發(fā)明的分析儀器中的測試元件料盒的定位裝置33。代替五個(gè)單獨(dú)的部件，該定位裝置只包括兩個(gè)單獨(dú)的部件構(gòu)造為注塑的線路載體的印制電路板53 (電接觸的部件123)以及同樣構(gòu)造為注塑的線路載體的驅(qū)動輪54 (電接觸的部件124)。在所述MID印制電路板53、123中集成了彈簧觸點(diǎn)55，所述彈簧觸點(diǎn)55用于所述分段盤56及另ー塊(未示出的)印制電路板的接觸。所述分段盤56集成在所述驅(qū)動輪54、124中。圖4. I示出了用于按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的測試元件的輸送單元。推桿29屬于所述輸送単元57，利用該推桿29可以使測試元件沿軸向方向58運(yùn)動。所述推桿29則由(未示出的)推桿馬達(dá)來驅(qū)動。所述推桿29具有導(dǎo)向軸套30，該導(dǎo)向軸套30在導(dǎo)向裝置31的上面敞開的縱向穿孔59中導(dǎo)引。在所述導(dǎo)向軸套30上安裝了向上伸出的間隔墊片60。在所述導(dǎo)向裝置31上，固定了構(gòu)造為金屬的沖壓及彎曲件的推桿開關(guān)觸點(diǎn)45。所述推桿開關(guān)觸點(diǎn)45的三個(gè)接點(diǎn)片61在所述導(dǎo)向軸套30在縱向穿孔59中的三個(gè)不同的位置中通過所述間隔墊片60向上朝(未示出的)印制電路板的接觸面擠 壓，從而識別出相應(yīng)的位置。圖4. 2示出了用于在按本發(fā)明的分析儀器中的測試元件的輸送單元。這個(gè)輸送単元也包括用于(未示出的)推桿29的導(dǎo)向軸套62以及與該導(dǎo)向軸套62相協(xié)調(diào)的導(dǎo)向裝置63。所述導(dǎo)向裝置63包括向上敞開的縱向穿孔64，所述導(dǎo)向軸套62在該縱向穿孔64中導(dǎo)引。該導(dǎo)向軸套62具有接點(diǎn)片65，所述接點(diǎn)片65構(gòu)造為沿方向66有彈性的。所述具有通過間隔墊片67相連接的接點(diǎn)片65的導(dǎo)向軸套62 (電接觸的部件125)是注塑的線路載體(MID)。所述導(dǎo)向裝置63是注塑件并且具有開關(guān)元件68，所述開關(guān)元件68在所述導(dǎo)向軸套62的三個(gè)不同的位置中將所述接點(diǎn)片65朝(未示出的)印制電路板的接觸面向上擠壓。由此，這三個(gè)位置可以由所述分析儀器識別出。圖5. I示出了按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的馬達(dá)模塊的分解圖。所述馬達(dá)模塊69可以比如是推桿馬達(dá)模塊或料盒馬達(dá)模塊。它包括馬達(dá)32和馬達(dá)支架28。為了給所述馬達(dá)32供電，在所述馬達(dá)支架28中壓入接觸板70，該接觸板70通過有彈性的接點(diǎn)片71與(未示出的)印制電路板建立導(dǎo)電連接。圖5. 2示出了按本發(fā)明的分析儀器中的馬達(dá)模塊的馬達(dá)支架。所述馬達(dá)支架72 (電接觸的部件126)是注塑的線路載體(MID)。在這個(gè)電接觸的MID部件中集成了所述馬達(dá)支架72和接點(diǎn)片73形式的電觸點(diǎn)，該電觸點(diǎn)具有源自所述接點(diǎn)片73的印制導(dǎo)線74。所述接點(diǎn)片73可以焊接在印制電路板上。圖6. I示出了按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的條形碼閱讀器裝置。條形碼閱讀器26固定在所述印制電路板15的印制電路板支臂25上，通過所述印制電路板15給所述條形碼閱讀器26供電，并且通過該印制電路板15輸出信號。此外，所述印制電路板支臂25具有其它未詳細(xì)解釋的部件75。所述條形碼閱讀器26布置在所述印制電路板支臂25上，使得其伸入(未示出的)測試元件料盒接納口中，以便能夠在那里讀入設(shè)在相應(yīng)地被接納的測試元件料盒上的條形碼。圖6. 2示出了按本發(fā)明的分析儀器中的條形碼閱讀器裝置。所述條形碼閱讀器裝置76包括按本發(fā)明的分析儀器的外殼區(qū)段77，在該外殼區(qū)段77中布置了條形碼閱讀器26。所述外殼區(qū)段77包括朝所述條形碼閱讀器26延伸的印制導(dǎo)線78以及用于(未示出的)印制電路板接觸的有彈性的觸點(diǎn)79。所述具有印制導(dǎo)線78及有彈性的觸點(diǎn)79的外殼區(qū)段77 (電接觸的部件127)是三維的注塑的線路載體。因?yàn)橥ㄍ鰲l形碼閱讀器26的及來自該條形碼閱讀器26的電流傳導(dǎo)在該實(shí)施方式中均通過所述MID外殼區(qū)段77進(jìn)行，所以(前提是，為圖6. I中的其它部件75同樣找到另ー種解決方案)可以省去按現(xiàn)有技術(shù)的印制電路板支臂25 (參見圖6. I)。由此在分析儀器中獲得結(jié)構(gòu)空間并且所述印制電路板可以在較有利的批次中以很少的邊角料來制造。圖7. I示出了按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中的測試元件料盒接納ロ。在所述測試元件料盒接納ロ 7中可以裝入測試元件料盒8。所述測試元件料盒8的更換在按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中通過(未示出的)測試元件料盒 接納ロ蓋板的打開和閉合記錄下來，由此致動閉鎖開關(guān)80。如果所述測試元件料盒接納ロ蓋板在沒有更換測試元件料盒8的情況下打開和閉合，那么該分析儀器就錯(cuò)誤地記錄一次測試元件料盒8的更換。圖7. 2示出了按本發(fā)明的分析儀器中具有用于識別測試元件料盒更換的傳感器的測試元件料盒接納ロ。在按本發(fā)明的分析儀器中，如果將所述測試元件料盒8支撐在位置82上的芯軸套筒81通過止動器83從閉鎖狀態(tài)中松開，沿打開方向84運(yùn)動并且在所述測試元件料盒接納ロ蓋板閉合之后又沿閉合方向85運(yùn)動，那就識別出測試元件料盒8的更換。如此構(gòu)造用于識別這種運(yùn)動過程的傳感器86，使得(未示出的)在所述芯軸套筒81上的接觸凸閉合一個(gè)觸點(diǎn)，并且將信號通過所述彈簧觸點(diǎn)87傳輸給(未示出的)印制電路板。由此可以在很大程度上避免對測試元件料盒8的更換進(jìn)行錯(cuò)誤的識別。所述測試元件料盒接納ロ 89 (電接觸的部件128)在該實(shí)施方式中包括彈簧觸點(diǎn)87和將所述彈簧觸點(diǎn)87與所述傳感器86連接起來的印制導(dǎo)線88，并且是三維的注塑的線路載體(MID)。圖8示出了在按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器中用于測試元件分析的接觸元件。所述接觸元件90用于(未示出的)有待以電化學(xué)方式分析的測試元件的電接觸。所述接觸元件90由塑料件91及金屬元件92構(gòu)成。所述金屬元件92通過彎曲及沖壓過程來制造，安裝或者直接噴注在所述塑料件91上。為進(jìn)行接觸，將支承面93上的測試元件朝接觸斜面94的方向推動，直到所述接觸斜面94擠壓在所述測試元件上的接觸面上并且由此與該測試元件相接觸。所述接點(diǎn)片95在分析儀器中焊牢在所述印制電路板上。插頭96用于在將所述接觸元件90安裝在分析儀器中時(shí)對接觸元件90進(jìn)行定向。在設(shè)計(jì)和布置按現(xiàn)有技術(shù)的接觸元件時(shí)，因沖壓及彎曲過程的限制并且因所述金屬元件的可安裝性及可擠壓包封性的要求而存在著限制。圖9示出了按本發(fā)明的分析儀器中用于測試元件分析的第一接觸元件。這個(gè)接觸元件97 (電接觸的部件129)是三維的注塑的線路載體(MID)。所述印制導(dǎo)線98及接觸斜面99作為導(dǎo)電的區(qū)域直接在所述注塑的塑料件100上實(shí)現(xiàn)。所述印制導(dǎo)線98從可與印制電路板相連接的接點(diǎn)片101開始經(jīng)過測試元件支承面102 —直延伸到所述接觸斜面99。所述接觸斜面99由在所述塑料件100的表面上的塑料凸起構(gòu)成，其中所述金屬的印制導(dǎo)線98在所述塑料凸起上延伸。圖10示出了按本發(fā)明的分析儀器中用于測試元件分析的第二接觸元件。這個(gè)接觸元件103 (電接觸的部件130)同樣是三維的注塑的線路載體(MID)，該線路載體具有設(shè)在注塑的塑料件100上的印制導(dǎo)線98及接觸斜面99，所述塑料件100則具有測試元件支承面102。與圖9所示的實(shí)施方式所不同的是，在此為每根印制導(dǎo)線98設(shè)置了單獨(dú)的接點(diǎn)片104及單獨(dú)的接觸斜面105。圖11. I示出了按現(xiàn)有技術(shù)的分析儀器的測量模塊中的恒溫裝置。陶瓷加熱元件安裝或者說在制造過程中直接加入在分析儀器外殼半體106中。在圖11. I中可以看出該陶瓷加熱元件的電接頭107。在圖11. 2中可以從背面看出所述陶瓷加熱元件108，而 在圖11. 3中則可以從正面看出該陶瓷加熱元件108。為簡單起見，在圖11. 3中僅僅示出了四個(gè)電接頭107中的兩個(gè)電接頭。所述兩個(gè)電接頭107與陶瓷板110上的加熱螺旋燈絲109相連接。圖11. 4示出了在按本發(fā)明的分析儀器的測量模塊中的恒溫裝置。所述測量模塊111布置在分析儀器外殼半體112中，并且包括測試元件接納ロ113，恒溫裝置114集成在該測試元件接納ロ 113中。所述測試元件接納ロ 113(電接觸的部件131)包括加熱螺旋燈絲115以及有彈性的觸點(diǎn)116并且是三維的注塑的線路載體。圖12示出了按本發(fā)明的、用于分析儀器中的測試元件的儲備容器。所述儲備容器117是滾筒狀的測試元件料盒，該測試元件料盒具有17個(gè)單獨(dú)的、用于接納17個(gè)條狀的測試元件119的腔室118。所述儲備容器117在其外側(cè)面上具有條形碼120。所述測試元件119是有待以電化學(xué)方式分析的、設(shè)有電的印制導(dǎo)線121的測試元件119。按本發(fā)明的儲備容器117在每個(gè)腔室118中包含用于在對測試元件上的試樣進(jìn)行電化學(xué)分析時(shí)與包含在每個(gè)腔室118中的測試元件119的印制導(dǎo)線121進(jìn)行接觸的電觸點(diǎn)122。在圖12中示出的、從儲備容器117中部分地伸出的測試元件119稍稍彎曲，從而將布置在所述測試元件119上面的印制導(dǎo)線121朝所述儲備容器117的電觸點(diǎn)122擠壓，并且由此實(shí)現(xiàn)接觸。但是，如果將所述測試元件119完全插入所述儲備容器117中，那也可以進(jìn)行接觸。為進(jìn)行接觸，比如也可以在所述腔室118中設(shè)置有彈性的觸點(diǎn)。所述儲備容器117(電接觸的部件132)可以比如是三維的注塑的線路載體(MID)。圖13示出了基本上構(gòu)造為注塑的線路載體的按本發(fā)明的測試元件的第一實(shí)施方式。所述測試元件150具有由塑料制成的基體151。在所述基體151上布置了大量用于對液態(tài)試樣進(jìn)行電化學(xué)化析的測試區(qū)152。在所述測試區(qū)152上有一種會與液態(tài)試樣起反應(yīng)的干式化學(xué)藥品。所述測試區(qū)152在所述測試元件150上相應(yīng)地與電的印制導(dǎo)線153相連接，所述印制導(dǎo)線153—方面終結(jié)在電極結(jié)構(gòu)154中，并且另一方面終結(jié)在接觸結(jié)構(gòu)155中。所述電極結(jié)構(gòu)154相應(yīng)地伸入測試區(qū)152中，并且所述接觸結(jié)構(gòu)155用于與分析儀器的(未示出的)測量電子裝置相連接。所述具有電的印制導(dǎo)線153、電極結(jié)構(gòu)154及接觸結(jié)構(gòu)155的基體151是注塑的線路載體(MID)。所述測試元件150構(gòu)造為圓的盤片，所述測試區(qū)152連同所屬的印制導(dǎo)線153同心地布置在該圓的盤片上。在分析儀器中，這個(gè)測試元件150可以自動地或者手動地旋轉(zhuǎn)到ー個(gè)位置中，在該位置中與所期望的測試區(qū)152進(jìn)行電接觸并且對處于該測試區(qū)152上的試樣進(jìn)行電化學(xué)分析。圖14示出了基本上構(gòu)造為注塑的線路載體的按本發(fā)明的測試元件的第二實(shí)施方式。所述測試元件160具有由塑料制成的基體161。在所述基體161中設(shè)置了凹處162，所述凹處162可以接納有待分析的試樣并且必要時(shí)可以容納分析劑。為了對試樣進(jìn)行分析，設(shè)置了電的印制導(dǎo)線163，所述印制導(dǎo)線163—方面終結(jié)在電極結(jié)構(gòu)164中，并且另一方面終結(jié)在接觸結(jié)構(gòu)165中。所述電極結(jié)構(gòu)164相應(yīng)地伸入凹處162中，并且所述接觸結(jié)構(gòu)165用干與分析儀器的(未示出的)測量電子裝置相連接。所述具有所述電的印制導(dǎo)線163、電極結(jié)構(gòu)164及接觸結(jié)構(gòu)165的基體161是注塑的線路載體(MID)。所述測試元件160構(gòu)造為四邊形的薄片。所述測試元件160包括六個(gè)凹處162。所述電的印制導(dǎo)線163如此布置在所述測試元件160上，使得所有接觸結(jié)構(gòu)165在所述測試元件160上定位在受限制的區(qū)域中。由此簡化所述測試元件160的定位，所述測試元件160的定位用于在分析儀器中與處于不同的凹處中的試樣進(jìn)行電接觸。附圖標(biāo)記列表I 分析儀器34 分段盤2 外殼35 傳動裝置印制電路板 3 顯示區(qū)域36 條形碼閱讀器裝置4 IXD(液晶顯不器)37 外殼區(qū)段5 操作區(qū)域38 測試元件接納ロ6 接通按鍵39 光學(xué)印制電路板7 測試元件料盒接納ロ40 電池觸點(diǎn)8 測試元件料盒41 料盒馬達(dá)觸點(diǎn)9 條形碼42 推桿馬達(dá)觸點(diǎn)10 腔室43 測量模塊觸點(diǎn)11 測試元件44 位置開關(guān)觸點(diǎn)12 刺入輔助件45 推桿開關(guān)觸點(diǎn)13 測試元件料盒接納ロ蓋板46 滑動觸點(diǎn)14 上面的外殼半體47 測試元件觸點(diǎn)15 印制電路板48 光學(xué)印制電路板觸點(diǎn)16 馬達(dá)模塊49 條形碼閱讀器觸點(diǎn)17 下面的外殼半體50 馬達(dá)觸點(diǎn)18 型號銘牌51 料盒位置觸點(diǎn)19 電池艙蓋52 齒部20 測量模塊53 印制電路板(MID)21 蓋板54 驅(qū)動輪(MID)22 解鎖按55 彈簧觸點(diǎn)23 推桿馬達(dá)模塊56 分段盤24 料盒馬達(dá)模塊57 輸送單元25 印制電路板支臂58 軸向方向26 條形碼閱讀器59 縱向穿孔27 驅(qū)動輪60 間隔墊片28 馬達(dá)支架61 接點(diǎn)片29 推桿62 導(dǎo)向軸套(MID)30 導(dǎo)向軸套63 導(dǎo)向裝置
31導(dǎo)向裝置64縱向穿孔32馬達(dá)65接點(diǎn)片33用于測試元件料盒的定位裝66方向置68開關(guān)元件67間隔墊片69馬達(dá)模塊104單獨(dú)的接點(diǎn)片70接觸板105單獨(dú)的接觸斜面71有彈性的接點(diǎn)片106分析儀器的 外殼半體72馬達(dá)支架(MID)107熱元件的電接頭73接點(diǎn)片108陶瓷的加熱元件74印制導(dǎo)線109熱螺旋燈絲75其余的部件110陶瓷板76條形碼閱讀器裝置111測量模塊77外殼區(qū)段(MID)112分析儀器的外殼半體78印制導(dǎo)線113測試元件接納ロ(MID)79有彈性的觸點(diǎn)114恒溫裝置80閉鎖開關(guān)115加熱螺旋燈絲81芯軸套筒116有彈性的觸點(diǎn)82支撐位置117儲備容器，測試元件料盒83止動器118腔室84打開方向119測試元件85閉合方向120條形碼86傳感器121電的印制導(dǎo)線87彈簧觸點(diǎn)122電觸點(diǎn)88印制導(dǎo)線123第一電接觸的部件89測試元件料盒接納ロ(MID) 124第二電接觸的部件90接觸元件125第三電接觸的部件91塑料件126第四電接觸的部件92金屬元件127第五電接觸的部件93支承面128第六電接觸的部件94接觸斜面129第七電接觸的部件95接點(diǎn)片130第八電接觸的部件96插頭97第一接觸元件(MID)98印制導(dǎo)線99接觸斜面100 塑料件101接點(diǎn)片102 支承面103 第二接觸元件(MID)
131第九電接觸的部件132第十電接觸 的部件150測試元件151基體152測試區(qū)153電的印制導(dǎo)線154電極結(jié)構(gòu)155接觸結(jié)構(gòu)160測試元件161基體162凹處163電的印制導(dǎo)線164電極結(jié)構(gòu)165接觸結(jié)構(gòu)
權(quán)利要求
1.用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的分析儀器，包括至少一個(gè)適合于與至少一個(gè)另外的用于電流傳輸?shù)牟考㈦娊佑|的電接觸的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)，其特征在于，所述電接觸的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)是注塑的線路載體，其中，所述分析儀器(I)包括用于對包含在測試元件上的分析物進(jìn)行測量的測量模塊(111)，該測量模塊(111)則包括在測量過程中用于接納所述測試元件的測試元件接納口(113)，在該測試元件接納口(113)中包含了用于對所述測試元件進(jìn)行恒溫處理的恒溫裝置(114)，其中，所述具有包括加熱螺旋燈絲(115)和有彈性的觸點(diǎn)(116)的恒溫裝置(114)的測試元件接納口(113)是注塑的線路載體。
2.按權(quán)利要求I所述的分析儀器，其特征在于，構(gòu)造所述電接觸的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)，使得其適合于與另一個(gè)部件建立至少一種從有彈性的觸點(diǎn)、插頭觸點(diǎn)、焊接觸點(diǎn)、滑動觸點(diǎn)和導(dǎo)電膠觸點(diǎn)這種觸點(diǎn)組中選出的電接觸。
3.按權(quán)利要求I或2中任一項(xiàng)所述的分析儀器，其特征在于，所述電接觸的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)具有至少一個(gè)用于與所述另一個(gè)部件相接觸的有彈性的接點(diǎn)片(55、65、73、79、87、101、104、116)，所述接點(diǎn)片包括由注塑的塑料制成的接點(diǎn)片本體和金屬的導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。
4.按權(quán)利要求3所述的分析儀器，其特征在于，所述接點(diǎn)片(55、65、73、79、87、101、104,116)與所述分析儀器的另一個(gè)靜止的、另一個(gè)旋轉(zhuǎn)的或者另一個(gè)線性運(yùn)動的部件相接觸。
5.按權(quán)利要求I到4中任一項(xiàng)所述的分析儀器，其特征在于，所述電接觸的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)是所述分析儀器(I)的功能性的組件并且所述另一個(gè)所接觸的部件是所述分析儀器(I)的印制電路板(15)。
6.按權(quán)利要求5所述的分析儀器，其特征在于，所述功能性的組件是條形碼閱讀器裝置(76)、用于測試元件的輸送單元(57)、馬達(dá)模塊￠9)、測量模塊(20)、用于測試元件料盒(8)的定位裝置(33)、包含傳感器(86)的測試元件料盒接納口(89)或恒溫裝置(114)。
7.按權(quán)利要求I到4中任一項(xiàng)所述的分析儀器，其特征在于，所述電接觸的部件是用于對所述分析儀器(I)進(jìn)行測試元件分析的接觸元件(97、103)并且所接觸的另一個(gè)部件是有待以電化學(xué)方式分析的測試元件(119)。
8.按權(quán)利要求7所述的分析儀器，其特征在于，所述用于測試元件分析的接觸元件集成在測試元件料盒(117)中。
9.按權(quán)利要求I到8中任一項(xiàng)所述的分析儀器，其中所述分析儀器(I)包括用于測試元件料盒(8)的定位裝置(33)，該定位裝置(33)包括用于供電的印制電路板(53)和由馬達(dá)驅(qū)動的、用于驅(qū)動可旋轉(zhuǎn)的測試元件料盒(8)的驅(qū)動輪(54)，其特征在于，所述具有彈簧觸點(diǎn)(55)的印制電路板(53)構(gòu)造為注塑的線路載體，且所述具有可電接觸的分段盤(56)的驅(qū)動輪(54)構(gòu)造為注塑的線路載體。
10.按權(quán)利要求I到9中任一項(xiàng)所述的分析儀器，其中所述分析儀器(I)包括用于測試元件的輸送單元(57)，所述輸送單元(57)則包括用于在所述分析儀器(I)中輸送測試元件的推桿(29)，其中所述推桿(29)具有導(dǎo)向軸套(62)，該導(dǎo)向軸套￠2)可在輸送測試元件時(shí)在導(dǎo)向裝置(63)中導(dǎo)引，其特征在于，所述導(dǎo)向軸套(62)具有用于與印制電路板相接觸的有彈性的接點(diǎn)片(65)，并且所述導(dǎo)向裝置(63)包括開關(guān)元件(68)，布置所述開關(guān)元件(68)，使得其在所述導(dǎo)向軸套￠2)在所述導(dǎo)向裝置￠3)中的確定位置中將所述接點(diǎn)片(65)朝所述印制電路板擠壓，其中所述具有接點(diǎn)片￠5)的導(dǎo)向軸套￠2)是注塑的線路載體
11.按權(quán)利要求I到10中任一項(xiàng)所述的分析儀器，其中所述分析儀器(I)包括條形碼閱讀器裝置(76)，該條形碼閱讀器裝置(76)則包括所述分析儀器(I)的外殼區(qū)段(77)，在該外殼區(qū)段(77)中布置了條形碼閱讀器(26)，其特征在于，所述外殼區(qū)段(77)包括朝所述條形碼閱讀器(26)延伸的印制導(dǎo)線(78)以及用于與印制電路板相接觸的有彈性的觸點(diǎn)(79)，并且所述具有印制導(dǎo)線(78)及有彈性的觸點(diǎn)(79)的外殼區(qū)段(77)是注塑的線路載體。
12.按權(quán)利要求I到11中任一項(xiàng)所述的分析儀器，其中所述分析儀器(I)包括包含有傳感器(86)的測試元件料盒接納口(89)，所述測試元件料盒接納口(89)則包括朝所述傳感器(86)延伸的電的印制導(dǎo)線(88)，其中所述具有印制導(dǎo)線(88)的測試元件料盒接納口(89)是注塑的線路載體。
13.按權(quán)利要求I到12中任一項(xiàng)所述的分析儀器，其中所述分析儀器(I)包括馬達(dá)模塊(69)，該馬達(dá)模塊￠9)則包括馬達(dá)(32)和馬達(dá)支架(72)，其中所述馬達(dá)支架(72)具有用于與印制電路板相接觸的接點(diǎn)片(73)，并且所述具有接點(diǎn)片(71)的馬達(dá)支架(72)是注塑的線路載體。
14.按權(quán)利要求I到13中任一項(xiàng)所述的分析儀器，其中所述分析儀器(I)包括用于測試元件分析的接觸元件(97、103)，該接觸元件(97、103)則具有用于測試元件的支承面(102)，其中大量接觸斜面(99、105)突出所述支承面(102)，所述接觸斜面(99、105)則設(shè)置用于與定位在所述支承面(102)上的測試元件建立電接觸并且所述接觸斜面(99、105)可以通過在所述接觸元件(97、103)上延伸的印制導(dǎo)線(98)與印制電路板相連接，其中所述接觸元件(97、103)是注塑的線路載體。
15.用在按權(quán)利要求I到14中任一項(xiàng)所述的分析儀器中的測試元件，包含用于在分析儀器中對液態(tài)的試樣進(jìn)行電化學(xué)化析的測試區(qū)，其中所述在測試元件上的測試區(qū)與電的印制導(dǎo)線相連接，其特征在于，所述具有電的印制導(dǎo)線的測試元件基本上是注塑的線路載體。
16.用于制造分析儀器的方法，其中所述分析儀器用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析，該分析儀器包括至少一個(gè)電接觸的部件，所述電接觸的部件適合于與至少一個(gè)另外的用于電流傳輸?shù)牟考㈦娊佑|，其特征在于， A)通過用于制造注塑的線路載體的方法來制造所述電接觸的部件，所述部件包括基體及金屬的導(dǎo)體結(jié)構(gòu)，以及 B)將所述電接觸的部件定位和安裝在所述分析儀器中， 其中，所述分析儀器(I)包括用于對包含在測試元件上的分析物進(jìn)行測量的測量模塊(111)，該測量模塊(111)則包括在測量過程中用于接納所述測試元件的測試元件接納口(113)，在該測試元件接納口(113)中包含了用于對所述測試元件進(jìn)行恒溫處理的恒溫裝置(114)，其中，所述具有包括加熱螺旋燈絲(115)和有彈性的觸點(diǎn)(116)的恒溫裝置(114)的測試元件接納口(113)是注塑的線路載體。
17.按權(quán)利要求16所述的方法，其特征在于，所述用于制造注塑的線路載體的方法是一種從雙成分注塑、熱壓模、薄膜后噴涂以及激光結(jié)構(gòu)化這種方法組中選擇的方法。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于對在測試元件上的試樣進(jìn)行分析的分析儀器，該分析儀器包括至少一個(gè)用于電流傳輸?shù)碾娊佑|的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)，該電接觸的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)適合于與至少一個(gè)另外的部件建立電接觸。所述電接觸的部件(123、124、125、126、127、128、129、130、131、132)在此是注塑的線路載體(MID)。
文檔編號G01N27/327GK102788875SQ20121023477
公開日2012年11月21日 申請日期2006年10月24日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月25日
發(fā)明者A·格羅瑟, B·索斯, D·梅尼克, G·巴因齊克, H·韋德, M·奧格斯坦, O·庫比, S·里貝爾 申請人:霍夫曼-拉羅奇有限公司