技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種并聯(lián)IGBT逆變器故障的診斷方法，首先，采集逆變器輸出的三相相電壓，建立三相電壓矩陣，得到狀態(tài)量Uk；然后，采集IGBT導(dǎo)通壓降Vi(k)，將Vi(k)與閾值壓降Vce進行比較，并將比較結(jié)果構(gòu)成IGBT壓降布爾矩陣V(k)，根據(jù)V(k)得出是否存在故障；若存在故障，則進一步比較Uk和由V(k)得到的狀態(tài)量Vk，若不相等，則為單支或多支非并聯(lián)IGBT故障，否則為并聯(lián)IGBT同時故障；Uk輸入集合F；若連續(xù)六次采樣得到的Uk的值發(fā)生狀態(tài)變化，則將F與故障集合FSi做比較，判斷故障位置。本發(fā)明能能快速診斷逆變器故障。

技術(shù)研發(fā)人員：劉雄飛;張少騰
受保護的技術(shù)使用者：中南大學(xué)
文檔號碼：201710130338
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.07
技術(shù)公布日：2017.06.30